JPH0230038A - 電子サイクロトロン共鳴イオン源 - Google Patents

電子サイクロトロン共鳴イオン源

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JPH0230038A
JPH0230038A JP1135968A JP13596889A JPH0230038A JP H0230038 A JPH0230038 A JP H0230038A JP 1135968 A JP1135968 A JP 1135968A JP 13596889 A JP13596889 A JP 13596889A JP H0230038 A JPH0230038 A JP H0230038A
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chamber
ion source
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鳥居 康弘
Masaru Shimada
勝 嶋田
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巌 渡辺
James E Hipple
ジェームズ イー.ヒップル
Gerald L Dionne
ジェラルド エル.ディオネ
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、加工物のイオンビーム処理に用いられるイオ
ン注入装置(イオンインプランタ)用のイオン源に関す
るものである。
[従来の技術] シリコンウェー八にドーパントを導入するための1つの
従来技術では、ビーム進行路に沿うようにイオンビーム
な指向させ、そのイオンビームをさえぎるようにシリコ
ンウェー八を選択的に配置する。
この技術では、イオン化した物質の濃度を制御してウェ
ーハにドープする。
商業的イオン注入装置の1つの例は、イートン(Eat
on) NV20G酸素注入装置である。この従来技術
のイオン注入装置は、酸素分子をイオン化するための電
子を供給するフィラメントを含む陰極を有する酸素イオ
ン源を用いている。陰極から放射された電子は、濃度の
制御された酸素ガス中で加速される。その時、電子はガ
ス分子と衝突を繰返し、その分子のイオン化に必要なエ
ネルギーを分子に与える。いったんイオン化されると、
荷電酸素分子は加速され、シリコンウェー八に注入する
ために輪郭のはっきりした酸素イオンビームの形状に整
形される。陰極フィラメントを用いたイオン源は、シャ
バリー(Shubaly)によフて米国特許第4,71
4,834号に開示されており、この米国特許は、それ
を参照することで本明細書の一部とする。
イオン源構成についての別の提案は、陰極または陰極フ
ィラメントを必要としないマイクロ波イオン源を使用す
るものである。マイクロ波電力を供給されるイオン源は
、イオン化室内でサイクロトロン共鳴周波数で自由電子
を励起する。これらの電子とガス分子との衝突によって
ガス分子をイオン化し、室内にイオンおよび一層多くの
自由電子を供給する0次にこれらのイオンは、加速電界
を受け、イオンビームの形でイオン化室を出る。
マイクロ波イオン源の理論および動作は、5akudo
によるrMicrowave Ion 5ource 
For JonImpla口tation(イオン注入
のためのマイクロ波イオン源)」[Nuclear I
nstruments and Methods In
Physics l1esearch、B21(198
7)、pgs、16B−177] およびToriiそ
の他によるrVery Iligh Current 
ECRlon 5ource For An Oxyg
en Ion Implanter (酸素イオン注入
装置のための大電流ECRイオン源)」[Nuclea
r In5trulnents and Method
s In PhysicsResearch、B21 
(1987) 、pgs、178−181]の2つの刊
行物に論じられている。これら2つの刊行物の開示は、
これら刊行物を参照することで本明細書の一部とする。
上述の2つの刊行物に記載されているイオン源は、イオ
ン化室内に電子プラズマを閉じ込めるための磁界を与え
る構造体によって取り囲まれたイオン化室を含んでいる
。イオン化室内にほぼ軸方向の磁界を与えることが必要
であることが認識されている。それは、電子サイクロト
ロン共鳴効果にとって欠くことのできないものであり、
イオン他室の壁に電子が衝突する頻度を減する。そのよ
うな衝突は、室の温度を上昇させるのみならず、イオン
源に供給されたマイクロ波エネルギーを充分に利用でき
なくなる結果に至る。
マイクロ波エネルギーが導入されるイオン化室の領域中
に生じる電子、低エネルギーイオンは、磁力線の周りに
螺旋軌道を描いてドリフトするであろう。従って、生成
されたイオンの大部分を取出しに利用できるようにする
ためには、磁界は室の取出し領域を越えるまで著しい発
散をしない状態であるべきである。
双方の刊行物共、イオン化室内に軸方向に整列した磁界
を生じさせるために1つまたは2つ以上の環状ソレノイ
ドを有するイオン化室の実施例を開示している。前述の
NV2O0酸素注入装置の一部分と取り替えるのに適し
たイオン化室を構成するために、軸方向に整列した磁界
を発生させるためのソレノイドを用いると、存在する注
入装置とイオン源との間で大きさの不整合を生ずる。
5akudoによる刊行物の第13図には、軸方向の磁
界を与えるための磁気コイルを鉄または高透磁性金属で
取囲んだ磁気回路構造で、イオン化室内に磁界を集束さ
せている別の装置が開示されているs 5akudoの
第13図に示された第2の提案では、イオン室の出口部
分に鉄の加速電極を使用している。5akudoはこの
開示に従って構成されたイオン源を市販のイオン注入装
置と組合せて使用したことを示すデータを適切な結果を
もって提示している。
[発明の開示] 本発明は、電子サイクロトロン共鳴(ECR)イオン源
における磁界を定める問題の解決を図るものである。本
出願人によって提案された解決法は、引出し電極および
電子抑制電極を通ってイオン化室の外側の領域中へ軸方
向の磁界の整列領域を伸ばすことが重要なことを認識し
たものである。
本発明に従って構成されたマイクロ波励起イオン源は、
はぼ長手方向の軸と、イオン化室へ濃度の制御された酸
素を供給するためのガス導入口とを有する円筒状イオン
化室を有する構造体からなる。マイクロ波発生器からの
マイクロ波エネルギーを構造体の一方の端から導入し、
その反対側の端からガス/電子衝突により容器内で発生
したイオンを取出す。
磁界規定構造体は、容器の外側に長手方向に支持されて
いる1つまたは2つの環状コイルを有し、通電されたと
きに、そのコイルは、容器室内のほぼ軸方向に整列した
磁界を生ずる。
室の端にあるフランジ中の多数の孔があいた有孔板はイ
オンのための出口路となる。それらの孔は、ここで参照
したシャバリーの特許により開示されたものと類似の引
出し電極および絶縁体構成で、他の2つのフランジ(す
なわち電子抑制電位および接地電位にそれぞれ保たれた
電極)の有孔板の孔と位置が合わせられている。最外側
の孔。
すなわち接地孔およびそれが設けられている電極の最上
側の部分は、室からの磁界にとって低磁気抵抗路になっ
ている。後述する如く、磁界の好ましい帰路の歿りを定
めるために他の2つの電極の選択された領域中にも透磁
性材料を用いる。
本発明の他の形態は、正に荷電した酸素イオンを室内か
ら取出すことのできる内側有孔板を取付けるための技術
にある。3つの有孔板金てがフランジによって支持され
ており、それらフランジはイオン化室に対し、3つの有
孔板が互いにほぼ平行に整列されるように嵌合されてい
る。最内側の有孔板は、外側部分が透磁性材料から作ら
れたフランジによって支持されている。この外側部分は
イオン源の磁界規定構造体に当接している。支持フラン
ジのこの透磁性部分にはステンレス鋼挿入部材が溶接さ
れ、最内側の有孔板を直接支持している。その有孔板は
、好ましい実施例では、モリブデンから作られている。
電子抑制孔と呼ばれる中間孔およびそれを支持する電極
の大部分は、同じく非磁性材料から作られている。しか
し、電極のテーバ付き部分中の環状領域は、透磁性材料
から作られている。この材料は、もしそれがなければ広
い間隙になるであろう接地電極の磁性材料とイオン引出
し電極の外側部分の磁性材料との間を部分的に橋絡し、
それによって磁界のために意図した帰路を形成している
。すなわち、有孔板を通って最外側の軟鋼電極に至る一
層長い通路の磁気抵抗をさらに減少させ、イオン源の磁
界規定構造体に向けて半径方向に外側へ発散して戻るこ
とを、防いでいる。
イオン化室の出力フランジ中に埋め込まれたサマリウム
 コバルト環状永久磁石もまた、磁界を整形するのに付
加的に寄与する。この環状磁石の外径は、隣接する取付
はフランジの軟鋼部分の内径よりもわずかに大きい。磁
石は軸方向に磁化されており、その磁場がイオン引出し
領域中で電磁石コイルによって生ずる磁界に加算させる
ように設置されている。
イオン源を一緒に設置するのにモジュール式構成方法を
用いると、均一なイオンビームな生成させるのに必要な
較正および保守が容易になる。コイルおよびコイル囲い
を含む磁界規定構造体は、透磁性有孔板取付はフランジ
から切り離すことができ、この目的のために特別に設計
されたトラックに沿フて回転すればイオン化室から前間
させることができる。イオン化室および有孔板取付は構
造が露出されたなら、イオン化室を、カメラのレンズ 
マウントで用いられているものと類似のロック機構によ
ってイオン取出し有孔板から取外すことができる。イオ
ン化室を回転し、次に取出し有孔板および取付はフラン
ジから持ち上げて離す。
いったんイオン化室が取外されると、電極および絶縁体
の組立体に触れることができ、孔の位置合わせまたは取
替えのためにこの組立体を注入装置から容易に取外すこ
とができる。特別に構成された固定具または治具を用い
て孔の位置合わせを行う。いったん有孔板が適切に位置
合わせされると、イオン化室は取付はフランジに再び接
続され、磁界規定構造体をローラにより元の位置へ戻す
ことができる。
本発明の他の重要な特徴は、マイクロ波エネルギーをイ
オン化室の内部へ結合する機構に関する。イオン化室の
真空内に取付けられた複数の誘電体ブロックは、マイク
ロ波発生器からのマイクロ波エネルギーをイオン室の内
部へ伝達する窓を形成する。
窓の構成および配置は、室を密封したまま室内の高密度
プラズマに極めて効率よくマイクロ波エネルギーを結合
するように定める。これらのセラミックブロックは、温
度の変化と共にわずかに膨張および収縮するが、最外側
の石英ブロックの周りに半径方向の0リングシールを用
いることにより、そのような温度変化に伴うこの膨張お
よび収縮に順応させることができる。
上述より、本発明の1つの形態は、イオン引出し領域の
磁界の整列性が改良された新規なECRイオン源にある
0本発明のこれらおよび他の目的、利点および特徴は、
添付図に関連して記述する好ましい実施例についての詳
細な記述から一層よく理解されるであろう。
[発明を実施するための最良の形態1 図を参照するに、第1図は、イオン注入ステーション1
6において加工物に衝突するイオンビーム14を形成す
るイオンを与えるイオン源12を有するイオン注入装置
10を描いた模式的概観図である。
1つの典型的な注入ステーション16では、イオンビー
ム14がシリコンウェーハ(図示せず)に衝突して、選
択的に不純物を導入してシリコンウェーハをドープし、
半導体ウェー八を形成する。第1図に描かれたイオン注
入装置10では、イオンビーム14は決められた進行路
を通り、イオン注入量についての制御はイオンビーム1
4を通過するシリコンウェーへの選択的移動により維持
される。
従来技術の注入装置lOの一つの例は、イートン・コー
ポレーションから市販されているNV2O0型注入装置
である。この注入装置は上述され、本明細書の一部とさ
れたシャバリーに対する米国特許第4,714,834
号に開示されているものと類似のイオン源を用いている
第1図に描かれたイオ・ン源12は、異なった形式のイ
オン生成法を用いている。マイクロ波発生器20はマイ
クロ波エネルギーをイオン化室22へ伝達する、イオン
化室22はNV2O0注入装置の既存の構造へ接続され
ている。室22を出るイオンは、イオン源12の一部を
形成する加速用電極によって付与された初期エネルギー
(例えば、40〜50key)を有する。加速用電位お
よび電磁コイルの励起についての制御は、第1図に模式
的に描かれた電源エレクトロニクス23によフて維持さ
れる。
イオン源12を出たイオンは、2つの真空ポンプ24に
よって真空にされたビームラインに入る。イオンはビー
ム進行路14に従って、分析磁石26へ行く。その磁石
26は荷電イオンを注入ステーション16に向けて曲げ
る。多価の電荷をもつイオンおよび不適切な原子番号を
もつ異なったfffi(Species)のイオンは、
分析磁石26によって形成された磁界とイオンとの相互
作用により、ビーム進行路14からはずれる1分析磁石
26と注入ステーション16との間をイオンが通過する
際に加速管(図示せず)によって、注入ステーション1
6でウェーハと衝突する以前に一層高いエネルギーへ加
速される。
制御エレクトロニクス(図示せず)によって注入ステー
ション16に達する注入量を監視し、その注入ステーシ
ョン16においてシリコンウェー八に望まれるドープ量
に基いてイオンビームの濃度を増減する。ビーム量を監
視する技術は従来から知られており、典型的にはビーム
量を監視するために、ファラデーカップを用いてイオン
ビームと選択的に交差させている。
既存のNV2O0注入装置と本発明によって構成された
イオン源12との間の係り合いは、第2図および第3図
に描かれている。イオンビーム注入装置10は、接地さ
れたビームラインフランジ52によって定められたイオ
ン源12と結合できる接続開口50を有している。
はぼ円筒状のステンレス両室ハウジング54は、主軸5
8を有する円筒状イオン化室22を定める内側に向いた
壁56を有する。室22の注入装置フランジ52から遠
い方のマイクロ波入力端は、発生器20からイオン化す
るために必要なエネルギーを導波管60を経て受は取る
。その導波管60は発生器20によって送出された周波
数のマイクロ波を伝播させる特性を有している。好まし
いマイクロ波発生器としては、アメリカン・サイエンス
・アンド・テクノロジー社(American 5ci
ence and TechnologyInc、)か
ら市販されているS−1000型がある。
導波管60はマイクロ波エネノ?ギーを窓Wを通してイ
オン化室22へ導く、この窓Wは、ハウジング54の内
部で、半径方向の内側に延在したステンレス鋼フランジ
66および室入カフランシフ0によって設置された3つ
の誘電体ディスク62〜64および1つの石英ディスク
65を有する。ディスク64はアルミナから作られ、デ
ィスク63および62は共に窒化硼素から作られており
、それぞれ25mmおよび6mmの厚さを有する。フラ
ンジ66に当接するディスク62は、室22の方向から
の高速逆流電子との衝突やイオンおよび電子との接触な
どによる使用中の劣化を考慮して周期的な取替えを行う
のに対し、ディスク63は永久的なものである。
室人カフランシフ0は透磁性材料(好ましくは軟鋼)か
ら作られている。導波管60は端部フランジ68を含み
、そのフランジ68は、室入カフランシフ0と当接し、
導波管の内部と同じ大きさをもつ矩形の開ロア1を通し
て電磁エネルギーを伝達し、導波管60を通して伝達さ
れたマイクロ波エネルギーを誘電体ディスク62〜64
に到達させ、そしてそれらディスクを通過させることが
できるようにする。
イオン源の寿命を増大し、かつ−層大きなイオン電流を
得るために、誘電体窓Wの構造とイオン電流との間の関
係について研究された。
右回りに円偏光したマイクロ波は主に室22中のECn
プラズマによって吸収される。静磁界に沿ったこの波に
対するプラズマの読電率Epは、次の式によって与えら
れる: 式中、ω、ω、6.ωC,は入射マイクロ波周波数。
プラズマ周波数および電子サイクロトロン周波数である
。プラズマ密度が高くなってEpが非常に大きくなると
(ω、。)ω、および通常の状態ではωcllzω、た
だしωc6/ω〉1)、そのプラズマからのマイクロ波
の強い反射が予測される。その反射を減少させるために
、多層誘電体ディスクを、それらディスクの厚さおよび
誘電率を最適にすることによりインピーダンス整合用チ
ューナとして用いる。
第10図に見られるように、n枚の誘電体板を含む多層
窓系のための反射率の計算は次の通りである。第1の誘
電体板の面のところで見られるインピーダンスn1は次
の通りである: 式中、2.は厚さA、の第1誘電体板で満たされた導波
管の特性インピーダンスであり、R2は第2板の面にお
いて見られるインピーダンスであり、θ、は2π1./
λ1であり、λ、は導波管中の波長である。インピーダ
ンスR2、R3・・・はnIと同様に計算することがで
きる。
反射係数は、 である、窒化硼素をプラズマに面する板B2のための誘
電体材料として選択した。その理由は、窒化硼素は高い
融点および良好な熱伝導度を有するからである0石英を
真空封止板として用い、アルミナをその誘電率が高いた
めインピーダンス整合用板として用いた。
ωC’!/ω−1,1,(ωpc/ ω)’−13ニ対
シテ開示シた窓構造体の寸法を用いて計算すると、窒化
硼素ブロワ°りを組合せたときの厚さと反射係数との間
の関係が得られる。第11図に、反射係数がBNの厚さ
に対して周期的に変化することが示されており、インピ
ーダンス整合が窓Wの製造に際し、考慮すべき重要な設
計条件であることは明らかである。
第12図には計算されたマイクロ波透過率と実験的に得
られたイオン電流との間の関係が示されている。イオン
電流は透過率が増大するに従って増大する。 BNの厚
さは、第11図に示されているように、逆流する電子に
対する許容度を大きくするために、反射率の第2の最小
値に近くなるような厚いBNが選択されている。この窓
構造を用いると、このイオン源の寿命は200時間たっ
ても、はとんど劣化しなくなる。
環状封止部材72は石英デイ、スフ65に嵌合し、イオ
ン化室22内を真空に維持する。封止部材72はハウジ
ング54中の溝中に支持されている。石英ディスク65
に接する誘電体ディスク62〜64は温度と共に自由に
膨張収縮する。その理由は、石英ディスク65は、室2
2内に軸方向には剛固に固定されていないからである。
第2導電性封止部材74は室入カフランシフ0に設けた
溝に支持されており、導波管60を経て室22に入るマ
イクロ波エネルギーが漏れるのを防止する。
付属部材aO(第4図に最も明瞭に示されている)は、
導管(図示せず)からのガスをステンレス鋼ハウジング
54を経て室22中へ送り、その室内に存在する自由電
子と相互作用させる0本発明の好ましい用途として、付
属部材80は濃度の制御された酸素分子を送り、注入装
置!0がシリコンウェー八に酸素イオンを選択的にドー
プできるようにする。
使用中、室22はビームラインと真空系システムとして
つながっており、従って、操作前に真空にしなければな
らない、空気は室22中の誘電体ディスク62〜64の
間で捕捉されることがあり、イオン源を高真空にするの
に時間がかかる。これを避けるため、2つの溝82を室
壁5B中に加工して設け、ディスク間の空気が室22か
ら一層容易にポンプで除去されるようにする(第5図)
室22内には、ある量の自由電子が常に存在し、発生器
20によって供給されたマイクロ波エネルギーによって
最初に励起される。それら励起された電子は、室22の
主軸58にほぼ平行な通路に沿って螺旋状に流れる。そ
の螺旋状の流れは1id58とほぼ整列した磁界の存在
によって起こされる。電子は酸素分子と衝突し、それら
の分子をイオン化し、室22中にさらに自由電子を生じ
、さらに酸素をイオン化する。
イオン化室22のイオン引出し端においては、3枚の離
隔されたイオン取出し板110〜112により室22中
のイオンに対する出口路を定める。板110〜112は
、ビームラインフランジ52と室22どの間に介在させ
た3つの嵌合された取付はフランジ120〜122によ
って注入装filQに取付けらねている。
第1取付はフランジ120は接地され、ビームラインフ
ランジ52に結合されている。0リング封止部材124
は、第1取付はフランジ120とビームラインフランジ
52との間の界面に沿ってビームライン内を真空に維持
する。0リング124から半径方向に内側に、フランジ
120が円筒状部分120aを定める。その部分120
aはイオン化室の主軸58とほぼ一致する軸を有する。
第3図の断面図はフランジ120中の切欠部分120b
を通って切断したものである。その切欠部分120bは
ポンプによる導通をよくし、フランジ12(1−122
の領域の真空状態を改善する。
フランジ12Gはステンレス鋼から作られており、それ
により、有・孔板支持体130が蝋付けされている端面
を定める。支持体130は軟鋼から作られており、軸方
向に磁界が整列される領域をイオン化室22の外へ延在
させるよう作用する。支持体130には、同じく軟鋼か
ら作られた接地された取替可能な有孔板110が結合さ
れている。有孔板11Gは、コネクタによって支持体1
30に結合されて、その板110が周期的に取外せるよ
うにする。
その理由は、その板110によって定められた孔は、イ
オンが孔の縁に衝突するにつれて徐々に腐食されるから
である。これにより、板110 N112を位置合わせ
させるときに、フランジ120に対しそれら板110〜
!!2を再配列させることもできる。
中間取出し板111は、フランジ120に対し約−2,
SkVの電位に維持される。この取出し板111は、第
1フランジ120に結合された第2取付はフランジ12
1によって支持されている。第2取付はフランジ121
は、ビーム通路に沿って真空を維持するためのOリング
封止部材148を有する電気絶縁性スペーサ部材14G
に当接している。好ましいスペτす部材140は酸化ア
ルミニウムから作られている0組立て中、第2取付はフ
ランジ121は、スペーサ部材140に対向して配置さ
れ、フランジ120.121を一緒に結合するのに多数
のガラス繊維エポキシコネクタ142が用しごられる。
中間取出し板111は、注入装置lOからの電子がイオ
ン化室に入るのを防止する。スペーサ部材140とフラ
ンジ120.121との間の界面は、0リング148に
よって封止されている。
最内側のイオン取出し板112は、接地電位に対して約
40〜50kVの電位に維持する。最内側の取出し板1
12を取付はフランジ122に結合し、第1および第2
取出し板110.111に対してほぼ平行な配向にして
維持する。第3取付はフランジ122は、第2絶縁性ス
ペーサ部材150によって中間取付はフランジ121か
ら離隔されている。スペーサ部材150とフランジ12
1,122との間に付設された0リング146により、
イオンビーム通路に沿って真空に維持する。
フランジ122は、透磁性材料から作られており、例え
ば、好ましい実施例として、軟鋼から作られている。ス
ペーサ部材150は、架橋されたポリスチレン材料から
作られている。イオン源の組立に際し、そのスペーサ部
材150は、取付はフランジ121によって定められた
切り込みまたは溝中に配置する。固着(retaini
ng)  リップ153を有するスプリットリング15
2をスペーサ部材150の周りに置いて適切に整列させ
て、スプリットリング152中の孔がフランジ121の
開口と整列するようにする0次に、ねじ付きコネクタ1
55を、フランジ121の周辺に設けた開口を通してリ
ング152中へねじ込む、同様なやり方で、第2固着リ
ング156および複数のコネクタによって第3取付はフ
ランジ122をスペーサ部材150に結合する。
(以下余白) 半径方向に内側の位置において第3取付はフランジ12
2へ、最内側の取出し板112を直接支持するステンレ
ス鋼挿入部材154が蝋付けされている。ステンレス鋼
挿入部材154を使用することは、取出し板110〜1
12の領域中に軸方向に整列する磁界を定めるのに役立
つ。内側から2つの取出し板111および112はモリ
ブデンから作られている。
イオン源の組立中、3つの有孔板110〜112は、板
110〜112の孔を整列させる2つの特殊な取付はジ
グFとF’  (第8図および第9図)を用いることに
より適切に整列させられる。各板110〜112は、コ
ネクタによって各々に関連する支持体に結合されている
。これらコネクタは、板が特定の向きにしっかりと固着
される前に軸58の周りに回転できるようにしている。
異なる注入装置に適用するためには、板110〜112
に異なる孔パターンが用いられる。典型的な孔パターン
は、中心の孔と、その中心の孔の周りに6個または12
個の等間隔で開けられた他の開口とが配置されている。
2つの取付ジグFおよびF′は、基体157を動かすた
めのハンドル158および基体157から突出している
複数のピン159を有する。板110〜112を整列さ
せる間、それら部材を各フランジに緩く固定しておき、
孔を大略整列させる。一方の取付ジグ、例えばFのピン
159を板110に通して押し込み、この取付ジグFの
ピン159が中間板111の開口中に挿入されるように
なるまで板110を回転する。板111の反対側から他
方の取付ジグF′を、板112°を再び整列させるのに
用い、特に取付ジグF′のピン159が取付ジグFのピ
ン159に係合するまで、この取付ジグF′を板112
を整列させるのに用いる。このように係合すると、取付
ジグF′の延在部159aが取付ジグFの溝159b内
に嵌まる。
イオン化室22内の磁界は、イオン化室22の軸の長さ
にまたがフて巻回された2つの磁気コイル162aおよ
び162bを有する電磁石160(第3図)によって形
成される。磁石支持体(コイル囲い)164は、好まし
くは軟鋼の壁を有し、イオン化室22に対し離間してコ
イルを維持する。一連の半径方向に延在した支持体ピン
16Bは、支持体164の壁を通って延在しており、コ
イル162 とイオン化室22との間の相対的位緩の調
節を可能にしている。
コイル支持体164は、ロー?172が回転するように
取付けられたベアリング170(i4図)をコイル支持
体164の両側に取り付けられている。固定されたレー
ル174は、ローラ172およびコイル支持体164を
、イオン化室22の主軸58に大略平行な通路に沿って
前後に移動できるように支持している。イオン化室22
が後述する機構によって取付フランジ122にいったん
結合されたならば、コイル支持体11i4を第2図に描
いた位置へ回転させて配置することができる。コイル支
持体164は、取付はフランジ122中に形成された切
り欠き122aに嵌合し、コネクタ178は、支持体1
64をイオン化室ハウジング54へ結合する。透磁性の
取付はフランジ122、磁石支持体164および室フラ
ンジ70によって、イオン源12が動作状態にある時、
コイルの励起により発生した磁界を閉じ込める。
第2図〜第4図は、冷却用流体、最も好ましくは水をイ
オン源と接触させて循環させるための複数の付属部材を
示す、第4図の端部正面図から最もよく示されているよ
うに、付属部材180は室22を取り囲むハウジング5
4中の管状通路183中へ水を送ることができるように
している。その水は、出口付属部材182を経て容器5
4を出る。他の付属部材184〜187はコイル支持体
164に結合されて、コイル支持体164によって形成
された囲いの中へ冷却材を送れるようにしている。最後
に、付属部材190および191は、水をフランジ12
0中に形成された管状溝192から出し入れすることに
より最外側の取付はフランジ120が冷却されるように
する。
イオン化を促進するためにプラズマ室へ送られるマイク
ロ波エネルギーの大部分は、最終的には紫外線(一部は
プラズマ)の形で室の壁に衝突するであろう0以上に列
挙した付属部材は、可撓性水流通導管193が作動中に
おいてイオン源に接続されるようにしているので、紫外
線が室の壁の温度を不当に上昇させることはない。有孔
板112に不必要な紫外線(一部はプラズマ)が当らな
いようにこの有孔板112を遮蔽することが望ましいこ
とが見出されており、それに関して、ハウジング54が
、板112を部分的に遮蔽するようにその板112の方
へ突出している端部壁55を有するのが分かるであろう
導水管193をイオン源から外し、およびマイクロ波部
材を取外すことにより、磁石160はイオン化室22か
ら押し戻して離すことができる。そのようにして露出さ
せた時、室の囲い(ハウジング)54は、取付はフラン
ジ122から切り離し、取出し板110〜112を露出
させることができる。しかし、磁石18(lを動かす前
に、第2図に示されているレール174にレール増設部
を継ぎ足すことが必要である。
端部壁55の外方に面した表面には、円周方向に延在す
るリッジ201によって支持されている一連の等間隔に
配置されたタブ200(第7図)を形成する。そのリッ
ジ201はフランジ122の溝中へ挿入することができ
る0次に、ハウジング54全体を回転して、タブ200
をフランジ122中の対応するタブ204の背後にはめ
こむ、この機構は、カメラレンズマウントの筒端部ロッ
ク機構に似ている。タブ200は面取りされたベベル面
206(第7図)を有し、この面206は、リッジ20
1をいったんフランジ122に対して押し付けてからハ
ウジング54をねじると、カム作用を発揮する。
端部955とフランジ122の合致した表面によって、
サマリウム・コバルト環状磁石210を支持する環状ス
ロットを形成する。室へ入ったマイクロ波エネルギーは
ガス分子を十分にイオン化するのに必要な電子サイクロ
トロン共鳴条件を満足するためには、少なくとも875
ガウスの軸方向の磁界が必要である。このような磁界は
有孔板111によって定められる領域で大部分が軸方向
に保たれ続ける必要がある。磁石210、電磁石162
aと162b。
軟鋼支持体164、軟鋼フランジ122、軟鋼有孔板1
10、ステンレス鋼挿入部材154およびモリブデン板
111と112を組合せて用いることにより、大部分が
軸方向に整列した磁力線が板110の領域にまで伸びる
結果になる。
肱−立 動作にあたっては、イオン化室22中の自由電子を発生
器20からのマイクロ波エネルギーによって励起し、そ
れら電子は室22内で螺旋状の運動を生じさせられる。
それら電子は、イオン化室22中へ送られた酸素分子と
衝突し、それら分子をイオン化し、−層多くの自由電子
および正に荷電されたイオンを発生するであろう。取出
し板110と112との間の領域では、正にバイアスし
た板112から接地板110へ延在する電力線を有する
強い電界が生ずる。取出し板112の孔を通って室22
を出たイオンがイオン化室22から運び去られ、約40
keyのエネルギーを得る。電磁石162aおよび16
2bを励起すると、環状永久磁石210によって生じた
磁界および取付はフランジ122と磁石支持体(コイル
囲い)164のための材料の選択と相俟って、取出し板
110〜112を通る磁界が軸方向に整列して延在する
ようになる。次に、磁力線は丸く曲がり、軟鋼の取付は
フランジ122を経て電磁石へ入る。イオン源の動作中
、種々の可撓性導管193によって冷却剤、典型的には
水をイオン源12の中へ送り、室の内壁に紫外線が衝突
することによって生じる熱を取り去る。
有孔板110〜112の再整列または他の保守手順が必
要な場合には、導水管193を外すことができるような
結合部材が使われており、その結果、電磁石を2つの平
行なレール174に沿ってイオン化室22からローラで
離すことができる。次に、イオン化室22を外し、取付
はフランジ122から持ち上げて離すと、取付はフラン
ジ120〜122および有孔板110〜112に容易に
近付くことができる。1つの標準的な手順では、保守に
あたって、それらフランジ120〜122および有孔板
110〜112をユニットとして接地ビームフランジ5
2から完全に取外す。
以下の第1表は本発明に従って構成されたECR源12
についての性能の基準を示している。これらのパラメー
タを、シャバリーの特許に示されているようなイオン源
を用いた従来法の装置と比較しである。
第  1  表 引出し電圧(kν)45 引出しイオン電流(mA)86 抑制電圧(kV)        −2,5抑制電流(
l^)2.4 加速電圧(kV)       155加速電流(mA
)”       55ウエ八 打込イオン 電流(m
A)’″    48.3ビ一ムライン温度(xC) 
   42(注入ステーションより上流) * 冷却水ラインを通る推定面性電流3mAを含む**
注入ステーションの熱量計で測定 ウニへ打込イオン電流が等しくなるように動作した場合
であるが、ECR源12の場合には、同じウェーハ注大
量に対し、引出しイオン電流が顕著に少なくてよい、注
入装置を通るビームの輸送効率は、加速電流および注入
ステーションより上流のビームラインの温度が一層低い
ことによって示されているように、効率が一層向上して
いる。
本発明を実施することによって得られる他の利点は、従
来法のイオン源で用いられているフィラメントを除いて
いることに起因する。これは、イオン源の動作寿命を1
桁も増大し、−層大きな動作安定性をもたらし、操作者
の介入を少なくしている。
以上では、本発明を実施例に沿って説明してきた。しか
し、本発明は、その要旨、す゛なわち特許請求の範囲に
入るかぎり、開示された構成からの全ての変更および変
形を含むものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はイオン注入装置の一実施例を示す模式第2図は
第1図示の注入装置に関連して用いられるイオン源の一
実施例を示す平面図、箪3図は第2図示のイオン源の部
分的断面図、第4図は第2図および第3図に示したイオ
ン源の端部正面図、 第5図はイオン化室ハウジングの断面図、第6図は第5
図示のハウジングの端部正面図、第7図はイオン化室ハ
ウジングの一端の側面図、 第8図はイオン化室の出口端において3つの有孔板を整
列させるための2つの固定部材の立面図、 第9図は固定部材が有孔板中の孔に適切に整列してはめ
込まれた状態でのそれら固定部材の立面図、 第10図はマイクロ波エネルギーをイオン化室へ結合す
るための窓を形成する一連のマイクロ波伝送ディスクの
模式的断面図、 第11図は伝送ディスクの厚さを種々変えたときの反射
率のグラフ、 第12図はマイクロ波透過効率に対するイオン電流のグ
ラフである。 10・・・イオン注入装置、 12・・・イオン源、 14・・・ビーム進行路、 16・・・注入ステーション、 20・・・マイクロ波発生器、 22・・・イオン化室、 54・・・室ハウジング、 62.63.64・・・誘電体ディスク、110.11
1,112・・・イオン取出し有孔板、120.121
.122・・・取付はフランジ、201・・・リッジ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)マイクロ波によって励起される電子サイクロトロン
    共鳴イオン源において、 a)長手方向の軸およびイオン化可能なガスを制御され
    た濃度で供給するためのガス導入口を有し、円筒状のイ
    オン生成室を定める構造体であって、該構造体が、前記
    イオン生成室の一端に設けたイオンビーム引出し開口お
    よびその開口の反対側の端に設けたエネルギー導入開口
    を含む構造体と、 b)前記イオン生成室の長手方向に沿って支持された1
    つまたは2つ以上の環状コイルを有し、前記コイルが励
    起された時に、前記イオン生成室の軸方向にほぼ整列し
    た磁界を与える磁界規定構造体であって、該磁界規定構
    造体が前記コイルの励起によって発生した磁界を整形す
    るために透磁性材料で構成されている構造体によりコイ
    ルの外側を包囲された磁界規定構造体 と、 c)前記イオンビーム引出し開口を覆い、かつ前記イオ
    ン生成室を出るイオンの出口路を与えるための整列され
    た開口を有する内側、中間および外側の3つの隔離した
    有孔板を有するイオン加速構造体であって、前記外側有
    孔板が、前記内側および中間の隔離した2つの有孔板を
    通して軸方向の磁界の整列の領域を伸ばすために、透磁
    性材料から構成されているイオン加速構造体と、 d)前記イオン生成室にマイクロ波エネルギーを供給す
    ることにより、前記イオン生成室中のイオン化用電子を
    励起するための構造体であって、該構造体が前記イオン
    生成室のエネルギー導入開口部分において支持された1
    つまたは2つ以上のマイクロ波伝達素子を有する構造体
    と を具えたことを特徴とする電子サイクロトロン共鳴イオ
    ン源。 2)前記内側、中間および外側の間隔をおいて設置され
    た3つの有孔板が、絶縁体によって一緒に結合されたほ
    ぼ凹型の3つの取付けフランジによって互いにほぼ平行
    に整列され、および前記フランジのうちの前記内側有孔
    板を支持する第1のフランジは: a)前記イオンビーム源が作動している時に、前記磁界
    規定構造体に当接し、前記磁界規定構造体の近辺に磁界
    を閉じ込めるために透磁性材料から構成されている半径
    方向外側部分と、 b)荷電イオンが前記円筒状イオン生成室を出る時に通
    る内側有孔板を支持するためのステンレス鋼挿入部材か
    ら構成され、かつ前記半径方向外側部分より半径方向に
    内側にある部分と で規定されていることを特徴とする請求項1に記載のイ
    オン源。  3)前記内側および中間の2つの有孔板がモリブデンで
    構成されていることを特徴とする請求項2に記載のイオ
    ン源。 4)前記イオン生成室を定める前記構造体は、複数の半
    径方向に延在する離隔したタブを支持する環状リッジを
    有する端壁表面を具備し、前記環状リッジは前記第1の
    フランジの前記半径方向外側部分に設けた溝に挿入する
    ことができ、回転すると、前記第1のフランジに設けた
    複数の突き出たタブ保持部分によって前記タブを適所に
    ロックすることができるようにしたことを特徴とする請
    求項2に記載のイオン源。 5)前記内側有孔板の領域中に磁界を発生させる環状永
    久磁石をさらに具え、前記磁界は、該永久磁石より半径
    方向に内側の場所では、環状コイルによって発生するほ
    ぼ軸方向に整列した磁界に加算され、および前記永久磁
    石より半径方向に外側の場所では、環状コイルによって
    発生する磁界から減算されるようにしたことを特徴とす
    る請求項1に記載のイオン源。 6)マイクロ波によって励起される電子サイクロトロン
    共鳴イオン源において、 a)長手方向の軸およびイオン化可能なガスを制御され
    た濃度でイオン生成室中へ供給するためのガス導入口を
    有し、円筒状のイオン生成室を定める構造体であって、
    該構造体が、前記イオン生成室の一端に設けたイオンビ
    ーム引出し開口およびその開口の反対側の端に設けたエ
    ネルギー導入開口を有する構造体と、 b)前記イオン生成室の長手方向に沿って支持された1
    つまたは2つ以上の環状コイルを有し、前記コイルが励
    起された時に、前記イオン生成室の軸方向にほぼ整列し
    た磁界を与える磁界規定構造体であって、該磁界規定構
    造体が、コイルの励起によって発生した磁界を整形する
    ため透磁性材料で構成されて、コイルの外側を包囲した
    磁界規定構造体と、 c)前記イオンビーム引出し開口を覆い、かつ前記イオ
    ン生成室を出るイオンの出口路を与えるための整列され
    た開口を有する内側、中間および外側の隔離した3つの
    有孔板からなるイオン加速構造体であって、前記外側有
    孔板は、前記内側および中間の隔離した2つの有孔板を
    通して軸方向の磁界の整列の領域を伸ばすため透磁性材
    料から構成されているイオン加速構造体と、 d)前記イオン生成室にマイクロ波エネルギーを供給す
    ることにより、前記イオン生成室中のイオン化用電子を
    励起するための構造体であって、該構造体が前記イオン
    生成室のエネルギー導入開口部分において支持された1
    つまたは2つ以上のマイクロ波伝達素子を有し、第1の
    最外側の石英マイクロ波伝達素子はマイクロ波発生器か
    らマイクロ波エネルギーを受け、第2の最内側の窒化硼
    素マイクロ波伝達素子は前記マイクロ波エネルギーを室
    内部へ供給し、組合わされたそれら伝達素子の全インピ
    ーダンスは、前記イオン生成室内で効率よくイオンを生
    成するために前記室内の高密度プラズマの予想インピー
    ダンスに整合した値を有しているイオン化用電子励起用
    構造体と を具えたことを特徴とする電子サイクロトロン共鳴イオ
    ン源。 7)第3のインピーダンス整合マイクロ波伝達素子をア
    ルミナで構成し、前記石英および窒化硼素のマイクロ波
    伝達素子の間に挿入し、それらの伝達素子の全インピー
    ダンスは前記室内の高密度プラズマの予想インピーダン
    スに整合した値を有することを特徴とする請求項6に記
    載のイオン源。
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