JPH02293083A - 超純水製造方法 - Google Patents
超純水製造方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
製造システムにおける極めて精製度の高い超純水を1段
で製造する方法に関する。
を製造する純水もますます純度の高いものが必要とされ
、複雑な組み合せを有するプロセスになりつつある。
性の限外炉過膜が使用されるようになり、特に微粒子カ
ット性、コロイド状物質、TOC除去性等が重要になっ
ている。
には、ポリッシャーと呼ばれるイオン交換樹脂が使用さ
れ、更にその前には混床型イオン交換樹脂、逆浸透膜等
が使用される。
換樹脂の混合体から成り立っており、適当な使用期間後
業者によって新規樹脂と交換充填される。このポリツシ
ャーの目的は、水中のイオン性物質を徹底的にカットす
る事にあり通常半導体工業においては、この処理水の電
気比低抗値を17mΩ・1以上、一般的には18mΩ・
cm以上迄アップさせなければならない。
は、次の点が重要な課題となっている。
であり、これが限外炉過膜を目詰まりさせ、ひいてはT
OC等の除去不充分を生じさせる原因となる。この溶出
成分には、ポリッシャー内部で発生する溶出成分(低分
子有機物質)もあるが、その前のプロセスにおける、例
えば、混床型イオン交換塔における再生洗浄時の溶出成
分(残渣)等が含まれている。
を細かくする方法もあるが、圧力上昇のためにそれにも
限界がある。
されているが、いまだTOC除去の点で不充分である。
作で多段のポリツシャーを設置することにより、高度の
純水も得られているがプロセスが煩雑でかつ高価なもの
にならざるを得す効率上極めて不利である。
極めて煩雑なものにならざるを得ない。
純度水の場合には極度にそのレベルを上げることは困難
であり、高排除性を要求される為、透水性が小さく、経
済的に不可能となる。
mΩ・cm以上の電気比抵抗値と TOCを大幅に減少
させた水質を有する超純水を、1段で炉過処理製造し、
煩雑なプロセスを大幅に省くことが可能な極めて簡略か
つ取扱い性の優れた超純水の製造法を提供するにある。
ることを見い出し、本発明を完成したものである。
造工程において、原水を紫外線照射したのちアニオンま
たはカチオン交換機能性を有する微多孔膜の両方、また
はアニオン交換機能性微多孔膜単独で炉過処理すること
を特徴とする超純水製造方法、に関する。
オン交換機能性微多孔膜が、微多孔膜1g当り0.1
ミリ当攪〜5ミリ当量のアニオンまたはカチオン交換
機能性官能基を含有し、平均孔径が5μ以下で、平均分
子ffi 6,000のポリエチレングリコール除去率
が90%以下の、空孔率20%〜80%、膜厚10μ〜
5−の微多孔膜である。
原水の水質が、25゜Cにおける電気比抵抗値が17.
5mΩ・can以下、TOC成分が10ppb以上であ
る。
孔膜により炉過処理する前の処理として使用される紫外
線照射は、原水中の有機成分を酸化するためのものであ
る。この目的のためには、出来れば1849 nmを発
生する低圧水銀ランプが好ましく、微量の溶存酸素の場
合にも有効である。
オゾン等の酸化剤の力を借りても良い。これによって、
有機成分の大部分は、炭酸イオン等に酸化される。
を有する微多孔膜としては、好ましくは基材となる多孔
質膜の材質がポリオレフイン、オレフィンとハロゲン化
オレフインの共!合体、ボリフッ化ビニリデンまたはボ
リスルホンであり、膜の内外表面部および膜内部の孔の
表面部の少なくとも一部分に、カチオン又はアニオン交
換機能を有する官能基が化学的に結合した微多孔膜を用
いるのがよく、前記官能基の多孔質膜への結合は、直接
でもよく、また官能基を含有する重合体が側鎖として結
合されている場合でもよい。
であり、かつ膜構造が三次元網目構造をなし、膜の内外
両表面部および膜内部の孔の表面部の少なくとも一部分
または前面にわたってカチオン又はアニオン交換機能を
有する官能基、またはそれらの官能基を有する重合体が
化学的に結合している微多孔膜を用いて処理精製するの
がよい。
は、スルホン基、カルボン酸基、(多価及びキレート状
も含む)リン酸基のH゛タイプがあげられる。又、アニ
オン交換機能を有する官能基としては、−N” 、R3
X− −NR, 、−NHR等があげられる(こ
こで、Nは窒素原子、RH炭化水素基、Xはハロゲン又
は水酸基である).これらの官能基はそれぞれが膜1g
当り0.1ミリ当量ないし5ミリ当量含有されていなけ
ればならない。この範囲未満では膜のイオン除去能力の
低下を招く。
000の平均分子量を有するボリエチレングリコールの
除去率が、90%以下である。
。孔径がこの範囲より小さい場合は透水能力が実用性能
上充分でなく、またこれより大きいところでは電気比抵
抗値の増大性が問題となってくる。
ては、孔径が測定できる範囲においてはASTM F−
316−TOに記載されている、通常エアーフロー法と
呼ばれる空気圧を変えた場合の乾燥膜と湿潤膜の空気透
過流束から測定する方法に準拠する。
リコールを、0.1%濃度に設定し、1 m/secの
線速で1 kg / cfflの差圧下、25゜Cで炉
過した時のボリエチレングリコールのが液の濃度から計
算する。
〜80%の範囲にあるものが用いられる。
、その後乾燥させて、その前後の重量変化から測定した
ものである。空孔率が上記範囲以外においては、それぞ
れ透過速度、機械的性質の点で好ましくない。また、膜
厚は10μないし5胴の範囲にあるのが好ましい。
を含む)、チューブ状、中空糸状等が使用されるが、特
に中空糸状が好ましい。
、種々形成できる。例えば、基材ボリマーがポリスルホ
ンの場合は溶剤等を用いて混合溶液とした後、中空糸状
にノズルから吐出し、凝固剤等で成形するいわゆる湿式
法等を採用することにより三次元網目構造膜とすること
ができる。ポリオレフィンの場合は延伸法や、電子線照
射後化学処理により作られる、いわゆるエッチング法等
により多孔質膜とすることも可能であるが、孔構造とし
ては延伸法やエッチング法などにより得られた直孔貫通
型の孔構造よりも、例えば、特公昭59−37292号
公報、特公昭40−957号公報及び特公昭47−17
460号公報に示されたミクロ相分離法や混合抽出法な
どにより形成される三次元網目構造を有するものが実用
性能上好ましい。
を有する膜を用いるのが好ましい。
有する官能基を導入する方法としては、公知の方法が採
用される。例えば、ポリエチレンの側鎖にスルホン基を
導入する方法としては、非反応性の溶媒中又は硫酸中で
無水硫酸と反応させるか、ガス状で無水硫酸を反応させ
る方法があげられるが、スチレンを電子線等で放射した
後、グラフトさせ、その後前記のスルホン化を行う方法
が物性上好ましい。
じめ電子線等で膜を照射後、アクリル酸を気相中でグラ
フトさせる方法がとられる。
又はオレフインとハロゲン化オレフィンとの共重合体か
らなる多孔質膜に電離性放射線を照射させた後、スチレ
ンを気相中でグラフトさせ、クロ口メチル化した後、有
機アミンを付加させることにより得られる。
するには、膜に成形する前に導入することもできるが、
膜に成形した後膜の外面及び孔の表面部の少なくとも一
部分に、化学的に付加結合せさる方法が好ましい。官能
基は出来るだけ均一に、膜及び孔の各表面に結合させる
のが望ましい。
官能基の量は、微多孔膜1g当たりのミリ当量を指すが
、ここで膜1gとは、膜のかなりマクロ的な重量を基準
にした値のことであり、例えば、膜表面の一部、又は孔
の表面部の一部だけを取り出した重量のことではない。
オン交換機能を有する官能基を結合させるには、出来る
だけ膜の孔の表面に均一に、より優先的に官能基を存在
させた方が好ましいので、当然部分的な不均質性は許容
される。従って、ここで言う膜lgと言う意味は、膜の
前面にわたって平等に加味測定された値を示しており、
極く微視的な観点での重量を意味していない。
る微多孔膜の役割は非常に重要である。
用いる場合は、イオン交換樹脂を用いる場合に比べて優
れたイオン除去特性が得られると共に、何よりも再生液
量が画期的に少なくてすみ、かつ完全に再生処理される
。この事は、溶出成分(TOC)を少なくするうえで極
めて大きい利点である。
は、イオン交換樹脂に比して比較にならないほど孔径が
小さい(樹脂は数十μmから百μmであるのに比し、膜
は5μm以下)ので、溶出成分のもれが画期的に少なく
てすむ。
で使用する方が好ましいが、ケースによってはカチオン
交換機能性を有する微多孔膜を前段で使用する場合もあ
る。紫外線照射される前段階のプロセスの如何によって
はアニオン交換機能性微多孔膜単独で使用する事が出来
る。
炉過膜等の半透性膜が使用される。
方で、25゜Cにおける電気比抵抗値が7mΩ・1以下
、TOC10ppb以上の原水を紫外線照射後、炉過処
理した時に得られる水の電気比抵抗値は18mΩ・cm
以上、TOC成分は3 ppb、多くは2 ppb以下
に達する。
性微多孔膜の両方を使用する時は、特願昭63−126
000号公報に示されるモジュールによって1段で処理
することが可能である。なお、電気比抵抗値は市販され
ている各社の測定計を用いて測定される。TOCは湿式
酸化式TOC計等が使用される。
重量部、ジブチルフタレート(DBP)55.1重量部
、ポリエチレン樹脂粉末〔旭化成■製SH−8 0 0
−グレード) 23.0重量部の組成物を予備混合した
後、30ミリ2軸押出機で内径0.7mm、厚ミ0.2
5ffI[I1ノ中空系状に押出した後、1,1. 1
− トリクロロエタン(クロロセン■C(商品名)〕
中に60分間浸漬し、DBPを抽出した。更に温度60
゜Cの苛性ソーダ40%水溶液中に約20分浸漬して微
粉珪酸を抽出した後、水洗、乾燥した。
、電子線電流1mA)を用いて窒素雰囲気下100KG
yで電子線を照射した後、スチレン(10%ジビニルベ
ンゼンを含む)を膜に対して60重量%気相中でほぼ完
全にグラフトさせて洗浄乾燥後、EDC中でS03を用
いてスルホン化し、平均孔径0,15μm、空孔率62
%、スルホン基1.6ミリ当量/膜1gの膜(実施例膜
(八))を得た。
った。
■1型とした後、水洗し、次にINのCaC1.aq.
へ浸漬し、遊離したMCIを0.INのNaOHaq.
を用い、フェノールフタレインを指示薬として滴定した
。
膜(八)を作る途中で得たものを使用し、得られた多孔
質膜に電子加速器(加圧電圧1。5Me■、電子線電流
1mA)を用いて窒素雰囲気下で電子線を2 0 Mr
ad照射した後、気相中でスチレンを膜に対して80重
四%になるように略100%グラフトした。
後に、メチルクロールメチルエーテルで、クロールメチ
ル化した後、トリメチルアミンで反応させた。得られた
アニオン交換基の総イオン容量は 1.50ミリ当量/
gボリマーであり、平均孔径0.17μm、空孔率は5
6%であった(実施例膜(B))。なお、アニオン交換
容量の測定方法は、清水博著、共立出版■発行「イオン
交換樹脂」89頁による測定方法に従った。
を使用して、特願昭63−126000号公報に示す多
機能モジュールを得た。なお、有効膜面積は、実施例膜
(八)が4.0ボ、実施例■ク(B)が4.9ボであっ
た(内径基′!$)。
゜Cにおける電気比抵抗値17mΩ・cm、TOC
15ppb,溶存酸素の濃度70μg/尼の原水を炉過
速度5l/fflinで炉過した。炉過に先立ち、原水
を紫外線照射(低圧0.05 mmHg ) Lた。
序で処理を行った。
TOCは1.5 pρbであった。
TOCは東レアスト口社1800 ppB装置により測
定した。
、イオン交換樹脂(ボリッシャー:三菱化成ダイアイオ
ンSKIB(CA)とSAIOA(AN) 、容量比1
/1.5 )を用い、空間速度(SV)35で処理した
以外は実施例と同じ処理を行った。得られた水の電気比
抵抗値は18.0mΩ・cm,TOCは9.5ppbで
あった。
C成分が掻めて低い水質が1段の炉過処理で得られるの
で、半導体工業用超純水等の製造法として有用である。
下の文章を挿入する。
て、官能基が膜表面または孔の表面に間接的に付加され
ているものでもよい。」 以上
Claims (1)
- (1)水中のイオンと低分子有機成分を除去する純水製
造工程において、原水を紫外線照射したのち、アニオン
またはカチオン交換機能性を有する微多孔膜の両方、ま
たはアニオン交換機能性微多孔膜単独で濾過処理するこ
とを特徴とする超純水製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11200089A JP2921763B2 (ja) | 1989-05-02 | 1989-05-02 | 超純水製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11200089A JP2921763B2 (ja) | 1989-05-02 | 1989-05-02 | 超純水製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02293083A true JPH02293083A (ja) | 1990-12-04 |
JP2921763B2 JP2921763B2 (ja) | 1999-07-19 |
Family
ID=14575443
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11200089A Expired - Lifetime JP2921763B2 (ja) | 1989-05-02 | 1989-05-02 | 超純水製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2921763B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5468350A (en) * | 1992-10-21 | 1995-11-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Apparatus for manufacturing ultrapure water |
JP2003010849A (ja) * | 2001-07-02 | 2003-01-14 | Kurita Water Ind Ltd | 二次純水製造装置 |
CN113631242A (zh) * | 2019-03-29 | 2021-11-09 | 栗田工业株式会社 | 微粒去除装置及微粒去除方法 |
-
1989
- 1989-05-02 JP JP11200089A patent/JP2921763B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5468350A (en) * | 1992-10-21 | 1995-11-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Apparatus for manufacturing ultrapure water |
JP2003010849A (ja) * | 2001-07-02 | 2003-01-14 | Kurita Water Ind Ltd | 二次純水製造装置 |
CN113631242A (zh) * | 2019-03-29 | 2021-11-09 | 栗田工业株式会社 | 微粒去除装置及微粒去除方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2921763B2 (ja) | 1999-07-19 |
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