JPH02287113A - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JPH02287113A
JPH02287113A JP10989889A JP10989889A JPH02287113A JP H02287113 A JPH02287113 A JP H02287113A JP 10989889 A JP10989889 A JP 10989889A JP 10989889 A JP10989889 A JP 10989889A JP H02287113 A JPH02287113 A JP H02287113A
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distance
distance measuring
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light
psd
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Application number
JP10989889A
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English (en)
Inventor
Masayuki Misawa
昌幸 三澤
Isamu Hirai
平井 勇
Saburo Sugawara
三郎 菅原
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Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH02287113A publication Critical patent/JPH02287113A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えばカメラ等において、被写体までの距
離を測定する測距装置に関する。
(従来の技術〕 カメラにおけるオートフォーカス装置の1つとして、赤
外光アクティブ方式が知られている。この方式において
は、被写体に対して小径の赤外光ビームが投射され、そ
の反射光が半導体装置検出素子(P S D)等により
受光される。そしてPSDの検出出力から被写体までの
距離を演算し、その演算結果に対応して撮影レンズを所
定位置まで駆動し、撮影を行うものである。
従来斯かる装置においては、例えば人物が2人立ってい
る場面を撮影するようなとき、測距用の光ビームが2人
に投射されず、その間を通過してしまうことがある。そ
の結果本来の被写体としての人物までの距離ではなく、
その後方の背景までの距離が測定されてしまい、人物の
像は所謂ピンボケの状態になってしまう。
斯かる誤検出を防止するため1例えば特開昭59−19
3406号公報には、赤外光ビームを水平に(直線的に
)3本のビームに分割する方式が提案されている。この
ようにすれば測距範囲が広がり、左又は右の光ビームが
2人の人物に投射されるので、背景までの距離が誤って
測定されるおそれは少なくなる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら上記公報に記載された方式は、例えばカメ
ラを水平に構えて撮影する場合はよいが、縦に構えて撮
影する場合は、以前として従来の欠点を除去することが
できなかった。
この発明は斯かる状況に鑑みなされたもので、カメラの
構え方や被写体の配置に影響されずに、本来の被写体ま
での距離を正確に測定できるようにするものである。
〔課題を解決するための手段〕
この発明の測距装置は、測距用の光ビームを放射する複
数の光源手段と、複数の光源手段を順次電気的に駆動す
る駆動手段と、光源手段より発生された光ビームを被写
体に投射する投光手段と。
測距点が平面的に分布するように、その分布状態を制御
する分布制御手段と、被写体により反射された光ビーム
を集光する集光手段と、集光手段により集光された光ビ
ームを検出する検出手段とを備える。
〔作用〕
例えば光源手段としてのLEDが複数個配置され、ニオ
しが駆動手段により順次点灯される。測距点が2次元的
に分布するように、例えば分布制御手段としての機械的
移動手段により、LEDは所定の方向に移動される。あ
るいはLED自体が2次元的に配置されている場合は、
2次元方向に配置されているLEDを駆動する回路が分
布制御手段として機能する。
LEDから被写体に照射された光ビームは被写体で反射
され、半導体装置検出素子等よりなる検出手段により検
出される。検出手段の出力から被写体までの距離が演算
される。
従って被写体の配置やカメラの構え方の如何に拘らず、
本来の被写体までの距離を正確に測定することができる
〔実施例〕
第2図はこの発明における測距の原理を表わしている1
例えば赤外発光LED等よりなる光源1より発生された
測距用の光ビームは投光レンズ2を介して被写体3に投
光される。被写体3の反射点Rで反射された光ビームは
集光レンズ4を介して半導体装置検出素子(PSD)5
の所定の位置に入射される。
集光レンズ4の光軸がPSD5の中央に位置されている
とすると、被写体3がカメラのフォーカス調整上jM限
大の距離に位置しているとき、光ビームはPSD5の中
央の位置Mに入射する。被写体3と投光レンズ2との距
fidが小さくなるにつれ、PSDS上における光ビー
ムのスポットの位置Sは、図中右側に移動する。
PSD5の右側端部Aと位置Sとの距離をX、位置Mと
位Isとの距離をΔL、PSD5の左側端部Bと右側端
部Aまでの長さをし、長さと抵抗値が比例するものとす
ると、PSD5の右側端部Aからの出力電流I□と、左
側端部Bからの出力電流I2は1次のようになる。
r、=IP−(L−X)/L       −−・(1
)T2=1p−x/L          ・・、・(
2)ここでrpは入射光による光電流(定数)である。
上式より次式が得られる。
I、=(I、−L)/(L+ 1.) =(I p(L  x)/L−I p−x/L)/(I
 P(L x)/L+I p−x/L)=1−2・x 
/ L         ・・・(3)また次の(4)
式が成立するから、 x = L / 2−ΔL         ・・・(
4)この(4)式を(3)式に代入して(5)式が得ら
れる。
I、=1−2・x/L =1−2(L/2−ΔL)/L =2ΔL/L             ・ ・ ・(
5)投光レンズ2の中心02°、被写体3の反射点R及
び集光レンズ4の中心04を結んでできる3角形と、位
置M、中心04及び位置Sを結んでできる3角形は相似
であるから、(6)式が成立する。
ΔL=Df/d           ・・・(6)こ
こでfは集光レンズ4の焦点距離(集光レンズ4とPS
D5との距M)、Dは基線長(投光レンズ2の光軸と集
光レンズ4の光軸との距i4)である。
従って(6)式を(5)式に代入して、次の(7)式が
得られる。
I0= 2 D f /(d L)         
・・・(7)(7)式を書き換えて(8)式が得られる
d=2Df/(Ll、)         ’ ” ’
(8)(8)式において値り、f、Lは既知であり、値
■工は(3)式に対応してI) S D 5の出力電流
I□。
I2から演算できるので、結局(8)式より被写体まで
の距離を演算することができる。
第3図はこの発明の測距装置のブロック図である。同図
において21は例えばマイクロコンピュータ等よりなる
制御回路であり、測距動作を含む撮影動作を制御する。
22は図示せぬシャッタのレリーズボタンに連動して動
作されるスイッチである。23は光源1を駆動する駆動
回路、24はPSD5の出力をA/D変換して制御回路
21に供給するA/D変換回路である。25は図示せぬ
撮影レンズを駆動するレンズ駆動系である。26はメモ
リであり、プログラム、データ等を記憶する。
しかしてスイッチ22を抑圧すると、制御回路21はl
ψ動回路23を介して光源1をil動し、光ビー11を
発生させる。この光ビームは投光レンズ2を介して被写
体3に投射される。被写体3で反射された光ビー11は
集光レンズ4を介してPSD5に入射される。PSD5
の出力電流■い I2はA/D変換回路24によりA/
D変換さiy、制御回路21に入力される。制御回路2
1は上述した(3)式と(8)式に対応して距fidを
演nする。両値り、f、L等はメモリ26に、予め記憶
されている。
制御回路21は演算結果に対応してレンズ駆動系25を
介して撮影レンズを駆動し、撮影レンズが所定位置に移
動されたとき、シャッタを動作させる。
第4図乃至第9図はこの発明の測距装置における投光系
の実施例を表わしている。
第4回の実施例においては、光源1として3個のLED
I a、lc、isが設けらハている。LEDlc、1
a、1eは基線長方向と平行な方向(図中左右方向)に
直線的に順次配列さオしている。
これらのLEDla、1c、1eは、各々個別に順次駆
動、点灯(ffi気的にスキャン)される、また投光レ
ンズ2の出射側には、ill’l距点を2圧点的(平面
的)に分布させるためのプリズム11が配置されている
。プリズム11は入射光の光軸に垂直な面11Aと、面
lIAに対して傾斜した面11B、110を有している
。従って1個のLED(例えばla)が点灯されたとき
、プリズム11の面11A、11B、LIDから各々光
ビームが出射され、第10図に示すように、撮影範囲1
0の中に、基線長方向と垂直な方向(図中上下方向)に
3個の測距点(Pa、PaいPa2)が形成される。
ここで測距点Pa、PaいPa、は、各4面11A、I
IB、LIDから出射される光ビームに対応している。
同様に他のLEDlc、1eを点灯すると、測距点P 
c 、 P c、、 P c、及びPe、Pe 1 +
 P e zが各々形成され、 1lllJ距点の数は
合計9個になる。
第5図の実施例においては、第4図におけるプリズム1
1が省略され、その代わりにLEDla、1c、1eが
、基線長方向と垂直な方向(図中上1;方向)に所定距
離だけ移動されるようになっている。すなわちLEDを
機械的に移動させることにより、測距点を2次元的に分
布させている。この場合も9個の;m圧点が形成される
第6図の実施例においては、中央のL E D 1 a
の上下にLEDlbとldが、またその左右にLEDI
 cとleが配置され、さらに斜め4角にLEDlf、
1g、1 b、11が配置されている。
基線長方向と垂直な方向に配列された3個のLED(l
 f、1c、Ig)、(lb、1a、ld)、(11,
1e、1h)が各々組とされ、各組の中のLEDは同時
に点灯されるようになっている。そして各組が基線長方
向と平行な方向に順次駆動、点灯される。すなわちこの
場合においては、LEDを予め2次元的に配置しておき
、これを組をなすLEDの配列方向(基線長方向と垂直
な方向)と垂直な方向(基線長方向と平行な方向)に順
次l駆動することにより、測距点を2次元的に分布、発
生させている。
以上の実施例は、LEDをスキャンする方向が基線長方
向と平行な方向であったが、LEDは基線長方向と重直
な方向にスキャンするようにすることもできる。第7図
乃至第9図がその実施例である。
第4図に対応する第7図においては、3個のLEDlb
、1a、1dが基線長方向と垂直な方向に直線的に配列
されている。またプリズ1112は垂直な面12Aと、
傾斜した面12C,12Eを有し、これらの面は基線長
方向と平行な方向に配列されている。
第5図に対応する第8図の実施例においては、基線長方
向と垂直な方向に配列された3個のLEDlb、1a、
1dが、その方向に電気的にスキャンされるとともに、
基線長方向と平行な方向に所定距離だけ移動されるよう
になっている。
また第6図に対応する第9図の実施例においては、9個
のLEDのうち、基線長方向と平行な方向に配列された
3個のLED(if、1b、li)、(lc、1a、l
e)、(Ig、1d、l11)が、各々組とされ、各粗
筋にスキャンされるようになっている。
一方第1図の実施例においては、9個のLEDが各々独
立とされ、基線長方向と平行な方向及びそれに垂直な方
向の2方向に電気的にスキャンされるようになっている
次にこれらの投光系に適用可能な集光系の実施例につい
て説明する。
第11図乃至第14図は、凸線長方向と平行な方向に分
布された複数の測距点からの光ビームを、プリズムを用
いて光学的にPSDに入射させるようにしたものである
第11図の実施例においては、集光レンズ4の入射側に
、プリズム13が配置されている。このプリズt113
は、垂直な面13Aと、傾斜した面13B乃至13Eを
有している1面13E、13A、13Gは基線長方向と
平行な方向に、また面130.13A、13Bは、それ
と垂直な方向に。
各々順次配置されている。従って、第10図における測
距点Pa、Pa、、Pc、Pa2、Peからの反射光ビ
ームが、このプリズム13の面13A、13B、13C
113D、13Eから各々入射され、集光レンズ4を介
してPSD5に照射される。
ここで1つのPSDに複数の測距点からの光が入射され
る場合のPSDの動作について説明する。
例えば第15図に示すように、撮影範囲1oの中央より
やや右側に人物31が、左側に木33が。
そして中央に背景の山32が、各々配置されているとす
ると、測距点Paにより人物31が、測距点Pcにより
木33が、そしてδ1グ距点Pa工(Pa。
Pa、)により山32が、各々測距される。
いま人物31がカメラに最も近く、山32が最も遠く、
そして木33が両者の中間の距離に、各々位置している
ものとすると、第16図に示すように、PSDS上にお
いて、測距点Paに対応するスポットSeの位置Mから
の距離ΔLeは、測距点Pcに対応するスポットScの
位置Mからの距離ΔLcより大きくなる。また81す圧
点Pa、(Pa、Pa1)に対応するスボッt−8a、
(S a、 S al)は、理論的には位置Mに配置さ
れることになる。
しかしながらこの測距点Pa、(Pa、Pa□)とカメ
ラの距離は非常に長いので、光が途中で減衰され、実質
的にはスポットs a2(S a、 S a□)は形成
されない。
スポットScとSeの持つ光エネルギーを各々Ec、I
Ee、カメラから測距点Pc、Peまでの距離をdc、
de、測距点Pc、Peにおける反射率をRc、Reと
すると、次の(9)式が成立する。
E c :E e = Re/(dc)”:Re/(d
e)” ・・・(9)(9)式より(10)式が成立す
る。
Ec/Ee=Re(da)2/(Re・(dc)J ・
・(10)スボッh S cとSeの各々の重心位置を
C□。
eよとすると、両スポットの光エネルギーの重心位置g
□は、線分Cいeiを光エネルギーの比Pe対Ecで内
分した点となる。従って重心位置g1の位置Mからの距
離ΔLgは、次の(11)式より求められる。
ΔLg=ΔLs−(ΔLe−ΔLc)/(1+lEe/
Ec) ・・・(11)PSD5はこの(11)式に対
応する電流工0、■2を出力するので、測距範囲内に2
つ以上の被写体がある場合、それらの光学的な重心位置
が測距されることになる。
そして一般的に、近距離側の被写体からの反射光(実施
例の場合スポットSe)の方が、遠距離側の被写体から
の反射光(実施例の場合スポットSC)より、光エネル
ギーが強いから、遠距離側の被写体の距f13Iに拘ら
ず、略近距離側の被写体に近いピントが得られることに
なる。さらに一般的に、撮影範囲の中央付近における最
近距離の被写体が主被写体であることが多いから、これ
により主被り体が所謂ピンボケになるようなことが防止
される。
第12図の実施例においては、集光レンズ4の入射側に
配置されたプリズム14が、垂直な面14Aと、傾斜し
た面14G、14Eのみを有しており、基線長方向に垂
直な方向の面を有していない。その代わり、PSD5が
基線長方向と垂直な方向に所定距踵だけ移動されるよう
になっている。
従ってこの実施例の場合、基線長方向と平行な方向に配
列された測距点を同時に測距する機能を有しているが、
基線長方向と垂直な方向の測距点は順次異なるタイミン
グで111g距することになる。
これに対して第13図の実施例においては、中央に配置
されたPSD5aの上下に、PSD5b。
5dが配置されている。これにより第12図の実施例の
ようにPSD5を上下に移動させる必要がなくなる。
一方第14図の実施例においては、PSD5Aの基線長
方向と垂直な方向の長さが、第12図のPSD5の約3
倍に設定されている。換言すれば、第13図の実施例に
おける3個のPSD5 b、5a、5dを、1個のPS
D5Aで形成したようになっている。従ってこの場合P
SD5Aを時分割で動作させることにより、第12図に
おける場合と■様に測距を行うことができる。すなわち
例えば最初に測距点Pa、Pc、Pe、次に測距点Pa
1、P cL、P e□、さらにその次に測距点Pa2
゜P c2. P e、を各々順次測距する。
次に第17図乃至第20図の実施例は、基線長方向と平
行な方向を機械的にスキャンする場合のものである。
第17図の実施例においては、集光レンズ4の入射側に
配置されたプリズム15が、垂直な面15Aと、傾斜し
た面15I3、L5Dを有している。
この面15D、15A、15Bは基線長方向と垂直な方
向に順次配置されているので、PSD5が基線長方向と
平行な方向に移動されるようになっている。
これに対して第18図の実施例においては、第17図の
実施例におけるプリズム15が省略され、その代わりに
PSD5が基線長方向と平行な方向だけでなく、垂直な
方向にも移動されるようになっている。
また第19図の実施例においては、基線長方向と垂直な
方向への移動を不要とするため°、3個のPSD5b、
5a、5dが基線長方向と垂直な方向に配列されている
さらに第20図の実施例においては、基線長方向と垂直
な方向に約3倍の長さを有するPSD5Aが用いられ、
その方向に時分割的に819距される。
次に第21図乃至第24図は、基線長方向と平行な方向
に、複数のPSDを配置した実施例を表わしている。
第21図の実施例においては、基線長方向と平行な方向
に3個のPSD5c、5a、5eが順次配列されるとと
もに、これらのPSDに、基線長方向と垂直な方向の測
距点からの光ビー11を入射させるため、集光レンズ4
の入射側に、基線長方向と垂直な方向に配列された面1
5D、15A。
1511を有するプリズ1115が配置されている。
これに対して第22図の実施例においては、第21図に
おけるプリズl、15が省略され、その代わり、PSD
5a、5c、5eを、基線長方向と垂直な方向に移動さ
せるようになっている。
−力筒23図の実施例においては、基線長方向と平行な
方向に配列されたPSD5a、5c、5eの他に、基線
長方向と垂直な方向に配列されたPSD5b、5dを有
している。従ってこの場合基線長方向と平行な方向だけ
でなく、垂直な方向への移動も不要になる。
第24図の実施例においては、第20図の実施例におけ
るPSD5Aの基線長方向と平行な方向の左右に、PS
D5B、5Cが配置されている。
これによりPSDの基線長方向と平行な方向への移動が
不要になっている。
次に第25図乃至第28図は、PSDを基線長方向と平
行な方向に長くし、これを電気的にスキャンする実施例
を表わしている。
第25図の実施例においては、第17図の実施例におけ
るPSD5の基線長方向と平行な方向の長さを、約3倍
に設定したPSD5Dが用いられている。換言すわば、
第21図の3個のPSD5a、5c、5aを、1個のP
SD5Dで置き換えたものとなっている。この場合、基
線長方向と平行な方向に配列された測距点(例えばPa
、Pc、Pe)からの光ビームが1つのPSDに時分割
的(時系列的)に入射される。そこでこの場合は、PS
D5Dを基線長方向と平行な方向に電気的にスキャンす
る必要がある。
次にこの基線長方向と平行な方向への電気的スキャンの
原理について第29図を参照して説明する。いまLED
leと10はLEDlaと距離qだけ離れ、被写体3が
フォーカス調整上無限大の距離に位置する場合、LED
I a、1c、1eより出射された光ビームは、糸路B
a、Be、Beを通って点Sa 6、Sc0、Se、に
入射するものとする。また集光レンズ4の光軸は位置M
から距離Qだけ離れているものとする。Ra、Rc、R
eとSal、Sci、Se1は、各々LED1a、1c
、1eからの光ビームの被写体3上における反射点と、
PSDS上における入射点である。
反射点Ra、Re、Reがいずれも、投光レンズ2から
距離dの平面内にあるとすると、点Sa。とSal、S
coとSc、、Se、とSe□の距にはいずれもΔLと
なり等しくなる。点Sai、ScいSe□とPSD5の
右側端部Aとの距離を各々X1、x2、x3とすると1
次式が成立する。
×1=L/2−ΔL+Q           ・・・
(12)x 2=L/ 2−ΔL+Q−q      
    ・・・(13)x3:L/2−ΔL+Q+9 
        ・・・(14)従って各xiにおける
(3)式の演算値1.(xi)は各々次のようになる。
ro(xl)=1− (2/L) (xl)=2ΔL/
L−20/L       ・・・(15)1、(x2
)=1−(2/L)(x2)=2ΔL/L−2Q/L+
 2q/L     ・・・(16)In (x3) 
=1− (2/L) (x3)=2ΔL/L−2Q/L
−2q/L     ・・・(17)すなわちこれらの
式より明らかなように、演算値I。(x2)と1.(x
3)は、I、(x 1)より2q/Lだけ増加又は減少
している。この値2 q/LはLEDの基線長方向の距
Mqと、PSD5の長さしにより定まるものであるから
、既知の値である。従ってLEDlc、1f、1g又は
1e、1i、lhを点灯する場合は、LEDla、lb
1dを点灯する場合に較べ、(3)式の演算値からこの
値2q/L(=k)だけ減算又は加算することにより、
L E D 1 a、1b、1dを点灯する場合と同様
に距離dを求めることができる。基線長方向と平行な方
向へ電気的にスキャンするとは、この値kを加減算して
距i!Idを補正演算することに他ならない。
第26図の実施例においては、第25図の実施例におけ
るプリズム15が省略されている。その結果PSD5D
を基線長方向と工直な方向に移動させるようになってい
る。
これに対して第27図の実施例においては、PSD5D
の上下に、PSD5E、5Fが配置されている。従って
基線長方向と垂直な方向へのPsDの移動は不要となる
第28図の実施例においては、第27図の実施例におけ
る3個のPSD5D、5E、5Fを、1個のPSD5G
で置き換えた構成となっている。
従ってこの場合は基線長方向と平行な方向に電気的にス
キャンするとともに、垂直な方向には時分割駆動するこ
とが必要になる。
次に所定の投光系と集光系とを組合せた場合におけるい
くつかの測距動作を、フローチャートを参照して説明す
る。
第30図は第6図の投光系と第27図の集光系を用いた
場合のフローチャートである。制御回路21は先ずイニ
シャライズ処理を実行した後(ステップS1)、駆動回
路23を制御し、第1の組のLEDlb、1a、ldを
点灯させる(S2)。
これにより投光レンズ2を介して被写体3に光ビー11
が照射される。そして測距点Pa□、Pa、Pa2から
の反射光ビームが、集光レンズ4を介してPSD5E、
5a%5Fに各々入射される。
各PSDの出力データはA/D変換回路24によりA/
D変換され、1tlII御回路21に入力される(S3
)。制御回路21はPSD5D、5E、5Fの出力から
、(3)式の演算を行い、各々演算値1.1、l112
,1.3を求める(S4)、次に先ず演算値hotを変
数AにセットしくS5)、この変数Aを演算値I。2と
比較する(S6)。演算値I。の方が変数Aより大きけ
れば、変数Aを演算値工。、で更新する(S7)。次に
変数へと演算値■。1とを比較しくS8)、演算値I。
3の方が大きけオしば変数Aを更新する(S9)、この
ようにして変数Aには最も大きい演算値(最も短い距離
d)がセットされる。
次にLEDlf、1c、1gが駆動され(SlO)、P
SD5D、5E、5Fからのデータが読み込まれる(S
 11)、そして各PSDの出力から演算値1.□、 
Ill、I。1が演算される(S l 2)。
■ そしてこの場合、LEDla、1c、1gが、LEDl
b、1a、1dに対して距離qだけ離間しているので、
演算値I。い I ox、I 03に値k(=2q/L
)を減算し、補正する(S 13)。そして前述した場
合と同様に、演算値■。い I uz、Xa3のうち最
大のものを求め、それを変数Bにセットする(S14乃
至518)。
続いてLEDli、le、1hが点灯され(S19)、
そのデータが読み込まれる(S20)。そして演算値工
、□、 I02.  !。3が演算された後(S21)
、補正処理が行われる(S 22)。LEDIi、1e
、1hは、LEDlb、la、1dに対して、LEDI
 f、1c、1gと反対方向に距離qだけ離間している
ので、値kが加算さオbる。さらに演算値■。い 工。
2%  ID3のうち最大のものが変数Cにセットされ
る(S23乃至527)。
次に変数A、B、Cが相互に比較され、その最大のもの
が変数AにセットさJLる(828乃至531)。
このようにして求められた変数Aに対応してレンズ駆動
系25が制御される。
第31図は第1図の投光系と第28図の集光系を用いた
場合のフローチャートである。
先ずイニシャライズ動作が行われた後(Sl)、例えば
T、、 E D 1 aが点灯される(S2)、そして
PSD5Gが出力するデータが読み込まれ(S3)、演
算値■。1が演算され(S4)、その演算値I□が変数
Aにセットされる(S5)。
次に例えばLEDlcが点灯され(S6)、データが読
み込まれる(S7)、読込まれたデータから演算値■。
、が演算され(S8)、値kが減算されて補正が行われ
る(S9)、さらに演算値工。、と変数Aの比較が行わ
れ、大きい方が変数Aにセットされる(S 10.5l
l)。
続いてLEDI eが点灯され(S 12)、データが
読込まれ(S 13)、演算値Ia3が演算される(S
14)。さらに値kを加算する補正が行われた後(S1
5)、演算値工。、と変数Aのうち大きい方が変数Aと
される(816.517)。
次にLEDlbが点灯され(318)、データの読込(
S19)、演算値I。、の演算(S 20)、変数Aと
の比較(S21.522)の各処理が行われる。
以下同様に各LEDI f、li、ld、Ig、1hが
順次点灯され、同様の処理が実行される(S23乃至5
27)。この場合LEDldについてはLEDlbの処
理ステップ518乃至S22と同様の処理が、LEDI
 f、1gについては。
LEDlcの処理ステップS6乃至Sllと同様の処理
が、またLEDli、lhについては、LE D 1 
eの処理ステップS12乃至S17と同様の処理が、各
々実行される。
第32図は第1図の投光系と第11図の集光系を組合せ
た場合におけるフローチャートである。
イニシャライズ処理の後(Sl)、LEDlaが点灯さ
れる(82)、LEDlaより放射された光ビー11は
投光レンズ2を介して被写体3の測距点Paに照射され
る。その反射光ビームはプリズム13にその面13Aか
ら入射さJc、さらに集光レンズ4を介してPSD5に
入射される。1)SO2の出力データが読込まれ(S3
)、演算値I01が演算され(S4)、その値が変数A
にセットされる(S5)。
次にLEDlcが点灯され(S6)、測距点Pcからの
反射光ビ・−ムが、プリズム13にその面13cから入
射される。この光ビー11がさらに集光レンズ4を介し
てPSD5に入射される。PSD5の出力が読取られ(
S7)、演算値I02が演算される(SS)、そして演
算値工。□と変数Aとが比較され、大きい方が変数Aに
設定される(S9.510)。
以下同様にしてLEDle、lb、ldが順次点灯され
、同様の処理が実行される(S11乃至525)。この
場合L ED 1 e、1b、1dからの光ビームは被
写体により反射され、プリズム13の面13E、13I
3.13Dから各々入射される。このときこれらの面1
3B乃至13Eにより屈折されるので、81す圧点まで
の距離dが同一である場合、反射光ビームは面13Aか
ら入射された場合と同じ位置に入射される。従ってこの
場合演算値の補正処理は不要となる。
第33図は、第9図の投光系と第24図の集光系を組合
せた場合のフローチャー1・である。
イニシャライズ処理のe(SL)、例えばLEDlc、
la、leが同時に点灯される(S2)。LEDlc、
la、1eから放射され、被写体で反射された光ビーム
は、PSD5B、5A、5Cに、各々入射される。PS
D5A、5B、5Cの出力から、演算値1.l−l02
−  IO3が各々演算される(S4)、そしてこれら
の演算値I0い IO2、■。3が比較され、最も大き
い値が変数Aにセットされる(S5乃至S9)。
以下同様にLEDlf、1b、liの組と、1g、1d
、1hの組が、各々順次点灯され、同様の処理が実行さ
れる(S10乃至525)。このようにして変数Aには
、9つの演算値のうち最大のものがセットされる。
この他、測距点の数は、プリズムを種々の形状に形成し
たり、同−形状又は異なった形状のものを複数個組合わ
せる等して、調整することができる。さらにプリズムの
他1回折格子その他の光学素子を用いることもできる。
また以上においては検出素子としてPSDを用いたが、
CCD等を用いることもできる。
〔発明の効果〕
以上の如くこの発明によれば、複数の光源を順次点灯す
るとともに、プリズム等により光学的に光ビームを分割
したり、光源自体を機械的に移動させたり、あるいは予
め光源を2次元的に配置して、複数個の測距点を平面的
に(2次元的)に分布させるようにしたので、カメラの
構え方や被写体の配置に影響されずに、正確な測距が可
能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の測距装置の投光系の第7の実施例の
斜視図、 第2図はこの発明の測距装置の原理図、第3図はこの発
明の測距装置のブロック図、第4図はこの発明の測距装
置の投光系の第1の実施例の斜視図、 第5図はこの発明の測距装置の投光系の第2の実施例の
斜視図。 第6図はこの発明の測距装置の投光系の第3の実施例の
斜視図。 第7図はこの発明の測距装置の投光系の第4の実施例の
斜視図。 第8図はこの発明の測距装置の投光系の第5の実施例の
斜視図。 第9図はこの発明の測距装置の投光系の第6の実施例の
斜視図、 第10図はこの発明の測距装置の測距点の説明図。 第11図はこの発明の測距装置の集光系の第1の実施例
の斜視図、 第12図はこの発明の測距装置の集光系の第2の実施例
の斜視図。 第13図はこの発明の測距装置の集光系の第3の実施例
の斜視図、 第14図はこの発明の測距装置の集光系の第4の実施例
の斜視図。 第15図はこの発明の測距装置の測距点の説明図、 第16図はこの発明の測距装置の半導体装置検出素子の
説明図、 第17図はこの発明の81!I距装置の集光系の第5の
実施例の斜視図、 第18図はこの発明の311距装置の集光系の第6の実
施例の斜視図、 第19図はこの発明の測距装置の集光系の第7の実施例
の斜視図、 第20図はこの発明の測距装置の集光系の第8の実施例
の斜視図、 第21図はこの発明の測距装置の集光系の第9の実施例
の斜視図、 第22図はこの発明のii+1距装置の集光系の第10
の実施例の斜視図、 第23図はこの発明の測距装置の集光系の第11の実施
例の斜視図。 第24図はこの発明の測距装置の集光系の第12の実施
例の斜視図、 第25図はこの発明の1flff距装置の集光系の第1
3の実施例の斜視図、 第26図はこの発明の測距装置の集光系の第14の実施
例の斜視図。 第27図はこの発明の測距装置の集光系の第15の実施
例の斜視図。 第28図はこの発明の測距装置の集光系の第16の実施
例の斜視図、 第29図はこの発明の測距装置における基線長方向と平
行な方向における補正の説明図、第30図はこの発明の
測距装置の第1のフローチャート、 第31図はこの発明の測距装置の第2のフローチャート
、 第32図はこの発明の測距装置の第3のフローチャート
、 第33図はこの発明の測距装置の第4のフローチャート
である。 1・・・光源 2・・・投光レンズ 3・・・被写体 4・;・集光レンズ 5・・・半導体装置検出素子(P S D)10・・・
測距範囲 11.12,13,14,15・・・プリズム21・・
・制御回路 23・・・駆動回路 24・・・A/D変換回路 25・・・レンズ駆動系 26・・・メモリ 31・・・人物 32・・参山 33・・・木 以上 第1図 第2図 第3図 第6 図 第7 図 第8図 1D 第5 図 第16図 第17図 第14区 第15rIA 第18区 第19図 第20図 第22図 5e 第23図 第30rI!J(y−1) 第30囚 (可の2)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 測距用の光ビームを放射する複数の光源手段と、複数の
    前記光源手段を順次電気的に駆動する駆動手段と、 前記光源手段より発生された光ビームを被写体に投射す
    る投光手段と、 測距点が平面的に分布するように、その分布状態を制御
    する分布制御手段と、 前記被写体により反射された光ビームを集光する集光手
    段と、 前記集光手段により集光された光ビームを検出する検出
    手段とを備える測距装置。
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