JPH02265078A - ディスクプレーヤのサーボ装置 - Google Patents
ディスクプレーヤのサーボ装置Info
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- JPH02265078A JPH02265078A JP26319189A JP26319189A JPH02265078A JP H02265078 A JPH02265078 A JP H02265078A JP 26319189 A JP26319189 A JP 26319189A JP 26319189 A JP26319189 A JP 26319189A JP H02265078 A JPH02265078 A JP H02265078A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 13
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、ディスクプレーヤのサーボ装置に関する。
背景技術
ビデオディスクやディジタルオーディオディスク等の情
報記録ディスク(以下、単にディスクと称する)を演奏
する例えば光学式ディスクプレヤには、光ビームをディ
スクの情報記録面上に収束させて情報読取用光スポット
を形成させるためのフォーカスサーボ装置や、情報読取
用光スポットをディスクの記録トラックに正確に追従さ
せるためのトラッキングサーボ装置か不可欠である。
報記録ディスク(以下、単にディスクと称する)を演奏
する例えば光学式ディスクプレヤには、光ビームをディ
スクの情報記録面上に収束させて情報読取用光スポット
を形成させるためのフォーカスサーボ装置や、情報読取
用光スポットをディスクの記録トラックに正確に追従さ
せるためのトラッキングサーボ装置か不可欠である。
フォーカスサーボ装置としては、例えば、円筒レンズを
用いて光ビームの光路上の互いに離れた2点のうちの一
方においては光ビームが例えば水平方向に1本の線とし
て集光し、他方においては光ビームが垂直方向に1本の
線として集光するようにすると共に、該2点の中1jJ
に4分割光検知器を配置し、この4分割光検知器の4出
力に基づいてフォーカスエラー信号を生成するようにし
たいイっゆる非点収差法による装置が知られている。
用いて光ビームの光路上の互いに離れた2点のうちの一
方においては光ビームが例えば水平方向に1本の線とし
て集光し、他方においては光ビームが垂直方向に1本の
線として集光するようにすると共に、該2点の中1jJ
に4分割光検知器を配置し、この4分割光検知器の4出
力に基づいてフォーカスエラー信号を生成するようにし
たいイっゆる非点収差法による装置が知られている。
また、トラッキングサーボ装置としては、例えば、情報
読取用メインビーム及びその両側に配置されたトラッキ
ングエラー検出用の2本のサブビムの泪3本のビームを
用意し、これらビームをその光軸を結ぶ線かトラック接
線方向に対して所定のオフセット角を有するように配置
し、ディスクの情報記録面を経た2本のザブビームの光
量の差に基づいてエラー信号を生成するいわゆる3ビム
法による装置が知られている。
読取用メインビーム及びその両側に配置されたトラッキ
ングエラー検出用の2本のサブビムの泪3本のビームを
用意し、これらビームをその光軸を結ぶ線かトラック接
線方向に対して所定のオフセット角を有するように配置
し、ディスクの情報記録面を経た2本のザブビームの光
量の差に基づいてエラー信号を生成するいわゆる3ビム
法による装置が知られている。
これらサーボ装置として、近時、各エラー信号をA/D
(アナログ/ディジタル)変換してディジタル処理す
るディジタルサーボ装置が用いられるようになっている
。このディジタル回路構成のサーボ装置においては、第
11図に示すように、アナログローパスフィルタによっ
て原エラー信号をA/D変換器のサンプリング周波数の
1/2以下に帯域制限することにより(a)、サンプリ
ング(標本化)の際に折返しが生じないようにしている
(b)。
(アナログ/ディジタル)変換してディジタル処理す
るディジタルサーボ装置が用いられるようになっている
。このディジタル回路構成のサーボ装置においては、第
11図に示すように、アナログローパスフィルタによっ
て原エラー信号をA/D変換器のサンプリング周波数の
1/2以下に帯域制限することにより(a)、サンプリ
ング(標本化)の際に折返しが生じないようにしている
(b)。
ところで、ディスクの情報記録面上に傷等が存在した場
合、その傷の種類によってはサンプリング周波数の]7
2以上の例えば20KHz以上の高周波のノイズ成分が
エラー信号に重畳されることになる。しかしなから、コ
スl−1fij等の問題から、このような高周波のノイ
ズ成分をアナログローパスフィルタによって完全に減衰
せしめることは難しい。したかって、第12図に示すよ
うに、A/D変換器のサンプリング周波数の1/2以上
の周波数成分のノイズを含んだ原エラー信号をローパス
フィルタを通過させてもノイズ成分を完全に減衰させる
ことができなく(a)、このノイズ成分がA/D変換器
にそのまま入力されると、通過帯域内に折返しノイズの
影響が発生する(b)。このため、この折返しノイズの
影響により、音飛びやトラック飛び等の不具合が生じる
ことになる。
合、その傷の種類によってはサンプリング周波数の]7
2以上の例えば20KHz以上の高周波のノイズ成分が
エラー信号に重畳されることになる。しかしなから、コ
スl−1fij等の問題から、このような高周波のノイ
ズ成分をアナログローパスフィルタによって完全に減衰
せしめることは難しい。したかって、第12図に示すよ
うに、A/D変換器のサンプリング周波数の1/2以上
の周波数成分のノイズを含んだ原エラー信号をローパス
フィルタを通過させてもノイズ成分を完全に減衰させる
ことができなく(a)、このノイズ成分がA/D変換器
にそのまま入力されると、通過帯域内に折返しノイズの
影響が発生する(b)。このため、この折返しノイズの
影響により、音飛びやトラック飛び等の不具合が生じる
ことになる。
発明の概要
[発明の目的]
そこで、本発明は、ディスクの情報記録面上にいかなる
種類の傷が存在しても音飛びゃトラック飛び等か発生し
ないようにしたディスクプレーヤのサーボ装置を提供す
ることを目的とする。
種類の傷が存在しても音飛びゃトラック飛び等か発生し
ないようにしたディスクプレーヤのサーボ装置を提供す
ることを目的とする。
[発明の構成]
本発明によるディスクプレーヤのサーボ装置は、ディス
クから記録情報を読み取るピックアップの出力信号に基
づいて生成されたエラー信号をディジタル化するA/D
変換器を有し、前記エラー信号をディジタル処理した後
その信号レベルに応じて前記ピックアップを駆動制御す
るディスクプレーヤのサーボ装置であって、前記エラー
信号の低域成分を通過せしめて前記A/D変換器に1共
給するフィルタ手段と、前記エラー信号中に含まれる所
定レベル以上のノイズ成分を検出する検出手段と、前記
検出手段による検出時点から所定期間だけ制御信号を発
生ずる手段とを備え、前記フィルタ手段が、前記制御信
号の不存在時には前記A/D変換器のサンプリング周波
数の1/2以下のカッ−・オフ周波数の第1通過特性と
なり、前記制御信号の存在時には前記第1通過特性より
も低いカットオフ周波数の第2通過特性となる構成とな
っている。
クから記録情報を読み取るピックアップの出力信号に基
づいて生成されたエラー信号をディジタル化するA/D
変換器を有し、前記エラー信号をディジタル処理した後
その信号レベルに応じて前記ピックアップを駆動制御す
るディスクプレーヤのサーボ装置であって、前記エラー
信号の低域成分を通過せしめて前記A/D変換器に1共
給するフィルタ手段と、前記エラー信号中に含まれる所
定レベル以上のノイズ成分を検出する検出手段と、前記
検出手段による検出時点から所定期間だけ制御信号を発
生ずる手段とを備え、前記フィルタ手段が、前記制御信
号の不存在時には前記A/D変換器のサンプリング周波
数の1/2以下のカッ−・オフ周波数の第1通過特性と
なり、前記制御信号の存在時には前記第1通過特性より
も低いカットオフ周波数の第2通過特性となる構成とな
っている。
[発明の作用]
本発明によるディスクプレーヤのサーボ装置においては
、通常はA/D変換器のサンプリング周波数の1/2以
下のカットオフ周波数の第1通過特性を有するフィルタ
手段によってA/D変換器に入力されるエラー信号の帯
域を制限することとし、エラー信号中に所定レベル以上
のノイス成分が含まれていることを検出したときには、
その検出時点から所定期間たけ第1通過特性よりも低い
カットオフ周波数の第2通過特性を有するフィルタ手段
によってそのノイズ成分を遮断する。
、通常はA/D変換器のサンプリング周波数の1/2以
下のカットオフ周波数の第1通過特性を有するフィルタ
手段によってA/D変換器に入力されるエラー信号の帯
域を制限することとし、エラー信号中に所定レベル以上
のノイス成分が含まれていることを検出したときには、
その検出時点から所定期間たけ第1通過特性よりも低い
カットオフ周波数の第2通過特性を有するフィルタ手段
によってそのノイズ成分を遮断する。
実施例
以下、本発明の実施例を図に基づいて詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。図
において、レーザビームを収束せしめることによって得
られる3つのビームスポット、すなわち記録情報読取用
スポットS1とこのスポットs+のディスクとの相対的
移動に際してそれぞれ先行及び後続する一対のトラッキ
ングエラー検出用スポッ1−82.S3とが図示の位置
関係をもって、ピックアップ(図示せず)からディスク
の記録トラックTに対して照射される。これらビムスポ
ットによるディスクからの反射光はピックアップに内蔵
された光電変換素子1〜3に入射し、電気信号に変換さ
れる。なお、ピックアップには、対物レンズを含む光学
系の他、ディスクの情報記録面に対する対物レンズの光
軸方向の位置制御をなすフォーカスアクチュエータやビ
ームスポットの記録トラックTに対するディスク半径方
向の位置制御をなすl・ラッキングアクチュエータ等も
内蔵されている。このピックアップはディスク半径方向
において移動自在なキャリッジ(図示せず)により担持
されている。
において、レーザビームを収束せしめることによって得
られる3つのビームスポット、すなわち記録情報読取用
スポットS1とこのスポットs+のディスクとの相対的
移動に際してそれぞれ先行及び後続する一対のトラッキ
ングエラー検出用スポッ1−82.S3とが図示の位置
関係をもって、ピックアップ(図示せず)からディスク
の記録トラックTに対して照射される。これらビムスポ
ットによるディスクからの反射光はピックアップに内蔵
された光電変換素子1〜3に入射し、電気信号に変換さ
れる。なお、ピックアップには、対物レンズを含む光学
系の他、ディスクの情報記録面に対する対物レンズの光
軸方向の位置制御をなすフォーカスアクチュエータやビ
ームスポットの記録トラックTに対するディスク半径方
向の位置制御をなすl・ラッキングアクチュエータ等も
内蔵されている。このピックアップはディスク半径方向
において移動自在なキャリッジ(図示せず)により担持
されている。
光電変換素子]は、受光面を4分割する如く配置されか
つ互いに独立した4つの受光エレメントによって構成さ
れている。そして、受光面の中心に関して互いに対向す
るエレメント同士の出力和か差動アンプ4に供給されて
両出力和の差信号が導出され、この差信号がフォーカス
エラー(F E)信号となる。このフォーカスエラー信
号は、対物レンズがその合焦位置に対して上下動するこ
とにより、第2図に示すように、対物レンズのディスク
面からの離間距離に対して合焦位置でゼロクロスするい
わゆる8字カーブ特性を示す。また、上記各出力和が加
算器5に供給されて両出力和の和信号、すなわぢ各エレ
メントの総和信号が導出され、この総和信号が読取RF
倍信号なる。
つ互いに独立した4つの受光エレメントによって構成さ
れている。そして、受光面の中心に関して互いに対向す
るエレメント同士の出力和か差動アンプ4に供給されて
両出力和の差信号が導出され、この差信号がフォーカス
エラー(F E)信号となる。このフォーカスエラー信
号は、対物レンズがその合焦位置に対して上下動するこ
とにより、第2図に示すように、対物レンズのディスク
面からの離間距離に対して合焦位置でゼロクロスするい
わゆる8字カーブ特性を示す。また、上記各出力和が加
算器5に供給されて両出力和の和信号、すなわぢ各エレ
メントの総和信号が導出され、この総和信号が読取RF
倍信号なる。
一方、光電変換素子2,3の各出力はアンプ6゜7を経
て差動アンプ8に供給されて両出力の差信号が導出され
、この差信号がトラッキングエラ(T E)信号となる
。トラッキングザ−ボル−ブのオープン状態において、
ビームスポットS1が第3図(A)に示すように1の記
録トラックT1から隣りの記録トラックT2に移動する
とき、トラッキングエラー信号は同図(B)に示す如く
サイン波状波形となり、そのレベルがビームスポットS
+の記録トラックTからの偏倚量に比例し、またゼロク
ロス点が記録トラックT上の中間位置及び各トラック間
の中間位置にそれぞれ対応している。
て差動アンプ8に供給されて両出力の差信号が導出され
、この差信号がトラッキングエラ(T E)信号となる
。トラッキングザ−ボル−ブのオープン状態において、
ビームスポットS1が第3図(A)に示すように1の記
録トラックT1から隣りの記録トラックT2に移動する
とき、トラッキングエラー信号は同図(B)に示す如く
サイン波状波形となり、そのレベルがビームスポットS
+の記録トラックTからの偏倚量に比例し、またゼロク
ロス点が記録トラックT上の中間位置及び各トラック間
の中間位置にそれぞれ対応している。
フォーカスエラー信号は、抵抗R1及びコンデンサC1
からなるLPF (ローパスフィルタ)24、並びに抵
抗R2、コンデンサC2及び電子スイッチ回路SW1か
らなるLPF25で不要周波数成分が除去された後、V
CA (電圧制御増幅器)9を介してMPX (マルチ
プレクサ)]1に供給される。同様に、トラッキングエ
ラー信号は、抵抗R3及びコンデンサC3からなるLP
F26並びに抵抗R4、コンデンサC4及び電子スイッ
チ回路SW2からなるLPF27で不要周波数成分が除
去された後、VCA]、0を介してMPXIIに供給さ
れる。
からなるLPF (ローパスフィルタ)24、並びに抵
抗R2、コンデンサC2及び電子スイッチ回路SW1か
らなるLPF25で不要周波数成分が除去された後、V
CA (電圧制御増幅器)9を介してMPX (マルチ
プレクサ)]1に供給される。同様に、トラッキングエ
ラー信号は、抵抗R3及びコンデンサC3からなるLP
F26並びに抵抗R4、コンデンサC4及び電子スイッ
チ回路SW2からなるLPF27で不要周波数成分が除
去された後、VCA]、0を介してMPXIIに供給さ
れる。
LPF24.26は、後述するA/D (アナログ/デ
ィジタル)変換処理の前に帯域外ノイズ成分を除去する
目的で設けられたものであり、各カットオフ周波数f
c+ (= 1. / 2πCIR+)、f。3 (=
1 / 2πC3R3)は、例えば、A/D変換の際
のザンプリング周波数fsが33 K Hz、ザーボ帯
域がフォーカス、トラッキングそれぞれIKHzである
とすると、約12KHz程度に設定される。一方、LP
F25.27は各カットオフ周波数fc2(=1/2π
C2R2)、f(、+(=1/2πC4Ra )が約5
K Hz程度に設定され、後述するザーボコントロー
ラ15による制御によって選択的に動作状態とされるこ
とにより、LPF24,26で除去し切れなかった高域
成分を取り除く作用をなす。各カットオフ周波数の大小
関係は、サンプリング周波数fsに対し フォーカス系 fs>fc+>fc2トラッキング
系 fs > fc3> fc4となる。
ィジタル)変換処理の前に帯域外ノイズ成分を除去する
目的で設けられたものであり、各カットオフ周波数f
c+ (= 1. / 2πCIR+)、f。3 (=
1 / 2πC3R3)は、例えば、A/D変換の際
のザンプリング周波数fsが33 K Hz、ザーボ帯
域がフォーカス、トラッキングそれぞれIKHzである
とすると、約12KHz程度に設定される。一方、LP
F25.27は各カットオフ周波数fc2(=1/2π
C2R2)、f(、+(=1/2πC4Ra )が約5
K Hz程度に設定され、後述するザーボコントロー
ラ15による制御によって選択的に動作状態とされるこ
とにより、LPF24,26で除去し切れなかった高域
成分を取り除く作用をなす。各カットオフ周波数の大小
関係は、サンプリング周波数fsに対し フォーカス系 fs>fc+>fc2トラッキング
系 fs > fc3> fc4となる。
MPXIIはフォーカスエラー信号及びトラッキングエ
ラー信号を次段のA/D変換器12に時分割伝送する。
ラー信号を次段のA/D変換器12に時分割伝送する。
A/D変換器12でディジタル化された各エラー信号は
ディジタルイコライザ(EQ)13で周波数特性が補償
された後PWM(パルス幅変調)回路14に供給されて
エラー信号の大きさ(レベル)に応じたパルス幅の駆動
信号として先述したフォーカスアクチュエータ及びトラ
ッキングアクチュエータに供給される。また、PWM回
路14ては、ディジタルEQ13においてトラッキング
エラー信号の低域成分が抜き出されかつ周波数特性の補
償がなされた後の信号レベルに応じたパルス幅の駆動信
号も生成され、この駆動信号はピックアップを担持した
キャリッジの駆動源であるキャリッジモータ(図示せず
)に供給される。
ディジタルイコライザ(EQ)13で周波数特性が補償
された後PWM(パルス幅変調)回路14に供給されて
エラー信号の大きさ(レベル)に応じたパルス幅の駆動
信号として先述したフォーカスアクチュエータ及びトラ
ッキングアクチュエータに供給される。また、PWM回
路14ては、ディジタルEQ13においてトラッキング
エラー信号の低域成分が抜き出されかつ周波数特性の補
償がなされた後の信号レベルに応じたパルス幅の駆動信
号も生成され、この駆動信号はピックアップを担持した
キャリッジの駆動源であるキャリッジモータ(図示せず
)に供給される。
以上により、各エラー信号をA/D変換してディジタル
処理するディジタルサーホ基が構成されており、このサ
ーボ系の制御はマイクロコンピュタからなるサーボコン
トローラ15によって行なわれる。このサーボコントロ
ーラ15は各サボループのオン(開成)・オフ(開放)
制御、対物レンズのアップ/ダウン動作時の駆動信号の
生成、VCA9,10のゲイン制御、ディジタルEQ1
Bのイコライザ特性の制御等を行なう。
処理するディジタルサーホ基が構成されており、このサ
ーボ系の制御はマイクロコンピュタからなるサーボコン
トローラ15によって行なわれる。このサーボコントロ
ーラ15は各サボループのオン(開成)・オフ(開放)
制御、対物レンズのアップ/ダウン動作時の駆動信号の
生成、VCA9,10のゲイン制御、ディジタルEQ1
Bのイコライザ特性の制御等を行なう。
加算器5の出力である読取RF倍信号RF再生回路16
及びRFエンベロープ検波回路17に供給される。演奏
されるディスクが例えばコンパクト・ディスクの場合、
読取RF倍信号EFM(Eight to Fourt
een Modulation)信号であり、このEF
M信号はRF再生回路16においてEFM復調されかつ
エラー訂正された後D/A (ディジタル/アナログ)
変換されて左右のオーディオ出力となる。また、RF再
生回路16においては、読取RF倍信号ら抽出された再
生クロックの基準クロックに対する位相差に応じた位相
エラー信号が生成されると共に、EFM復調データから
サブコード情報かデコードされる。位相エラー信号はサ
ーボコントローラ15を介してPWM回路18に供給さ
れ、エラー信号レベルに応じたパルス幅の駆動信号とし
てディスクを回転駆動するスピンドルモータ(図示せず
)に供給される。サブコド情報はシステムコントローラ
19に供給される。
及びRFエンベロープ検波回路17に供給される。演奏
されるディスクが例えばコンパクト・ディスクの場合、
読取RF倍信号EFM(Eight to Fourt
een Modulation)信号であり、このEF
M信号はRF再生回路16においてEFM復調されかつ
エラー訂正された後D/A (ディジタル/アナログ)
変換されて左右のオーディオ出力となる。また、RF再
生回路16においては、読取RF倍信号ら抽出された再
生クロックの基準クロックに対する位相差に応じた位相
エラー信号が生成されると共に、EFM復調データから
サブコード情報かデコードされる。位相エラー信号はサ
ーボコントローラ15を介してPWM回路18に供給さ
れ、エラー信号レベルに応じたパルス幅の駆動信号とし
てディスクを回転駆動するスピンドルモータ(図示せず
)に供給される。サブコド情報はシステムコントローラ
19に供給される。
一方、RFエンベロープ検波回路17て検波されたRF
エンベロープはA/D変換器20でディジタル化された
後、ディジタルLPF28を介してサーボコントローラ
15に供給される。
エンベロープはA/D変換器20でディジタル化された
後、ディジタルLPF28を介してサーボコントローラ
15に供給される。
サーボコントローラ15においては、LPF28を介し
て供給されるRFエンベロープ信号の低域成分から周波
数が非常に低い第1ノイズ成分を検出することにより、
ざらにHPF()\イパスフィルタ)29を介して供給
されるトラッキングエラー信号の高域成分から周波数が
非常に高い第2ノイズ成分を検出することにより、ディ
スクの情]3 報記録面の傷や汚れ等のディフェクト検出が行なわれる
。サーボコントローラ15は、ディスクのディフェクト
を検出すると、検出期間及びその終了時点から回定時間
Tが経過するまでの期間においてLPF25.27のス
イッチ回路SW+、SW2の一方又は両方をオンせしめ
ることによってLPF25 27の一方又は両方を動作
状態にする。
て供給されるRFエンベロープ信号の低域成分から周波
数が非常に低い第1ノイズ成分を検出することにより、
ざらにHPF()\イパスフィルタ)29を介して供給
されるトラッキングエラー信号の高域成分から周波数が
非常に高い第2ノイズ成分を検出することにより、ディ
スクの情]3 報記録面の傷や汚れ等のディフェクト検出が行なわれる
。サーボコントローラ15は、ディスクのディフェクト
を検出すると、検出期間及びその終了時点から回定時間
Tが経過するまでの期間においてLPF25.27のス
イッチ回路SW+、SW2の一方又は両方をオンせしめ
ることによってLPF25 27の一方又は両方を動作
状態にする。
これにより、LPF24.26で除去し切れなかった高
域成分を取り除くことができるのである。
域成分を取り除くことができるのである。
第4図及び第5図はトラッキングサーボ系における第1
及び第2ノイズ成分の波形図であり、(A)がLPF2
7を通過前のもの、(B)がLPF27を通過後のもの
をそれぞれ示している。なお、」二記一定時間Tは第1
及び第2ノイズ成分の各々において変えられる構成とな
っており、ディスクでクリアーすべき目標長に応じて時
間Tか設定される。
及び第2ノイズ成分の波形図であり、(A)がLPF2
7を通過前のもの、(B)がLPF27を通過後のもの
をそれぞれ示している。なお、」二記一定時間Tは第1
及び第2ノイズ成分の各々において変えられる構成とな
っており、ディスクでクリアーすべき目標長に応じて時
間Tか設定される。
システムコントローラ1つはマイクロコンピュタによっ
て構成されており、キーボード21からのキー操作指令
や、RF再生回路16からのサブコード情報等に応じて
サーボコントローラ15を含むシステム全体の制御をな
すと共に、デイスプレィ22の表示制御、さらにはディ
スクのロディング、アンローディングを行なうローディ
ング機構23の駆動制御を行なう。
て構成されており、キーボード21からのキー操作指令
や、RF再生回路16からのサブコード情報等に応じて
サーボコントローラ15を含むシステム全体の制御をな
すと共に、デイスプレィ22の表示制御、さらにはディ
スクのロディング、アンローディングを行なうローディ
ング機構23の駆動制御を行なう。
次に、システムコントローラ19のプロセッサによって
実行されるループゲイン設定方法の処理手順について第
6図のフローチャートにしたがって説明する。なお、こ
のループゲイン設定処理は、ディスクのローディング及
びクランプが完了し、さらにピックアップを担持したキ
ャリッジが最内周位置に到来したことを検知した時点で
開始されるものとする。
実行されるループゲイン設定方法の処理手順について第
6図のフローチャートにしたがって説明する。なお、こ
のループゲイン設定処理は、ディスクのローディング及
びクランプが完了し、さらにピックアップを担持したキ
ャリッジが最内周位置に到来したことを検知した時点で
開始されるものとする。
プロセッサは、図示せぬ検知手段の検知出力によってキ
ャリッジが最内周位置に到来したことを検知すると、先
ずRAM等の内部メモリの格納ブタや各種カウンタのカ
ウント値をリセットする初期化を行ない(ステップS1
)、しかる後ピックアップのレーザ光源をオンせしめる
(ステップS2)。続いて、フォーカスサーボループの
ルプゲインを設定するためのゲイン定数GFをフォカス
エラー信号の振幅の大きさを表わす例えばp−p値に基
づいて選定するフォーカスゲイン定数選定モードの処理
を実行しくステップS3)、当該モードで選定されたゲ
イン定数を選定フォカスゲイン定数GFとして内部メモ
リに記憶保持する(ステップS4)。フォーカスゲイン
定数選定モードの処理手順に関しては後述する。フォカ
スゲイン定数GFの選定後、トラッキングサボループの
ループゲインを設定するためのゲイン定数GTをトラッ
キングエラー信号の振幅の大きさを表わす例えばp−p
値に基づいて選定するトラッキングゲイン定数選定モー
ドの処理を実行しくステップS5)、当該モードで選定
されたゲイン定数を選定トラッキングゲイン定数GTと
して内部メモリに記憶保持する(ステップS6)。トラ
ッキングゲイン定数選定モードの処理手順に関しては後
述する。続いてプロセッサは、ステップS3及びステッ
プS5で選定されたゲイン定数0F、GTに対応したル
ープゲインとなるようにVCA9,10のゲインを設定
しくステップS7)、ループゲイン設定のための一連の
処理を終了する。
ャリッジが最内周位置に到来したことを検知すると、先
ずRAM等の内部メモリの格納ブタや各種カウンタのカ
ウント値をリセットする初期化を行ない(ステップS1
)、しかる後ピックアップのレーザ光源をオンせしめる
(ステップS2)。続いて、フォーカスサーボループの
ルプゲインを設定するためのゲイン定数GFをフォカス
エラー信号の振幅の大きさを表わす例えばp−p値に基
づいて選定するフォーカスゲイン定数選定モードの処理
を実行しくステップS3)、当該モードで選定されたゲ
イン定数を選定フォカスゲイン定数GFとして内部メモ
リに記憶保持する(ステップS4)。フォーカスゲイン
定数選定モードの処理手順に関しては後述する。フォカ
スゲイン定数GFの選定後、トラッキングサボループの
ループゲインを設定するためのゲイン定数GTをトラッ
キングエラー信号の振幅の大きさを表わす例えばp−p
値に基づいて選定するトラッキングゲイン定数選定モー
ドの処理を実行しくステップS5)、当該モードで選定
されたゲイン定数を選定トラッキングゲイン定数GTと
して内部メモリに記憶保持する(ステップS6)。トラ
ッキングゲイン定数選定モードの処理手順に関しては後
述する。続いてプロセッサは、ステップS3及びステッ
プS5で選定されたゲイン定数0F、GTに対応したル
ープゲインとなるようにVCA9,10のゲインを設定
しくステップS7)、ループゲイン設定のための一連の
処理を終了する。
次に、先述したフォーカスゲイン定数選定モトの処理手
順の一例について第7図のタイミングチャートを参照し
つつ第8図のフローチャートにしたがって説明する。な
お、本処理はループオプン状態で実行されるものとする
。
順の一例について第7図のタイミングチャートを参照し
つつ第8図のフローチャートにしたがって説明する。な
お、本処理はループオプン状態で実行されるものとする
。
プロセッサは先ず、スピンドルモータを正転駆動スべく
サーボコントローラ15を制御してPWM回路18から
波高値Hの正転駆動パルスをキックパルスとして発生さ
せる(ステップ551)。
サーボコントローラ15を制御してPWM回路18から
波高値Hの正転駆動パルスをキックパルスとして発生さ
せる(ステップ551)。
そして、所定時間W(例えば、100 m5ec)経過
した後(ステップ552)、正転駆動パルスの発生を停
止させるべくサーボコントローラ15を制御する(ステ
ップ853)。この正転駆動パルスのパルス幅W及び波
高値Hによってスピンドルモタの回転数が決まり、その
パルス幅W及び波高値Hはスピンドルモータが暫時しか
もプレイ時の定速回転数よりも非常に低い低速にて回転
するように設定される。
した後(ステップ552)、正転駆動パルスの発生を停
止させるべくサーボコントローラ15を制御する(ステ
ップ853)。この正転駆動パルスのパルス幅W及び波
高値Hによってスピンドルモタの回転数が決まり、その
パルス幅W及び波高値Hはスピンドルモータが暫時しか
もプレイ時の定速回転数よりも非常に低い低速にて回転
するように設定される。
続いて、対物レンズをダウンさぜるべくサーボコントロ
ーラ15を制御して負の駆動電圧(FD)を発生させ(
ステップ554)、この駆動電圧の絶対値(IFDI)
がフォーカス駆動電圧の下限値(U L)以上になるま
で(ステップ555)、対物レンズをダウン駆動する。
ーラ15を制御して負の駆動電圧(FD)を発生させ(
ステップ554)、この駆動電圧の絶対値(IFDI)
がフォーカス駆動電圧の下限値(U L)以上になるま
で(ステップ555)、対物レンズをダウン駆動する。
IFDI≧ULとなったら、タイマーカウンタをスター
トさせる(ステップ856)。このタイマーカウンタの
カウント動作は内部基準クロックに同期して行なわれる
。タイマーカウンタのカウント値に基づいてFD1≧U
Lとなった時点から所定時間T(例えば、50 m5e
c)が経過したことを検出したら(ステップ557)、
内部カウンタ■のカウント値Nをインクリメントしくス
テップ858 ) 、同時に対物レンズをアップさせる
べくサーボコントローラ15を制御して漸次増大する傾
斜状の駆動電圧(FD)を発生させる(ステップ559
)。
トさせる(ステップ856)。このタイマーカウンタの
カウント動作は内部基準クロックに同期して行なわれる
。タイマーカウンタのカウント値に基づいてFD1≧U
Lとなった時点から所定時間T(例えば、50 m5e
c)が経過したことを検出したら(ステップ557)、
内部カウンタ■のカウント値Nをインクリメントしくス
テップ858 ) 、同時に対物レンズをアップさせる
べくサーボコントローラ15を制御して漸次増大する傾
斜状の駆動電圧(FD)を発生させる(ステップ559
)。
なお、カウント値Nは8字カーブのp−p値を取り込ん
だ回数を表わす。
だ回数を表わす。
続いて、A/D変換器12の出力として得られるエラー
データを取り込んでその絶対値(l FE l)がスレ
ッショールドレベルTH以上になったか否かを判断する
(ステップ560)。
データを取り込んでその絶対値(l FE l)がスレ
ッショールドレベルTH以上になったか否かを判断する
(ステップ560)。
FEI≧THであれば、ノイズではなくフォーカスエラ
ーであると判断し、対物レンズの合焦位置の前後ではフ
ォーカスエラーは8字カーブ特性を示すことから、取り
込んだエラーデータに基づいてその正負の波高値の差、
すなわちp−p値を算出する(ステップ561)。この
8字カーブのp−p値の算出は、例えば、A/D変換の
際のサンプリングタイミング毎に取り込むエラーデータ
の今回値を前回値と比較し、正の波高値の場合には今回
値が前回値以下となったときの前回値を、負の波高値の
場合には今回値が前回値以上となったときの前回値をそ
れぞれ各波高値とし、その差を求めることによって行な
われる。
ーであると判断し、対物レンズの合焦位置の前後ではフ
ォーカスエラーは8字カーブ特性を示すことから、取り
込んだエラーデータに基づいてその正負の波高値の差、
すなわちp−p値を算出する(ステップ561)。この
8字カーブのp−p値の算出は、例えば、A/D変換の
際のサンプリングタイミング毎に取り込むエラーデータ
の今回値を前回値と比較し、正の波高値の場合には今回
値が前回値以下となったときの前回値を、負の波高値の
場合には今回値が前回値以上となったときの前回値をそ
れぞれ各波高値とし、その差を求めることによって行な
われる。
このようにして算出したp−p値の今回値を前回値と比
較しくステップ562)、今回値が前回値よりも大なる
場合には今回値を前回値としてメモリに記憶する(ステ
ップ863)。今回値か前回値以下の場合には前回値を
そのまま保持する。
較しくステップ562)、今回値が前回値よりも大なる
場合には今回値を前回値としてメモリに記憶する(ステ
ップ863)。今回値か前回値以下の場合には前回値を
そのまま保持する。
これにより、メモリには最終的に取り込んだpp値のう
ちの最大値か保持されることになる。続いて、内部カウ
ンタ■のカウント値N及び内部カウンタ■のカウント値
Mをそれぞれインクリメントする(ステップS64..
565)。なお、カウント値Mは、対物レンズのアップ
/ダウン回数を表イつず。そして、所定時間t (例え
ば、5 m5ec)が経過した後(ステップ566)、
内部カウンタ■のカウント値Mが所定値Mo (例え
ば、4)以上か否か、すなわち対物レンズのアップ/ダ
ウン動作かMO回以上行なわれたか否かを判断する(ス
テップ567)。
ちの最大値か保持されることになる。続いて、内部カウ
ンタ■のカウント値N及び内部カウンタ■のカウント値
Mをそれぞれインクリメントする(ステップS64..
565)。なお、カウント値Mは、対物レンズのアップ
/ダウン回数を表イつず。そして、所定時間t (例え
ば、5 m5ec)が経過した後(ステップ566)、
内部カウンタ■のカウント値Mが所定値Mo (例え
ば、4)以上か否か、すなわち対物レンズのアップ/ダ
ウン動作かMO回以上行なわれたか否かを判断する(ス
テップ567)。
M<M、であれば、Mか奇数であるか否かを判断しくス
テップ568)、Mか0若しくは偶数であれば、ステッ
プS59に戻ってレンズ駆動方向を反転し上述の動作を
繰り返す。Mか奇数であれば、レンズ駆動方向を反転し
対物レンズをダウンさせるべくサーボコントローラ15
を制御して漸次減少する傾斜状の駆動電圧(FD)を発
生させ(ステップ569)、Lかる後ステップS60に
戻って上述の動作を繰り返す。
テップ568)、Mか0若しくは偶数であれば、ステッ
プS59に戻ってレンズ駆動方向を反転し上述の動作を
繰り返す。Mか奇数であれば、レンズ駆動方向を反転し
対物レンズをダウンさせるべくサーボコントローラ15
を制御して漸次減少する傾斜状の駆動電圧(FD)を発
生させ(ステップ569)、Lかる後ステップS60に
戻って上述の動作を繰り返す。
ステップS60において、IFElくTHと判定した場
合には、内部カウンタ■のカウント値Mか0若しくは偶
数であるか否かを判断する(ステップ570)。Mか0
若しくは偶数と判定した場合には、駆動電圧FDがその
上限値UH以上になったか否かを判断しくステップ57
1) 、FD≧UHであれば、内部カウンタ■のカウン
ト値Mをインクリメントしくステップ572)、しかる
後ステップS67に移行する。F D < U Hてあ
れば、ステップS59に戻って上述の動作を繰り返す。
合には、内部カウンタ■のカウント値Mか0若しくは偶
数であるか否かを判断する(ステップ570)。Mか0
若しくは偶数と判定した場合には、駆動電圧FDがその
上限値UH以上になったか否かを判断しくステップ57
1) 、FD≧UHであれば、内部カウンタ■のカウン
ト値Mをインクリメントしくステップ572)、しかる
後ステップS67に移行する。F D < U Hてあ
れば、ステップS59に戻って上述の動作を繰り返す。
一方、ステップS70において、Mか奇数と判定した場
合には、駆動電圧FDがその下限値UL以下になったか
否かを判断しくステップ873)、FDI≦Uしてあれ
ばステップS72に移行し、FDI>Uしてあればステ
ップS69に移行する。
合には、駆動電圧FDがその下限値UL以下になったか
否かを判断しくステップ873)、FDI≦Uしてあれ
ばステップS72に移行し、FDI>Uしてあればステ
ップS69に移行する。
ステップS67において、M≧MOと判定した場合には
、内部カウンタIのカウント値Nか1”であるか否かを
判断しくステップ574) 、N=1であれば、対物レ
ンズのアップ/ダウン動作をMO回繰り返してもループ
ゲインの設定の基準となる8字カーブのp−p値を1回
も取り込めなかったことになるから、ゲイン設定するこ
となく上述した一連の処理を終了する。この場合には、
例えば、再度上述した処理を繰り返す。1l=1であれ
ば、ステップ863で最終的にメモリに保持されたp−
p値の最大値に基づいてフォーカスサーボループのルー
プゲイン定数GFを選定しくステップ575)、続いて
対物レンズをア・ツブさせるべくザーボコントローラ1
5を制御して漸次増大する傾斜状の駆動電圧(F D)
を発生させ(ステップ576)、Lかる後サーボループ
をクローズ状態としくステップ577)、以上により、
ルーゲイン定数GFの選定のための一連の処理を終了す
る。
、内部カウンタIのカウント値Nか1”であるか否かを
判断しくステップ574) 、N=1であれば、対物レ
ンズのアップ/ダウン動作をMO回繰り返してもループ
ゲインの設定の基準となる8字カーブのp−p値を1回
も取り込めなかったことになるから、ゲイン設定するこ
となく上述した一連の処理を終了する。この場合には、
例えば、再度上述した処理を繰り返す。1l=1であれ
ば、ステップ863で最終的にメモリに保持されたp−
p値の最大値に基づいてフォーカスサーボループのルー
プゲイン定数GFを選定しくステップ575)、続いて
対物レンズをア・ツブさせるべくザーボコントローラ1
5を制御して漸次増大する傾斜状の駆動電圧(F D)
を発生させ(ステップ576)、Lかる後サーボループ
をクローズ状態としくステップ577)、以上により、
ルーゲイン定数GFの選定のための一連の処理を終了す
る。
なお、上述したフォーカスゲイン定数選定モトの処理手
順は一例に過ぎず、これに限定されるものではない。
順は一例に過ぎず、これに限定されるものではない。
続いて、先述したトラッキングゲイン定数選定モードの
処理手順の一例について第9図のフロチャートにしたが
って説明する。なお、本処理は例えばスピンドルサーボ
の立上げの際にディスクの回転数が所定回転数(コンパ
クトディスクの場合、例えば200〜300 [r、p
、m、]程度)に達した時点からループオープン状態で
実行されるものとする。また、ループオープン状態では
、トラッキングエラー信号は第10図に示す如く変化す
る。
処理手順の一例について第9図のフロチャートにしたが
って説明する。なお、本処理は例えばスピンドルサーボ
の立上げの際にディスクの回転数が所定回転数(コンパ
クトディスクの場合、例えば200〜300 [r、p
、m、]程度)に達した時点からループオープン状態で
実行されるものとする。また、ループオープン状態では
、トラッキングエラー信号は第10図に示す如く変化す
る。
プロセッサは先ず初期設定により、内部レジスタに格納
される検出ピーク値xPP、XPN及びA/D変換のサ
ンプリング周期に同期してカウントアツプするタイマー
カウンタのカウント値Tをそれぞれリセットしくステッ
プS8]、)、Lかる後トラッキングエラーデータXを
取り込む(ステップ582)。このエラーデータXの取
込みは」二記サンプリング周期に同期して行なわれる。
される検出ピーク値xPP、XPN及びA/D変換のサ
ンプリング周期に同期してカウントアツプするタイマー
カウンタのカウント値Tをそれぞれリセットしくステッ
プS8]、)、Lかる後トラッキングエラーデータXを
取り込む(ステップ582)。このエラーデータXの取
込みは」二記サンプリング周期に同期して行なわれる。
続いて、エラーデータXが正か否かを判断し(ステップ
383) 、x>0の場合には、エラデータXか前回ま
での検出ピーク値XPPよりも大か否かを判断する(ス
テップ584)。x > x ppの場合には、今回取
り込んだエラーデータXを検出ピーク値XPPとして格
納しくステップ585)、しかる後ステップS86に移
行する。X≦XPPなる場合には、直接ステップS86
に移行する。ステップS86においては、タイマーカウ
ンタのカウント値Tに基づいてエラーデータXを取り込
む時間Toの管理を行ない、取込み時間TOとしては、
例えば、スピンドルサーボの立上げの際にディスクの回
転数が所定回転数に達した時点からディスクの少なくと
も1回転に要する時間が設定される。取込み時間TOが
経過していなければ、ステップS82に戻って上述の処
理を繰り返す。
383) 、x>0の場合には、エラデータXか前回ま
での検出ピーク値XPPよりも大か否かを判断する(ス
テップ584)。x > x ppの場合には、今回取
り込んだエラーデータXを検出ピーク値XPPとして格
納しくステップ585)、しかる後ステップS86に移
行する。X≦XPPなる場合には、直接ステップS86
に移行する。ステップS86においては、タイマーカウ
ンタのカウント値Tに基づいてエラーデータXを取り込
む時間Toの管理を行ない、取込み時間TOとしては、
例えば、スピンドルサーボの立上げの際にディスクの回
転数が所定回転数に達した時点からディスクの少なくと
も1回転に要する時間が設定される。取込み時間TOが
経過していなければ、ステップS82に戻って上述の処
理を繰り返す。
一方、ステップ583でX≦0と判定した場合には、エ
ラーデータXが前回までの検出ピーク値XPN以下か否
かを判断する(ステップ587)。
ラーデータXが前回までの検出ピーク値XPN以下か否
かを判断する(ステップ587)。
X≦XPNなる場合には、今回取り込んだエラーブタX
を検出ピーク値xPNとして格納しくステツブ588)
、しかる後ステップS86に移行する。X>XPNなる
場合には、直接ステップS86に移行する。そして、ス
テップS86てエラーブタXの取込み時間TOが経過し
たと判定したら、その時点における検出ピーク値X P
P+ X PNが正負の最大ピーク値pPI pN
となるため、これらピーク値T)pH)Nに基づいて(
pp T)N)なる式からp−pH直を算出しくステ
ップ889)、続いてこのp−p値に対応するゲイン定
数GTを選定しくステップ590)、しかる後サーボル
プをクローズ状態としくステップS91.)、以上によ
り、ループゲイン定数GTの選定のための一連の処理を
終了する。
を検出ピーク値xPNとして格納しくステツブ588)
、しかる後ステップS86に移行する。X>XPNなる
場合には、直接ステップS86に移行する。そして、ス
テップS86てエラーブタXの取込み時間TOが経過し
たと判定したら、その時点における検出ピーク値X P
P+ X PNが正負の最大ピーク値pPI pN
となるため、これらピーク値T)pH)Nに基づいて(
pp T)N)なる式からp−pH直を算出しくステ
ップ889)、続いてこのp−p値に対応するゲイン定
数GTを選定しくステップ590)、しかる後サーボル
プをクローズ状態としくステップS91.)、以上によ
り、ループゲイン定数GTの選定のための一連の処理を
終了する。
なお、上述したトラッキングゲイン定数選定モードの処
理手順は一例に過ぎず、これに限定されるものではなく
、例えば、ディスクを100[r。
理手順は一例に過ぎず、これに限定されるものではなく
、例えば、ディスクを100[r。
pym、1程度の低回転数で回転駆動しかつ情報読取用
スポットをディスク半径方向に移動させつつこのとき得
られるトラッキングエラーデータをサンプル値として取
り込むようにすることも可能てあまた、上記実施例では
、第6図のステップ53S5で設定された設定値か否の
場合、デイスプレィ22に“NG”の表示をする例を述
べたか、設定値を表示させるときに否と判定された設定
値を点滅させることで判定結果を表示させることも可能
である。
スポットをディスク半径方向に移動させつつこのとき得
られるトラッキングエラーデータをサンプル値として取
り込むようにすることも可能てあまた、上記実施例では
、第6図のステップ53S5で設定された設定値か否の
場合、デイスプレィ22に“NG”の表示をする例を述
べたか、設定値を表示させるときに否と判定された設定
値を点滅させることで判定結果を表示させることも可能
である。
発明の詳細
な説明したように、本発明によるディスクプレーヤのサ
ーボ装置においては、通常はA/D変換器のサンプリン
グ周波数の]/2以下のカットオフ周波数の第1通過特
性を有するフィルタ手段によってA/D変換器に人力さ
れるエラー信号の帯域を制限することとし、エラー信号
中に所定ノイズ成分が含まれていることを検出したとき
には、その検出時点から所定期間だけ第1通過特性より
も低いカットオフ周波数の第2通過特性を有するフィル
タ手段によってそのノイズ成分を遮断する構成となって
いるので、ディスクの情報記録面上にいかなる種類の傷
か存在しても、これに起因するノイズ成分を完全に減衰
できることから、通過帯域内に折返しノイズの影響が発
生せず、傷に起因する音飛びやトラック飛び等の発生を
未然に防止できることになる。
ーボ装置においては、通常はA/D変換器のサンプリン
グ周波数の]/2以下のカットオフ周波数の第1通過特
性を有するフィルタ手段によってA/D変換器に人力さ
れるエラー信号の帯域を制限することとし、エラー信号
中に所定ノイズ成分が含まれていることを検出したとき
には、その検出時点から所定期間だけ第1通過特性より
も低いカットオフ周波数の第2通過特性を有するフィル
タ手段によってそのノイズ成分を遮断する構成となって
いるので、ディスクの情報記録面上にいかなる種類の傷
か存在しても、これに起因するノイズ成分を完全に減衰
できることから、通過帯域内に折返しノイズの影響が発
生せず、傷に起因する音飛びやトラック飛び等の発生を
未然に防止できることになる。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
対物レンズのディスク面からの離間距離に対するフォー
カスエラー信号の波形変化を示す波形図、第3図は記録
トラックに対する情報読取用スポットの移動位置とトラ
ッキングエラー信号の関係を示す図、第4図及び第5図
はトラッキングサーボ系における第1及び第2ノイズ成
分の波形図であり、(A)はノイズ除去前、(B)はノ
イズ除去後をそれぞれ示しており、第6図はルプゲイン
設定方法の処理手順を示すフローチャト、第7図はフォ
ーカスゲイン定数選定モードにおける処理動作を説明す
るためのタイムチャート、第8図はフォーカスゲイン定
数選定モードにおける処理手順を示すフローチャート、
第9図はトラッキングゲイン定数選定モードにおける処
理手順を示すフローチャート、第10図はループオープ
ン状態において得られトラッキングエラー信号の波形図
、第11図は原信号周波数<fs/2の場合における標
本化による周波数スペクトルの変化を示す図、第12図
は原信号周波数>fs/2の場合における標本化による
周波数スペクトルの変化を示す図である。 主要部分の符号の説明 1〜3・・・・・・光電変換素子 9.10・・・・・・電圧制御増幅器 13・・・・・・ディジタルイコライサ14.1.8・
・・・・・パルス幅変調回路15・・・・・・サーボコ
ントローラ 17・・・・・・RFエンベロープ検波回路19・・・
・・・システムコントローラ出願人 パイオニア株
式会社
対物レンズのディスク面からの離間距離に対するフォー
カスエラー信号の波形変化を示す波形図、第3図は記録
トラックに対する情報読取用スポットの移動位置とトラ
ッキングエラー信号の関係を示す図、第4図及び第5図
はトラッキングサーボ系における第1及び第2ノイズ成
分の波形図であり、(A)はノイズ除去前、(B)はノ
イズ除去後をそれぞれ示しており、第6図はルプゲイン
設定方法の処理手順を示すフローチャト、第7図はフォ
ーカスゲイン定数選定モードにおける処理動作を説明す
るためのタイムチャート、第8図はフォーカスゲイン定
数選定モードにおける処理手順を示すフローチャート、
第9図はトラッキングゲイン定数選定モードにおける処
理手順を示すフローチャート、第10図はループオープ
ン状態において得られトラッキングエラー信号の波形図
、第11図は原信号周波数<fs/2の場合における標
本化による周波数スペクトルの変化を示す図、第12図
は原信号周波数>fs/2の場合における標本化による
周波数スペクトルの変化を示す図である。 主要部分の符号の説明 1〜3・・・・・・光電変換素子 9.10・・・・・・電圧制御増幅器 13・・・・・・ディジタルイコライサ14.1.8・
・・・・・パルス幅変調回路15・・・・・・サーボコ
ントローラ 17・・・・・・RFエンベロープ検波回路19・・・
・・・システムコントローラ出願人 パイオニア株
式会社
Claims (2)
- (1)情報記録ディスクから記録情報を読み取るピック
アップの出力信号に基づいて生成されたエラー信号をデ
ィジタル化するA/D変換器を有し、前記エラー信号を
ディジタル処理した後その信号レベルに応じて前記ピッ
クアップを駆動制御するディスクプレーヤのサーボ装置
であって、 前記エラー信号の低域成分を通過せしめて前記A/D変
換器に供給するフィルタ手段と、 前記エラー信号中に含まれる所定レベル以上のノイズ成
分を検出する検出手段と、 前記検出手段による検出時点から所定期間だけ制御信号
を発生する手段とを備え、 前記フィルタ手段は、前記制御信号の不存在時には前記
A/D変換器のサンプリング周波数の1/2以下のカッ
トオフ周波数の第1通過特性となり、前記制御信号の存
在時には前記第1通過特性よりも低いカットオフ周波数
の第2通過特性となることを特徴とするディスクプレー
ヤのサーボ装置。 - (2)前記フィルタ手段は、 前記第1通過特性を有して前記エラー信号の通過経路に
挿入された第1ローパスフィルタと、前記第2通過特性
を有しかつ前記制御信号の存在時にのみ前記エラー信号
の通過経路に挿入される第2ローパスフィルタとからな
ることを特徴とする請求項1記載のディスクプレーヤの
サーボ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26319189A JPH02265078A (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | ディスクプレーヤのサーボ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26319189A JPH02265078A (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | ディスクプレーヤのサーボ装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1086033A Division JPH02265025A (ja) | 1989-04-05 | 1989-04-05 | サーボループのループゲイン設定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02265078A true JPH02265078A (ja) | 1990-10-29 |
Family
ID=17386037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26319189A Pending JPH02265078A (ja) | 1989-10-09 | 1989-10-09 | ディスクプレーヤのサーボ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02265078A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08167261A (ja) * | 1994-12-14 | 1996-06-25 | Nec Corp | 磁気ディスク装置の磁気ヘッド位置決め回路 |
JP2008140423A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | エラー信号振幅測定方法および光ディスク再生装置 |
-
1989
- 1989-10-09 JP JP26319189A patent/JPH02265078A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH08167261A (ja) * | 1994-12-14 | 1996-06-25 | Nec Corp | 磁気ディスク装置の磁気ヘッド位置決め回路 |
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