JPH02257498A - 集積回路 - Google Patents

集積回路

Info

Publication number
JPH02257498A
JPH02257498A JP1194772A JP19477289A JPH02257498A JP H02257498 A JPH02257498 A JP H02257498A JP 1194772 A JP1194772 A JP 1194772A JP 19477289 A JP19477289 A JP 19477289A JP H02257498 A JPH02257498 A JP H02257498A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
signal
circuit
address
prom
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1194772A
Other languages
English (en)
Inventor
Takayoshi Sasaki
隆義 佐々木
Yukio Maehashi
幸男 前橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Publication of JPH02257498A publication Critical patent/JPH02257498A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は紫外線を照射することでデータ消去をする不揮
発性メモリ(以下、単にFROMと称す)に間し、特に
リフレッシュ回路に間する。
[従来の技術] 紫外線照射することによりデータの消去を行い、電気的
にデータを記憶する不揮発性メモリ(以下、FROMと
称す)のセルを構成する記憶素子として、浮遊ゲートと
制御ゲートの2層ゲート構造を有する電界効果トランジ
スタ(以下、メモリトランジスタと称す)がある。
第9A図はメモリトランジスタの構造を示している。P
型基板701上には、N型拡散によってソース702、
及びトレイン703が形成されている。ソース702.
ドレイン703間には、基板701上にゲート酸化膜7
04が形成される。
ゲート酸化膜704上には絶縁された浮遊ゲート705
が形成されている。さらに浮遊ゲート705上には、制
御ゲート706が形成されている。
GNDは接地で、ソース、P型基板はGNDに接続され
ている。VGは制御ゲート電圧、VDはドレイン電圧で
ある。
第9B図はメモリトランジスタの制御ゲート電圧VGと
、ドレイン電流IDの関係を示している。
このメモリトランジスタは、浮遊ゲート705が電気的
に中性状態の時(以下、非書き込み状態と称す)には、
実線707に示すように、低い制御ゲート電圧VG(例
えば2V)で導通状態になり、ドレイン電流が流れる。
制御ゲート電圧VGとドレイン電圧VDに高電圧(例え
ば12.5V)を加えると、浮遊ゲート705に電子が
注入され、制御ゲート706からみたメモリトランジス
タの閾値電圧が高くなる(以下、書き込み状態と称す)
ので実線708で示すように高い制御ゲート電圧VG(
例えば7.V)を加えなければ、導通状態にならない。
したがって、データ読み出し時に制御ゲート電圧VGが
、実線707と実線708の間にあるとすると(例えば
5V)、非書き込み状態にあるメモリトランジスタはソ
ース・ドレイン間が導通し、書き込み状態にあるメモリ
トランジスタはソース・ドレイン間が導通しないので、
データの有無を区別することができる。
従来のFROMは、このメモリトランジスタを利用した
セルを配列し、さらに、センスアンプ、書き込み読み出
し制御回路、アドレスデコーダ等によって構成されてい
た(図示せず)。
第10図に従来のFROMのブロック図を示す。
点線内部が集積回路内部を示している。
アドレス信号はアドレス端子群801に入力され、アド
レスバッファ802を介して、PROM803に人力さ
れている。
リード信号RDはアクティブ(“′0”)のとき、PR
OM803に対するデータ読み出しを指示する信号で、
外部端子804を介して、P R0M803に入力され
る。
ライト信号PROGはアクティブ(0”)の時、F R
0M803に対するデータ書き込みを指示する信号で、
外部端子805を介して、PROM803に人力されて
いる。
データ信号はデータ端子群806から入出力される。
データ人出力バッフ7807はデータ端子群806に接
続され、リード信号RDが“0”の時出力バッファとし
てデータ信号を出力し、ライト信号PROGが“0”の
時入カバツファとして動作しデータ信号を人力する。
PROM803へのデータ信号の書き込みについて説明
する。
アドレス端子群801からアドレス信号を人力する。ア
ドレス信号はアドレスバッファ802を通してPROM
803に入力され、F R0M803のアドレスを指定
する。
ライト信号PROGを“0″にし、データ端子群806
からデータ信号を人力すると、データ人出力バッフ78
07.FROM803にデータ信号が入力され、指定さ
れたアドレスにデータ信号が書き込める。
PROM803からのデータ信号の読み出しは、アドレ
ス端子群801からアドレス信号を入力する。アドレス
信号は、アドレスバッファ802を通してPROM80
3に入力され、PROM803のアドレスを指定する。
リード信号RDをで”0”にすると、指定されたアドレ
スのデータ信号がPROM803から出力される。デー
タ信号は、データ人出力バツフ7807を通して、デー
タ信号端子群806より出力される。
[発明が解決しようとする課題] FROMのセルの構成要素であるメモリトランジスタは
、浮遊ゲートに電子を蓄積するものである。このFRO
Mセルによって構成されたPROMを高温で動作すると
、浮遊ゲートに蓄積された電子は、熱エネルギーにより
励起され高エネルギー状態になり、浮遊ゲート外部に散
失する。また高温下でなくても、書き込み後から長時間
経過すれば、蓄積された電子は外部に散失する。
ひとつのセルでも電子が散失し、データの消去が起これ
ば、そのFROMに書き込まれたデータが別の意味のデ
ータとなってしまい、このデータがプログラム命令コー
ドの場合、プログラムの暴走等の障害を起こす可能性が
大きい。
従って、高温下、及び書き込み後長時間経過した後では
PROMに書き込んだデータが散失されるため、自動車
電装等の特定の条件下ではPROMを使用できないとい
う問題が生じる。
〔問題点を解決するための手段] 本願第1の発明の要旨は紫外線を照射することによりデ
ータの消去を行い、電気的にデータを記憶するメモリセ
ルを含む不揮発性メモリを内蔵する集積回路において、
前記メモリセルへのデータを書き込み、またデータの読
み出しを指定するためのアドレス指示回路と、該アドレ
ス指示回路の指定するアドレスから読み出されたデータ
を保、持する保持回路と、前記メモリセルへの書き込み
データとして、前記回路の出力データか、前記集積回路
、外部のデ〒りかを選択する切り換え回路とを備え、前
記メモリセルへの書き込みデータとして前記保持回路の
出力を選択した時には、前記アドレス指示回路が指定す
る前記メモリセルの内容をリフレッシュすることを特徴
とすることであり、第2の発明の要旨は紫外線を照射す
ることによりデータの消去を行い、電気的にデータを記
憶するメモリセルを含む不揮発性メモリを内蔵する集積
回路において、前記メモリセルへデータを書き込み及び
読み出しをするためのアドレス指示回路と、該アドレス
指示回路を指定するアドレスから読み出されたデータを
前記集積回路の外部に出力する回路と、前記アドレス指
示回路の指定するアドレスから読み出されたデータを保
持する保持回路と、前記保持回路により保持されたデー
タが前記メモリセルに書き込まれたデータと異なった場
合に訂正し、前記保持されたデータを該メモリセルに書
き込まれたデータと同一にする訂正回路と、前記メモリ
セルへの書き込みデータとして、前記訂正回路の出力デ
ータか、前記集積回路外部のデータかを選択する切り換
え回路と、前記メモリセルへの書き込みデータから訂正
のため信号を生成し不揮発性メモリ内部に書き込む回路
とを備え、前記メモリセルへの書き込みデータとして前
記訂正回路の出力を選択した時には、前記アドレス指示
回路が指定する前記メモリセルの内容をリフレッシュす
ることである。
なお、第1発明に関しては、前記集積回路の周囲温度が
所定の温度状態であることを検知する回路と、周期的に
信号を発生する回路とを備え、前記集積回路の周囲の温
度が所定の温度になったことを検知した後は、前記周期
的に信号を発生する回路からの信号によって周期的に前
記メモリセルへの書き込みデータとして前記保持回路の
出力を選択し、前記アドレス指示回路が指定する前記メ
モリセルの内容をリフレッシュするようにしてもよい。
この場合、高温状態であることを検知する回路により再
書き込みを指示するので、メモリセルより読み出したデ
ータをレジスタに書き込み、このレジスタのデータを再
びメモリセルに書き込むことで、データの再書き込みが
でき、高温下でメモリセルに書き込んだデータが消去さ
れ易くなフてもデータを書き込み時のまま保持でき、使
用環境に間する制限を取り除くことができる。
[発明の作用] 上述した従来のFROMが浮遊ゲートに蓄積された電子
の散失に何ら対策を構していなかったのに対して、第1
の発明では再書き込みを指示する信号により、FROM
のセルより読出したデータを−Hレジスタに書き込み、
このレジスタのデータを再びFROMのセルに書き込む
ことで、データの再書き込みをし、高温下、及び長時間
経過後でもFROMのセルに書き込んだデータの消去を
防止しており、従来使用ができなかった条件下ではFR
OMを使用できないという問題を解決することができる
さらに、第2の発明では再書き込みを指示する信号によ
り、PROMより読み出したデータをレジスタに書き込
み、このレジスタのデータを再びFROMに書き込む際
に、高温下、及び長時間経過後に、読み出されたFRO
Mのデータが一部消去されていても、エラー訂正回路に
よってデータを訂正し、消去される前の正しいデータを
書き込むことができるので、信頼性の高いFROMを構
成することができ、特定の条件下ではPROMを使用で
きないという問題を解決することができる。
また、集積回路外部へデータを読み出す場合には、エラ
ー訂正回路を通さないので、そのための信号遅延がない
ので、データを高速に読み出すことができる。
[実施例] (第1実施例) 第1図に第1の発明の第1実施例に係るPROMのブロ
ック図を示す。点線内部が集積回路内部を示している。
本実施例において、PROMIO3は、データ幅を8ビ
ツトとしている。
アドレス信号はアドレス端子群101に人力され、アド
レスバッファ102を介して、PROM103に入力さ
れている。
リード信号RDはアクティブ(0”)の時、PROM1
03に対するデータ読み出しを指示する信号で、外部端
子104を介して、PROMIO3に入力される。
ライト信号PROGはアクティブ(”0”)の時、PR
OM103に対するデータ書き込みを指示する信号で、
外部端子105を介して、PROM103に人力されて
いる。
データ信号はデータ端子群10Bから入出力される。
データ人出力バッファ107はデータ端子群106に接
続され、リード信号RDが0釘の時には、出力バッファ
としてデータ信号を出力し、ライト信号PROGが“0
″の時には、大力バッファとして動作しデータ信号を入
力する。
リフレッシュ信号REFは、PROMのデータを再書き
込みを指示する信号で、アクティブ(1”)のとき再書
き込みを示し、外部端子108から入力される。
レジスタ(以下、REGと称す)109はPROMのデ
ータ信号を入力とし、リフレッシュ信号REFが“1”
で、リード信号RDが(g Oj)の時、データ信号を
ラッチし、リフレッシュ信号REFが“1”で、ライト
信号WRが“0′”の時信号を出力する。
マルチプレクサ(以下、MPXと称す)110はデータ
人出力バッファと、REG109の出力信号とを入力と
し、信号REFが“θパの時、データ人出力バッファに
PROM103のデータ信号を人出力し、信号REFが
“1”の時、REG109の出力信号をPROM103
へデータ信号として入力する。
PROM103へのデータ信号の書き込みについて説明
する。リフレッシュ信号REFを“0”にし、アドレス
端子群101からアドレス信号を入力する。アドレス信
号は、アドレスバッファ102を通してPROM103
に入力され、PROM103のアドレスを指定する。
ライト信号PROGを“0″にし、データ端子群106
からデータ信号を入力すると、データ人出力バッファ1
072MPx110を通して、PROM103にデータ
信号が入力され、指定されたアドレスにデータ信号が書
き込める。
ここで、マルチプレクサMPXはリフレッシュ信号RE
Fが“0”なので、データ人出力バッファ107の出力
をPROM103に入力している。
PROM103からのデータ信号の読み出しは、リフレ
ッシュ信号REFを“0”にし、アドレス端子群からア
ドレス信号を人力する。アドレス信号は、アドレスバッ
ファ102を通してPROM103に人力されPROM
103のアドレスを指定する。
リード信号RDを“0”にすると、指定されたアドレス
のデータ信号がPROM103から出力される。データ
信号はMPXIIO,データ人出カバッファ107を通
して、データ信号端子群より出力される。
ここで、MPXIIOはリフレッシュ信号REFが“0
”なので、PROM103のデータ信号出力をデータ人
出力バッファに供給している。
次に、PROMへデータを再書き込みする場合について
、第2図のタイミング図を参照しながら説明する。
リフレッシュ信号REFは再書き込みを始めるとき、′
1”にする。リフレッシュ信号が“l”なノテ、MPX
IIOはREG109(7)出力ヲFROM103のデ
ータ信号として入力する。
次にFROMのデータを再書み込みしたいアドレスを示
すアドレス信号を、アドレス端子群101へ入力する。
第2図ではAOで示している。
さらにリード信号RDを“0”にすると、PROM10
3’がアドレス信号AOに対応するデータ信号を出力す
る。
REG109はリフレッシュ信号REFが“1″ リー
ド信号RDが“0”のタイミングで、PROM103か
らのデータ信号をラッチする。ラッチされたデータ信号
を第2図ではDoで示している。
リード信号RDを“1”にするとFROMIO3のデー
タ信号読み出しは終了する。
ライト信号PROGを“0”にすることで、REG10
9はデータ信号DOを出力する。データ信号DOはMP
XIIOを介して、FROMIO3に入力される。PR
OM103はライト信号PROGが“0”なので、デー
タ信号DOを記憶する。
この時のアドレス信号は、FROMI 03よりデータ
信号を読み出したときのアドレス信号のままなので、R
EG109より書き込んだ時のデータも、読み出し時と
同じアドレスに記憶され、一つのアドレスについて、再
書き込みが完了する。
書き込みが完了した時点で、ライト信号PROG“l”
にする。
PROM103の次のアドレスを再書き込みする場合に
は、同様な信号を人力すればよい。第2図においては、
次のアドレス信号をAI、REG109のデータ信号を
DIで示している。
(第2実施例) 第3図に第1の発明の第2実施例に係るPROMを内蔵
したマイクロコンピュータのブロック図を示す0点線内
部が集積回路内部を示している。
第1図に示した実施例との主要な相違点は、CPUがア
ドレス信号、リフレッシュ信号、リード信号、ライト信
号を発生する点である。
以下、第3図を参照しながら、第2実施例について詳述
する。
本実施例において、P R0M302はデータ幅は8ビ
ツトとする。
モード信号MODEは外部端子301に入力され、アク
ティブ(“1″〉の時PROM302のデータを集積回
路外部から読み書きするように指示し、インアクティブ
(“0″)の時F R0M302のデータを集積回路内
部で読み書きするように指示する信号である。
リード信号RDは外部端子303より入力され、アクテ
ィブ(“0”)の時PROM302に対するデータ読み
出しを指示する。
リード信号CRDはCPU304より出力され、アクテ
ィブ(“0”)の時FROM302に対するデータ読み
出しを指示する。
セレクタ305(以下、5ELRと称す)は、モード信
号MODEが“1″の時リード信号RDを、モード信号
MODEが“′O″の時リード信号CRDを選択し、F
ROM302へリード信号として入力する。
ライト信号PROGはFROM302に対するデータ読
み出しを指示する信号で、外部端子306から人力され
る。
ライト信号CPROGはCPU304より出力され、F
ROM302に対するデータ読み出しを指示する信号で
ある。
セレクタ307(以下、5ELWと称す)は、モード信
号MODEが“1”の時ライト信号PROGを、モード
信号MODEが“0”の時ライト信号CPROGを選択
し、FROM302へライト信号として人力する。
リフレッシュ信号REFは外部端子308より入力され
、FROM302のデータの再書き込みを指示する信号
で、アクティブく“1“)の時再書き込みを示し、CP
U304にデータ再書き込みを指示する。
CPU304は外部端子308より入力されたリフレッ
シュ信号REFにより、集積回路内部にFROM302
のデータを再書き込みを指示するリフレッシュ信号CR
EF (アクティブ(“1”))を出力する。
アドレス信号はアドレス端子部309より、アドレスバ
ッファ310に入力される。アドレスバッファ310は
、モード信号が“1”の時動作する。
プログラムカウンタ311(以下、PCと称す)は、C
PU304より出力されるPC制御信号によって制御さ
れ、アドレス信号を出力する。
マルチプレクサ312(以下、MPXAと称す)は、モ
ード信号MODEが“1”の時アドレスバッファ310
の出力を、モード信号MODEが”0″ノ時PC311
(7)出力を選択し、F R0M302ヘアドレス信号
として入力する。
データ信号はデータ端子部313から、データバッファ
314に入力されている。データバッファ314は、モ
ード信号が“1”の時動作し、データバスに接続されて
いる。データバスはCPU304にも接続されている。
レジスタ315(以下、REGと称す)はFROM30
2のデータ信号を入力とし、リフレッシュ信号REFが
“1”で、リード信号RDが“0″の時、データ信号を
ラッチし、リフレッシュ信号REFが“1″で、ライト
信号PROGが“09”の時データ信号を出力する。
マルチプレクサ316(以下、MPXDと称す)はデー
タバスとREG315の出力信号とを入力とし、リフレ
ッシュ信号CREFが“O”の時、データバスにP R
0M302のデータ信号を入出力し、リフレッシュ信号
REFが“1′′の時、REG315の出力信号をFR
OM302へデータ信号として入力する。
FROM302へのデータ信号の集積回路外部からの書
き込みについて述べる。
集積回路外部からの書き込み動作なので、モード信号M
ODEは“1”を、リフレッシュ信号REFは“0”を
入力する。
S E LW307は、外部端子より入力されたライト
信号PROGをFROM302へライト信号として入力
する。
CPU304より出力されるリフレッシュ信号CREF
は“0”である。
アドレス信号をアドレス端子部309へ入力すると、モ
ード信号MODEが“l”で、アドレスバッファ310
が動作し、MPXA312はアドレスバッファ310か
らのアドレス信号をPROM2O3へ人力する。
データ信号をデータ端子群313へ入力すると、モード
信号MODEが“l”で、データバッファ314が動作
し、MPXD316はデータバッファ314からのデー
タ信号をPROM302へ人力する。
ここで、ライト信号PROGを“0”にすると、データ
信号がF R0M302に記憶される。
F R0M302へのデータ信号の集積回路外部からの
読み出し動作について述べる。外部からの読み出し動作
は、PROM302に記憶されたデータが正しいかと′
うか確認するために必要である。
集積回路外部からの読み出し動作なので、モード信号M
ODEは“1”を、リフレッシュ信号REFは“0”を
人力する。
5ELR305は外部端子より入力されたリード信号R
D1tPROM302へリード信号として入力する。
CPU304より出力されるリフレッシュ信号CREF
は“O”である。
アドレス信号をアドレス端子群308へ入力すると、モ
ード信号MODEが“I IIでアドレスバッファ31
0が動作し、MPXA312はアドレスバッファ310
からのアドレス信号をPROM302へ入力する。
ここで、リード信号RDを“0”にすると、データ信号
がPROM302より出力される。モード信号MODE
が“1”で、データバッファ314が動作し、MPXD
316はPROM302からのデータ信号をデータ端子
群313へ出力する。
次に、再書き込み動作について述べる。
再書き込み動作はリフレッシュ信号REFが“0”にな
って開始される。この時、集積回路外部からアドレス信
号、データ信号、リード信号、ライト信号を入力する必
要がないので、モード信号MODEは“0”としておく
モード信号MODEは“0”なので、5ELR305は
リード信号CRDをP R0M302へリード信号とし
て、5ELW307はライト信号CPROGt−PRO
M302へライト信号として入力する。また、アドレス
バッファ310.データバッファ314は動作しない。
CPU304はリフレッシュ信号REFが“1″なので
、CPU304はリフレッシュ信号CREFを“1”に
する。MPXD316はPROM302のデータ信号出
力をREG315に入力する。
次にCPU304はPC制御信号をアクティブにする。
PC311はPC制御信号により、PROM302の先
頭アドレスをセットし、出力する。
CPU304がさらにリード信号CHDを“0”にする
と、F R0M302がPC311より出力されたアド
レス信号に対応するデータ信号を出力する。
REG315はリフレッシュ信号CREFが“1” リ
ード信号CHDが“0°”のタイミングで、PROM3
02からのデータ信号をラッチする。
ここでCPU304はリード信号CRDを“l”にし、
PROM302のデータ信号読み出しは終了する。
次にCPU304はライト信号CPROGを“O”にす
る。REG315は記憶したデータ信号を出力する。デ
ータ信号はMPXD316を介して、PROM3024
:人力される。PROM302はライト信号CPROG
が“0”なので、REG315より出力されたデータ信
号を書き込む。
この時のアドレス信号は、F R0M302よりデータ
信号を読み出したときのアドレスのままなので、REG
315より書き込んだときのデータも読み出し時と同じ
アドレスに記憶され、一つのアドレスについて、再書き
込みが完了する。書き込みが完了した時点で、CPU3
04はライト信号CPROGを“1”にする。
PC311はこの後、FROM302全体の再書き込み
が終了するまで次のアドレスを示すためにインクリメン
トし、CPU304は上述した再書き込み動作と同様に
信号を繰り返し発生し、FR0M302全体の再書き込
み動作が完了する。
P R0M302のデータをCPU304が読み出す場
合は、モード信号MODEを“0” リフレッシュ信号
REFを′0″を入力する。CPU304は読み出した
いアドレスをPC311にセットし、リード信号CHD
を“0”にすることで、PROM302からのデータ信
号がデータバス上に出力され、データバスよりデータ信
号が得られる。
なお、本実施例ではリフレッシュ信号REFを外部から
人力している例であるが、例えば集積回路にタイマを内
蔵し、定朋的に内部よりリフレッシュ信号REFを発生
させてもよく、上記実施例と同様の効果が得られる。
(実施例3) 第4図に、本願第2の発明の一実施例に係るFROMの
ブロック図を示す。点線内部が集積回路内部を示してい
る。
本実施例ではFROMから読み出したデータ信号に1ビ
ツトの誤りが生じた場合に、誤りを検出し訂正すること
ができるエラー訂正回路412を用いている。エラーを
訂正するためには、データ信号に加えて、エラーを訂正
するための信号が必要である。本実施例ではデータ信号
を8ビツト、エラーを訂正するための信号を4ビツトと
している。
従って、本実施例のPROM401はデータ幅が12ビ
ツトとなる。
アドレス信号はアドレス端子群402に入力され、アド
レスバッファ403を介して、PROM401に人力さ
れている。
ライト信号PROGはアクティブ(“0′′)のとき、
PROM401に対するデータ書き込みを指示する信号
で、外部端子404を介して、PROM401に入力さ
れている。
リード信号RDはアクティブ(“0”)のとき、PRO
M401に対するデータ読み出しを指示する信号で、外
部端子405を介して、PROM401に入力される。
リフレッス信号REFは、PROM401のデータの再
書き込みを指示する信号で、アクティブ(“1”)のと
き再書き込みを示し、外部端子406より入力される。
データ信号はデータ端子407から人出力される。本実
施例では、データ信号のビット幅を8ビツトとする。
データ人出力バッファはデータ端子群407に接続され
、リード信号RDが“0”のとき出力バッファとしてデ
ータ信号を出力し、ライト信号PROGが“091のと
き入°カバッファとして動作しデータ信号を人力する。
マルチプレクサ(以下、MPXと称す)409は、デー
タ人出力バッファとエラー訂正回路412の出力信号と
を入力とし、信号REFが“0゛′とのき、人出力バッ
ファの出力信号を、信号REFが“1″のとき、エラー
訂正回路の出力信号を出力する。
検査信号生成回路410は、PROM401に書き込ま
れたデータ信号(8ビツト幅)に1ビット誤りが発生し
た場合、データ信号を訂正するために必要で、データ信
号から誤り訂正のため4ビツトの信号(以下、検査信号
と称す)を生成する回路で、データ信号(8ビツト)を
人力とし、検査信号(4ビツト)を出力とする。
PROM401!:は、上位8ビツトはMPX409に
より出力されたデータ信号を、下位4ビツトは検査信号
生成回路410より出力された検査信号を、入力する。
PROM401の上位8ビツトの出力信号は、データ人
出力バッファに人力される。
レジスタ(以下、REGと称す)411は12ビツトの
データ幅で、PROM401の上位8ビツトと下位4ビ
ツトとの出力信号を人力とし、リフレッシュ信号REF
が(111jで、リード信号RDが“0”のとき、PR
OM401の出力信号をラッチし、リフレッシュ信号R
EFが“1”で、ライト信号WRが“0”のときラッチ
した信号を出力する。
エラー訂正回路412は、REG411の出力を入力と
し、PROM401に書き込まれたデータに1ビツトの
誤りが発生した場合に、検査信号を使用して、誤りを訂
正したデータ信号を出力す次に第5図は、第4図に示し
た検査信号生成回路410の詳細な回路で、DO−D?
で示されたデータ信号(8ビツト)を人力し、CO〜C
3で示された検査信号を出力する。
データ信号DO〜D7から検査信号C0−C5を生成す
る論理式を示す。ここで、 “十″はm。
d2の加算(つまり、排他的論理和)である。
C0=DO+D3+D4  +06+07   (1)
C1=DO+DI    +04+05  +07C2
=  DI+D2  ÷04+D5+D6C3=   
 02+03  ÷05+96+07第5+06+07
第53で示したXORで実現していて、検査信号COを
出力するX0R40は、(1)式に示した通り、DO1
D3、D4、D6、D7を入力としている。検査信号C
1〜C3を出力するX0R41〜43も同様である。
第6図は、第4図に示したエラー訂正回路412の詳細
な回路で、PROM401の出力をREG411で保持
したデータ信号DO−D7と、検査信号CO〜C3とを
入力としDO〜D7のうち、1ビツトの誤りが発生した
場合、それを訂正し、DCO〜DC?で示した訂正され
た信号を出力する。もちろん誤りが発生していない場合
は、データ信号DO〜D7がそのまま、訂正された信号
DCO〜DC7に出力される。
601〜604で示されたXORは、以下に示す(2)
式にしたがって、データ信号DO〜D7、検査信号CO
〜C3を入力している。
X0R601〜604は、誤りは発生したデータ信号の
ビットを示すコードを出力する。
X0R601=DO[)3+[)4  +[)6+I)
?+CO(2)XOR602=DO+DI    +0
4+05  +07+ClX0R603=  DI+0
2  +04+05+06  +C2X0R604= 
   D2+03  +D5+06+D7+C3次に示
す表1は、X0R601〜X0R604の出力が、デー
タ信号DO〜D7に対して、どのビットが誤っているか
を示す対応表である。
表1 XOR601〜X0R604(7) 出力と誤りビットとの対応 第6図では、605〜612で示されたANDゲートが
、X0R601〜604の信号を表1に従いデコードし
ている。AND605〜AND612は誤りビットDO
〜D7に対応しており、誤りは発生した場合、各誤りビ
ットに対応した各ANDゲートがアクティブになる。
例えば、DOビットに誤りが発生すると、x。
R801〜6010出力は、“1100”とナリ、AN
D605がアクティブ(“l”)となり、DOビットに
誤りが発生したことがわかる。誤りビットを反転してや
れば、正しい(エラーの訂正された)信号が得られる。
第6図において、613で示されたXORゲートは、デ
ータ信号のDθビットと、AND605の出力を人力と
している。DOビットに誤りが発生すると、A N D
 605 カ“1社となり、X0R613の出力はDO
ビットの反転となり、誤りが訂正されたデータ信号のD
COビットが得られる。
614〜620で示されたXORは、X0R614と同
様に、データ信号のビットD1〜D7とAND607〜
612とを人力とし、誤りが訂正されたデータ信号のD
CI〜DC7を出力する。
次に、第4図を参照しながら、PROM401へのデー
タ信号の書き込みについて説明する。
リフレッシュ信号REFと“0”にし、アドレス端子群
402からアドレス信号を人力する。アドレス信号は、
アドレスバッファ403を通してPROM401に入力
され、PROM401のアドレスを指定する。
ライト信Op ROaを0″にし、データ端子群407
からデータ信号を人力すると、データ入出力バッファM
Px409を通して、PROM401の上位8ビツトに
データ信号が入力され、指定されたアドレスにデータ信
号が書き込める。データ信号は検査信号生成回路410
にも入力され、検査信号生成回路410は検査信号を出
力する。
PROM401の下位ビットには検査信号が人力され、
指定されたアドレスに検査信号が書き込める。
ここで、MPX409はリフレッシュ信号REFが“0
″゛なので、データ入出力バッファの出力をPROM4
01、及び検査信号生成回路410に入力している。
PROM401からのデータ信号の読み出しは、リフレ
ッシュ信号REFを“0”にし、アドレス端子群402
からアドレス信号を人力する。アドレス信号は、アドレ
スバッファ403を通してPROM401に人力されP
ROM401のアドレスを指定する。
リード信号RDを“0”にすると、指定されたアドレス
のデータ信号がPROM401の上位8ビツトから出力
される。
データ信号は、データ入出力バッファを通して、データ
信号端子群より出力される。
次に、PROM401へデータを再書き込みする場合に
ついて、第2図のタイミング図を参照しながら説明する
リフレッシュ信号REFは再書き込みを始めるとき、“
1”にする。リフレッシュ信号REFが“1′”なので
、MPXS409はエラー訂正回路412の出力を、P
ROM401、及び検査信号生成回路410のデータ信
号として人力する。
次に、PROM401のデータを再書き込みしたいアド
レスを示すアドレス信号を、アドレス端子群402へ入
力する。第2図ではAOで示している。
さらにリード信号RDを“Oytにすると、PROM4
01はアドレス信号AOに対応するデータ信号と、検査
信号とを出力する。
REG411は、リフレッシュ信号REFが1”リード
信号RDが“Or+のタイミングで、PROM401か
らの上位8ビツトのデータ信号、及び下位4ビツトの検
査信号をラッチする。ラッチされたデータ信号、及び検
査信号を第2図では10で示している。
リード信号RDを111 jj ニするとPROM40
1のデータの読み出しは終了する。
ライト信号PROGを“0″にすることで、REG41
1はデータ信号、及び検査信号10を出力する。
データ信号、及び検査信号はエラー訂正回路412に入
力され、データ信号に誤りがあれば、訂正されたデータ
信号を、データ信号に誤りがなければ、PROM401
から出力されたデータ信号をそのまま出力する。
訂正されたデータ信号はMPX409を介して、PRO
M401の上位8ビツトと、検査信号生成回路410に
人力される。検査信号生成回路410は検査信号を出力
し、PROM401の下位4ビツトに人力される。PR
OM401はライト信号PROGが“0″なので、デー
タ信号及び検査信号roを記憶する。
このときのアドレス信号は、PROM401よりデータ
信号を読み出したときのアドレス信号のままなので、エ
ラー訂正回路412より書き込んだときのデータも、読
み出し時と同じアドレスに記憶され、一つのアドレスに
ついて、再書き込みが完了する。書き込みが完了した時
点で、ライト信号PROGをパ1”にする。
PROM401のつぎのアドレスを再書き込みする場合
には、同様な信号を人力すればよい。第2図においては
、次のアドレス信号をA1、REG411のデータ信号
及び検査信号11で示している。
(実施例4) 第7図に、本願第1発明の更に他の実施例で、F RO
M、高温検知回路、タイマーを内蔵したマイクロコンピ
ュータのブロック図を示す。第1の発明の応用である第
3図に示した実施例との相違点は、CPU304に接続
されたリフレッシュ信号REF30Bが削除されている
点、高温検知回路801、タイマー802がCPU30
4に接続されている点である。
以下、第7図を参照しながら説明する。
本実施例において、F R0M302はデータ幅は8ビ
ツトとする。
高温検知回路801は、PROM302の記憶データが
変化する確率の高い高温を検知するとその出力がアクテ
ィブとなる回路で、高温検知回路801の出力信号TH
(以下、TH倍信号称す)はCPU304に人力されて
いる。
タイマー802はCPU304から出力されたタイマー
スタート信号TSTにより、カウントを開始し、カウン
ト終了後、CPU304へ出力するタイマー出力信号T
Oをアクティブにする。
タイマー802に設定する値は、高温検知回路801が
検知する温度状態において、P R0M302の記憶デ
ータが変化しない期間をカウントできる設定値とする。
その他の接続については第1の発明の応用である第3図
に示した実施例と同じなので説明を省略する。
第8図は本実施例の動作を示すタイミング図で、TI、
T2.T3はサイクル、THは高温検出回路の出力信号
TH,TSはタイマースタート信号TS、TOはタイマ
ー出力信号TOを示す。
本実施例での再書き込みの動作りよ、高温検知回路80
1が高温を検知してから、開始される。このとき、集積
回路外部からアドレス信号、データ信号、リード信号、
ライト信号を人力する必要がないので、モード信号MO
DE301は“0”としておく。
サイクルT1において、CPU304はTH倍信号アク
ティブなので、タイタースタート信号TSTをアクティ
ブにする。タイマー802は予め設定した値をカウント
する。タイマーカウント中は、CPU304はPROM
302に書き込まれている通常のプログラムを実行する
ことができる。
カウント終了後、タイマー出カ信号Toがアクティブに
なると、CPU304はリフレッシュ信号CREFを“
1″にし、通常のプログラムの実行を中止し、PROM
302の再書き込みを開始する。
PROM302の再書き込みの動作は、第1の発明の応
用である第3図に示した実施例と同様なので、説明を省
略する。
再書き込み期間終了後、サイクルT2において、CPU
304はTH倍信号アクティブなので、タイマースター
ト信号をアクティブにし、再びサイクルT1と同様な動
作を行う。
サイクルT3ではタイマー802はスタートしているが
、TH倍信号CPU304が再書き込み期間にはいる前
にインアクティブになっているので、CPU304は再
書き込み動作を行わない。
本実施例におけるF R0M302への集積回路外部か
らの書き込み、読み出し動作は、第1の発明の応用であ
る第3図に示した実施例と同じなので、説明を省略する
[発明の効果コ 以上説明したように、従来高温下、及び長時間経過後に
おいてはFROMデータの保持がなされない場合が想定
されるが、本発明によれば再書き込みを指示する信号に
より、PROM内に書き込まれたデータを再び書き込む
ことが可能で、かつ再書き込みを指示する信号の周期を
変えることができるので、FROMのセルに蓄えられる
電荷を一定の量以上に保てることが可能になり、PRO
Mの使用環境を拡大することができる。
エラー訂正回路を内蔵したものでは、PROM内に書き
込まれたデータにエラーが発生しても、エラー訂正回路
によって訂正して、データを再び書き込むことが可能な
ので、さらに高い信頼性を得ることができる。
また、高温検知回路を付加したFROM内蔵のマイクロ
コンピュータでは、再書き込みを指示する信号を集積回
路外部から入力することなく、CPUの制御により、高
温状態になると自動的にPROMデータの再書き込みが
できるので、本集積回路を高温状態になるシステムに紐
み込めば、従来より信頼性の高いシステムを構築するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本願第1発明の第1実施例に係るFROMのブ
ロック図、第2図は本願発明の実施例に係るFROMの
動作タイミング図、第3図は本願第1発明の第2実施例
に係るPROMを内蔵したマイクロコンピュータのブロ
ック図、第4図は本願第2の発明の一実施例に係るエラ
ー訂正回路を内蔵したFROMのブロック図、第5図は
検査信号生成回路の回路図、第6図はエラー訂正回路の
回路図、第7図は、本願第1の更に他の実施例に係る高
温検知回路を付加したFROM内蔵のマイクロコンピュ
ータのブロック図、第8図は、高温検知回路を付加した
FROM内蔵のマイクロコンピュータの動作タイミング
図、第9A図は、PROMのメモリトランジスタの断面
図、第9B図は、FROMのメモリトランジスタの制御
ゲート電圧VGとドレイン電流IDの特性図、第10図
は従来のFROMのブロック図である。 101.309,801・・命アドレス端子群、102
.310゜ 403.802・・・・・・・アドレスバッファ、10
3.302,401,803−−−FROM。 104、 105. 108゜ 301.303,306゜ 308.402,404,405゜ 406.407,804,805−−−外部端子、10
6.313゜ 408.806・・・・・・・・・データ端子群、10
7.807・・・・・データ人出力バッファ、109.
315,411・・レジスタ(REG)、110.31
2゜ 316.409・・・・マルチプレクサ(MPX。 MPXA、MPXD)、 304・ ・ 魯 ・ ・ ・ ・ ・CPU。 305.307−−−−セレクタ(SELR。 5ELW)、 311・・・・φ・プログラムカウンタ(P C)、3
14・・・・・・データバッファ、 410・・・・・・検査信号生成回路、412・・・・
・・エラー訂正回路、 605〜61 ・ ・ ・ ・ANDゲート、701・
・・・・・・P型基板、 702・ ・・ ・ ・ ・ ・ソース、703・番・
・・・・ドレイン、 704・・・・・・・ゲート酸化膜、 705・・・・・・・浮遊ゲート、 706・・・・・・・制御ゲート、 707.708・・・制御ゲート電圧VGとドレイン電
流IDの特性、 801・・・・・・・高温検知回路、 802・・・・・・・タイマー RD、CHD・・・・リード信号、 PROG、CPROG・・・・ライト信号、MODE・
・・・・・・・ ・・モード信号、REF、CREF−
・・・・・リフレッシュ信号。 501〜504,601〜604゜ 613〜620・・・・・・・・・・XOR回路、特許
出願人  日本電気株式会社

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)紫外線を照射することによりデータの消去を行い
    、電気的にデータを記憶するメモリセルを含む不揮発性
    メモリを内蔵する集積回路において、前記メモリセルへ
    のデータを書き込み、またデータの読み出しを指定する
    ためのアドレス指示回路と、 該アドレス指示回路の指定するアドレスから読み出され
    たデータを保持する保持回路と、 前記メモリセルへの書き込みデータとして、前記回路の
    出力データか、前記集積回路外部のデータかを選択する
    切り換え回路とを備え、前記メモリセルへの書き込みデ
    ータとして前記保持回路の出力を選択した時には、前記
    アドレス指示回路が指定する前記メモリセルの内容をリ
    フレッシュすることを特徴とする集積回路。
  2. (2)紫外線を照射することによりデータの消去を行い
    、電気的にデータを記憶するメモリセルを含む不揮発性
    メモリを内蔵する集積回路において、前記メモリセルへ
    データを書き込み及び読み出しをするためのアドレス指
    示回路と、 該アドレス指示回路を指定するアドレスから読み出され
    たデータを前記集積回路の外部に出力する回路と、 前記アドレス指示回路の指定するアドレスから読み出さ
    れたデータを保持する保持回路と、前記保持回路により
    保持されたデータが前記メモリセルに書き込まれたデー
    タと異なった場合に訂正し、前記保持されたデータを該
    メモリセルに書き込まれたデータと同一にする訂正回路
    と、前記メモリセルへの書き込みデータとして、前記訂
    正回路の出力データか、前記集積回路外部のデータかを
    選択する切り換え回路と、 前記メモリセルへの書き込みデータから訂正のため信号
    を生成し不揮発性メモリ内部に書き込む回路とを備え、
    前記メモリセルへの書き込みデータとして前記訂正回路
    の出力を選択した時には、前記アドレス指示回路が指定
    する前記メモリセルの内容をリフレッシュすることを特
    徴とする集積回路。
JP1194772A 1988-12-27 1989-07-27 集積回路 Pending JPH02257498A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63-331715 1988-12-27
JP33171588 1988-12-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02257498A true JPH02257498A (ja) 1990-10-18

Family

ID=18246780

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1194772A Pending JPH02257498A (ja) 1988-12-27 1989-07-27 集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02257498A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5375094A (en) * 1992-06-19 1994-12-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory system with a plurality of erase blocks

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54121629A (en) * 1978-03-15 1979-09-20 Toshiba Corp Refresh device for nonvolatile memory
JPS57162195A (en) * 1981-03-30 1982-10-05 Kyosan Electric Mfg Co Ltd Error correcting method for stored data
JPS5870500A (ja) * 1981-10-21 1983-04-26 Nec Corp 半導体記憶回路
JPS58130498A (ja) * 1982-01-29 1983-08-03 Citizen Watch Co Ltd 半導体不揮発性記憶装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54121629A (en) * 1978-03-15 1979-09-20 Toshiba Corp Refresh device for nonvolatile memory
JPS57162195A (en) * 1981-03-30 1982-10-05 Kyosan Electric Mfg Co Ltd Error correcting method for stored data
JPS5870500A (ja) * 1981-10-21 1983-04-26 Nec Corp 半導体記憶回路
JPS58130498A (ja) * 1982-01-29 1983-08-03 Citizen Watch Co Ltd 半導体不揮発性記憶装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5375094A (en) * 1992-06-19 1994-12-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory system with a plurality of erase blocks

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6868007B2 (en) Semiconductor memory system with a data copying function and a data copy method for the same
US8125825B2 (en) Memory system protected from errors due to read disturbance and reading method thereof
US7350044B2 (en) Data move method and apparatus
US7826263B2 (en) Memory system including flash memory and method of operating the same
KR100444537B1 (ko) 데이타처리장치
JP5422984B2 (ja) 不揮発性メモリ、メモリ制御装置、メモリ制御システムおよび不揮発性メモリの制御方法
JP6258399B2 (ja) 半導体装置
JP2006012367A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
KR960005370B1 (ko) 비휘발성 반도체 메모리 장치를 소거하고 검증하기 위한 방법 및 장치
JP2645417B2 (ja) 不揮発性メモリ装置
TW201535399A (zh) 半導體記憶裝置及nand型快閃記憶體的程式化方法
US10013208B2 (en) Method for writing in an EEPROM memory and corresponding memory
JP2835107B2 (ja) 不揮発性半導体記憶装置のエラー訂正回路及びそのエラー訂正方法
KR20080114208A (ko) 에러 정정 기능을 갖는 불휘발성 메모리 장치의 카피투프로그램방법
JP4544167B2 (ja) メモリコントローラおよびフラッシュメモリシステム
JPH09320300A (ja) 半導体記憶装置
JPH02257498A (ja) 集積回路
KR0172437B1 (ko) 칼럼불량 구제 및 고속 소거검증 기능을 가지는 불휘발성 반도체 메모리 장치
US6842371B2 (en) Permanent master block lock in a memory device
JP2004199833A (ja) 不揮発性半導体記憶装置の制御方法及び不揮発性半導体記憶装置
JP2004030849A (ja) データの一部書き換え機能を有する半導体不揮発性メモリ
JP2508888B2 (ja) 不揮発性半導体記憶装置
US20110228605A1 (en) Nonvolatile memory
JPH05290585A (ja) 電気的に書き込み可能な不揮発性メモリ
JP3267320B2 (ja) 不揮発性半導体メモリ装置及び不揮発性半導体メモリ装置の制御方法