JPH022430A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH022430A
JPH022430A JP63141713A JP14171388A JPH022430A JP H022430 A JPH022430 A JP H022430A JP 63141713 A JP63141713 A JP 63141713A JP 14171388 A JP14171388 A JP 14171388A JP H022430 A JPH022430 A JP H022430A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
everchip
product
module
product chip
Prior art date
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Pending
Application number
JP63141713A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenzo Funatsu
舟津 健三
Naoki Yashiki
直樹 屋鋪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路方式に関するもので、例えば
マイクロコンピュータのようにハードウェア又はソフト
ウェア開発に不可欠な評価用マイクロコンピュータに利
用し′C特に有利な技術に関するものである。
〔従来の技術〕
従来の技術では製品チップを改造してエバチップを設計
する場合、又は製品チップとゲートアレイ等の別チップ
又は回路を組合わせ又エバチップを構成する場合の方法
がある。しかしこれらは製品チップ以外の別チップ又は
基板を新規に設計することが必要となり設計効率がよ(
なり上に特性の面で製品チップと異なっ又いた。
例エバエミュレーション用のエバチップに関しては、特
開昭61−077933号がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明の目的はエバチップモジュールト称すエバチップ
専用のエリアを用意し、製品チップを内部へ組み込むこ
とによりエバチップの設計を行うことにある。これによ
り製品チップの開発完了時にエバモジュールを組合せる
ことにより容易にエバチップを構成することが可能とな
る。又エバチップ/l!!品チップ切換スイッチをもう
け、これの切換えKよりエバチップでありながら製品チ
ップとしても使用できることにより、製品チップのデバ
ッグをエバチップにて行うことも可能になる。
更にユーザから見たメリットとし工、製品チップのx1
0m子がそのままエバチップ端子として入出力されるた
め、機能的に100%同等及び性能。
特性的にも同等となり、エバチップ(エミユレーシヨン
)から量産まで一貫した評価が可能となる。
(従来方式だとI10形状のオプション等の相違及び特
性の相違がある。) 〔課題を解決するための手段〕 上記目的は、製品共通に使用できるエバモジエールを準
備することにある。このモジエール内に製品の本体チッ
プを内蔵する手法により大幅なメリットが生じる。又モ
ード切替え端子を設けることによりエバチップベより本
体チップの機能を100%評価できるため、デバッグ効
率が上がり品質的にも短期間にて向上させることが可能
となる。
〔作用〕 上記手段でエバチップを評価することにより。
製品チップの評価もモード切替えにより実現できる。ま
た、製品チップを内蔵するため、1製品の開発方法で2
つの製品が同時に開発でき、大幅な設計効率の向上とな
る。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を第1図により説明する。
本発明では標準化されたエバチップモジュールと個々の
製品チップをデータ上で合成しエバチップ1を構成する
。この断固1の様に製品チップ2内にポンディングパッ
ド3及びエバチップモジュールl内部にモード専用切替
端子4が存在する。エバチップモジエール1のサイズ、
パッドの数及び位置、必要な論理セルの種類は標準化さ
れ−C(・るため、基本的に製品チップデータが完成す
れば短期間で容易にエバチップデータを作成でき、設計
工数の低減が可能となる。また、エバチップ1にて製品
チップ2の機能を100%評価するためにモード切替専
用端子4がある。モード切替端子4とその端子に対応す
るROMの入出力回路5との間に、エバチップ専用入出
力制御回路6が設けられている。本実施例では内蔵RO
Mとエバチップ用外付けROMの切替えをモード切替専
用端子4で行い、内蔵ROM選択時には製品チップ用の
I10端子以外は選択されないように工夫されている。
モード切替方法としてプログラムにてソフト的に行うこ
とも可能である。
〔発明の効果〕
すなわち、本発明はエバチップを評価することにより、
製品チップの評価もモード切替えにより実現できる。又
製品チップを内蔵するため1製品の開発パワーで2つの
製品が同時開発でき大幅な設計効率同上となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す図である。 1・・・エバチップ、2・・・製品チップ、3・・・ポ
ンディングパッド、4・・・モード専用切替端子、5・
・・入出力回路、6・・・エバチップ専用入出力制御回
路。 第  1  図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、外部装置をアクセスするためのインターフェースを
    有するデータ処理機能を内蔵する評価用半導体集積回路
    装置であって製品チップを内蔵し、さらに製品チップ機
    能/評価チップ機能を切替え可能とするモード切替機能
    を有することにより、評価チップにて製品チップの評価
    が可能となり、同一機能、特性を有する製品チップの開
    発も容易に実現できることを可能とする半導体集積回路
    装置。
JP63141713A 1988-06-10 1988-06-10 半導体集積回路装置 Pending JPH022430A (ja)

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JPH022430A true JPH022430A (ja) 1990-01-08

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