JPH02242524A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents

積層セラミックコンデンサ

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JPH02242524A
JPH02242524A JP1062475A JP6247589A JPH02242524A JP H02242524 A JPH02242524 A JP H02242524A JP 1062475 A JP1062475 A JP 1062475A JP 6247589 A JP6247589 A JP 6247589A JP H02242524 A JPH02242524 A JP H02242524A
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Hidenori Kuramitsu
秀紀 倉光
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は誘電率、絶縁抵抗、絶縁破壊電圧が高く、良好
度Qにすぐれ、静電容量温度係数が小さく、かつ積層セ
ラεツクコンデンサへの利用においては、内部電極の厚
みを薄くしたときの静電容量と良好塵Qの低下を防ぎ、
静電容量と良好塵Qのバラツキを小さくできる誘電体磁
器組成物に関するものである。
従来の技術 従来から誘電率、絶縁抵抗が高く、良好塵Qにすぐれ、
静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として下記
のような系が知られている。
−Ba0−TiO2−Nd203系 −BaO−TiO2−8m205系 発明が解決しようとする課題 しかし、これらの組成は、例えば0.11 Ba0O6
8TiO2−0,21Nd2o3の組成比からなる誘電
体材料を使用し、パラジウムの内部電極厚み4μm、誘
電体厚み12μm、内部電極の重なシ寸法1.2mmX
0.7mm、誘電体層数19の積層構造をもつ積層セラ
ミックコンデンサを作製すると、静電容量の平均値ニア
42pF、良好塵Qの平均値=8700、静電容量温度
係数の平均値:N 3 ts ppm/’C、絶縁抵抗
の平均値:6,0X10  Ω、絶縁破壊強度の平均値
: 117 kv/mmであり、絶縁抵抗と絶縁破壊強
度において満足のできる値ではない。また、結晶粒径が
1〜5μmと大きいため、素体中の気孔率が大きくなる
とともに結晶粒子1個当たりにかかる電界強度が大きく
なり、絶縁破壊強度も満足のできる値ではない。
さらに、積層セラミックコンデンサのコストタウンを行
うため、および素体内部の構造欠陥であるデラミネーシ
ョンの発生を防ぐため、ノqラジウムの内部電極厚みを
4μmから2μmに薄くすると、上記の組成比の誘電体
材料を使用し、上記の誘電体厚み、内部電極型なり寸法
、誘電体層数の積層構造をもつ積層セラεノクコンデン
ザの静電容量の平均値が、610 pFと小さくなると
ともに静電容量のバラツキが256〜713pFと大き
くなる。さらに、良好塵Qの平均値も4000と低くな
るとともに良好塵Qのバラツキが600〜8800と大
きくなるという課題があった。
課題を解決するだめの手段 これらの課題を解決するために本発明は、一般5へ−1 式 %式% と表しだ時、(ただし、x −1−y +Z =1.0
00001≦m≦0.200 Re203は1La203)Pr201115−、Nd
2O3、Sm2O3から選ばれる少なくとも一種以上の
希土類元素の酸化物。)x、y、zが以下に表す各点a
、b、c、d、e、fで囲まれるモル比の範囲からなる
主成分100重量部に対し、副成分としてニオフ酸化物
をNb2O5に換算して0.3〜5重量部含有したこと
を特徴とする誘電体磁器組成物を提案するものである。
作用 第1図は本発明、にががる組成物の主成分の組成範囲を
示す三元図であり、主成分の組成範囲を限定した理由を
第1図を参照しながら説明する。すなわち、A領域では
焼結が著しく困難である。−まだ、B領域では良好塵Q
が低下し実用的でなくなる。さらに、C,D領域では静
電容量温度係数がマイナス側に大きくなりすぎて実用的
でなくなる。
そして、E領域では静電容量温度係数がプラス方向に移
行するが誘電率が小さく実用的でなくなる。
まだ、Re2O3をLa2O3、Pr201115、N
d2O5、Sm2O3から選ぶことにより、”a203
− ”201+/3sNd205、Sm2O3の順で誘
電率を大きく下げることなく、静電容量温度係数をプラ
ス方向に移行することが可能であり、La2O3、Pr
201+15 。
Nd2O3,Sm2O3の1種あるいは組合せにより静
電容量温度係数の調節が可能である。
徒だ、TiO2をZrO2で置換することにより、誘電
率、良好塵Q、静電容量温度係数、絶縁抵抗の値を大き
く変えることなく、結晶粒径を小さく77、−2 し、絶縁破壊強度を大きくする効果を有し、その置換率
mが0.001未満では置換効果はなく、方、0.20
0を越えると誘電率、良好塵Q、絶縁抵抗が低下する。
第2図は本発明にかかる組成物の主成分に対し、副成分
Nb2O5の含有効果を積層セラεツクコンデンサの特
性で示すグラフであり、Nb2O5の含有範囲を限定し
た理由をグラフを参照しながら説明する。第2図に示す
ようにNb2O5を含有することにより、絶縁抵抗、絶
縁破壊強度が向上し、また静電容量と良好塵Qを高め、
静電容量と良好塵Qのバラツキを小さくする効果を有す
る○そして、Nb2O5の含有によシ、絶縁抵抗、絶縁
破壊強度は向上するが、Nb2o5の含有量が主成分1
00重量部に対し、Q、3重量部未満はそれほど絶縁破
壊強度が犬きくなく、静電容量と良好塵Qが低く、また
静電容量と良好塵Qのバラツキが大きいため、この発明
の範囲から除外した。一方、Nb2O5の含有量が主成
分に対し、5.0重量部を越えると良好塵Q、絶縁抵抗
が低下し、静電容量温度係数がマイナス側に大きくなり
、さらに静電容量の温度変化の直線性が失われ実用的で
なくなる。
本発明はさらに、上記組成物に、マンガン、亜鉛、鉄お
よびケイ素の酸化物から選ばれる少なくとも一種以上を
、それぞれMnO2、ZnO,Fe、、06およびSi
O2に換算して主成分と副成分を合わせた100重量部
に対し、0.05〜1.00重量部添加せしめた構成と
することができる。これらの添加物は磁器の焼結性を向
上させる効果を有し、その添加量が0.05重量部未満
では添加効果はなく、一方、1.00重量部を越えると
誘電率が低下し実用的でなくなる。
実施例 以下に、本発明を具体的実施例により説明する。
(実施例1) 出発原料には化学的に高純度のBaCO3、TiO2、
ZrO2、La2O5、Pr6011.Nd2O3,S
m206およびNb2O5粉末を下記の第1表に示す組
成比になるように秤量し、めのうボールを備えたゴム内
張9ケ 。
りのボールミルに純水とともに入れ、湿式混合後、脱水
乾燥した。この乾燥粉末を高アルミナ質のルツボに入れ
、空気中で1100℃にて2時間仮焼した。この仮焼粉
末を、めのうボールを備えたゴム内張りのボールミルに
純水とともに入れ、湿式粉砕後、脱水乾燥した。この粉
砕粉末に、有機バインダーを加え、均質とした後、32
メソシユのふるいを通して整粒し、金型と油圧プレスを
用いて成形圧力1ton/cm”で直径16mm、厚み
04mmに成形した。次いで、成形円板をジルコニア粉
末ヲ敷いたアルミナ質のサヤに入れ、空気中にて下記の
第1表に示す組成比の誘電体磁器を得た。
このようにして得られた誘電体磁器円板は、厚みと直径
を測定し、誘電率、良好塵Q、静電容量温度係数測定用
試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電極を焼き付け
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度測定用試料は、誘電体磁器円
板の外周より内側に1 mmの幅で銀電極の無い部分を
設け、銀電極を焼き付けた。そして、誘電率、良好塵Q
、静電容量温度係数は、YHP社製デジタルLCRメー
タのモデル4275Aを使用し、測定温度20℃、測定
電圧10Vrms、測定周波数I MHz  での測定
より求めた。なお、静電容量の温度変化は、−55℃、
25℃、20℃、85℃、125℃の静電容量を測定し
、直線性を確認するとともに、静電容量温度係数は、2
0℃と85℃の静電容量を用いて、次式により求めた。
TO== (CGo ) / Go X 1 / 65
 X 106TC:静電容量温度係数(ppm/℃)C
o:20℃での静電容量(pF’) C:85℃での静電容量(pF) 寸だ、誘電率は次式より求めた。
K = 143,8 X Go X t/ DK :誘
電率 CO:2Q℃での静電容量(pF) D :誘電体磁器の直径(mm) t :誘電体磁器の厚み(mm) さらに、絶縁抵抗は、YHP社製HRメータのモデル4
329Aを使用し、測定電圧50 v、n、c、、測定
時間1分間による測定より求めた。
117、 そして、絶縁破壊強度は、菊水電子工業(株)堰高電圧
電源PH835に一3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速度50V/seaにより求めた絶縁
破壊電圧を誘電体厚みで除算し、1 mm当たりの絶縁
破壊強度とした。
さら釦、結晶粒径は、倍率400での光学顕微鏡観察よ
り求めた。
試験条件を第1表に併せて示し、試験結果を下記の第2
表に示す。
(以 下 余 白) 131、 (実施例2) 出発原料には化学的に高純度のBaCO2、TlO2、
ZrO2、La2o6、Pr6o11、Nd2O5、S
m2O3、Nb2O5、MnO2、ZnO,Fe2O3
および5lo2粉末を下記の第3表に示す組成比になる
ように秤量し、それ以後は、実施例1の場合と同様に処
理して第3表に示す組成比の誘電体磁器を得た。
これらの試料の試験方法は、実施例1と同様であわ、試
験条件を第3表に、試験結果を第4表に示す。
(以 下 余 白) (実施例3) 出発原料には化学的に高純度のBa G O5、TlO
2、ZrO2、La、、03、Pr6o14、Nd2O
5、Sm2O3、およびNb2O5粉末を使用し、主成
分0,11 Ba0−O68((Ti02)09(Zr
O2)o1〕−〇21Nd203に対し、Nb2O5を
0,01.0,3.05.1.○、5、○、7.0wt
%含有した仮焼粉砕粉を実施例1と同様の方法で作製す
る。ただし、Nb2o5含有量○、ol、了Owt%は
、この発明の範囲外であり、03.05.1.O15,
Qwt係は、この発明の範囲内である。
との仮焼粉砕粉末に、有機バインダー、可塑剤、分散剤
、有機溶剤を加え、アルミナボールを備えたポリエチレ
ン製ポットで混合し、スラリーを作製した。混合後、3
00メツシユのナイロン布を使用し、ろ過した。ろ通抜
のスラリーは、ドクターブレードにより、焼結後の誘電
体厚みが12μmとなるように、離型処理をしたポリエ
ステルフィルム上にシートを成形した。
次に、ポリエステルフィルムから剥したシート10枚を
支持台の上に積層した。この上に、昭栄化学(株)裏向
部電極パラジウムペース)ML3724を焼結後の内部
電極厚みが2μmとなるようにスクリーン印刷し、乾燥
した。この上にポリエステルフィルムから剥したシート
1枚を積層した。この上に、焼結後の内部電極重なり寸
法が12mmX07mmとなるように印刷位置をずらし
て内部電極パラジウムペーストを印刷し、乾燥後、ポリ
エステルフィルムから剥したシート1枚を積層した。こ
れらの操作を、誘電体層数が19となるまで繰り返した
。この上に、ポリエステルフィルムから剥したシート1
0枚を積層し、た。この積層体を焼結後、内部電極重な
り寸法が1.2 mm X 0.7mm、誘電体厚みが
12μm、誘電体層数が19の積層構造をもつ積層セラ
ミックコンデンサとなるように切断した。この切断した
試料は、ジルコニア粉末を敷いたアルミナ質のサヤに入
れ、空気中にて室温から350’C’l:でを5℃/h
rで昇温し、350℃よI)1oo℃/ h rで昇温
し、1270℃で2時間焼成後、100℃/hrで室温
まで降温195、 した。そして、焼成後の試料は、耐水サンドペーパーを
内側に貼ったポリエチレンポットに純水とともに入れ、
ポリエチレンポットを回転させ焼成後の試料面を研磨し
、外部電極と接合する内部電極部分を充分露出させた。
次に、試料はポリエチレンポットよシ取シ出し乾燥後、
内部電極露出部分に銀の外部電極を焼き付け、内部電極
と導通させ、積層セラミノクコンデンザを作製した。
これらの試料の静電容量、良好度Q、静電容量温度係数
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度は、実施例1と同様の条件で
の測定により求めた。また、積層構造の確認は、積層セ
ラミックコンデンサの長さ方向および幅方向の約1/2
の研磨断面を、内部電極重なり寸法は倍率100、誘電
体厚みと内部電極厚みは倍率4o○での光学顕微鏡観察
より求めた。
この測定結果を第2図に示す。
なお、実施例における誘電体磁器の作製方法では、Ba
CO3、ZrO2、TiO2、La2O3、Pr6O1
1、Nd2O3、Sm2o3、Nb2O5、MnO2、
Zn O、Fe 203および5102を使用したが、
この方法に限定されるものではなく、所望の組成比にな
るように、BaTiO3などの化合物、あるいは炭酸塩
、水酸化物など空気中での加熱により、BaO、ZrO
2、TiO2、La2O3、Pr6o11、Nd206
、Sm2O3、Nb2O5、MnO2、ZnO,Fe2
O3オ、l:びSiO2トする化合物を使用しても実施
例と同程度の特性を得ることができる。
まだ、主成分をあらかじめ仮焼し、副成分を添加しても
実施例と同程度の特性を得ることができる。
また、誘電体磁器用として一般に使用される工業用原料
の酸化チタン、例えばチタン工業(株)制酸化チタンK
A−10、古河鉱業(株)制酸化チタ7FA−55Wに
は最大04545重量部b2O5が含まれるが、これら
の酸化チタンを使用して主成分の誘電体磁器を作製して
も主成分100重量部に対して、Nb2O5の含有量は
最大で0.23重量部であり、この発明の範囲外である
が、工業用原料の酸化チタン中のNb2O5量を考慮し
、不足217、−7 分のNb2O5を含有させることによシ、実施例と同程
度の特性を得ることができる。
発明の効果 以上のように本発明によれば、誘電率、絶縁抵抗、絶縁
破壊電圧が高く、良好度Qにすぐれ、静電容量温度係数
が小さく、かつ積層セラミックコンデンサへの利用にお
いては、内部電極の厚みを薄くしたときの静電容量と良
好度Qの低下を防ぎ、静電容量と良好度Qのバラツキを
小さくできるため、内部電極の厚みを薄くして、積層セ
ラミックコンデンサのコストダウンが行えるとともに内
部構造欠陥であるデラミネーションの発生を防ぐことが
できる。寸だ、絶縁破壊電圧が高いだめ、誘電体層の厚
みを薄くし、素体の小型化、大容量化が可能である。
さらに、マンガン、亜鉛、鉄およびケイ素の酸化物の添
加により、焼成温度を低下させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる組成物の主咬分の組成範囲を説
明する三元図、第2図は本発明にかかる主成分011B
aO−0,6s[:(Ti○z)09(ZrOz)rL
+)021Nd203に対する副成分Nb2O5の含有
効果を、誘電体厚み=12μm、内部電極重なり寸法:
 12mmX0.7mm、誘電体層数=19の積層構造
をもつ積層セラミソクコンデンザの電気特性で示すグラ
フである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一般式 xBaO−y〔(TiO_2)_(_1_−_m_)(
    ZrO_2)_m〕−zRe_2O_3と表した時(た
    だし、x+y+z=1.000.001≦m≦0.20
    0 Re_2O_3は、La_2O_3、Pr_2O_1_
    1_/_3、Nd_2O_3、Sm_2O_3から選ば
    れる少なくとも一種以上の希土類元素の酸化物。)、x
    、y、zが以下に表す各点a、b、c、d、e、fで囲
    まれるモル比の範囲からなる主成分100重量部に対し
    、副成分としてニオブ酸化物をNb_2O_5に換算し
    て0.3〜5.0重量部含有したことを特徴とする誘電
    体磁器組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼
  2. (2)主成分と副成分を合わせた100重量部に対して
    、マンガン、亜鉛、鉄およびケイ素の酸化物から選ばれ
    る少なくとも一種以上を、それぞれMnO_2、ZnO
    、Fe_2O_3およびSiO_2に換算して0.05
    〜1.00重量部添加したことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の誘電体磁器組成物。
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