JPH0217584A - マーク読取装置 - Google Patents

マーク読取装置

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Publication number
JPH0217584A
JPH0217584A JP63169683A JP16968388A JPH0217584A JP H0217584 A JPH0217584 A JP H0217584A JP 63169683 A JP63169683 A JP 63169683A JP 16968388 A JP16968388 A JP 16968388A JP H0217584 A JPH0217584 A JP H0217584A
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JP
Japan
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mark
sheet
light
entry field
entered
Prior art date
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Pending
Application number
JP63169683A
Other languages
English (en)
Inventor
Hajime Iwai
一 岩井
Hiroshi Kitai
北井 博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Filing date
Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP63169683A priority Critical patent/JPH0217584A/ja
Publication of JPH0217584A publication Critical patent/JPH0217584A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、マークシート上のマーク記入欄に記入され
たマークを光学的に読み取るのに用いられるマーク読取
装置に関する。
〈従来の技術〉 従来のマーク読取装置は、第7図に示す如く、光学セン
サ31と、この光学センサ31の出力電圧e(第8図(
1)参照)を基準電圧■と比較してrljまたはr□、
の検出信号(第8図(2)参照)を生成する電圧比較器
32とから構成されている。前記光学センサ31には、
例えば基板上に発光ダイオードとフォトトランジスタと
を一体化した構造のものが用いてあり、発光ダイオード
による照射光をマークシートの表面で乱反射させ、その
乱反射光をフォトトランジスタで受光している。
かくしてマークが記入されていないマーク記入欄に照射
光が当たると、乱反射される光の量が多く、フォトトラ
ンジスタの受光量が大きくなるため、例えばその出力電
圧eは小さな値をとり、前記電圧比較器32による検出
信号は「0」レベルとなる。一方マークが記入されたマ
ーク記入欄に照射光が当たると、乱反射される光の量が
少なくなって、フォトトランジスタの受光量が低下する
ため、前記とは逆に出力電圧eは大きくなり、前記電圧
比較器32による検出信号は「1」のレベルとなる。
〈発明が解決しようとする問題点〉 上記のマーク読取装置において、マークの検出能力を上
げるためには、前記出力電圧eの小さな変化で電圧比較
器32による検出信号が反転するよう基準電圧■の設定
を行う必要があるが、この場合に、マーク記入欄にゴミ
が付着していたり、マークの消残しがあったりすると、
それが原因で前記出力電圧eが変動して電圧比較器32
による検出信号が反転し、そのマーク記入欄にマークが
記入されているとの誤った判定が行われる結果となり、
マーク検出精度が低下する。
また前記電圧比較器32の基準電圧■が一定であるため
、例えばマークシートを搬送しつつ光学センサ31によ
りマークの読取動作を行う場合に、搬送機構の速度変化
による読取データの誤差を補正できず、マークの誤検出
を招き、マークの検出能力が低下する。さらに電圧比較
器32による検出信号は「1」または「0」のいずれか
であるため、マークの大小やマークの濃淡を判定するこ
とが不可能であるなどの問題がある。
この発明は、上記問題に着目してなされたもので、光学
センサによる検出出力を数値化することにより、正確な
マークの読取りを可能とした新規なマーク読取装置を提
供することを目的とする。
〈問題点を解決するための手段〉 上記目的を達成するため、この発明のマーク読取装置で
は、前記マークシートの各マーク記入欄へ光を当てかつ
その反射光を受光して受光量に応じた電気信号を得る光
学センサと、前記電気信号を数値化してマーク記入欄毎
にマークの記入の有無を判定するための判定データを得
る信号処理部と、前記判定データの大きさに基づき各マ
ーク記入欄へのマークの記入の有無を判定する判定部と
を具備させている。
〈作用〉 マーク記入欄にゴミの付着やマークの消残しがあった場
合と、マーク記入欄に実際にマークが記入されていた場
合とでは、光学センサによる検出出力を数値化して得た
判定データにはその差が顕著に現れるため、マークの記
入の有無を誤りなく検出し得る。また判定データの大小
からマークの大小やマークの濃淡を判定することも可能
であり、さらにマークシートを搬送しつつマークの読取
動作を行う場合に、搬送機構の速度変化による読取デー
タの誤差を容易に補正できる。
〈実施例〉 第2図は、この発明の一実施例にかかるマーク読取装置
1を示している。
図示例のマーク読取装置1は、複写機の操作ボードに代
わって用いられており、マークシート2より読み取られ
たコピー枚数、コピーサイズ、コピー倍率などの各種情
報がコード線3を介して複写機(図示せず)へ送られて
、複写機のモード設定が自動的に行われる。
前記マークシート2のシート面には、第3図に示す如く
、前端縁の一側寄りに黒塗りの先端マーク4が印刷され
、この先端マーク4の後方位置にマーク記入領域5が設
けられている。このマーク記入領域5には、側端縁の長
手方向に沿ってマーク読取位置を示す黒塗りの基準マー
ク6が所定間隔毎に印刷され、各基準マーク6の位置に
淡い色彩の矩形枠をもってマーク記入欄7が印刷されて
いる。これらマーク記入欄7はコピー枚数、コピーサイ
ズ、コピー倍率などの情報を記入するためのものであっ
て、例えばコピー枚数については、100の桁(図中、
rXloo」テ示す)、10の桁(図中、rXlo J
で示す)、lの桁(図中、「Xl」で示す)のいずれか
マーク記入欄7にし点や横棒などによるマーク8を記入
することにより、1〜999枚のコピー枚数が設定でき
るようになっている。
第2図に戻って、マーク読取装置1は器体9の前面部に
シート挿入部10が設けてあり、このシート挿入部10
に形成された水平ガイド面11および垂直ガイド面12
に沿ってシート挿入口13へ上記マークシート2を挿入
するようになっている。シート挿入口13の内側にはマ
ークシート2の搬送路が器体9を貫通して形成されてお
り、この搬送路の上流位置には、マークシート2を搬送
路に沿い往復移動させるための駆動部14や、マークシ
ート2に記入された情報を複数個の反射型の光学センサ
により光学的に読み取るための読取部15が配設されて
いる。前記駆動部14は、図示しないが、駆動ローラと
テンションローラとの間にマークシート2を導き、駆動
ローラをモータにより正逆駆動することにより、駆動ロ
ーラとの間の摩擦力にてマークシート2を往復搬送させ
るものである。
第1図は、前記読取部15の構成を示したものであり、
3個の光学センサ16〜18がマークシート2のマーク
記入欄7の各列に対応させ、また1個の光学センサ19
が基準マーク6の列に対応させて、それぞれ−直線状に
並べられている。各光学センサ16〜19は、第5図に
示す如く、プリント基板20上に発光ダイオード21と
フォトトランジスタ22とを一体にハンダ付けした構造
のものであって、マークシート2の搬送方向(図中、矢
印aで示す)に沿って前記発光ダイオード21とフォト
トランジスタ22とを位置させである。各素子は、それ
ぞれ内方向へ向くよう取り付けてあり、発光ダイオード
21に対してフォトトランジスタ22が低位置に位置す
るようプリント基板20を所定角度傾けて固定すること
により、発光ダイオード21はシート面にほぼ直角方向
に向け、またフォトトランジスタ22の向きは水平方向
に大きく傾いた状態に設定しである。
発光ダイオード21による照射光L1はマークシート2
のシート面で乱反射され、その乱反射光り、がフォトト
ランジスタ22で受光される。もしシート面のマークが
付されていない部分に照射光L1が当たると、乱反射さ
れる光の量が多く、フォトトランジスタ22の受光量が
大きくなるが、マークが付された部分に照射光り、が当
たると、乱反射される光の量が少なくなり、フォトトラ
ンジスタ22の受光量が低下する。
各光学センサ16〜19にはそれぞれ増幅回路25およ
びA/D変換器26を含む信号処理部24が電気接続し
てあり、各増幅回路25は前記フォトトランジスタ22
による乱反射光の受光量に応じた出力を増幅してA/D
変換器26へ与える。各A/D変換器26はこのアナロ
グ入力をディジタル量に変換して数値化するためのもの
で、この実施例の場合、ひとつのマーク記入欄7につき
同一間隔で所定回数(n回)だけアナログ−ディジタル
変換のサンプリングを行っている。
演算制御ユニット23は、A/D変換器26よりマーク
記入欄7毎にn個の入力データを取り込んで複数のレベ
ルに振り分け、各レベルに含まれる人力データの個数を
算出する。マークシート2の読取動作は往復搬送時の往
路と復路との2回にわたって行われるもので、演算制御
ユニット23は往路時に得た前記個数データを用いた演
算により第1の評価値Fを求め、また復路時に得た個数
データを用いた演算により第2の評価値Rを求めた後、
これら2個の評価値F、  Rとそれぞれマーク記入欄
7の位置に応じて予め決められた定数とを用いた演算を
実行することによりマークである確率を示す総合評価値
Sを求めている。
前記の定数は、マーク記入欄7のマークシート2上の位
置に応じてそのマーク記入欄7が読取部5を通過する速
度が相違して、各光学センサ16〜18の出力に誤差が
生ずるのを補正するためのものである。ここでマーク記
入欄7が読取部15を通過する速度に差異が生ずるのは
、マークシート2の搬送速度が前記駆動部14の始動時
や反転時から定常運転へ移行する間に加速されて変化す
ることなどに起因している。
また演算制御ユニット23は、マークシート2の各マー
ク記入欄7を複数のグループにグループ分けして、各グ
ループ毎にそのグループに含まれるマーク記入欄7の総
合評価値Sを相互に大小比較する。なおこの場合に総合
評価値Sはそのまま比較してもよいが、これを複数のク
ラスに分けて、そのクラスによる比較を行ってもよい。
第4図は、前記グループ分けの一例を示しており、コピ
ー枚数のマーク記入領域を各桁毎の3個のグループG、
−G3に分け、またコピーサイズのマーク記入領域をひ
とつの独立したグループG4となしている。これら各グ
ループには最大1個のマークが存在するはずであり、各
グループにつき最も大きな値をとる総合評価値Sであっ
てかつ所定のしきい値を越えるものを選択することによ
り、実際にマークが記入されたマーク記入欄7を検出す
るものである。
つぎに上記構成のマーク読取装置1につき、第6図に基
づきその動作を説明する。
いまシート挿入口13よりマークシート2が器体9内に
挿入されると、駆動部14が駆動してマークシート2は
器体9内の搬送路に沿って強制移行される。この搬送に
よりマークシート2が読取部15の位置を通過するとき
、この読取部15における各光学センサ16〜18がマ
ークシート2上の各マーク記入4PA7に光を照射しか
つその乱反射光を受光して、マークの検出動作を実行す
る。
まず第6図にステップ1 (図中、rsTI Jで示す
)において、各光学センサ16〜18の出力は信号処理
部24を経て数値化され、そのデータは演算制御ユニッ
ト23に取り込まれて、マーク記入4M7毎に前記第1
の評価値Fが算出される。同様の処理が駆動部14の反
転動作によりマークシート2が反対方向に搬送されて読
取部15の位置を通過する際にも実行され、これにより
演算制御ユニット23はマーク記入欄7毎に第2の評価
値Rを算出する。その後演算制御ユニット23は、2個
の評価値F、Rと所定の定数を用いて総合評価値Sを算
出し、その算出値を各マーク記入欄7毎にメモリの所定
エリアにストアする。
つぎのステップ2では、演算制御ユニット23はマーク
シート2の各マーク記入a7を複数のグループにグルー
プ分けし、各グループ毎にそれぞれのグループに含まれ
る各マーク記入欄7の総合評価値Sを相互に大小比較し
て、最も大きな値の総合評価値S、□を選出する。つぎ
にステップ3では各グループにつき最大の総合評価値S
 sixが所定のしきい値3以上であるか否かを判定し
ており、つぎのステップ4の「S−9≧J」の判定が“
YES“のときは、ステップ5でその総合評価値S、□
にががるマーク記入欄7にマークが存在する旨の判断を
行う。これに対しステップ4の判定が“NO゛であれば
、ステップ6へ進み、その総合評価値S aaxにかか
るマーク記入欄7にはマークは存在せず、従ってそのグ
ループにはマークの記入はないとの判断を行うことにな
る。
いまあるグループ内のマーク記入欄7にマークが記入さ
れ、加えて他のマーク記入欄7にゴミが付着したり、記
入したマークの消残しが存在したりした場合を想定する
と、実際にマーク付けされたマーク記入欄7にかかる総
合評価値Sが、ゴミの付着などがあったマーク記入欄7
にかかる総合評価値Sより大きな値をとりかつそれが前
記のしきい値3以上となるから、演算制御ユニット23
は前記のマーク記入欄7にマークが記入されている旨の
判断を行うことになる。
また仮に、あるグループ内にはマークの記入がなく、し
かもそのグループ内のあるマーク記入WA7にゴミの付
着などがあった場合は、そのマーク記入欄7にかかる総
合評価値Sは、たとえグループ内で最大値をとっても、
前記のしきい値Jを下回ることになるから、演算制御ユ
ニント23は前記のマーク記入欄7にはマークが記入さ
れていない旨の判断を行うことになる。
〈発明の効果〉 この発明は上記の如く、光学センサによる検出出力を数
値化してマーク記入欄毎にマークの記入の有無を判定す
るための判定データを生成し、この判定データの大きさ
に基づき各マーク記入欄へのマークの記入の有無を判定
するようにしたから、マーク記入欄にゴミの付着やマー
クの消残しがあった場合と、マーク記入欄に実際にマー
クが記入されていた場合とでは、前記判定データの違い
が顕著に現れるため、マークの記入の有無を誤りなく検
出できる。また判定データの大小からマークの大小やマ
ークの濃淡を判定することも可能であり、さらにマーク
シートを搬送しつつマークの読取動作を行う場合に、搬
送機構の速度変動による読取データの誤差を容易に補正
できるなど、発明目的を達成した顕著な効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はマーク読取装置におけるマーク読取部の構成を
示す説明図、第2図はマーク読取装置の外観を示す斜面
図、第3図はマークシートの構成を示す平面図、第4図
はマーク記入欄のグループ分けの状態を示すマークシー
トの拡大図、第5図は光学センサの構成を示す説明図、
第6図はマーク読取動作の手順を示すフローチャート、
第7図は従来例の構成を示す回路ブロック図、第8図は
第7図の回路のタイムチャートである。 1・・・・マーク読取装置 2・・・・マークシート7
・・・・マーク記入欄  8・・・・マーク16〜18
・・・・光学センサ 24・・・・信号処理部23・・
・・演算制御ユニット

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 マークシートに設けられた複数のマーク記入欄につきマ
    ークの記入の有無を判定してマークシート上のマークに
    よる情報を読み取るためのマーク読取装置であって、 前記マークシートの各マーク記入欄へ光を当てかつその
    反射光を受光して受光量に応じた電気信号を得る光学セ
    ンサと、 前記電気信号を数値化してマーク記入欄毎にマークの記
    入の有無を判定するための判定データを得る信号処理部
    と、 前記判定データの大きさに基づき各マーク記入欄へのマ
    ークの記入の有無を判定する判定部とを具備して成るマ
    ーク読取装置。
JP63169683A 1988-07-06 1988-07-06 マーク読取装置 Pending JPH0217584A (ja)

Priority Applications (1)

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JP63169683A JPH0217584A (ja) 1988-07-06 1988-07-06 マーク読取装置

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JP63169683A JPH0217584A (ja) 1988-07-06 1988-07-06 マーク読取装置

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JPH0217584A true JPH0217584A (ja) 1990-01-22

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ID=15890973

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JP63169683A Pending JPH0217584A (ja) 1988-07-06 1988-07-06 マーク読取装置

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JP (1) JPH0217584A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0619052U (ja) * 1992-08-12 1994-03-11 日本航空電子工業株式会社 メモリカード用アダプタ
KR100460336B1 (ko) * 2001-07-26 2004-12-04 김택진 광학마크판독기의 판독유니트

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0619052U (ja) * 1992-08-12 1994-03-11 日本航空電子工業株式会社 メモリカード用アダプタ
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