JPH05274514A - コインの径測定装置 - Google Patents

コインの径測定装置

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JPH05274514A
JPH05274514A JP6866592A JP6866592A JPH05274514A JP H05274514 A JPH05274514 A JP H05274514A JP 6866592 A JP6866592 A JP 6866592A JP 6866592 A JP6866592 A JP 6866592A JP H05274514 A JPH05274514 A JP H05274514A
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JP
Japan
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coin
counter
light
shadow
line sensor
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JP6866592A
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English (en)
Inventor
Koji Noda
浩司 野田
Toshio Kakizawa
俊夫 柿沢
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】常に最適な光量を光電変換素子に与えることが
でき、高精度で、しかも、安定した測定能力が得られる
コインの径測定装置を提供する。 【構成】搬送される硬貨1の影を検出するラインセンサ
7の出力信号をカウントする第1のカウンタ12を設
け、この第1のカウンタ12がカウントアップする以前
にラインセンサ7が硬貨1の影を検出しなくなったと
き、第1のカウンタ12がリセットされるように構成さ
れる。第1のカウンタ12がカウントアップすると、第
2のカウンタ16がカウント動作を開始し、硬貨1の影
の残り全ての期間をカウントし、硬貨1の影がなくなっ
たとき、CPU14が第2のカウンタ16の値を読込
み、硬貨1の径を判別する。光量制御回路17は, ライ
ンセンサ7の出力信号のピーク値を検出し、そのピーク
値とあらかじめ設定される基準値との比較を行ない、そ
の比較結果に基づき光源5をオン,オフ制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、たとえば、硬貨あるい
はメダルなどのコインを種類ごとに選別するコイン処理
機において、コインの径を光学的に測定するコインの径
測定装置に係り、特にコイン径測定用の光電変換素子に
対する光源の光量を最適値に制御する光量制御技術に関
する。
【0002】
【従来の技術】一般に、たとえば、硬貨を種類ごとに選
別する硬貨処理機にあっては、硬貨の径を測定すること
により、硬貨の種類を判別し、その判別結果に基づき硬
貨を種類ごとに選別するようになっている。
【0003】従来、このような硬貨処理機において、硬
貨の径を測定する場合、たとえば、搬送される硬貨の下
方から発光ダイオードなどの光源で光を照射するととも
に、硬貨を挟んで上方にラインセンサなどの光電変換素
子を配置し、硬貨が通過するとき、硬貨の影を光電変換
素子で検出して、その影の領域をカウンタでカウントす
ることにより、硬貨の径を測定している。
【0004】ところが、従来、硬貨径測定用の光電変換
素子に対する光源である発光ダイオードは定電流で駆動
されていたため、光電変換素子と発光ダイオードとの位
置合わせが正確に行なわれていない場合、光電変換素子
には最適な光量が与えられていなかった。また、発光ダ
イオードの経時変化による劣化、初期性能のばらつき、
環境温度の変化などによっても前記同様、最適な光量が
与えられなくなる。光電変換素子は、発光ダイオードか
らの光量が過多でも、また少なくても正確な硬貨径の測
定はできない。したがって、従来のように定電流駆動の
場合、硬貨径の測定値はばらつき、硬貨の種類の誤判別
を引き起した。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、硬貨
径測定用の光電変換素子に対する光源である発光ダイオ
ードは定電流で駆動されていたため、光電変換素子と発
光ダイオードとの位置合わせが正確に行なわれていない
場合、光電変換素子に与えられる光量は最適値ではなく
なり、硬貨の誤判別を招いた。また、この位置合わせを
正確に行なうためには高コストを要した。
【0006】また、発光ダイオードの経時変化による劣
化や、初期性能のばらつき、周囲温度の変化により、光
電変換素子に与えられる光量は変化し、その結果、光電
変換素子による径測定値は変動し、硬貨の種類の誤判別
が生じた。
【0007】さらに、硬貨径測定部の硬貨搬送路にガラ
スや透明な樹脂などを用いた硬貨処理機では、硬貨の搬
送に伴う搬送面の曇りや汚れ、傷などにより、光源であ
る発光ダイオードからの光量は変化し、上記同様、硬貨
の種類の誤判別を引き起こすという問題があった。
【0008】そこで、本発明は、光電変換素子と光源と
の位置合わせのばらつき、光源の経時変化による劣化、
光源の初期性能のばらつき、周囲温度の変化、および、
光電変換素子までの光の透過状態などに関係なく、常に
最適な光量を光電変換素子に与えることができ、高精度
で、しかも、安定した測定能力が得られるコインの径測
定装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明のコインの径測定
装置は、測定すべきコインを搬送する搬送手段と、この
搬送手段の一方側に設けられ、前記搬送されるコインに
対して光を照射する光源と、この光源と相対向する前記
搬送手段の他方側に設けられ、前記搬送されるコインの
影を検出する光電変換素子と、この光電変換素子から得
られるコインの影検出信号により前記コインの径を判別
する判別手段と、前記光電変換素子の出力信号のピーク
値を検出するピーク値検出手段と、このピーク値検出手
段で検出されたピーク値とあらかじめ設定される基準値
とを比較する比較手段と、この比較手段の比較結果に基
づき前記光源の光量を制御する光量制御手段とを具備し
ている。
【0010】
【作用】光電変換素子の明部レベル、つまり、遮光物体
のない部分の出力レベルは、光源から最適な光量が与え
られているか否かの目安となる。このレベルが最適値か
ら変動すれば径の検出能力は劣化する。そこで、本発明
では、この光電変換素子の出力信号のピーク値を検出
し、そのピーク値とあらかじめ設定される基準値との比
較を行ない、その結果、光量が過多で基準値よりも上記
ピーク値が上がったときは、たとえば光源をオフし、逆
に光量不足で基準値よりも上記ピーク値が下がったとき
は、たとえば光源をオンすることにより、常に明部レベ
ルを最適値に保つように帰還をかけている。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。
【0012】図3および図4は、本実施例に係る硬貨処
理機の搬送路中に設けられる硬貨径測定部の構成を示す
ものである。すなわち、図示しない硬貨繰出部から1枚
ずつ繰り出される硬貨1は、搬送路2上に導かれ、搬送
ベルト3によって中心部を搬送路1上に押し付けながら
図示矢印方向に搬送される。搬送路2の中途部には、硬
貨1の搬送方向と直角方向に硬貨1の最大径よりも長い
スリット4が設けられ、このスリット4と対向する搬送
路2の下側には、たとえば、多数の発光ダイオードを並
設してなる棒状の光源5が設けられている。スリット4
と対向する搬送路2の上側には、棒状レンズ6を介して
光電変換素子としてのCCD形ラインセンサ7が配設さ
れている。
【0013】このような構成により、光源5からの光
は、スリット4を通り、硬貨1の部分が遮光され、棒状
レンズ6によりラインセンサ7の受光面に硬貨1の影を
結ぶようになっている。
【0014】図1は、本実施例に係る硬貨径測定装置の
電気回路を示すものである。すなわち、ラインセンサ7
は、駆動回路8により走査駆動される。駆動回路8は、
発振器9から出力されるクロックパルスを分周すること
により、ラインセンサ7を駆動するに必要なクロックパ
ルスを得ている。ラインセンサ7の出力信号は、波形整
形回路10により適当なレベルの波形に整形され、第1
のゲート回路11に供給される。第1のゲート回路11
は、波形整形回路10の出力信号がハイレベルであり、
かつ、第1のカウンタ12がカウントアップしていない
とき、発振器9からのクロックパルスを第1のカウンタ
12のクロック端子に入力するように構成される。
【0015】第1のカウンタ12の出力は、一定値検出
回路13に供給される。一定値検出回路13は、第1の
カウンタ12の内容が一定値となったとき、それを検出
してCPU(セントラル・プロセッシング・ユニット)
14に対して信号を出力する。また、第1のカウンタ1
2の出力は、第2のゲート回路15を介して第2のカウ
ンタ16のクロック端子に入力される。第2のゲート回
路15は、第1のカウンタ12がカウントアップしたと
き、発振器9からのクロックパルスを第2のカウンタ1
6に入力するように構成されている。そして、第2のカ
ウンタ16のカウント値は、波形整形回路10の出力信
号が立ち下がったとき、CPU14によって読込まれる
ようになっている。なお、第1のカウンタ12は、波形
整形回路10の出力信号が立ち下がったときリセットさ
れるようになっている。
【0016】光量制御回路17は、ラインセンサ7に対
して常に最適な光量を与えるための回路である。一般
に、ラインセンサは、入射光量が多くても少なくても正
確な画像を得ることができない。そこで、ラインセンサ
7の出力信号のピーク値に応じて光源5の光量を制御す
ることにより、ラインセンサ7への光量を常に最適な値
に制御しており、その詳細は後述する。
【0017】次に、このような構成において動作を説明
する。まず、通常の硬貨径測定動作について、図5に示
すタイミングチャートを参照して説明する。なお、ライ
ンセンサ7は、たとえば、(株)東芝製のTD133D
を使用している。このラインセンサ7は、図5に示すよ
うに、T1からT2の間で1ライン分のデータを取込
む。図5(a)のSH信号は、ラインセンサ7のフォン
トセンサの電荷をシフトレジスタに移すための信号であ
り、その後、64クロックパルス分無効部が有った後、
画像信号が出力される。この出力信号を図5(b)に示
す。
【0018】ラインセンサ7の出力信号を、波形整形回
路10においてスレッシュホールド電圧V1で波形整形
することにより、図5(c)に示すような信号となる。
この信号は、第1のゲート回路11に供給され、たとえ
ば、ラインセンサ7の1画素転送速度(2MHz)をマ
スクする。図5(c)の信号がハイレベルのときで、か
つ、第1のカウンタ12がカウントアップしていないと
き(第1のカウンタ12の出力がハイレベルのとき)、
第1のゲート回路11から上記2MHzのクロックパル
スが発生することになる。
【0019】すなわち、図5(c)の斜線を引いた部分
(硬貨1による影部)で第1のゲート回路11のゲート
が開き、第1のカウンタ12がカウントを開始する。第
1のカウンタ12がカウントアップすると、第1のカウ
ンタ12の出力がロウレベルとなり、第1のゲート回路
11のゲートが閉じるとともに、第2のゲート回路15
のゲート開放され、第2のカウンタ16がカウントを開
始する。第2のカウンタ16は、硬貨1の影をカウント
するに充分大きく構成されている。
【0020】そして、波形整形回路10の出力信号が立
ち下がったとき、CPU14は第2のカウンタ16のカ
ウント値を読込む。この波形整形回路10の出力信号の
立ち下がりでのデータの読込みは、CPU14の割込み
機能を用いることにより容易に実現できる。CPU14
は、第2のカウンタ16のカウント値を読込むと、その
データを例えばあらかじめ設定される硬貨の種類ごとの
基準値と比較することにより、硬貨の径を判別し、硬貨
の種別を分類する。
【0021】次に、塵または異物により小さな影が発生
した場合の動作ついて、図6に示すタイミングチャート
を参照して説明する。この場合、ラインセンサ7の出力
信号は、前記の場合と同様に、図6(b)に示すような
信号波形となる。そして、塵による影の部分が第1のカ
ウンタ12によりカウントされる。ところが、この塵に
よる影の部分のパルス幅は、第1のカウンタ12をカウ
ントアップするには充分でない。そこで、塵による影の
部分の立ち下がり部で第1のカウンタ12がリセットさ
れる。
【0022】そして、ラインセンサ7の出力信号が正規
の硬貨の波形になったとき、前記と同様にカウントを開
始する。そして、塵または異物による小さな波形に関係
なく、正確な第2のカウンタ16のカウント値を得るこ
とができる。したがって、硬貨の径を常に正確に判別す
ることが可能となる。
【0023】次に、硬貨1の影に塵または異物の影が重
なるような位置になった場合について説明する。硬貨1
の影が完全に重なれば、第2のカウンタ16のカウント
値は正規の硬貨1のカウント値よりも大きくなり、正確
な硬貨径の判別はできない。しかしながら、硬貨1は搬
送ベルト3により搬送されているので、硬貨1による影
は常に中心部の搬送ベルト3の影から正規の硬貨1の影
まで動くことになる。すなわち、硬貨1の影と塵または
異物による影とは重ならない部分が必ず存在する。
【0024】以下、図7に示すフローチャートを参照し
て動作を説明する。硬貨1の径を判別する際、第1のカ
ウンタ12がカウント動作を開始すると、一定値検出回
路13は、第1のカウンタ12が一定値(たとえば16
進数で100H)になったかを検出し、一定値になった
ことを検出するとCPU14へ信号を出力する。CPU
14は、図7のフローチャートに示すように、一定値検
出回路13の出力により、第1のカウンタ12が一定値
になったかを判定しており、一定値となると、次にライ
ンセンサ7の出力信号の立ち下がりの検出を行なう。
【0025】そして、立ち下がりを検出したとき、CP
U14は、第2のカウンタ16のカウント値を読込む。
この際、CPU14は、第2のカウンタ16のカウント
値が「0」であれば、塵または異物により硬貨径の検出
動作が行なわれたものと判断して、たとえば異物報知を
行ない、また、この値が「0」でない場合は、正規の硬
貨1が通過したものと判断し、前述同様な硬貨径の判別
を行なう。
【0026】次に、光量制御回路17について図2を参
照して説明する。光量制御回路17は、波形整形回路1
0の出力信号(ラインセンサ7の出力信号)のピーク値
を検出するピーク値検出回路18、ピーク値検出回路1
8で検出されたピーク値とあらかじめ定めた基準値とを
比較する比較回路19、比較回路19の比較結果に基づ
き、光源5をオン,オフ制御する光源制御回路20から
構成されている。
【0027】ピーク値検出回路18は、オペアンプ2
1、抵抗22、コンデンサ23、およびダイオード24
などによって構成されている。比較回路19は、基準電
圧を生成する抵抗25,26からなる分圧回路、および
オペアンプ27などによって構成されている。光源制御
回路20は、光源(発光ダイオード)5をオン,オフ制
御するトランジスタ28などによって構成されている。
【0028】なお、比較回路19の基準電圧(基準値)
は、ラインセンサ7の明部の信号レベルであり、このレ
ベルは、本実施例のラインセンサ7ではCCDのリファ
レンス電圧マイナス2ボルト(V)が最適であり、これ
よりも小さいと光量が過多であり、逆にこのレベルより
も大きいと光量不足である。どちらの場合も、硬貨径の
正確な測定はできない。したがって、常にこの最適な光
量をラインセンサ7に与えることが硬貨径の検出能力を
向上、安定させることになる。
【0029】このような構成において、図8に示すフロ
ーチャートを参照して光量制御動作を説明する。ライン
センサ7の出力信号が波形整形回路10で波形整形さ
れ、ピーク値検出回路18に入力されると、その信号は
オペアンプ21で増幅された後、抵抗22、コンデンサ
23、およびダイオード24からなる回路でピーク値が
検出され、比較回路19のオペアンプ27の一方の入力
端子に入力される。オペアンプ27の他方の入力端子に
は、抵抗25,26からなる分圧回路で生成された基準
電圧が入力されている。
【0030】したがって、オペアンプ27は、ピーク値
検出回路18からのピーク値と基準電圧とを比較し、そ
の比較結果に応じて光源制御回路20のトランジスタ2
8をオン,オフ制御する。すなわち、光量が過多で検出
したピーク値が基準電圧よりも下がったとき、トランジ
スタ28をオフして光源5をオフし、逆に光量不足で検
出したピーク値が基準電圧よりも上がったとき、トラン
ジスタ28をオンして光源5をオンし、常に明部レベル
を最適値に保つように帰還制御している。
【0031】このように、光量制御回路17では、ライ
ンセンサ7の出力波形に対して帰還をかけて光源5のオ
ン,オフ制御を行なっているため、常に最適な光量をラ
インセンサ7に与えることができる。
【0032】なお、光源5とラインセンサ7との間に遮
光物体が存在する場合、光源5のオン状態が継続するこ
とになるが、遮光物体によって光源5からの光の多くが
遮られるため、光量過多などになる心配はない。
【0033】以上説明したように上記実施例によれば、
ラインセンサの出力信号のピーク値を検出し、そのピー
ク値とあらかじめ設定される基準値との比較を行ない、
その比較結果に基づき光源をオン,オフ制御することに
より、ラインセンサと光源との位置合わせのばらつき、
光源の経時変化による劣化、光源の初期性能のばらつ
き、周囲温度の変化、および、ラインセンサまでの光の
透過状態などに関係なく、常に最適な光量をラインセン
サに与えることができ、高精度で、しかも、安定した測
定能力が得られる。
【0034】なお、前記実施例では、光源として発光ダ
イオードを、光電変換素子としてラインセンサをそれぞ
れ用いた場合について説明したが、本発明はこれに限定
されるものでなく、その他の光源および光電変換素子を
用いた場合にも同様に適用できる。
【0035】また、前記実施例では、硬貨を種類ごとに
選別する硬貨処理機において、硬貨の径を測定する硬貨
径測定装置に適用した場合について説明したが、本発明
はこれに限定されるものでなく、たとえば、メダルを種
類ごとに選別するメダル処理機において、メダルの径を
測定するメダルの径測定装置にも適用できる。
【0036】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、光
電変換素子と光源との位置合わせのばらつき、光源の経
時変化による劣化、光源の初期性能のばらつき、周囲温
度の変化、および、光電変換素子までの光の透過状態な
どに関係なく、常に最適な光量を光電変換素子に与える
ことができ、高精度で、しかも、安定した測定能力が得
られるコインの径測定装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る硬貨径測定装置の電気
回路の構成を示すブロック図。
【図2】光量制御回路の構成を詳細に示す回路図。
【図3】硬貨径測定部を一部断面して示す側面図。
【図4】硬貨径測定部を一部断面して示す正面図。
【図5】通常の硬貨径測定動作を説明するタイミングチ
ャート。
【図6】塵または異物により小さな影が発生した場合の
動作を説明するタイミングチャート。
【図7】異物検知動作を説明するフローチャート。
【図8】光量制御動作を説明するフローチャート。
【符号の説明】
1……硬貨(コイン)、2……搬送路、3……搬送ベル
ト、4……スリット、5……光源、6……棒状レンズ、
7……ラインセンサ(光電変換素子)、12……第1の
カウンタ、13……一定値検出回路、14……CPU、
16……第2のカウンタ、17……光量制御回路、18
……ピーク値検出回路、19……比較回路、20……光
源制御回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定すべきコインを搬送する搬送手段
    と、 この搬送手段の一方側に設けられ、前記搬送されるコイ
    ンに対して光を照射する光源と、 この光源と相対向する前記搬送手段の他方側に設けら
    れ、前記搬送されるコインの影を検出する光電変換素子
    と、 この光電変換素子から得られるコインの影検出信号によ
    り前記コインの径を判別する判別手段と、 前記光電変換素子の出力信号のピーク値を検出するピー
    ク値検出手段と、 このピーク値検出手段で検出されたピーク値とあらかじ
    め設定される基準値とを比較する比較手段と、 この比較手段の比較結果に基づき前記光源の光量を制御
    する光量制御手段とを具備したことを特徴とするコイン
    の径測定装置。
JP6866592A 1992-03-26 1992-03-26 コインの径測定装置 Pending JPH05274514A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019035605A (ja) * 2017-08-10 2019-03-07 日本発條株式会社 検長装置
JP2019035604A (ja) * 2017-08-10 2019-03-07 日本発條株式会社 コイルばね検長装置及びコイルばね製造装置

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JP2019035605A (ja) * 2017-08-10 2019-03-07 日本発條株式会社 検長装置
JP2019035604A (ja) * 2017-08-10 2019-03-07 日本発條株式会社 コイルばね検長装置及びコイルばね製造装置

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