JPH0217449A - 自動化学分析装置 - Google Patents

自動化学分析装置

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JPH0217449A
JPH0217449A JP16680888A JP16680888A JPH0217449A JP H0217449 A JPH0217449 A JP H0217449A JP 16680888 A JP16680888 A JP 16680888A JP 16680888 A JP16680888 A JP 16680888A JP H0217449 A JPH0217449 A JP H0217449A
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JP
Japan
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absorbance
sample
sampling
vessel
container
Prior art date
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Application number
JP16680888A
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English (en)
Inventor
Ayanori Sawada
文徳 沢田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、分析に必要な液体が収納された容器からこの
液体をサンプリングして他の容器に分注する自動化学分
析装置に関する。
(従来の技術) 例えば人体から採取した血清をサンプル(試料)として
用いこれに所望の試薬を反応させ、この反応液内の特定
成分の濃度を例えば比色法により吸光度を求めることに
よって測定し、この結果により所望項目の分析を行うよ
うにした自動化学分析装置が知られている。第4図はこ
のような分析装置の構成の一例を示すもので、例えば円
形の恒温槽1の恒温水2内には多数の反応容器3が配置
され、これら反応容器3は図示しない駆動源によって一
定のサイクルで矢印方向に間欠移動されるようになって
いる。恒温槽1の周囲の爪位置にはサンプリングアーム
4が設けられ、このサンプリングアーム4は矢印のよう
に揺動運動を行って対向位置の1反応容器3に対してサ
ンプラ部5のサンプル容器6から分析すべき所望のサン
プルを吸引して分注するように、いわゆるサンプリング
を行うように動作する。サンプラ部5には複数のサンプ
ル容器6が配置され駆動軸7によって回転運動を行うこ
とにより、反応容器3に所望のサンプルが供給可能に1
m成されている。同様にしてB位置には試薬分注アーム
8が設けられ、この試薬分注アーム8は、矢印のように
揺動運動を行って対向位置の反応容器3に対して試薬部
9の試薬容器10から所望の試薬を吸引して分注するよ
うに動作する。またC位置には撹拌子11が設けられ、
矢印のように前後動じて対向位置の反応容器3内のサン
プルと試薬との反応液を撹拌するように動作する。反応
容器3の移動経路の途中位置には光源12.光検出器1
3を含む測光系1/lが設けられ、反応容器3に対して
光照射を行い透過先組を検出して吸光度の測定を行うこ
とにより反応液内の特定成分の濃度が求められるように
構成されている。測定が終了した反応容器3はD位置に
設けられた洗浄具15が前後動することにより洗浄。
乾燥が行われ、再びA位置に移動することににり以上の
ような動作が繰返されるように構成されている。
このような分析装置において、分析すべきサンプルはj
ナンブル容器6に収納された状態で、リーンプラ部5の
所望位置にセン1へされるようになっている。ここでサ
ンプル容器6はサンプラ部5に設けられているセット位
置の全てに対してセットされるとは限らず、分析要求に
よってはセット位首は空いた状態になっていることもあ
る。またサンプル容器6の形状は好きなものを用いるニ
ーズが高まっており、例えば第5図(a)に示すような
試験管6a又は第5図(b)に示すようなサンプルカッ
プ6bが用いられる。これら試験管5a。
サンプルカップ6bは構造の差異に基づき深さ\J法が
異なるので、サンプリングアーム4によってサンプリン
グを行うときに下降するストローク量Di 、D2も異
なってくることになる。これらストローク量の違いは予
め液面セン”J16を用いてこれを下降することにより
、この液面を検出してサンプリングアーム4にフィード
バックさせるような方法がとられている。このような検
出動作はサンプラ部5のサンプル容器セット位置のすべ
てに対して行われ、もしサンプル容器が存在していない
ときはこれを確認して次のセット位置に移るような動作
が行われている。
(発明が解決しようとする課題) ところで従来の分析装置では、サンプラ部5のサンプル
容器セット位置のすべてに対して検出動作が行われ、ま
た−リンプル容器が存在しているときは液面センサ16
をサンプルに直接接触することにより液面検出を行って
いるので、検出効率が低下すると共に]ンタミネーショ
ンが生ずるという問題がある。すなわちサンプル容器が
セットされていない位置に対しても液面センサを下降さ
せているので時間が無駄となり、また一つのサンプルに
接触した液面センサを次のナンプルに接触させることに
なるのでサンプル間のコンタミネーションが生ずる。も
しこれを防止するには一つの検出動作ごとに洗浄処理が
必要となり、時間を費やすと共に洗浄装置を設けなけれ
ばならない。
本発明は以上のような問題に対処してなされたもので、
検出効率を向上すると共にコンタミネーションを生じな
いようにサンプル検出を行うようにした自動化学分析装
置を提供することを目的とするものでおる。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために本発明は、分析すべき液体の
有無及び容器の形状に基づいた吸光度を予め測定し、こ
の測定結果に応じてサンプリングの内容を決定するよう
にしたものである。
(作 用) 測定された吸光度がOのII’jはサンプルが存在して
いないとみなし、サンプリングをスキップする。次に吸
光度がO以外のときはリンプル容器がセットされている
とみなして1ノ′ンプリングを開始し、このとき予め測
定されたこの容器の形状に阜づいた吸光度に応じてサン
プリングアームのストローク量を決定する。これによれ
ばサンプリングに先立って、サンプル検出は光を照射す
るだけで行えまたサンプルに対して非接触で行うことが
できる。
(実施例) 以下図面を参照して本発明実施例を説明する。
第1図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す構成
図で、サンプラ部5には複数のサンプル容器6が配置さ
れ駆動り117によって回転可能になっている。サンプ
ラ部5の周囲の所望位置にはサンプリングアーム4が設
けられ、このリンプリングアーム4はシャツ1〜4aに
よって回転されるアーム4bの先端にプローブ4Gが取
付けられた構成となっている。このサンプリングアーム
4は第2図のようにシャフト4aを支点としてアームが
揺動運動を行うことにより、ナンプラ部5にセットされ
ているサンプル容器6上に移動し、下降して所望のサン
プルを吸引した後恒温槽1の反応容器3に分注可能にな
っている。
サンプラ部5の所望位置にはサンプル容器6を含むよう
に吸光度測定部17が設けられる。この吸光度測定部1
7は光源]8、この光源18からの光を導きサンプル容
器6に入射させる光ファイバ19、サンプル容器6を透
過した光量を検出する光検出器20を含んでいる。この
吸光度測定部17はサンプラ部5上で回転移動されるサ
ンプル容器6に対して次々に光照射が可能なように構成
され、光ファイバ19と光検出器20はペアとなって各
サンプル容器6方向に移動可能に構成される。又は各サ
ンプル容器6の配列数に対応したペア数だけ設けるよう
にしてもよい。光検出器20によって検出された透過光
量は制御部21に送られる。尚、サンプル容器6に対す
る光の入出射は暗室で行うことが望ましい。
制御部21はマイクロプロセッサ等から構成され、入力
された透過光量に基づき各サンプル容器6ごとの吸光度
を演算する。サンプル容器6に対しては予めIDを示す
バーコードラベルを設けておき、これによって対応した
シンプル容器6の吸光度のデータが制御部21に記憶さ
れる。必るいはサンプラ部5の各セット位置にNoを設
けておぎ、このNoを読取ることにより対応したサンプ
ル容器を知るようにしてもよい。吸光度測定部17及び
制御部21による吸光度の測定は次のように行われる。
先ずサンプラ部5のサンプル容器セット位置にサンプル
容器がセットされていないときは、第3図(a)のよう
に光ファイバ19からの光量はそのまま光検出器20に
入射され、吸光度11 =0が演算される。これによっ
て吸光度Oの場合はサンプル容器6ずなわらサンプルは
存在していないとみなされ、このセット位置が移動して
サンプリング位置に到達したときは制御部21によって
スキップされるように制御される。次にサンプル容器セ
ット位置にサンプル容器6として例えば第5図(a)の
ような試験管6aがセットされたとすると、この試験管
6aにサンプルが収納された状態でこの吸光度I2が第
3図(b)のように演算される。このサンプルの垣は試
験管6aの深さに見合って収納されるので略一定の範囲
の吸光度が求められる。続いてサンプル容器セラ!・位
置にサンプル容器6として例えば第5図(b)のような
サンプルカップ6bがセットされたとすると、このサン
プルカップ6bにサンプルが収納された状態でこの吸光
度■3が第3図(C)のように演算される。このサンプ
ルの母はザンプルカツプ6bの深さに見合って収納され
るので略一定の範囲の吸光度が求められ、また前記試験
管6bとはその深さ寸法が異なるのでその吸光度I2と
は明瞭に区別することができる。このように制御部21
には予めサンプル有無に関した吸光度情報及びサンプル
容器容器の形状に関した吸光度情報が演算されて記憶さ
れる。
吸光度測定部17を通過してサンプリング位置に回転移
動された各サンプル容器6はサンプリングアーム4によ
ってサンプリングが行われる。このとき先に測定された
吸光度データが制御部21に記憶されているので、制御
部21はこれに応じてアーム駆動部22を介してサンプ
リングアーム4を制御する。
次に本実施例の作用を説明する。
吸光度11=Oが測定されたサンプル容器セット位置が
サンプリング位置に到達すると、制御部21はアーム駆
動部22を介して1ノーンプリングアーム4によるザン
プリング動作をスキップさせるように制御する。これに
よりサンプル容器6がセットされていないときは無駄な
サンプリング動作は省略される。次に吸光度I2が測定
されたサンプル容器6がサンプリング位置に到達すると
、制御部21はこの容器は試験管6aであるとみなして
これに応じてサンプリングアーム4に対してストローク
ff1D1だけ下降するような制御を行う。
続いて吸光度I3が測定されたサンプル容器6がサンプ
リング位置に到達すると、制御部21はこの容器はサン
プルカップ6bでおるとみなしてこれに応じてサンプリ
ングアームに対してストロークωD2だけ下降するよう
な制御を行う。
このような本実施例によればサンプリングアーム4によ
るサンプリングに先立って、サンプルの有無の検出及び
サンプル容器の形状の検出が光を照射し各吸光度を測定
することによって行われるので、従来のようにセンサを
その都度下降するような無駄な動作は不要となり検出効
率を向上することができる。また検出動作はサンプルに
非接触により行われるのでサンプルのコンタミネーショ
ンの問題も生じない。
本実施例では2種類のサンプル容器を例にあげて説明し
たが、何らこれらの形状に限ることはない。また予めサ
ンプル容器の吸光度を測定するにあたり奮ナンプルを収
納した状態で測定する例で説明したが、サンプル容器自
身の吸光度を予め測定しておくことにより、ざらに詳細
なデータを得て測定制度を向上することができる。
[発明の効果] 以上述べたように本発明によれば、吸光度を測定するこ
とにより1ノ′ンプル有無及びサンプル容器の形状を検
出するようにしたので、検出効率を向上でき、またサン
プルのコンタミネーションを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す(l
’?成図、第2図は本実施例装置の主要部を承り平面図
、第3図(a)乃至(C)は本実施例の作用の説明図、
第4図は自動化学分析装置の構成例を示す平面図、第5
図(a>、(b)は自動化学分析装置に用いるサンプル
容器を示す断面図である。 4・・・サンプリングアーム、5・・・サンプラ部、6
・・・サンプル容器、   17・・・吸光度測定部、
18・・・光源、      19・・・光ファイバ、
20・・・光検出器、    21・・・制御部。 代理人 弁理士 則  近  憲  缶周     近
    藤     猛第  1  図 第2図 第 図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)分析に必要な液体が収納された容器にサンプリン
    グアームを下降することにより前記液体を吸引して他の
    容器に分注する自動化学分析装置において、予め前記液
    体の有無及び容器の形状に基づいた吸光度を測定する測
    定手段と、測定結果に応じてサンプリングの内容を決定
    する制御手段とを備えたことを特徴とする自動化学分析
    装置。
  2. (2)サンプリングを行うとき液体が収納されている容
    器の形状に応じてサンプリングアームを下降するストロ
    ーク量を決定する請求項1記載の自動化学分析装置。
JP16680888A 1988-07-06 1988-07-06 自動化学分析装置 Pending JPH0217449A (ja)

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JP16680888A JPH0217449A (ja) 1988-07-06 1988-07-06 自動化学分析装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08114541A (ja) * 1994-10-14 1996-05-07 Hitachi Ltd 自動化学分析装置
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