JPH03181861A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は反応セルを自動的に洗浄して繰り返し使用する
とともに、測光部により反応セルに光を照射して反応を
測定する反応セル直接測光方式の自動分析装置に関し、
特に反応セルの汚染など測定に悪影響を及ぼす要因を自
動的に検証する機能を備えた自動分析装置に関するもの
である。

（従来の技術） 反応セルの検証機能を備えた直接測光方式の自動分析装
置としては、その検証機能として反応セルを使用するご
とにその測光データを累積して累積平均を求め１次に使
用するときにその反応セルの測光データをその反応セル
の累積平均と比較して偏差を求め、偏差が所定の許容範
囲内であるか否かにより検証を行なうようにしたものが
提案されている（特開昭６１−２１３６７４号公報、特
開昭６１−２１３６７５号公報、特開昭６１−２８６７
５８号公報などを参照）。

引例の自動分析装置では、サンプル測定前に純水を反応
セルに分注し１反応セルの良否を検証し。

不良セルは使用しない。

（発明が解決しようとする課題） 引例の自動分析装置では、検証のプロセスが複雑であり
、検証の時間が長くなる問題がある。

本発明は２反応セルの良否の検証を簡単なプロセスで行
なうことができるようにすることを目的とするものであ
る。

（課題を解決するための手段） 第１図に本発明における測光部１．′ｌｆ４定データ処
理部２．検証データ処理部３を示す。

１は測光部であり、指定項目の測定波長での試料データ
の他に、試料測定の前後でその項目の測定波長でのセル
ブランクデータを得ることができる。試料測定前のその
試料測定波長におけるセルブランクデータを第１のセル
ブランクデータ、試料測定後のその試料測定波長におけ
るセルブランクデータを第２のセルブランクデータとい
う。２は試料データと第Ｉのセルブランクデータを取り
込んで処理するデータ処理部である。３は第１のセルブ
ランクデータ又は他の基準値と第２のセルブランクデー
タを取り込んでその反応セルの良否を判定する検証デー
タ処理部であり、検証データ処理部３は検証データの基
準となるデータとして第１のセルブランクデータ又は他
の基準値を保持する基準値記憶部４と、取り込んだ第２
のセルブランクデータを基準値記憶部４の基や値と比較
し、その差が限界値を超えているか否かを判定する比較
部５と、比較部５の比較結果を取り込み、駆動制御部７
に対して指定項１］での測定を行なうか否かを出力する
出力部６とを備えている。

測光部１から得られるデータとしては、指定された項目
に関する測定波長での試料測定の試料データと反応セル
に純水を満たしたときの第１のセルブランクデータ及び
第２のセルブランクデータがある。試料データと第１の
セルブランクデータは測定データ処理部２において試料
による吸光度などが測定されて反応の測定が行なわれる
。

検証データを処理する検証データ処理部３において、基
準値記憶部４は検証データの基準値として、その反応セ
ルの試料測定前のセルブランクデータ、すなわち第１の
セルブランクデータ、又は別のメンテナンスプログラム
により反応セルを洗浄したときのその反応セルのセルブ
ランクデータを基準値として記憶しておく。

（作用） 第２図により本発明における検証動作の一例を示す。

ある反応セルについて、第１のセルブランクデータを取
り込み、基準値記憶部４に記憶する。試料測定後、第２
のセルブランクデータを取り込み、比較部５で基準値記
憶部４の基準値と比較する。

比較部５には検証データと基ｉｎとの差によって反応セ
ルの良否を判定するための限界値が予め設定されている
。その差が限界値以内であればその反応セルは良である
と判定され、出力部６からの指令により指定された項目
の測定を実行するプログラムに移行する。

一方、第２のセルブランクデータと基準値の差が限界値
を超えているときは、その反応セルが限界以上に汚れて
いることなどを意味するものであり、このときは出力部
６から鹿動制御部７に対しその指定項目の測定を中止す
る指令が出される。

このときはさらに１例えばその反応セルを洗浄するため
に洗剤を分注する指令が出され、また、その項目の測定
が中止されたことを例えばプリンタやＣＲＴにより表示
する。

（実施例） 第３図は本発明が適用される一実施例を表わす。

１０は反応ディスクであり１反応ディスク１０の周囲に
沿って反応セルと測光セルを兼ねるキュベツト１２が配
列されている。反応ディスク１０の近くにはターンテー
ブル１４が設けられ、ターンテーブル１４には検体を収
容したカップが並べられる、１６はサンプラーであり、
ターンテーブル１４上の検体カップから検体を吸引し、
キュベツト１２に注入する。１８はサンプラー１６に検
体を吸引し１反応管１２に注入するためのピペッタポン
プと、検体を脱気水で押し出すためのダイリュータポン
プである。ターンテーブル１４とピペッタポンプ・ダイ
リュータポンプ１８はサンプラー制御コンピュータ２２
及びインターフェース２０を介してマイクロコンピュー
タ２４によって制御される。１７はサンプラー１６のプ
ローブや流路を洗浄するための洗浄液（例えば純水）が
湧き出す洗浄槽である６ キュベツト１２中で検体と反応させる試薬をキュベツト
１２に注入するために、デイスペンサ２６ａ、２６ｂと
試薬庫２８が設けられている。試薬ｆｉｌ　２８に配列
された試薬瓶からデイスペンサ２６ａ、２６ｂによって
試薬が吸引され、キュベツト１２に注入される。３０は
デイスペンサ２６ａ。

２６ｂで試薬を吸引しキュベツト１２に注入するための
デイスペンサポンプであり、デイスペンサ２６ａ、２６
ｂとデイスペンサポンプ３０はデイスペンサ制御コンピ
ュータ３２とインターフェース２０を介してマイクロコ
ンピュータ２４により制御される。２７ａ、２７ｂはそ
れぞれデイスペンサ２６ａ、２６ｂのプローブや流路を
洗浄するための洗浄液（例えば純水）が湧き出す洗浄瓶
である。

キュベツト１２に注入された検体と試薬を撹拌するため
に撹拌機構３４が反応ディスク１０の近くに設けられ、
またキュベツト１２内の反応を光学的に検出する測光部
として１反応ディスク１０の近傍にはキュベツト１２の
配列の周囲に沿って往復方向に移動可能な分光器３６が
設けられている。

キュベツト１２の洗浄を行なうために１反応ディスク１
０の近くには洗浄機構３８が設けられている。４０は洗
浄４ｉ構３８のノズルからキュベツト１２に洗浄液を注
入し回収するための洗浄ポンプである。洗浄機構３８で
はキュベツト１２内の反応液をまず吸引し、それらを図
示しない廃液タンクに送る。

撹拌機構３４．洗浄機構３８及び洗浄ポンプ４０は反応
部制御コンピュータ４２及びインターフェース２０を介
してマイクロコンピュータ２４によって制御される。

分光器３６の検出出力は、ｌｏｇ変換部及びＡ／Ｄ変換
部４４．並びにインターフェース２０を介してマイクロ
コンピュータ２４に取り込まれる。

４６は恒温循環水の温度を一定に保つためのリザーバで
ある。

インターフェース２０にはさらに、プリンタ４８、キー
ボード５０．ＣＲＴ５２及びフロッピーディスクドライ
ブ５４が接続されている。

反応ディスク１０は１つの分析で１回転する。

次に、第３図の自動分析装訛の動作について説明する。

キーボード５０からの操作により、洗浄機構３８及び反
応ディスク１０が動きだす。

洗浄されたキュベツト１２にセルブランク測定用水が注
入されてセルブランク測定が行なわれろ。

セルブランク測定されたキュベツト１２が検体分注位置
に移動したとき、サンプラー１６が動きだし、ターンテ
ーブル上４上の検体を吸引し、キュベツト１２内へ脱気
水とともに分注する。分注終了後、サンプラー１６の検
体用プローブは洗浄位置に移動し、プローブ内外が純水
により洗浄される。その後１次の同一検体の項目、又は
次検体の項目の分注動作に移る。

検体の入ったキュベツト１２は、一定温度に温調された
反応槽の中を例えば１２秒間にｌステップずつ移動し、
キュベットエ２が試薬分注位置に移動したとき、デイス
ペンサ２６が動きだし、試薬庫２８内の試薬を所定量根
引し、キュベットエ２に分注する。分注終了後、試薬用
プローブは洗浄位置に移動し、プローブ内外が純水によ
り洗浄される。その後、次の試薬の分注動作に移る。

試薬分注の終了したキュベツト１，２は■ステップ移動
した後に撹拌され、第２試薬分注後に再度撹拌される。

調整された反応液は、キュベツト１２が逐次移動してい
く間に直接測光され、各測定位置の吸光度は分析方法ご
とにマイクロコンピュータ２４に取り込まれていく。

分析の終了したキュベツト１２は、洗浄位置で反応液の
吸引排出、キュベツト１２の洗浄が行なわれた後、キュ
ベツト１２内の水抜きと水切りが行なわれ、新たな検体
のキュベツトとして糟備される。

試料の吸光度は第１のセルブランクデータとともにマイ
クロコンピュータ２４でデータ処理され、分析方法ごと
に判定され、活性値又は濃度に変換され、プリンタ４８
により印字される。分析動作中に異１’３があればＣＲ
Ｔ５２上にエラーメツセージが表示される。分析条件は
１分析スタート前にキーボード５０から設定することが
できる。

分析の指示をした検体がすべてキュベツト１２に分注さ
れるとターンテーブル１４が停止する。

また１反応ディスク１ｏ上の試料の測定が終わると、キ
ュベツトは自動的に洗浄・水切りされた後、装置は自動
的に停止する。

第４図に測光部とマイクロコンピュータ部分を具体的に
示す。

分光器３６内には光源から反応セルを照射し、その透過
光を分光する分光器と１分光された光を受光する検出器
が設けられている。その検出器は第４図ではフォトダイ
オードアレイ７０である。

フォトダイオードアレイ７０では場所により検出する波
長が異なり、同時に多波長を検出することができる。７
２はフォトダイオードアレイ７０の出力を増幅するプリ
アンプである。プリアンプ７２で増幅された各フォトダ
イオードアレイ７０の検出信号は、マルチプレクサ７４
を経てメインアンプ７６に入力される。マルチプレクサ
７４は試料測定時には指定された項目測定用波長に設定
され、セルブランク測定時にはその反応セルで直前に測
定が終了した項目用の波長と次回に測定される項目用の
波長に設定されて、プリアンプの出力信９をメインアン
プ７６に送り出す。

測定波長は１　ｆ！１又は複数種の波長に設定される。

第４図では２波長で測定するようになっている。

マルチプレクサ７４で選択され、メインアンプ７６で増
幅された試料データ及び第１のセルブランクデータは測
定データ処理部２に取り込まれて演算が行なわれる。一
方、マルチプレクサ７４で選択され、メインアンプ７６
で増幅された第２のセルブランクデータは検証データ処
理部３に取り込まれてその反応セルの良否が検証される
。測定データ処理部２で処理された測定結果や検証デー
タ処理部３で判定された検証結果はインターフェイス２
０を介して駆動制御部７やＣＲＴ５２などに出力される
。

ここで、第１図、第３図及び第４図の対応関係を示すと
、第１図におけるデータ処理部２及び検証データ処理部
３はマイクロコンピュータ２４により実現される。測光
部工は分光９３６の他の部分も含んで、第４図のフォト
ダイオードアレイ７０、プリアンプ７２、マルチプレク
サ７４及びメインアンプ７６を含んでいる。第３図では
Ａ／Ｄ変換及びＩＯＫ変換部４４にマルチプレクサ７４
及びメインアンプ７６を含んでいる。駆動制御部７とし
てはサンプラーｒａｆｔ　ｍコンピュータ２２やデイス
ペンサ制御コンピュータ３２などを含んでいる。

第５図は第３図の実施例における特定のキュベツトにつ
いてのタイムチャートを表わしたものである。

第１のセルブランク測定が行なわれたキュベツトに検体
が分注され、第１試薬Ｒ１が分注されて撹拌され、一定
時１？ＪＩ後に第２試薬Ｒ２が分注されて再び撹拌され
る。第１試薬Ｒ１が分注された後。

反応液の測光が行なわれる。反応が完了すると。

キュベツトの液が１ノ１出され、洗浄液が分注され、洗
浄が行なわれる。洗浄液が排出された後、純水が分注さ
れて直前に試料測定が終了した測定項目のための第２の
セルブランク測定と１次回の測定項目のための第１のセ
ルブランク測定が同時に行なわれる。その後純水が排出
され、次回の７ｆ＋す定に備えられる。

＠５図の実施例では五個のセルブランク測定の同じポジ
ションで前回の試料測定の第２のセルブランクデータと
次回の試料測定の第１のセルブランクデータを同時に測
定しているが、第６図のように、前回の試料測定の第２
のセルブランク測定のポジションと次回の試料測定の第
１のセルブランク測定のポジションを別にすることもで
きる。

それにより、電気回路を簡略化することができる。

検証データ処理部３でそのキュベツトが不良であると検
証されたときは、その旨の情報をインターフェイス２０
を通じて駆動制御部であるサンプラー制御コンピュータ
２２やデイスペンサ制御コンピュータ３２に送り、予定
されていた項１１の測定を中止するとともに１例えばデ
イスペンサ２６ａ、２６ｂにより洗剤をそのキュベラ１
−に分沈する指示を与える。

（発明の効果） 本発明では試料測定の後でもセルブランクデータをｉ＋
ｐ＋定し、そのデータと試料測定前のセルブランクデー
タ又は別の基°増値にＪにづき反応セルの良否を検証す
るようにしたので、試料分析中にも自動検証を行なうこ
とができ、データの信頼性が向上する。これに対し、従
来の自動分析装置では。

反応セルの検証を行なう場合でも、その反応セルが次に
使用される予定の項目の測定波長のセルブランクデータ
だけを取り出していたのに比べると、検証精度が向上す
る。

反応セルの検証の結果、不良セルであると判定したとき
は１例えばその不良セルに洗剤を分注するようにプログ
ラムしておけば１反応セルのメンテナンスの手間を省く
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を示すブロック図、第２図は本発明にお
ける検証動作の一例を示すフローチャート図、第３図は
一実施例を示す構成図、第４図は同実施例における測光
部と測定データ処理部及び検証データ処理部を示すブロ
ック図、第５図は同実施例における特定のキュベツトの
動作を示すタイムチャート、第６図は他の実施例におけ
る特定のキュベツトのセルブランク測定動作を示すタイ
ムチャートである。 １・・・・・・測光部、２・・・・・・測定データ処理
部、３・・・・・・検証データ処理部、４・・・・・・
基準値記ｔａ部、５・・・・・比較部、６・・・・・・
出力部、７・・・・・・駆動制御部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）反応セルを自動的に洗浄して繰り返し使用すると
   ともに、測光部により反応セルに光を照射して反応を測
   定する反応セル直接測光方式の自動分析装置において、
   前記測光部は試料データの他に、その反応セルでのつぎ
   の測定に利用する波長での第１のセルブランクデータ及
   び直前に終了した測定に利用した波長での第２のセルブ
   ランクデータを得る測光部であり、試料データと第１の
   セルブランクデータを取り込んでデータ処理を行なうデ
   ータ処理部と、第１のセルブランクデータ又は他の基準
   となるセルブランクデータと第２のセルブランクデータ
   を取り込んでその差からその反応セルの良否を判定する
   検証データ処理部を備え、前記検証データ処理部はセル
   ブランクデータの基準値を保持する基準値記憶部と、第
   ２のセルブランクデータを取り込みその反応セルに関す
   る基準値記憶部の基準値と比較し、その差が限界値を超
   えているか否かを判定する比較部と、前記比較部の比較
   結果を取り込み、駆動制御部に対してその反応セルによ
   る次回の測定を行なうか否かを出力する出力部とを備え
   ていることを特徴とする自動分析装置。