JPH01313765A - 自動化学分析装置 - Google Patents

自動化学分析装置

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JPH01313765A
JPH01313765A JP14486888A JP14486888A JPH01313765A JP H01313765 A JPH01313765 A JP H01313765A JP 14486888 A JP14486888 A JP 14486888A JP 14486888 A JP14486888 A JP 14486888A JP H01313765 A JPH01313765 A JP H01313765A
Authority
JP
Japan
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container
sampling
vessel
sample
probe
Prior art date
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Pending
Application number
JP14486888A
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English (en)
Inventor
Sadao Hanese
羽瀬 貞雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH01313765A publication Critical patent/JPH01313765A/ja
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、分析に必要な液体が収納された容器の深さ方
向の寸法を検出する機能を備えた自動化学分析装置に関
する。
(従来の技術) 例えば人体から採取された血清等をサンプル(試181
>として用いこれに所望の試薬を反応させ、この反応液
内の特定成分の濃度を例えば比色法により測定して所望
項目の分析を行う自動化学分析装置が知られている。第
4図はこのような分析装置の構成例を示す概略平面図で
、例えば円形状の恒温槽12の恒温水13内には反応容
器14が複数配置され、これら反応容器14は図示しな
い駆動源によって一定のサイクルで矢印方向に間欠移動
するように構成されている。
恒温槽12の周囲のA位置にはサンプリングアーム1が
設けられ、このサンプリングアーム1は矢印方向に揺動
運動を行うことにより、サンプラ部6に保持された複数
のサンプル容器7から所望のサンプルを吸引して対向位
置の反応容器14に分注するようなサンプリング動作を
行う。同様にB位置には試薬分注アーム15が設けられ
、この試薬分注アーム15は矢印方向に揺動運動を行う
ことにより、試薬部17に保持された複数の試薬容器1
6から所望の試薬を吸引して対向位置の反応容器14に
分注するように動作する。同様にC位置には撹拌子18
が設けられ、この撹拌子18は矢印方向に前後運動を行
うことにより、対向位置の反応容器14内のサンプルと
試薬とから成る反応液を撹拌するように動作する。
また、反応容器14の移動経路の途中位置には光源19
と光検出器20が反応容器14の両側に配置された測光
系21が設けられ、該当した反応容器14の反応液内の
特定成分の濃度が比色法により測定されて所望項目の分
析が行われる。必要に応じて図示しない位置には電解質
測定電極(イオン選択性電極)が設けられ、この電極を
用いた電極法によって特定成分の電解質量が測定可能に
構成される。ざらにD位置には洗浄具22が設けられ、
この洗浄具22は矢印方向に前後運動を行うことにより
、対向位置の反応容器14の洗浄。
乾燥を行い、反応容器14はこの後A位置に移動するこ
とにより前記したような動作が繰返される。
このような一連の分析動作を行う場合、サンプラ部6に
予めセットされるサンプル容器7は都合に応じて異なっ
た形状のものが用いられ、例えば第5図(a)に示すよ
うな試験管7a、又は第5図(b)に示すような弁状の
サンプルカップ7bが用いられる。このような容器を用
いてサンプリングアーム1によりサンプリングを行う場
合、サンプル吸引のためにサンプリングアーム1を下降
するストローク量は、第5図(a>、(b)のように各
容器の深さ方向の寸法が異なるのでDi 。
D2のように異なった値を設定する必要がある。
これら容器の選択はユーザによって任意のものが選ばれ
、その都度サンプル容器の種類に応じて人為的にストロ
ーク量が設定されてサンプリングが行われるようになっ
ている。
(発明が解決しようとする課題) このような従来の分析装置では、異なる形状のサンプル
容器を用いてサンプリングを行う場合、効率の良いサン
プリングを行うにはサンプル容器が特定のものに制約さ
れるという問題がある。例えばサンプラ部6に第5図(
a)、(b)のような容器が混在して用いられたとする
と、その都度容器に応じて人為的にストロークωを変更
しなければならないので作業が煩雑となる。また往々に
してストローク量の設定を誤ってサンプルカップ7bを
破損してしまうことがある。これらの欠点を除くため特
定の容器に統一しようとした場合には、一方の容器から
他方の容器のサンプルを移し変えなければならず余分な
作業が必要となる。
本発明は以上のような事情に対処してなされたもので、
どのような形状のサンプル容器が用いられた場合でも効
率の良いサンプリングを行えるようにした自動化学分析
装置を提供することを目的とするものである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために本発明は、液体が収納された
容器の下方位置に検出手段を設けて容器の深さ方向寸法
情報を検出し、この検出結果に基づいて液体吸引のため
の下降ストローク量を設定するようにしたものである。
(作 用) 例えばサンプル容器の下方位置にフォトセンサのような
検出手段を設けて、容器の深さ寸法等の情報を検出する
。次にこの検出情報に基づきサンプリングアームを下降
するストローク量を設定する。これによればサンプル容
器の形状に制約されずその都度最適のストローク量が自
動的に設定されてサンプリングが行われるので、効率の
良いサンプリングを行うことができる。
(実施例) 以下図面を参照して本発明実施例を説明する。
第1図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す構成
図で特にサンプラ部6を示しており、シャフト5に回転
可能に支持された容器ラック8には複数列例えば3列の
サンプル容器7がセットされる。サンプラ部6に隣接し
てサンプリングアーム1が配置され、このサンプリング
アーム1はその一端のシャフト3及びその他端にプロー
ブ4が取付けられている。図示しない駆動源によってシ
ャフト3が矢印のように回転されることにより、プロー
ブ4はシャフト3を支点として第2図に示すような軌道
Sを描いて揺動運動を行う。またすンプリングアーム1
は仝休が上下動可能なように構成され、これによってプ
ローブ4がサンプル容器7内に下降するようになってい
る。第2図で31.82.33はプローブ4の下降位置
を示している。
サンプラ部6のサンプリング位置く軌JS上)に移動し
てきたサンプル容器7の下方位置となる底部6aには各
容器列に対応してフォトセンサ9(9a、9b、9c)
力S Jけられる。このフォトセンサ9は一般に知られ
ている反則型によって構成され、第3図に示すように発
光素子Aと受光素子Bとが組合わされている。発光素子
Aから出射された光はサンプル容器7の底部で反射し受
光索子Bに入射する。フォトセン−リ−9は制御部10
に接続され、制御部10はマイクロプロセッサから成り
発光素子Aの出射時刻及び受光素子Bの入射時刻を把握
して、フォトセンサ9からサンプル容器7の底部までの
寸法を演算する。予め形状の異なるサンプル容器の各々
の長さ方向の寸法、セット位置の高さ等のデータを与え
ておくことにより、その演算結果によってどの形状の容
器かが判別される。例えば第5図(a)、(b)に示し
たいずれかの容器かが判別される。
制御部10による検出結果は、プローブ駆動部11に出
力され、これに基づき駆動部11はサンプリングアーム
1の下降するストローク量を自動的に決定しこの量だけ
プローブ4をサンプル容器7内に下降させる。
次に本実施例の作用を説明する。
ナンプラ部6に複数の任意の形状のサンプル容器7がセ
ットされ、このサンプル容器7がす゛ンプリング位置に
移動してくると予め設定された制御動作によりサンプリ
ングアーム1がこの容器7上に移動してくる。このタイ
ミングでフォトセンサ9によって該当したサンプル容器
7の深さ方向の寸法が検出される。これによってこの容
器7の形状が判別され例えば第5図(a>、(b)のい
ずれかの容器であるかが判別される。この検出結果を基
にプローブ駆動部11は自動的に該当した容器に対応し
たストローク量だけサンプリングアーム1を下降させる
。例えば該当した容器が第5図(a)の試験管7aであ
る場合ストロ−クロをDlに設定し、該当した容器が第
5図(b)のザンプルカツプ7bである場合ストローク
量をD2に設定する。これによって各サンプル容器ごと
に最適のストローク量が自動的に設定されるので、゛ 
  正常なサンプリングが行われる。
このように本実施例によれば、サンプル容器の形状が異
なっても常に最適のストローク量が自動的に設定されて
サンプリングが行われるので、従来のように人為的な煩
雑な作業は不要となる。すなわちいずれか特定の容器に
制約される必要はなくなり、またサンプルの移し変えも
不要となる。
ざらにストローク量の設定を誤って容器を破損させるお
それもなくなる。
本文実施例ではサンプル容器を限られた形状の容器に適
用した例で示したが、これらに限らず任意の形状の容器
に適用することができる。
[発明の効果コ 以上述べたように本発明によれば、用いられる容器ごと
にその深さ方向の寸法情報を検出するようにしたので、
容器の形状にかかわらず常に最適な下降ストローク量を
自動的に決定できるため、効率の良いサンプリングを行
うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す構成
図、第2図は本実施例装置のサンプラ部を示す概略平面
図、第3図は本実施例装置に用いられるフォトセンサの
概略図、第4図は自動化学分析装置の構成例を示す概略
平面図、第5図(a>、(b)は自動化学分析装置に用
いられるサンプル容器を示す断面図である。 1・・・す“ンプリングアーム、 4・・・プローブ、
6・・・サンプラ部、 7・・・サンプル容器、9 (
9a、9b、9c)−’7*トtンサ、10・・・制御
部、 11・・・プローブ駆動部。 代理人 弁理士 則  近  憲  化量     近
   藤       猛2 アー4 10″ 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 分析に必要な液体が収納された容器にプローブを下降す
    ることにより前記液体を吸引して他の容器に分注する自
    動化学分析装置において、前記液体が収納された容器の
    下方位置に設けられこの容器の深さ方向の寸法情報を検
    出する検出手段と、検出結果に基づきプローブを下降す
    るストローク量を設定する制御手段とを備えたことを特
    徴とする自動化学分析装置。
JP14486888A 1988-06-14 1988-06-14 自動化学分析装置 Pending JPH01313765A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14486888A JPH01313765A (ja) 1988-06-14 1988-06-14 自動化学分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14486888A JPH01313765A (ja) 1988-06-14 1988-06-14 自動化学分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01313765A true JPH01313765A (ja) 1989-12-19

Family

ID=15372263

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14486888A Pending JPH01313765A (ja) 1988-06-14 1988-06-14 自動化学分析装置

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JP (1) JPH01313765A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008249736A (ja) * 2008-07-17 2008-10-16 Horiba Ltd 粒径分布測定装置
JP2013064672A (ja) * 2011-09-20 2013-04-11 Hitachi High-Technologies Corp 試験管判定装置、当該試験管判定装置を有する試験管供給装置およびその制御方法

Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008249736A (ja) * 2008-07-17 2008-10-16 Horiba Ltd 粒径分布測定装置
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