JPH02173737A - 原稿検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａｌ産業上の利用分野 この発明は複写機、ファクシミリ等において原稿台上に
おける原稿の有無状態４判別を行う原稿ｌ検出装置の改
良に関する。

ｆｂ）従来の技術 例えば複写機においては原稿台上にセットされた原稿の
サイズを検出する装置が備えられているものがある。原
稿台に原稿をセットする場合、原稿はサイズに応じて所
定の位置に載置される。そこで、その各々のサイズに対
応する位置に原稿の有無を検知する原稿検知センサを配
置し、各々の位置において原稿のを無状態を検知すれば
原稿のサイズが判定できる。一般に原稿検知センサは発
光、受光素子からなる光センサが用いられており、受光
素子における受光レベルが基準判定レベルを越えていた
ときに原稿有り（反射型光センサ）または原稿無しく透
過型光センサ）と判別している。

ｆｃ）発明が解決しようとする課題 ところが上述したように光センサを用いて原稿の有無状
態を判別する場合、受光素子が外乱光を受光してＳ／Ｎ
が悪くなり検出ミスが発生してしまうことがあった。特
に、複写機等が窓際に設置されている場合や原稿カバー
を開いたままのときには外乱光（太陽光など）が多く、
検出ミスが発生する確率が高かった。たとえば、第６図
（Ａ）、　（Ｂ）は各々外乱光が少ないとき、外乱光が
多いときの受光素子の出力波形ＣＨＩ、ＣＨ２・・・を
表した図である。図から分かるように外乱光が多くなる
と（同図（Ｂ））Ｓ／Ｎが悪くなって基準判定レベルで
の原稿有無判別が困難になる。

この発明の目的は発光受光素子による原稿検知処理（サ
ンプリング）を複数回行いその受光レベルを積算して、
その積算受光レベルを判定のレベルとすることより、検
出ミスの発生を防止する原稿検出装置を提供することに
ある。

（ｄ）課題を解決するための手段 この発明の原稿検出装置は原稿台を介して対向配置され
る発光素子および受光素子と、前記受光素子に入射され
る受光レベルを複数回サンプリングするサンプリング手
段と、サンプリングされた複数回分の受光レベルを積算
して積算受光レベルを求める手段と、前記積算受光レベ
ルと予め設定された基準判定レベルとを比較する比較手
段と、 を設けたことを特徴とする。

（ｅ）作用 この発明に係る原稿検出装置では受光素子に入力される
受光レベルを複数回サンプリングし、その受光レベルを
積算する。複数回のサンプリングのうちには外乱光の影
響を受けたものや受光ミスなども含まれ、それらの１度
だけの受光レベルをみるとｓ　、／　Ｎが悪くて有無判
定が困難なものがある。しかし、それらを積算すること
によりＳ／Ｎが向上し、基準判定レベルと比較した場合
に判別ミスの発生が防止される。また受光ミスが生じた
場合、そのときの受光レベルから原稿有無判別を行った
り、単純に増幅率を変えた場合などにはミス受光のレベ
ルが比較の対象となってしまうので結果として検出ミス
となるが、このように複数回のサンプリングを行ってそ
の受光レベルを積算すればそのうち１〜２回の受光ミス
が生してもそれがカバーされることになる。

（ｆｌ実施例 第５図は複写機における原稿検知センサの配置例を表し
た図であり、同図（Ａ）は平面図、同図（Ｂ）は断面図
である。

原稿台６上には同図（Ａ）に示したように原稿のサイズ
に応じてその載置位置が決められている。この各々のサ
イズの間の位置に光センサ１〜４が配置されている。光
センサ１〜４は各々発光素子１ａ〜４ａと受光素子１ｂ
〜４ｂとから構成される。発光素子１ａ〜４ａおよび受
光素子１ｂ〜４ｂは同図（Ｂ）に示したように原稿台６
上面のギリギリの位置に配置されており、原稿台６上に
原稿７が載置されたときに発光素子１３〜４ａからの光
が原稿７に遮られて受光素子１ｂ〜４ｂに入射しなくな
る。したがって光センサ１〜４のオン、オフ状態の組み
合わせにより原稿のサイズが判別される。たとえば光セ
ンサｌが原稿有りを検知し、光センサ２〜４が原稿有り
を検知していなければ原稿のサイズはＢ５である。

第３図は原稿検出装置のブロック図である。

原稿検出装置はマイクロコンピュータ制御されている。

マイクロコンピュータの出力ボートＯＩ〜０４は各々電
流ドライバｌｃ〜４Ｃを通して発光素子（ＬＥＤ）ｌａ
〜４ａを順次パルス発光させ、それを受光素子１ｂ〜４
ｂで受光する。第４図は発光素子１ａ〜４ａの発光パル
スおよび受光素子ｔｂ〜４ｂの受光パルス例を表した図
である。図示するように、発光素子１ａ〜４ａの発光タ
イミングは時系列的に分離独立されておりそれにより受
光素子１ａ〜４ａの受光も時系列的に行われる。そのた
め隣合う発光素子、受光素子が干渉しあって誤検知され
てしまうことがない。

受光素子１ｂ〜４ｂで受光された光信号は各々増幅回路
１ｄ〜４ｄにおいてＣＲフィルタによりマイクロコンピ
ュータは内部にＡ／Ｄ変換器を備えていて入力信号をＡ
／Ｄ変換する。Ａ／Ｄ変換データは内部のメモリに記憶
される。マイクロコンピュータではこのような受光レベ
ルの検出（サンプリング）を時系列に複数回（例えば３
回程度）繰り返し、その受光レベルを積算してゆく。第
２図はその積算受光レベルを表した図であり、原稿のサ
イズはＢ４である。１回目だけの受光では外乱光等の影
響を受けて受光レベルのＳ／Ｎが悪くても、２回目、３
回目と数回の受光レベルを積算してゆくとＳ／Ｎが向上
する。また３回の受光のうち１回の受光時に受光ミスが
生じた場合でも（１回目、ＣＨ３）３回の受光レベルを
積算することによりその受光ミスはカバーされる。なお
基準判定レベルは積算回数に応じて設定される。

第１図は原稿サイズを検出する処理手順を示したフロー
チャートである。Ｖ　１１１１１は各々受光素子１ｂ〜
４ｂの受光量に比例する電圧（受光レベル）、電圧Ｖ　
ａｎの積算電圧（積算受光レベル）であり、ｍは受光素
子の番号を、ｎはサンプリング回数を表している。

まずメモリがクリアされるとともにｎ、ｒｎが各々初期
状態にプリセットされ（ｎｌ、ｎ２．ｎ３）、受光素子
１ｂ〜４ｂの受光レベルの読み込みが開始される。そし
て読み込んだ受光素子１ｂ〜４ｂの受光レベルが各々Ｍ
、−Ｍ、に記憶され（ｎ　４−＞ｎ　５−＋ｎ　６−ｙ
！′７−＝ｎ　４　・・・）　、次に二度めのサンプリ
ングが行われてその検出電圧が最初の受光レベルＭ　Ｉ
−Ｍ　ｓに積算され、各々Ｍ、〜Ｍ４に記憶される（ｎ
　８−”ｎ　９−ｎ　３−　・・）。

この処理はサンプリング回数分、この例では３回行われ
、求められた積算受光レベルＭ＋〜Ｍ４が各々基準判定
レベル■。ｏｔｓｐと比較され、光センサ１〜４の位置
における原稿の有無状態が各々判別され、その組み合わ
せによって原稿サイズが決定される（ｎ１０→ｎ１１）
。

なおこの実施例においては４個の光センサｌ〜４を配置
して原稿のサイズを検知する例を示したが、１個の光セ
ンサまたはもっと多くの光センサを設けた場合において
も同様に、複数回のサンプリングの積算受光レベルから
原稿の有無状態を判定するようにすれば検出ミスを防止
できる。

なおこの実施例において「サンプリング手段」はｎ２．
ｎ４．ｎ９に対応し、「積算受光レベルを求める手段ｊ
はｒ１５に対応し、「比較手段ＪはｎｌＯに対応する。

（ｇ１発明の効果 以上のようにこの発明ではサンプリング回数を複数回に
しているので、１回のサンプリングでは外乱光の妨害に
よってオン、オフの判別が難しい場合であっても、サン
プリング回数を増やすことによってＳ／Ｎが向上する。

また受光ミスが生じた場合でも複数回の受光レベルを積
算することによりそれがカバーされ、検出ミスを防止す
ることができる。

受光レベルを表した図である。

ｌａ〜４ａ−発光素子、 ｌｂ〜４ｂ−受光素子、 ６−原稿台。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）原稿台を介して対向配置される発光素子および受
   光素子と、 前記受光素子に入射される受光レベルを複数回サンプリ
   ングするサンプリング手段と、 サンプリングされた複数回分の受光レベルを積算して積
   算受光レベルを求める手段と、 前記積算受光レベルと予め設定された基準判定レベルと
   を比較する比較手段と、 を設けたことを特徴とする原稿検出装置。