JPS60257304A - 光学的位置検出装置 - Google Patents

光学的位置検出装置

Info

Publication number
JPS60257304A
JPS60257304A JP59115205A JP11520584A JPS60257304A JP S60257304 A JPS60257304 A JP S60257304A JP 59115205 A JP59115205 A JP 59115205A JP 11520584 A JP11520584 A JP 11520584A JP S60257304 A JPS60257304 A JP S60257304A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
signal
light emitting
emitting element
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59115205A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0358441B2 (ja
Inventor
Kenichi Iyama
井山 謙一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dowa Holdings Co Ltd
Original Assignee
Dowa Mining Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dowa Mining Co Ltd filed Critical Dowa Mining Co Ltd
Priority to JP59115205A priority Critical patent/JPS60257304A/ja
Publication of JPS60257304A publication Critical patent/JPS60257304A/ja
Publication of JPH0358441B2 publication Critical patent/JPH0358441B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)利用分野 この発明は、物体の位置を光学的に検出する光学的位置
検出装置に関する。
(ロ)先行技術 従来、光学的位置検出装置は、例えば第1図のように構
成されている。即ち、発光素子αを縦および横方向に複
数個配列し、この各発光素子αと対をなす受光素子すを
所定距離離間して同一平面So上て複数個配列している
。そして、このうち一対の光源と受光素子、例えばa、
2とb2を順次動作状態に指定し、光源α2からの出光
が受光素子b2において受光されるか否かによってその
物体の平面位置を検知している。
(ハ)問題点 第1図において、平面上の物体の位置を精度良く検出す
るためには、発光素子および受光素子具に素子を小さく
して素子数を増加する必要があり、価格が高価になる点
があった。また、物体の位置検出は荒い分解能で十分な
場合においても、物体の位置によっては光路が遮蔽され
ないため全く位置を検知し得ない領域、即ち、不感応領
域を無くす為、素子数を一定数以下に減らすことができ
なかった。
に) 目 的 この発明は前記事情に基づいてなされたもので、その目
的とするところは、発光素子の数を減少し、しかも構成
が簡単で精度の高い光学的位置検出装置を提供すること
である。
(ホ)実施例 以下、この発明の実施例につき第2図ないし第5図に基
づいて説明する。第2図において、一端の座標な(0,
0)とし、他端の座標を(0,Y)とするLl辺(歯巾
縦方向)にはその座標を(0゜1)・・・・・・(0,
Y)とする受光素子が等間隔に配列され、さらにその座
標な(0,0)とする発光素子αlが配置されている。
また、一端の座標な(0,Y)とし、他端の座標な(X
、Y)とする52辺(図中横方向)にはその座標を(1
,Y)・・・・・・(X、Y)とする受光素子が等間隔
に配置されている。また、一端の座標を(X、Y)とし
、他端の座標を(X 、 、、0 )とするL3辺(図
中縦方向)にはその座標を(X、 1 )・・・・・・
(X 、 Y 、)とする受光素子が配列され、さらに
その座標な(X。
0)とする発光素子a2が配置されている。前記Ll 
、L2およびL3辺によって物体の位置を検出する検出
面Stが形成されている。
・ 前記発光素子αIからの出光は52辺およびL3辺
上の各受光素子によって受光される。また、発光素子a
2からの出光はLlおよびL2辺上の各受光素子によっ
て受光される。
第3図は第2図の検出部を有する光学的位置検出装置の
要部回路構成部を示し、同図において符号1は発振回路
を示し、この発振回路1は予想し得る外乱光の周波数よ
りも複数倍の高周波数の矩形の発振信号を出力するもの
で、この発振信号はインバータ2を介してシフトレジス
タ3にシフトクロックとして入力すると共に、直接、8
ビツトのカウンタ4へ計数信号としても入力される。カ
ウンタ4は、発振回路1から入力する発振信号を下位4
桁においてり、14、’/8.”16に分周した分局信
号を出力すると共に、上位4桁Xo +XI yX2 
、X3の各ビット出力はラインI!0゜’1 * 12
 、I!3 に出力される。前記17. 、1/8゜レ
 分周信号は夫々対応するイン・(−夕を経て6 ナンドゲート5に入力され、このナントゲート5の出力
は前記シフトレジスタ3に動作時間信号を与える。即ち
、’/4 、”/8 ”16 信号の少なくともひとつ
が出力されているとシフトレジスタ3に動作時間信号が
与えられ、その時間中、シフトレジスタ3は動作可能と
なる。前記1/、 、 1/8゜1/16 信号はナン
トゲート6にも入力され、このナントゲート6の出力は
アドレス読込のタイミング信号として出力される。
シフトレジスタ3は、前記動作時間信号が入力されてい
る間だけ、前記入力されるシフトクロックの立上がりで
入力端に印加された光信号を1桁目Aoに記憶すると共
に各桁の記憶内容を一段上位の桁へとシフトする。シフ
トレジスタ3の下位4桁Ao−A3のビット出力は比較
回路7に夫々並列に入力される。一方、比較回路7の桁
BO〜B3には夫々対応して)・イ、ロウ、ノ・イ、ロ
ウの各レベルに設定されており、この桁Bo=Baの記
憶内容と入力した桁AO〜A3からのビット出力とを夫
々対応して比較し、各桁の内容がすべて一致すると一致
信号をフリップフロップ8へ出力する。フリップフロッ
プ8は前記一致信号の立上りでセットされ、このセット
出力は発光ダイオードの光検出信号として出力される。
また、フリップフロップ8のCLR端子には前記動作時
間信号が与えられており、この動作時間信号の立下がり
で7リツプフロツプ8はリセットされる。
前記カウンタ4の桁xo l XI + X2からの出
力はマルチプレクサ9に入力される。このマルチプレク
サ9の8個の出力端子は夫々対応して前記検出面Stに
配列された受光素子に相当する8個のフォトトランジス
タb、−b8のコレクタに接続され、これらのエミッタ
は共通に接続されてマルチプレクサ10の対応するひと
つの出力端に接続されている。マルチプレクサ9は桁X
01X1゜X2からの入力データに対応してフォトトラ
ンジスタb、−b8のうちのひとつを接地して動作可能
状態に指定する。
一方、カウンタ4の桁X3からの出力はカウンタ11に
入力され、カウンタ11の桁x4 、 x5からの出力
は前記術X3の出力と共にマルチプレクサ10に入力さ
れ、カウンタ11の桁X6の出力はマルチプレクサ12
の入力端Aに入力される。
マルチプレクサ1202つの出力はトランジスタ131
.132 の各ベースに接続されており、このうちひと
つのトランジスタのベースをロウレベルにして動作可能
状態へ指定し、A入力端に信号が入力される都度その指
定を切り換える。トランジスタ131,132 の各コ
レクタは夫々対応して前記発光素子(この例では発光ダ
イオード)αl、a、2のアノードに接続され、このカ
ソードは相互に接続されて接地されている。
、V ’?A/fプ′クサ10′)各出力は夫′対応し
て81 個からなる一組のフォトトランジスタの相互に
接続されたエミッタと接続されており、桁X3.X4゜
X5からの入力データに対応した組の各フォトトランジ
スタのエミッタをラインkに接続する。このラインkに
は抵抗を介して正の電圧が印加されてiす、接続された
組のフォトトランジスタを動作可能状態にする。ライン
kを介した信号はコンデンサ14、増幅器15、フィル
タ回路16を夫々介し、シフトレジスタ30A端子に光
信号として入力される。なお、マルチプレクサ9,10
によって順次指定される全フォトトランジスタは前記検
出面Slの全受光素子に相当するものである。
前記フリップフロップ8からの光検出信号、ナントゲー
ト6からのアドレス読込のタイミング信号、ラインz、
−z5を介して与えられるフォトトランジスタのアドレ
ス信号およびライン!!6を介して与えられる発光素子
の指定信号はCPU 17に与えられる。CPU 17
は入力される光検出信号、アドレス信号等から検出面3
1に置かれた物、体の平面位置を算出する動作を行う。
次に5、前述のように構成された光学的位置検出装置の
動作について説明する。第2図において、検出平面Sl
に置かれた物体18の位置、即ち座。
標な(Z、y)とする。いま、物体18が第2図に示す
位置に置かれたとする。このとき、発光素子α1からの
出光は辺L 2 s L 3上のフォトトラ−ンジスタ
に照射されるものの、物体18の存在によりその照射光
が遮断されて辺L2上の座標(n +Y)によって示す
フォトトランジスタbいにのみ入光しない。同様に、発
光素子α2からの出光は線Lt、L2上の全フォトトラ
ンジスタに対して照射されるものの、物体18の存在に
より線Ll上の座標”(0、m )によって示すフォト
トランジスタbmにのみ入光しない。ところで、発光素
子α1とフォトトランジスタbnを結ぶ直線の式はy 
= Y/ n−x −(1) によって与えられる。また、発光素子a2とフォトトラ
ンジスタbmを結ぶ直線の式は 1=常/X (X−w ) −(2) によって与えられる。
(1) 、 (2)式より物体18の位置(z、y)は
次式(3)。
(4) Z = −−(3) によってめられる。
上述の位置を自動的にめるため、以下の動作が第3図の
回路において実行される。いま、カウンタ4,11の各
出力はロウレベルであるとし、このときトランジスタ1
31のベースにロウレベル信号が出力され、この結果、
発光素子α1は動作可能状態に印加されている。また、
マルチプレクサ10は第1番目の組の8つの各フォトト
ランジスタb、−b、を選択し、その各エミッタをライ
ンklC接続している。さらに、桁X o + X t
・X2からの(ロウ、ロウ、ロウ)のデータ入力により
マルチプレクサ9はフォトトランジスタb1、即ち検出
平面Slの座標(0,1)のフォトトランジスタのコレ
クタを接地して動作可能状態に指定する。この指定状態
において、カウンタ4は発振回路1から1見目〜16発
目の発振信号を計数する間、発光素子cLlとフォトト
ランジスタblによって以下の動作が行なわれる。発振
回路lから2発目の発振信号が出力されると、その立下
がりでカウンタ4からロウレベルの14分周信号、・・
イレベルの14分周信号が出力され、この結果、発光素
子c1は点燈してシフトレジスタ3にナントゲート5を
介して動作時間信号が印加され、シフトレジスタ3は動
作可能状態に設定される。発光素子(Zlから発光され
る赤外線はフォトトランジスタblによって受光され、
マルチプレクサ10、増幅器15、フィルタ回路16を
夫々介してわずかに遅延されて光信号としてシフトレジ
スタ3に入力される。前記2発目の一発振信号出力と同
時にインバータ2を介して入力されるシフトクロックの
タイミングでシフトレジスタ3はその入力端に印加され
ているロウレベル信号(このとき前記光信号はまだ印加
されてない)を桁AOに記憶する。次に、3発目の発振
信号が計数されると、カウンタ4かもハイレベルの1/
/2分周信号、ハイレベルの14分周信号が出力され、
この結果、発光素子cLlは消燈し、前記動作時間信号
は出力され続ける。これと同時に、シフトレジスタ3は
その入力端に印加されている光信号を取り込み、桁AO
s A1の内容な夫々ハイ、ロウレベルとする。
5発目の発振信号がカウンタ4によって計数されると、
シフトレジスタ3の桁A o = A 3はハイ、ロウ
、ハイ、ロウの各レベルが記憶されることとなり、これ
ら各信号は比較回路22の桁BO−B3の設定値と比較
されて一致信号が出力され、この一致信号の立上りでフ
リップフロップ8がセットされて光検出信号が出力され
る。次に、6発目の発振信号がカウンタ4によって計数
されると同時に、シフトレジスタ3の桁A o −A 
aはロウ、ハイ、ロウ、ハイの各レベルにシフトされ、
この結果、比較回路7の内容は不一致となり前記一致信
号の出力は停止するものの、フリップフロップ8はセッ
トされ続けるから光検出信号は出力され続ける。同様に
、7,9,11,13.155発目発振信号の立下り時
に前記一致信号が出力され、8 、 ]、 2 、14
 、16発目の発振信号の立下り時に一致信号の出力は
停止する。カウンタ4は144発目発振信号を計数する
と、ナンド回路6の出力カハイレベルからロウレベルに
切り変わる。このロウレベルの切り替わり時はフリップ
フロップ8から出力される光検出信号のアドレス読込タ
イミング信号として出力される。
発光素子αlとフォトトランジスタb1との間の光路に
物体が挿入されている場合には、カウンタ4からの14
分周信号がロウレベルとなり発光素子cL1が点燈して
もフォトトランジスタb、には赤外線は検出されない。
したがってシフトレジスタ3に動作時間信号が入力され
ている期間中にも光信号は入力されないから、比較回路
7からは一致信号は出力されず、したがって光検出信号
も出力されない。
発光素子cL1とフォトトランジスタb1との間に物体
が遮蔽されて無い状態では前記動作時間信号出力の間、
シフトレジスタ3には発光素子a1の点滅動作に伴なっ
て7発の光信号が順次印加することになる。このうち、
たとえ2番目の光信号の波形が歪み、この結果、シフト
レジスタ3にはロウレベルとして取り込まれたとしても
、前記5゜7発目の発振信号の立下がり時に前記一致信
号の出力は停止するものの、9. 、11 、13 、
1.5発目の発振信号の立下り時には一致信号は出力さ
れるから9発目の発振信号立下刃時に出力される一致信
号によって光検出信号は出力されることになり、可視外
光源からの到達光を精度良く確実に検出できる。この場
合はフォトトランジスタb、は発光素子cL1の光を検
出しないため、光検出信号は出力されない。
カウンタ4が166発目発振信号を計数すると、前記動
作時間信号、光検出信号の出力は停止すると共に、ナン
ド回路6の出力はハイレベルに変わる。さらに、このと
きカウンタ4の桁Xoからハイレベル信号が出力される
から、マルチプレクサ9はフォトトランジスタb1に替
わりフォトトランジスタb2を動作可能状態にする。カ
ウンタ4は2回目の1発註から16発口の発振信号を計
数する間、発光素子cL1は7回の点滅及びこれに基づ
く前述の動作が繰り返えされる。同様な動作が8回繰り
返えされ、発光素子Q、1とフォトトランジスタb1〜
b8の対の検出動作が終了すると、カウンタ4の桁X3
からハイレベル信号が出力される。この結果、マルチプ
レクサ10は次の組の8つのフォトトランジスタのエミ
ッタとラインにへ接続を切り換えろ。そして、前述と全
く同様に、指定された組の中のフォトトランジスタが順
次指定されて同様の検出動作が行なわれる。なお、現在
指定されているフォトトランジスタのアドレスデータは
桁XO〜X5から送出され、その光検出信号と共にCP
U17に与えられる。CPU17には桁X6からの信号
も入力され、この信号によって現在指定されている発光
素子がalか、cL2かを判断する。そして、CPU1
7は発光素子i alが指定されていると判断した場合
にはLl。
・1 11 L3辺上のフォトトランジスタのみ光検出の対象
とし1発光素子a、2が指定されていると判断した場合
にはL1+ L2辺上のフオ))ランジスタのみ光検出
の対象とする。
しかして、上述の如く検出面Sl上の全フォトトランジ
スタが指定され、発光素子(Llからの受光の有無が検
査される結果、CPU1.7は座標(n 、 Y )の
フォトトランジスタbnのみ光を受光して無いと検知す
る。全フォトトランジスタが指定されると、カウンタ1
1の桁X6がハイレベルとなり、マルチプレクサ12は
発光素子cL2を動作可能状態に指定する。そして、前
述と全く同様にすべてのフォトトランジスタが順次指定
され、発光素子a2からの受光の有無の検査が行なわれ
ろ。この結果、CPU17において座標(0,m)のフ
ォトトランジスタbmのみ光を受光して無いと検知する
。CPU17は検知した座標値n、mとあらかじめ記憶
された値X、Yとから一前記(3)。
(4)式に従って物体18の平面SI上の座標を算出し
、物体の位置として記憶する。
なお、第3図において、物体18の位置によっては発光
素子a、lとL3上のフォトトランジスタの座標(X、
m)、発光素子a2とL2上のフォトトランジスタの座
標(n、Y)との関係が成立し、この場合物体の座標(
π、2/)との間にはy = −Z ・・・(5) が夫々成立する。又、(1)式と(6)式が成立する場
合も存在する。各場合において、CPU17は適正な式
の組み合わせを選択し、選択された式に従って物体の正
確な位置を算出する。
第4図はこの発明の第2実施例を示し、この場合は長方
形の検出面、を形成する辺M+ 、 M2 rM 3+
 M 4に夫々受光素子が等間隔離間して配列されてい
る。また、検出面の四つの隅には発光素子IZI r 
cL2 r cL3 rα4 が夫々配置されている。
この場合、発光素子cL1は辺M3.M4上の、発光素
子cL2は辺Ml、M4上の、発光素子a、3は辺Ms
 r M2上の、発光素子f14は辺M2.M3上の夫
々の各受光素子に対して出光される。しかして、検出面
を第4図に示すように対角線で区切られる4つの領域F
l 、F2 、F3 、F4に分けた場合、領域F1は
発光素子a、2.α3と辺M1の各受光素子、領域F2
は発光素子IZ3 、 a、4と辺M2の各受光素子、
領域F3は発光素子(Ll。
a4と辺M3の各受光素子、領域F4は発光素子cLl
+cL2と辺M4の各受光素子の組み合わせによって各
領域内の物体の位置を検出することができろ。この場合
、4つの領域ごとに物体の位置を検出するための最適の
2つの発光素子が特定されるため、第2図の場合と比較
して一層精度を上げることができる。特に、受光素子を
イメージセンサによって構成すると、さらに精度を高め
ることができる。なお、物体の位置を検出するための回
路構成及び各発光素子αl〜α4の座標と所定の受光素
子とから物体の位置を検出するための方法は前記実施例
の場合とほぼ同様であるから説明を省略する。
第5図はこの発明の第3実施例を示し、簡便な位置検出
装置を実現するものである。この場合、第4図の装置に
おいて、辺M1 r M 4上の受光素子の配列を取り
除き、前記発光素子α1+cL2+α3+G4 と辺M
2 、M3上の受光素子との組み合せによって検出面S
2上の物体の位置の検出を行う。即ち、第5図において
、発光素子αl、α2゜α3.α4 の座標を夫々対応
して(0,0)、(0,Y)、(X、Y)、(X、 0
 )とし、物体19の位置な(z、y)とする。このと
き、発光素子αl・α2 の光が到達しない辺M4上の
受光素子を夫々(X、m′)、(X、n’)とすると、
人 が成立するから が得られる。この場合も第1実施例とほぼ同様の回路構
成によって物体(z、y)の位置を自動的にめることが
できる。この詳細は省略する。
なお、前記実施例においては、検出面を構成する全受光
素子を走査する構成としたが、指定された発光素子と対
応する受光素子のみ、例えば第2図において発光素子α
lが指定された場合は辺L2とL3の受光素子のみを走
査ス条構成としても良い。
(ホ)効 果 以上説明したようにこの発明によれば、第1の光源と、
この第1の光源からの出光を受光する第1の受光素子群
と、前記第1の光源と差交する光路を有する第2の光源
と、この第2の光源からの出光を受光する第2の受光素
子群とを同一平面上に備えてこの平面上の物体の位置を
自動的に検知するように構成したから、発光素子の数を
著るしく減少することができ、安価に製造することがで
きる。また、平面上の物体の位置のわずかな変化でもそ
れを検知する受光素子側には大きな光路変化として表わ
れるから受光素子側では確実に検知できこのため検出精
度の向上を図ることができる。
さらにまた、不感応領域が少なくなるから、受光素子数
を減少させることもできろ。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の光学的検出装置に使用される位置検出面
の平面図、第2図はこの発明の位置検出面の第1実施例
を示す平面図、第3図は第2図に使用されろ回路構成図
、第4図はこの発明の位置検出面の第2実施例を示す平
面図、第5図はこの発明の位置検出面の第3実施例を示
す平面図である。 1・・・発振回路、 3・・・シフトレジスタ。 4.11・・・カウンタ、 7・・・比較回路、 8・
・・フリップフロップ、9,10.12・・・マルチプ
レクサ。 18・19°°°物体、 αl、α2.α3.α4・・
・発光素子。 b 1− b 8 r bWL+ bn ’・・フォト
トランジスタ(受光素子)。 第1図 第2図 第3図 、I 第4図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第1の光源と、この第1の光源からの出光を受光
    する第1の受光素子群と、前記第1の光源と差交する光
    路な有する第2の光源と、この第2の光源からの出光を
    受光する第2の受光素子群と、 前記第1、第2の光源および第1、第2の受光素子群は
    同一平面上に配置されており、前記平面上の物体によっ
    て光が遮蔽されることにより、前記第1の光源からの出
    光を受光して無い前記第1の受光素子群の受光素子およ
    び前記第2の光源からの出光を受光して無い前記第2の
    受光素子群の受光素子を検知する検知手段と、前記検知
    された受光素子と前記第1、第2の光源の平面位置に基
    づいて前記物体の平面位置を算出する演算回路とを備え
    てなる光学的位置検出装置。
JP59115205A 1984-06-05 1984-06-05 光学的位置検出装置 Granted JPS60257304A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59115205A JPS60257304A (ja) 1984-06-05 1984-06-05 光学的位置検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59115205A JPS60257304A (ja) 1984-06-05 1984-06-05 光学的位置検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60257304A true JPS60257304A (ja) 1985-12-19
JPH0358441B2 JPH0358441B2 (ja) 1991-09-05

Family

ID=14656957

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59115205A Granted JPS60257304A (ja) 1984-06-05 1984-06-05 光学的位置検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60257304A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62147008U (ja) * 1986-03-12 1987-09-17
WO2002082253A2 (en) * 2001-04-04 2002-10-17 Elo Touchsystems, Inc. A touch input system

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4519329Y1 (ja) * 1968-04-06 1970-08-05
JPS5386888U (ja) * 1976-12-18 1978-07-17
JPS55114635U (ja) * 1979-02-05 1980-08-13
JPS55113455A (en) * 1979-02-21 1980-09-02 Masuo Nakayama Chairrparticularly*massaging chair

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4250378A (en) * 1978-10-06 1981-02-10 Tektronix, Inc. Photoelectric joystick

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4519329Y1 (ja) * 1968-04-06 1970-08-05
JPS5386888U (ja) * 1976-12-18 1978-07-17
JPS55114635U (ja) * 1979-02-05 1980-08-13
JPS55113455A (en) * 1979-02-21 1980-09-02 Masuo Nakayama Chairrparticularly*massaging chair

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62147008U (ja) * 1986-03-12 1987-09-17
WO2002082253A2 (en) * 2001-04-04 2002-10-17 Elo Touchsystems, Inc. A touch input system
WO2002082253A3 (en) * 2001-04-04 2003-05-01 Elo Touchsystems Inc A touch input system

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0358441B2 (ja) 1991-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4654527A (en) Reference mark identification system for measuring instrument
JPS60243728A (ja) 座標入力装置
JPH01314324A (ja) タッチパネル装置
JPS5848177A (ja) 特定色彩パタ−ンの検出装置
JPS60257304A (ja) 光学的位置検出装置
JPS60207923A (ja) 位置検出装置
JPH0311673B2 (ja)
JP5882744B2 (ja) 座標入力装置
JPS6086417A (ja) 光学的位置検出装置
JP2571694B2 (ja) レベル測量用スタッフの光ファイバを利用した受光位置検出装置
JP2000284899A (ja) タッチパネルの多点操作補正装置
JP3159828B2 (ja) 光電センサ
JPS6035709B2 (ja) 線図形の方向検出眼
JPH02173737A (ja) 原稿検出装置
JPH0315920A (ja) 座標入力装置
JP5738112B2 (ja) 座標入力装置及びその制御方法、プログラム
JP5947677B2 (ja) 座標入力装置及びその制御方法、プログラム
JPH01255915A (ja) 光学式タツチパネル
JP2006260474A (ja) 遮光型座標入力装置
JP2995735B2 (ja) タッチパネル装置
JPS6166117A (ja) 太陽角検出装置
JP3756549B2 (ja) 搬送される紙葉類の幅検出装置
SU1495829A1 (ru) Устройство дл измерени геометрического центра изображени
JPH034932B2 (ja)
JPS6334962B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term