JPH02158215A - 再プログラム可能論理アレイ - Google Patents
再プログラム可能論理アレイInfo
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- JPH02158215A JPH02158215A JP1271889A JP27188989A JPH02158215A JP H02158215 A JPH02158215 A JP H02158215A JP 1271889 A JP1271889 A JP 1271889A JP 27188989 A JP27188989 A JP 27188989A JP H02158215 A JPH02158215 A JP H02158215A
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C15/00—Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores
- G11C15/04—Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores using semiconductor elements
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- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は論理アレイ(LA)、より詳細に言えば、論理
アレイの入力ライン/出力ラインの各交差部に位置する
セルのアドレス手段、ビットのパーソナリティの記憶手
段及び論理関数のドツト手段を効果的に結合した6デバ
イス・スタティック(静止型)ランダム・アクセス・メ
モリ(SRAM)セルを基本とした再度プログラムする
ことの出来る論理フユーズ、即ち再プログラム可能論理
フユーズ(RLF)に関する0本発明のRLFに使用さ
れる素子が、極めて少数であるという長所に加えて、本
発明の装置は、ユーザが必要とするときには何時でも即
時に、システム内の論理構成を再構成し得るように、ソ
フトウェアによって容易に且つ動的に再度プログラムす
ることが出来る。
アレイの入力ライン/出力ラインの各交差部に位置する
セルのアドレス手段、ビットのパーソナリティの記憶手
段及び論理関数のドツト手段を効果的に結合した6デバ
イス・スタティック(静止型)ランダム・アクセス・メ
モリ(SRAM)セルを基本とした再度プログラムする
ことの出来る論理フユーズ、即ち再プログラム可能論理
フユーズ(RLF)に関する0本発明のRLFに使用さ
れる素子が、極めて少数であるという長所に加えて、本
発明の装置は、ユーザが必要とするときには何時でも即
時に、システム内の論理構成を再構成し得るように、ソ
フトウェアによって容易に且つ動的に再度プログラムす
ることが出来る。
本発明は任意の半導体集積回路論理アレイに適用するこ
とが出来るけれども、相互接続された2つの基本的なア
ンド及びオア論理アレイを基本的に含んでいるプログラ
ム可能な論理アレイ、即ちプログラム可能論理アレイ(
PLA)に適用した時に、特に効果的である。
とが出来るけれども、相互接続された2つの基本的なア
ンド及びオア論理アレイを基本的に含んでいるプログラ
ム可能な論理アレイ、即ちプログラム可能論理アレイ(
PLA)に適用した時に、特に効果的である。
B、従来の技術
先ず、PLAの概略を以下に簡単に説明する。
一般に、PLAは複数個のディジタル入力信号を受取り
、且つ複数個のディジタル出力信号を発生する論理回路
であって、その回路の各出力信号は、入力信号のプログ
ラム可能な論理積の和の組合せである。
、且つ複数個のディジタル出力信号を発生する論理回路
であって、その回路の各出力信号は、入力信号のプログ
ラム可能な論理積の和の組合せである。
第8図にブロック図のシステムとして示されているよう
に、代表的なPLA回路10は論理積のアレイ、即ちア
ンド・アレイ11と、論理和のアレイ、即ちオア・アレ
イ12の組合せで構成されている。第1のアレイは、選
択された入力信号の論理的アンドである複数個の項(t
erm )を発生するようにデザインされ、そして、第
2のアレイは、選択的にアンド演算の項をオア演算する
ことによって、出力信号を発生するようにデザインされ
ている。
に、代表的なPLA回路10は論理積のアレイ、即ちア
ンド・アレイ11と、論理和のアレイ、即ちオア・アレ
イ12の組合せで構成されている。第1のアレイは、選
択された入力信号の論理的アンドである複数個の項(t
erm )を発生するようにデザインされ、そして、第
2のアレイは、選択的にアンド演算の項をオア演算する
ことによって、出力信号を発生するようにデザインされ
ている。
第8図に示した代表的なPLA回路において、アンド・
アレイ11はPLA回路の入カライン束13上にあるm
個のディジタル入力信号(データ・ビット)Xl乃至X
mの合計を受取り、そしてアンド項うイン束14上の入
力からのn個のアンド項(これはまた、n個の入力順と
呼ばれる)Yl乃至Ynの合計を発生する。アンド項の
ラインはアンド・アレイの出力ラインである。転じて、
上記のn個のアンド項は、合計に個のオア環を発生する
ために、入力信号としてオア・アレイ12に印加される
。第8図の模式的な回路図において、アンド・アレイか
らオア・アレイへの信号Yl乃至Ynを伝送するための
ライン、即ち、アンド・アレイの出力ラインとオア・ア
レイの入力ラインとの間の区別はない、オア・アレイの
出力信号は、n個のアンド項を選択的にオア演算するこ
とによって得られる。これらのオア・アレイの出力信号
Pl乃至Pkは、オア・アレイの出カライン束15上で
与えられる。
アレイ11はPLA回路の入カライン束13上にあるm
個のディジタル入力信号(データ・ビット)Xl乃至X
mの合計を受取り、そしてアンド項うイン束14上の入
力からのn個のアンド項(これはまた、n個の入力順と
呼ばれる)Yl乃至Ynの合計を発生する。アンド項の
ラインはアンド・アレイの出力ラインである。転じて、
上記のn個のアンド項は、合計に個のオア環を発生する
ために、入力信号としてオア・アレイ12に印加される
。第8図の模式的な回路図において、アンド・アレイか
らオア・アレイへの信号Yl乃至Ynを伝送するための
ライン、即ち、アンド・アレイの出力ラインとオア・ア
レイの入力ラインとの間の区別はない、オア・アレイの
出力信号は、n個のアンド項を選択的にオア演算するこ
とによって得られる。これらのオア・アレイの出力信号
Pl乃至Pkは、オア・アレイの出カライン束15上で
与えられる。
各アンド項は、データか、反転データか、または「無関
係」信号(「無関係」信号は与えられた入力順に対する
データ、または反転データによって形成される)を含ん
でいる。
係」信号(「無関係」信号は与えられた入力順に対する
データ、または反転データによって形成される)を含ん
でいる。
従って、予め決められた論理条件を満足する論理的出力
信号は、PLAから得ることが出来る。
信号は、PLAから得ることが出来る。
この回路例において、論理条件は、各アンド・アレイ及
びオア・アレイの内部の回路接続の配線によって、所望
のように前以て設定することが出来る。このことを換言
すれば、この装置の論理条件は、プログラムすることが
出来るということを意味する。
びオア・アレイの内部の回路接続の配線によって、所望
のように前以て設定することが出来る。このことを換言
すれば、この装置の論理条件は、プログラムすることが
出来るということを意味する。
また、最近のコンピュータ・システムのデザインにおい
て、PLAは、「関連することが出来る」能力があるも
のとして理解されている。再度、第8図を参照して説明
すると、入力ワード(XI乃至Xm)はアンド・アレイ
11中に記憶されているワードと並列的に比較される。
て、PLAは、「関連することが出来る」能力があるも
のとして理解されている。再度、第8図を参照して説明
すると、入力ワード(XI乃至Xm)はアンド・アレイ
11中に記憶されているワードと並列的に比較される。
若し、入力ワードがアンド・プレイ中に記憶されたワー
ドの1つと同じであるならば、「マツチ」即ち「整合」
が生じたと言われ、そして、「整合ライン」と呼ばれる
対応するアンド項ラインが付勢される。
ドの1つと同じであるならば、「マツチ」即ち「整合」
が生じたと言われ、そして、「整合ライン」と呼ばれる
対応するアンド項ラインが付勢される。
整合ラインが付勢されると、オア・アレイ中の対応する
ラインに記憶されているワードを、出力ワード(Pi乃
至Pk)として、オア・アレイの出力ライン上に発生さ
せる。若し、アンド・アレイ中に整合が生じなければ、
アンド・アレイからの出力は発生しない、上述した論理
機能を実際的なものにするためには、「無間係」信号の
発生能力がアンド・アレイに付加されなければならない
。
ラインに記憶されているワードを、出力ワード(Pi乃
至Pk)として、オア・アレイの出力ライン上に発生さ
せる。若し、アンド・アレイ中に整合が生じなければ、
アンド・アレイからの出力は発生しない、上述した論理
機能を実際的なものにするためには、「無間係」信号の
発生能力がアンド・アレイに付加されなければならない
。
これは、アンド・アレイ中に記憶されたワードが1の信
号、0の信号、または「無関係」信号で構成されている
ことを意味する。「無間係」信号を発生する能力を与え
ることによって、アレイ中に「無間係」信号が記憶され
ているビットが何であるかを考慮することなく、比較動
作を遂行することが出来る。第9図において、入力信号
X1及びX2が、対応するラッチ20A及び20Bの内
容L1及びL2と比較する場合、対応するアンド項用の
A1の値に従って、下記のデータが与えられたアンド項
ラインに記憶されなければならない。
号、0の信号、または「無関係」信号で構成されている
ことを意味する。「無間係」信号を発生する能力を与え
ることによって、アレイ中に「無間係」信号が記憶され
ているビットが何であるかを考慮することなく、比較動
作を遂行することが出来る。第9図において、入力信号
X1及びX2が、対応するラッチ20A及び20Bの内
容L1及びL2と比較する場合、対応するアンド項用の
A1の値に従って、下記のデータが与えられたアンド項
ラインに記憶されなければならない。
A1=I L1=1、 L2=OA1=
OL1=O1L2=I A1=「無間係J L1=1.、L2=1従って、与
えられた記憶ワードは入力ワードの任意の部分と比較す
るこ七が出来る。「無関係」を付加することによって、
アンド・アレイ中の1つ以上のワードを、入力ワード(
またはその一部)と整合することが出来るので、その結
果、1本以上のラインを付勢することが出来る。この場
合、「複数整合」が生じたと言われる。この複数整合状
態は、オア・アレイの出力に幾つかのワードを駆動させ
る結果を生じる。この場合、出力ワードはオア・プレイ
において選択されたワードのオア関数から作られる。
OL1=O1L2=I A1=「無間係J L1=1.、L2=1従って、与
えられた記憶ワードは入力ワードの任意の部分と比較す
るこ七が出来る。「無関係」を付加することによって、
アンド・アレイ中の1つ以上のワードを、入力ワード(
またはその一部)と整合することが出来るので、その結
果、1本以上のラインを付勢することが出来る。この場
合、「複数整合」が生じたと言われる。この複数整合状
態は、オア・アレイの出力に幾つかのワードを駆動させ
る結果を生じる。この場合、出力ワードはオア・プレイ
において選択されたワードのオア関数から作られる。
この方法によって、PLA回路10はワード発生器とし
て考えることが出来、その出力ワードの内容(Pi乃至
Pk)は入力ワードの内容(Xi乃至Xm)によって駆
動される。これは、組合せ的な論理能力を与える。出力
ワードを記憶して、出力レジスタの一部を入力ワード、
のフイードパツりの部分に使用することは、逐次処理を
行う論理能力を与える。
て考えることが出来、その出力ワードの内容(Pi乃至
Pk)は入力ワードの内容(Xi乃至Xm)によって駆
動される。これは、組合せ的な論理能力を与える。出力
ワードを記憶して、出力レジスタの一部を入力ワード、
のフイードパツりの部分に使用することは、逐次処理を
行う論理能力を与える。
実際問題として、永い間、PLAは、永久的な非揮発性
論理アレイを必要とする電子システム、またはコンピュ
ータに使用するために主として設計されてきた。このよ
うな観点から、プログラマブル読取専用メモリ(PRO
M)は、論理アレイを物理的に実現する装置としてしば
しば使用されてきた。不幸にして、これらのPROMは
、−度だけしかプログラムすることが出来ないと言うこ
と、これを換言すれば、これらのFROMは、−度パー
ソナリゼーションが行われた後には、そのプログラムは
変更することが出来ない、物理的な論理アレイの従来の
代表的な例は、入力ライン及び出力ラインの各交差点(
アンド・アレイのための「整合」ライン)において、ア
ンド/オア動作用の物理的な論理フユーズ及びダイオー
ドとして使用している構造のものである。論理フユーズ
はスイッチのように動作する。論理フユーズの状態は、
論理フユーズの状態に応じて、スイッチが開いている状
態、またはスイッチが閉じている状態と等価であること
、換言すれば、論理フユーズにストアされるビットのパ
ーソナリティは、ビット0か、またはビット1の何れか
である。論理フユーズは、信頼性の観点から、誤りデー
タを発生し、または誤動作の可能性があり得るものとし
て認識されている。若し、アンド・アレイ中でオア動作
が行われるようにダイオードが接続され、そして、アン
ド・アレイとして動作するように、各出力がインバータ
で反転されたならば、「整合ライン」上の出力信号は、
デ・モルガンの規則、A十B=A、B及びA、B=A十
Bに従って有効なアンド環である。
論理アレイを必要とする電子システム、またはコンピュ
ータに使用するために主として設計されてきた。このよ
うな観点から、プログラマブル読取専用メモリ(PRO
M)は、論理アレイを物理的に実現する装置としてしば
しば使用されてきた。不幸にして、これらのPROMは
、−度だけしかプログラムすることが出来ないと言うこ
と、これを換言すれば、これらのFROMは、−度パー
ソナリゼーションが行われた後には、そのプログラムは
変更することが出来ない、物理的な論理アレイの従来の
代表的な例は、入力ライン及び出力ラインの各交差点(
アンド・アレイのための「整合」ライン)において、ア
ンド/オア動作用の物理的な論理フユーズ及びダイオー
ドとして使用している構造のものである。論理フユーズ
はスイッチのように動作する。論理フユーズの状態は、
論理フユーズの状態に応じて、スイッチが開いている状
態、またはスイッチが閉じている状態と等価であること
、換言すれば、論理フユーズにストアされるビットのパ
ーソナリティは、ビット0か、またはビット1の何れか
である。論理フユーズは、信頼性の観点から、誤りデー
タを発生し、または誤動作の可能性があり得るものとし
て認識されている。若し、アンド・アレイ中でオア動作
が行われるようにダイオードが接続され、そして、アン
ド・アレイとして動作するように、各出力がインバータ
で反転されたならば、「整合ライン」上の出力信号は、
デ・モルガンの規則、A十B=A、B及びA、B=A十
Bに従って有効なアンド環である。
その結果、第8図に参照数字18で示されているインバ
ータのブロックは付加的に使用するものであり、他方、
オア・アレイ出力信号P1乃至Pkは、それらが外部の
回路に使用される前は、感知増幅器/ラッチ回路にラッ
チされる必要がある。
ータのブロックは付加的に使用するものであり、他方、
オア・アレイ出力信号P1乃至Pkは、それらが外部の
回路に使用される前は、感知増幅器/ラッチ回路にラッ
チされる必要がある。
出力用の感知増幅器/ラッチのブロックは第8図におい
て参照数字17で示されている。ブロック17の出力端
子における01乃至Okへの出力信号は「出力」ライン
束15aで得られる。
て参照数字17で示されている。ブロック17の出力端
子における01乃至Okへの出力信号は「出力」ライン
束15aで得られる。
第8図に示されたPLA回路10は上述したタイプの回
路であり、読取専用ストレージ(RO5)と同じ「固定
された」内容を持っている。
路であり、読取専用ストレージ(RO5)と同じ「固定
された」内容を持っている。
「可変の」内容はEPλOM(消去可能なPROM)や
E HP ROM (電気的に消去可能なPROM)で
得ることが出来るが、これらの回路は、例えば15乃至
30ボルトの特別の電源/電圧スイング及び付属器具を
特徴とする特別の要件を必要とする。
E HP ROM (電気的に消去可能なPROM)で
得ることが出来るが、これらの回路は、例えば15乃至
30ボルトの特別の電源/電圧スイング及び付属器具を
特徴とする特別の要件を必要とする。
読取り/書込み論理が可能となる他の顕著な特長は本出
願人に係る米国特許第3593317号に開示されてい
るように、各交差点にあるストレージ素子(1、または
0をラッチする素子)及びアンド・ゲートとを関連付け
ることである。この米国特許に教示されているように、
ストレージ素子はレジスタの一部である2状態ラツチで
ある。その結果、この組合せは、将来、論理条件が再構
成可能である点を除いて、上述したスイッチ及びダイオ
ードと同じ作用を持ち、それは転じてユーザが強く望ん
でいる柔軟性を高める。然しながら、このことは、回路
を付随的に設けるのに必要とするコストの 代償として獲得されることはこれ以上の説明をするまで
もなく明らかである。
願人に係る米国特許第3593317号に開示されてい
るように、各交差点にあるストレージ素子(1、または
0をラッチする素子)及びアンド・ゲートとを関連付け
ることである。この米国特許に教示されているように、
ストレージ素子はレジスタの一部である2状態ラツチで
ある。その結果、この組合せは、将来、論理条件が再構
成可能である点を除いて、上述したスイッチ及びダイオ
ードと同じ作用を持ち、それは転じてユーザが強く望ん
でいる柔軟性を高める。然しながら、このことは、回路
を付随的に設けるのに必要とするコストの 代償として獲得されることはこれ以上の説明をするまで
もなく明らかである。
他方、PLAの設計において、所定の論理機能を構成す
るために、シリコンの領域の使用を最少限に留めること
が重要である。PLAのアンド・アレイ中の「アンド」
項のラインの数を減少させる通常の手段は、入力を隔離
するシステムを含んでいる。入力を隔離するために、例
えば、2入力/4出力のデコーダ(これはまた、積項ゼ
ネレータ(product term generat
or )とも言われている)を使用する方法が、上述の
米国特許第3593317号に記載されている。第8図
は、上述したような積項ゼネレータ18を示している。
るために、シリコンの領域の使用を最少限に留めること
が重要である。PLAのアンド・アレイ中の「アンド」
項のラインの数を減少させる通常の手段は、入力を隔離
するシステムを含んでいる。入力を隔離するために、例
えば、2入力/4出力のデコーダ(これはまた、積項ゼ
ネレータ(product term generat
or )とも言われている)を使用する方法が、上述の
米国特許第3593317号に記載されている。第8図
は、上述したような積項ゼネレータ18を示している。
AI乃至Apの「入力」信号は、「入力」ライン束13
aを通って積項ゼネレータ18に印加される。デコー番
する侶方は、入1=A1.A2、X2=A1゜A2、X
3=A1.A2、及びX4=A1.A2のようなアンド
・アレイ11の入力信号として使用されるべき信号X1
乃至Xmであり、そのラッチの内容は、すべての「無関
係」状態に対しては「1」でなければならない。
aを通って積項ゼネレータ18に印加される。デコー番
する侶方は、入1=A1.A2、X2=A1゜A2、X
3=A1.A2、及びX4=A1.A2のようなアンド
・アレイ11の入力信号として使用されるべき信号X1
乃至Xmであり、そのラッチの内容は、すべての「無関
係」状態に対しては「1」でなければならない。
第9図は、参照数字11′で示した代表的なアンド・ア
レイの一部と、ストレージ素子(例えばラッチ)との組
合せを示しており、この回路は隔離に関する上述した技
術を使用している。第9図に示した回路は上述したよう
な「開運性を付けられた」環境において与えられる。
レイの一部と、ストレージ素子(例えばラッチ)との組
合せを示しており、この回路は隔離に関する上述した技
術を使用している。第9図に示した回路は上述したよう
な「開運性を付けられた」環境において与えられる。
第9図から明らかなように、A1乃至へ〇の6個のビッ
トで構成されるディジタル「入力ワード」Wは、デコー
ダのブロック18において、グループ化されている3個
の2ビツト・デコーダで構成されているビット隔離論理
回路に供給される。デコーダのブロック18は、2ビツ
ト入力が持つ可能性ある4つの状態(00,01,10
,11)のうちの1つの状態にデコードする。また、デ
コーダ18は積項ゼネレータとしても指定することが出
来る。従って、ワードWの2個のビット当り4個の積項
がある。これらの積項(入力)ラインはアンド・アレイ
11′を通って下方に延びる入力ラインであり、そして
それらの入力ラインは、デコードされたディジタル入力
信号X1乃至X12をアンド・アレイ11′全体に印加
する。積項ゼネレータ18に接続されている4本の第1
の積項ラインはライン束19を構成している0例えば、
積項ライン19Aは、積項ゼネレータ18によって供給
される入力信号X1=A1.A2を供給する。従って、
アンド・アレイの入力ワードW′は12個のビット(X
i乃至X12)を含んでいる。
トで構成されるディジタル「入力ワード」Wは、デコー
ダのブロック18において、グループ化されている3個
の2ビツト・デコーダで構成されているビット隔離論理
回路に供給される。デコーダのブロック18は、2ビツ
ト入力が持つ可能性ある4つの状態(00,01,10
,11)のうちの1つの状態にデコードする。また、デ
コーダ18は積項ゼネレータとしても指定することが出
来る。従って、ワードWの2個のビット当り4個の積項
がある。これらの積項(入力)ラインはアンド・アレイ
11′を通って下方に延びる入力ラインであり、そして
それらの入力ラインは、デコードされたディジタル入力
信号X1乃至X12をアンド・アレイ11′全体に印加
する。積項ゼネレータ18に接続されている4本の第1
の積項ラインはライン束19を構成している0例えば、
積項ライン19Aは、積項ゼネレータ18によって供給
される入力信号X1=A1.A2を供給する。従って、
アンド・アレイの入力ワードW′は12個のビット(X
i乃至X12)を含んでいる。
各列と19Aのような各積項ラインとに対して、20A
及び21Aで示されたラッチ及びアンド・ゲートが関連
付けられている。アンド・ゲートは、ラッチのバイナリ
値の内容に従って、積項の信号を通過させたり、通過さ
せなかったりする。制御データを設定することは、この
分野の公知の技術なので、ビットのパーソナリティがラ
ッチ中に保持させる方法の細部の説明は省略する。この
ラッチは、米国特許第3593317号に記載されてい
るシフトレジスタの一部の要素である。参照記号22A
で表わしたラッチとアンド・ゲートの組合せは、制御可
能な電子論理フユーズと同じ役割を持っている。
及び21Aで示されたラッチ及びアンド・ゲートが関連
付けられている。アンド・ゲートは、ラッチのバイナリ
値の内容に従って、積項の信号を通過させたり、通過さ
せなかったりする。制御データを設定することは、この
分野の公知の技術なので、ビットのパーソナリティがラ
ッチ中に保持させる方法の細部の説明は省略する。この
ラッチは、米国特許第3593317号に記載されてい
るシフトレジスタの一部の要素である。参照記号22A
で表わしたラッチとアンド・ゲートの組合せは、制御可
能な電子論理フユーズと同じ役割を持っている。
積項ゼネレータ18によって供給される4本の積項ライ
ン19A乃至19Dに対して、アンド・ゲート21A乃
至21Dの各出力は、ライン束23を介して、4入力オ
ア・ゲート24Aに印加される。残りの入力ビツトを処
理するのに他の積項ラインに同じ構造が適用されるので
、2つの付加的なオア・ゲート24B及び24Cが必要
である。
ン19A乃至19Dに対して、アンド・ゲート21A乃
至21Dの各出力は、ライン束23を介して、4入力オ
ア・ゲート24Aに印加される。残りの入力ビツトを処
理するのに他の積項ラインに同じ構造が適用されるので
、2つの付加的なオア・ゲート24B及び24Cが必要
である。
オア・ゲート24A乃至24Cの出力は、3入力アンド
・ゲート25に供給される。アンド・ゲート25の出力
であるアンド環の信号、即ち整合信号は、MLIで示さ
れている整合ラインで与えられる。6デバイス・セルの
場合、3個の4入力オア・ゲートと、1個の3入力アン
ド・ゲートとで構成されている論理ブロック26は、6
つの入力毎に設けられねばならない、技術的な理由に基
づく制限によって、これらのアンド・ゲート及びオア・
ゲートの入力の数は、ある数に制限する必要がある。
・ゲート25に供給される。アンド・ゲート25の出力
であるアンド環の信号、即ち整合信号は、MLIで示さ
れている整合ラインで与えられる。6デバイス・セルの
場合、3個の4入力オア・ゲートと、1個の3入力アン
ド・ゲートとで構成されている論理ブロック26は、6
つの入力毎に設けられねばならない、技術的な理由に基
づく制限によって、これらのアンド・ゲート及びオア・
ゲートの入力の数は、ある数に制限する必要がある。
これらの物理的な制限なしで、アンド・ゲート25は、
オア回路24A等々の個数に対応した入力数に拡大する
ことが望まれる。
オア回路24A等々の個数に対応した入力数に拡大する
ことが望まれる。
論理ブロックとは無関係に、第9図のPLA回路は、入
力ライン(例えば19A)及び出力ライン(例えばML
1)を直交して構成した導体マトリックスを含む論理ア
レイと見做すことが出来、これにより、それらのライン
間の仮想的な直交部、即ち交差点を画定して、各交差点
が電子的論理フユーズ(ELF)を与える。
力ライン(例えば19A)及び出力ライン(例えばML
1)を直交して構成した導体マトリックスを含む論理ア
レイと見做すことが出来、これにより、それらのライン
間の仮想的な直交部、即ち交差点を画定して、各交差点
が電子的論理フユーズ(ELF)を与える。
最後に付言すると、同じ構造がアンド・アレイのn個の
列に適用される。
列に適用される。
シフトレジスタのラッチ素子で実行する代りに、電子的
論理フユーズを形成するストレージ素子(即ち20A)
は、ダイナミック型か、またはスタティック型の何れか
の型のランダム・アクセス・メモリであっても良い。
論理フユーズを形成するストレージ素子(即ち20A)
は、ダイナミック型か、またはスタティック型の何れか
の型のランダム・アクセス・メモリであっても良い。
1981年10月の18Mテクニカル・ディスクロージ
ャ・ブレティン、第24巻第5号、2424頁乃至24
25頁の「再ロードし得るPLAJ(Re1oadab
le PLS’s )と題する記載に、ダイナミック・
ランダム・アクセス・メモリ(DELAM)セルを使用
した例が示されている。この記載において、水平に配列
された複数本のワード・ライン(9)及び垂直に配列さ
れた複数本のビット・ライン(8)を含むMO5FET
技術によるアンド・アレイ構造が示されている。物理的
に言えば、上記のワード・ライン及びビット・ラインは
、第1のタイプの非導電性の交差点の第1のマトリック
スを形成する導体である。更に、アンド・アレイは、垂
直方向に配列された複数本の入力ライン(2)及び水平
方向に配列された複数本の出力ラインを含んでいる。物
理的には、上記入力ライン及び出力ラインは、第2のタ
イプの非導電性の交差点の第2のマトリックスを形成す
る導体である。
ャ・ブレティン、第24巻第5号、2424頁乃至24
25頁の「再ロードし得るPLAJ(Re1oadab
le PLS’s )と題する記載に、ダイナミック・
ランダム・アクセス・メモリ(DELAM)セルを使用
した例が示されている。この記載において、水平に配列
された複数本のワード・ライン(9)及び垂直に配列さ
れた複数本のビット・ライン(8)を含むMO5FET
技術によるアンド・アレイ構造が示されている。物理的
に言えば、上記のワード・ライン及びビット・ラインは
、第1のタイプの非導電性の交差点の第1のマトリック
スを形成する導体である。更に、アンド・アレイは、垂
直方向に配列された複数本の入力ライン(2)及び水平
方向に配列された複数本の出力ラインを含んでいる。物
理的には、上記入力ライン及び出力ラインは、第2のタ
イプの非導電性の交差点の第2のマトリックスを形成す
る導体である。
そのような電気的に絶縁されている交差点の各結合点に
対して、1つの電子的論理フユーズ(5)が存在する。
対して、1つの電子的論理フユーズ(5)が存在する。
これを達成するために、付加的な制御デバイス(4)が
、アンド・ゲートを形成するために、MO8FETスイ
ッチング・デバイス(1)と直列に接続されている。メ
モリFET(6)及びストレージ容量(7)で構成され
た1デバイスDFLAMセルのバイナリ状態は1.h記
のアンド・ゲートを付勢し、あるいは減勢することによ
って変化される。従って、DRAMセルの内容に応じて
、アンド・ゲートのアレイは、読取り/書込み能力をユ
ーザの望み通りに、再構成することが出来る。この解決
法は、興味ある技術を含んでいるけれども、回路の動作
速度が比較的遅く、また付加的なリフレッシュ回路を必
要とするので、半導体回路には余り使用されていない。
、アンド・ゲートを形成するために、MO8FETスイ
ッチング・デバイス(1)と直列に接続されている。メ
モリFET(6)及びストレージ容量(7)で構成され
た1デバイスDFLAMセルのバイナリ状態は1.h記
のアンド・ゲートを付勢し、あるいは減勢することによ
って変化される。従って、DRAMセルの内容に応じて
、アンド・ゲートのアレイは、読取り/書込み能力をユ
ーザの望み通りに、再構成することが出来る。この解決
法は、興味ある技術を含んでいるけれども、回路の動作
速度が比較的遅く、また付加的なリフレッシュ回路を必
要とするので、半導体回路には余り使用されていない。
リフレッシュ論理回路は、ストレージ容量のチャージを
周期的に復帰するために、セルのビット・ラインに接続
する必要がある。
周期的に復帰するために、セルのビット・ラインに接続
する必要がある。
他方、例えば第9図に示したアンド・アレイ11′の2
2Aのような電子的論理フユーズは、MO5FET技術
によるスタティックRAM(SRAM)セルで実行する
ことが出来る。
2Aのような電子的論理フユーズは、MO5FET技術
によるスタティックRAM(SRAM)セルで実行する
ことが出来る。
0MO8FET技術による標準的な6デバイスSRAM
セルで構成された時の第9図のアンド・アレイ11′の
一部の細部を第10図に示す、総括的に言えば、アレイ
11′は上述の刊行物、18Mテクニカル・ディスクロ
ージャ・ブレティンに開示されたアンド・アレイと同じ
構成、換言すれは、読取り/書込みの能力を持っている
けれども、第10図の各電気論理フユーズは、上述の刊
行物のアンド・アレイとは異なった構造を持っている。
セルで構成された時の第9図のアンド・アレイ11′の
一部の細部を第10図に示す、総括的に言えば、アレイ
11′は上述の刊行物、18Mテクニカル・ディスクロ
ージャ・ブレティンに開示されたアンド・アレイと同じ
構成、換言すれは、読取り/書込みの能力を持っている
けれども、第10図の各電気論理フユーズは、上述の刊
行物のアンド・アレイとは異なった構造を持っている。
電気論理フユーズ22′Aは、ラッチ動作用の第1及び
第2の一対の交差接続されたトランジスタで構成された
書込み/読取りメモリ・セル20′Aを含んでいる。第
1の対は2個のFET、TO及びT1を含んでいる。F
ETのソース電極は高い電圧の第1の電源に接続されて
おり、FET、T2及びT3のソース電極は低い電圧の
第2の電源に接続されている0図示された例では、ただ
1つの電源が与えられており、メモリ・セル20’ A
は高い電圧(VH)と低い電圧(GND )の間でバイ
アスされている。共通ノードA及びBにおいて与えられ
るメモリ・セルの出力は、転送ゲート構造T4及びT5
に装着された2個のNチャンネルFETを介して、一対
の相補的なビット・ラインBLI及びBLIに接続され
ている。後者のFBTのゲート電極は対応するワード・
ラインWLIに接続されている。・ナンド・ゲート21
′Aは直列接続された4個のFETで構成される。
第2の一対の交差接続されたトランジスタで構成された
書込み/読取りメモリ・セル20′Aを含んでいる。第
1の対は2個のFET、TO及びT1を含んでいる。F
ETのソース電極は高い電圧の第1の電源に接続されて
おり、FET、T2及びT3のソース電極は低い電圧の
第2の電源に接続されている0図示された例では、ただ
1つの電源が与えられており、メモリ・セル20’ A
は高い電圧(VH)と低い電圧(GND )の間でバイ
アスされている。共通ノードA及びBにおいて与えられ
るメモリ・セルの出力は、転送ゲート構造T4及びT5
に装着された2個のNチャンネルFETを介して、一対
の相補的なビット・ラインBLI及びBLIに接続され
ている。後者のFBTのゲート電極は対応するワード・
ラインWLIに接続されている。・ナンド・ゲート21
′Aは直列接続された4個のFETで構成される。
PチャンネルFET、T6及びT7と、NチャンネルF
ET%T18及びT19の組合せは、ナンド論理動作を
行う、FET、T7及びT8はメモリ・セルの共通ノー
ドBに接続され、T6及びT9のゲート電極は、19A
で示された積項ラインPTIに接続されている。ナンド
・ゲート21′Aの出力信号はライン23AのノードC
で与えられる。最後に、すべてのワード・ライン(例え
ばWL1)は、ワード・ラインのデコーダ/ドライバの
ブロック27に接続され、そしてビット・ライン(例え
ばBLI )は、ビット・ライン書込みドライバのブロ
ック28に接続されている。
ET%T18及びT19の組合せは、ナンド論理動作を
行う、FET、T7及びT8はメモリ・セルの共通ノー
ドBに接続され、T6及びT9のゲート電極は、19A
で示された積項ラインPTIに接続されている。ナンド
・ゲート21′Aの出力信号はライン23AのノードC
で与えられる。最後に、すべてのワード・ライン(例え
ばWL1)は、ワード・ラインのデコーダ/ドライバの
ブロック27に接続され、そしてビット・ライン(例え
ばBLI )は、ビット・ライン書込みドライバのブロ
ック28に接続されている。
第10図に示されているようにストレージ素子としての
代表的なSRAMセルを使用することによって、読取り
/書込みの能力が与えられた時、第11図に示したPL
A回路10′によって「可変」内容を持つPLAが模式
的に示されている。
代表的なSRAMセルを使用することによって、読取り
/書込みの能力が与えられた時、第11図に示したPL
A回路10′によって「可変」内容を持つPLAが模式
的に示されている。
インバータのブロック16′、感知増幅器/ラッチのブ
ロック17′及びデコーダのブロック18′は第8図に
示した対応するブロックと全く同じである。大きく異な
っているのは、上述した読取り/書込みの能力を遂行す
るのに必要な新しい回路である。アンド・アレイ11′
は、WLIのようなワード・ラインを駆動するワード・
デコーダのブロック27と、BLIのようなビット・ラ
インを駆動するビット・ライン書込みドライバのブロッ
ク28とによって動作される。ワード・デコーダのブロ
ック29とビット・ライン書込みドライバのブロック3
0とによって、オア・アレイ12′に対して同じような
構成が与えられる。使用される技術の技術的理由によっ
て(MO5FET%CMO5FET等々)、例えばML
Iのような「整合ライン」上の信号は、例えばMLI’
のような「整合出力ライン」上のインバータのブロック
16′の出力において補数化される必要があることは注
意を要する。
ロック17′及びデコーダのブロック18′は第8図に
示した対応するブロックと全く同じである。大きく異な
っているのは、上述した読取り/書込みの能力を遂行す
るのに必要な新しい回路である。アンド・アレイ11′
は、WLIのようなワード・ラインを駆動するワード・
デコーダのブロック27と、BLIのようなビット・ラ
インを駆動するビット・ライン書込みドライバのブロッ
ク28とによって動作される。ワード・デコーダのブロ
ック29とビット・ライン書込みドライバのブロック3
0とによって、オア・アレイ12′に対して同じような
構成が与えられる。使用される技術の技術的理由によっ
て(MO5FET%CMO5FET等々)、例えばML
Iのような「整合ライン」上の信号は、例えばMLI’
のような「整合出力ライン」上のインバータのブロック
16′の出力において補数化される必要があることは注
意を要する。
1デバイスDRAMセルか、または6デバイスSRAM
セルかの何れかによって実行された時、電子論理フユー
ズ22Aは、そのバイナリ内容がユーザによって自由に
変更できるので、再プログラム可能な論理フユーズ、即
ち再プログラム可能論理フユーズ(RLF)と言うこと
が出来る。
セルかの何れかによって実行された時、電子論理フユー
ズ22Aは、そのバイナリ内容がユーザによって自由に
変更できるので、再プログラム可能な論理フユーズ、即
ち再プログラム可能論理フユーズ(RLF)と言うこと
が出来る。
若し、アンド・アレイ11′の第1列が第10図の再プ
ロプラムすることの出来る論理フユーズ(以下、再プロ
グラム可能論理フユーズ、またはRLFという)22’
Aによって実施されたとすれば、基本的なデバイスの
数は、 (a) 電子的論理フユーズ(22′A、、、、)に
関しては、 (+)12個の読取り/書込みラッチ(夫々に6個のデ
バイスが必要) (l+) 12個のアンド・ゲート(夫々に4個のデ
バイスが必要) (b) 論理ブロック26に間しては、(1)3個の
4入力オア・ゲート(夫々に8個のデバイスが必要) (ii) 1個の入力アンド・ゲート(夫々に6個の
デバイスが必要) である。
ロプラムすることの出来る論理フユーズ(以下、再プロ
グラム可能論理フユーズ、またはRLFという)22’
Aによって実施されたとすれば、基本的なデバイスの
数は、 (a) 電子的論理フユーズ(22′A、、、、)に
関しては、 (+)12個の読取り/書込みラッチ(夫々に6個のデ
バイスが必要) (l+) 12個のアンド・ゲート(夫々に4個のデ
バイスが必要) (b) 論理ブロック26に間しては、(1)3個の
4入力オア・ゲート(夫々に8個のデバイスが必要) (ii) 1個の入力アンド・ゲート(夫々に6個の
デバイスが必要) である。
その結果、第9図に示された回路例のただ1つの列だけ
を実行するために、150個のデバイスが必要である。
を実行するために、150個のデバイスが必要である。
上述のアプローチは、密度の観点から見ても、書込みラ
インの長さの観点から見ても、伝播遅延の観点から見て
も不満足である。特に、第9図に示した回路例において
、伝播遅延は3層の論理構造に跨がる。第1の層は積項
ライン(例えば19A)によって供給されるアンド・ゲ
ート(例えば21A)を含み、他の2つの層はオア・ゲ
ート(例えば24A)と、整合ラインMLIで信号が与
えられるアンド・ゲー)(25’)とを含んでいる。上
述の論理ブロック26を形成するこれらのオア・ゲート
及びアンド・ゲートは、遅延時間を増加し、且つ回路全
体の密度を低下する。
インの長さの観点から見ても、伝播遅延の観点から見て
も不満足である。特に、第9図に示した回路例において
、伝播遅延は3層の論理構造に跨がる。第1の層は積項
ライン(例えば19A)によって供給されるアンド・ゲ
ート(例えば21A)を含み、他の2つの層はオア・ゲ
ート(例えば24A)と、整合ラインMLIで信号が与
えられるアンド・ゲー)(25’)とを含んでいる。上
述の論理ブロック26を形成するこれらのオア・ゲート
及びアンド・ゲートは、遅延時間を増加し、且つ回路全
体の密度を低下する。
この欠点は、上述したアンド・ゲート25に使われる技
術の技術的な弱点のために、積項の数が増えるに従って
増大する。
術の技術的な弱点のために、積項の数が増えるに従って
増大する。
上述の説明によって、従来の技術による読取り/書込み
論理アレイの持つ弱点が理解出来た。従って、上述した
従来技術の持つ幾つかの問題点のうちの1つでも解決す
ることが出来れば、それは大変望ましいことであり、こ
れらの問題を解決することが本発明の主たる目的である
。
論理アレイの持つ弱点が理解出来た。従って、上述した
従来技術の持つ幾つかの問題点のうちの1つでも解決す
ることが出来れば、それは大変望ましいことであり、こ
れらの問題を解決することが本発明の主たる目的である
。
C0発明が解決しようとする問題点
従って、本発明の目的は、回路の全体的な性能を向上さ
せるために、より小さな半導体チップの面積と、顕著に
短縮された伝播遅延とを必要とする論理アレイの実現を
計ったCMO8FET技術の再プログラム可能論理フユ
ーズを提供することにある。
せるために、より小さな半導体チップの面積と、顕著に
短縮された伝播遅延とを必要とする論理アレイの実現を
計ったCMO8FET技術の再プログラム可能論理フユ
ーズを提供することにある。
本発明の他の目的は、論理アレイ内における補助的な論
理回路の使用を回避するために、純粋な論理間数/ドツ
ト能力を持つ論理アレイに使用される再プログラム可能
論理フユーズを提供することにある。
理回路の使用を回避するために、純粋な論理間数/ドツ
ト能力を持つ論理アレイに使用される再プログラム可能
論理フユーズを提供することにある。
本発明の他の目的は、再プロプラム用の高い電圧、また
は特別なツールの使用を回避するために、電圧源及び信
号の振幅の点で、標準的なRAMの要件と完全に両立す
る論理プレイを使用した再プログラム可能論理フユーズ
を提供することにある。
は特別なツールの使用を回避するために、電圧源及び信
号の振幅の点で、標準的なRAMの要件と完全に両立す
る論理プレイを使用した再プログラム可能論理フユーズ
を提供することにある。
本発明の他の目的は、高密度のPLA用の回路の構成に
多数使用することの出来る再プログラム可能論理フユー
ズを提供することにある。
多数使用することの出来る再プログラム可能論理フユー
ズを提供することにある。
D1問題点を解決するための手段
本発明は、標準的なスタティック・ランダム・アクセス
・メモリ(SRAM)デザインに使用されているセル構
造と同様なSRAMセル構造に基づく新規なブログム可
能な論理フユーズ(RLF)である0本発明に従って、
ビットのパーソナリティ用の制御データをストアするた
めのストレージ素子を形成するために、6デバイス・セ
ルのうちの4個のデバイスが、公知の態様で接続される
。
・メモリ(SRAM)デザインに使用されているセル構
造と同様なSRAMセル構造に基づく新規なブログム可
能な論理フユーズ(RLF)である0本発明に従って、
ビットのパーソナリティ用の制御データをストアするた
めのストレージ素子を形成するために、6デバイス・セ
ルのうちの4個のデバイスが、公知の態様で接続される
。
5番目のデバイスは、ストレージ素子に使用され、制御
データを書込むために使用される。このデバイスは、ス
トレージ素子のビット・ライン及び第1の共通ノードと
の間の転送ゲート構造を構成するように接続される。5
番目のデバイスのゲート電極はワード・ラインに接続さ
れる。6番目のデバイスは、アンド機能を行うが、より
総括的に言えば、6番目のデバイスは、秀れた論理的ア
ンド/オア・ドツト能力を持っている。この6番目のデ
バイスは、転送ゲートとして、即ちスイッチ機能を行う
ように接続されている0本発明の実施例において、転送
ゲート構造を持つ6番目のデバイスは、ストレージ素子
の第2の共通ノードと、制御ラインとの間に接続されて
いる0本発明の装置がPL八へ路に接続された時、6デ
バイス密度AMセルは、デ・モルガンの基本規則で知ら
れているような適当な極性の入力信号を印加することに
よって、簡単にアンド機能、またはオア機能(どちらの
アレイが関連しているかに従って)を遂行する。このセ
ルは標準的なSTAMセルとして、ソフトウェアでパー
ソナリゼーションが出来る。
データを書込むために使用される。このデバイスは、ス
トレージ素子のビット・ライン及び第1の共通ノードと
の間の転送ゲート構造を構成するように接続される。5
番目のデバイスのゲート電極はワード・ラインに接続さ
れる。6番目のデバイスは、アンド機能を行うが、より
総括的に言えば、6番目のデバイスは、秀れた論理的ア
ンド/オア・ドツト能力を持っている。この6番目のデ
バイスは、転送ゲートとして、即ちスイッチ機能を行う
ように接続されている0本発明の実施例において、転送
ゲート構造を持つ6番目のデバイスは、ストレージ素子
の第2の共通ノードと、制御ラインとの間に接続されて
いる0本発明の装置がPL八へ路に接続された時、6デ
バイス密度AMセルは、デ・モルガンの基本規則で知ら
れているような適当な極性の入力信号を印加することに
よって、簡単にアンド機能、またはオア機能(どちらの
アレイが関連しているかに従って)を遂行する。このセ
ルは標準的なSTAMセルとして、ソフトウェアでパー
ソナリゼーションが出来る。
この構造は、論理条件の変更を、高い柔軟性の下で、ユ
ーザのソフトウェアによって容易に再構成することを可
能とする。本発明は、カードとがサブアセンブリのレベ
ルでの変更を要することなく、VLS 夏のエンジニャ
リング・チェンジをする能力をユーザに与えることが出
来る。また、本発明は、VLS Iのデザインに際して
、VLSIの設計者の間に合せ能力を与える。論理アレ
イに本発明の再プログラム可能論理フユーズを形成する
場合、使用されるデバイスの数が非常に少ないので、デ
バイス密度の高い再プログラム可能論理アレイ、即ち再
ロード可能な論理アレイを与える。
ーザのソフトウェアによって容易に再構成することを可
能とする。本発明は、カードとがサブアセンブリのレベ
ルでの変更を要することなく、VLS 夏のエンジニャ
リング・チェンジをする能力をユーザに与えることが出
来る。また、本発明は、VLS Iのデザインに際して
、VLSIの設計者の間に合せ能力を与える。論理アレ
イに本発明の再プログラム可能論理フユーズを形成する
場合、使用されるデバイスの数が非常に少ないので、デ
バイス密度の高い再プログラム可能論理アレイ、即ち再
ロード可能な論理アレイを与える。
加えて、論理条件の変更に際して、エンジニャリング・
チェンジは、ハードウェアの変更(配線の変更)を含ま
ず、PLAチップのマクロ・プログラムにロードされる
僅かな数のコードを変更するだけでよい。
チェンジは、ハードウェアの変更(配線の変更)を含ま
ず、PLAチップのマクロ・プログラムにロードされる
僅かな数のコードを変更するだけでよい。
E、実施例
第1図は本発明の再プログラム可能な論理フユーズ(R
eprogrammable Logic Fuse−
RL F )の細部を示す図である。このRLFは上述
した論理アレイの交差点(ビット・ライン/ワード・ラ
イン及び入力ライン/出力ラインの交差点)の各交差部
に配置されるように設計されており、0MO5FET技
術による6デバイスの標準的なスタティック(静止型)
ランダム・アクセス・メモリ・セル、即ちSRAMセル
を基礎としている。然しながら、本発明のRLFは、こ
の特定の技術に限定されるものではない、4個の交差接
続デバイスQ1乃至Q4を含むラッチは、RLFのスト
レージ素子SEを構成している。CMO5技術において
、ストレージ素子SEは、2個のPチャンネルFET。
eprogrammable Logic Fuse−
RL F )の細部を示す図である。このRLFは上述
した論理アレイの交差点(ビット・ライン/ワード・ラ
イン及び入力ライン/出力ラインの交差点)の各交差部
に配置されるように設計されており、0MO5FET技
術による6デバイスの標準的なスタティック(静止型)
ランダム・アクセス・メモリ・セル、即ちSRAMセル
を基礎としている。然しながら、本発明のRLFは、こ
の特定の技術に限定されるものではない、4個の交差接
続デバイスQ1乃至Q4を含むラッチは、RLFのスト
レージ素子SEを構成している。CMO5技術において
、ストレージ素子SEは、2個のPチャンネルFET。
Ql及びQ2と、2個のNチャンネルFET、Q3及び
Q4とで構成されている。第5のデバイスのNチャンネ
ルFET、Q5は転送ゲート構造に接続されており、そ
のゲート電極はワード・ライン信号を伝送するワード・
ラインWLに接続されており、そのソース電極はビット
・ライン信号を伝送するビット・ラインBLに接続され
ている。
Q4とで構成されている。第5のデバイスのNチャンネ
ルFET、Q5は転送ゲート構造に接続されており、そ
のゲート電極はワード・ライン信号を伝送するワード・
ラインWLに接続されており、そのソース電極はビット
・ライン信号を伝送するビット・ラインBLに接続され
ている。
Q5のドレイン電極はラッチの第1の共通ノードAに接
続されている。NチャンネルFET%Q5は、RLFが
論理アレイに配列された時、関連するストレージ素子S
Rを単独で選択し、所望の制御データを書込んで、ビッ
トの適正なパーソナリティをそのストレージ素子に保持
させる。標準的な6デバイスのSRAMセルのアドレス
/書込み手段は、2個のデバイス(第10図におけるT
4及びT5)が共通に使用される構成にされているのと
は異なって、本発明におけるアドレス/書込み手段は、
1個のデバイス(Q5)を使用するだけである。従来の
装置で使用されていた6番目のデバイスQ6は余分にな
るから、この6番目のデバイスは、正電圧に接続されて
いる整合ラインに関連付けられて、使用される論理の型
(正電位か負電位)に従って、アンド/ナンド機能か、
またはオア/ノア機能かの何れかに選択する役割を持た
せることが出来る。加えて、これは、上述したデ・モル
ガンの規則に従って、実施例のアンド・アレイ中のアン
ド関数か、またはオア・アレイ中のオア関数の何れかを
保証する。第1図に示した実施例において、このQ6の
FETデバイスは、転送ゲート構造になるように接続さ
れたNチャンネルFETである。NチャンネルFET、
Q6のゲート電極は、制御ラインIL(この実施例の場
合、入力信号を転送する入力ライン)に接続され、その
ドレイン電極は、出力信号を転送する出力ラインOLに
接続され、そして、そのソース電極は、ラッチの第2の
共通ノードBに接続されている。
続されている。NチャンネルFET%Q5は、RLFが
論理アレイに配列された時、関連するストレージ素子S
Rを単独で選択し、所望の制御データを書込んで、ビッ
トの適正なパーソナリティをそのストレージ素子に保持
させる。標準的な6デバイスのSRAMセルのアドレス
/書込み手段は、2個のデバイス(第10図におけるT
4及びT5)が共通に使用される構成にされているのと
は異なって、本発明におけるアドレス/書込み手段は、
1個のデバイス(Q5)を使用するだけである。従来の
装置で使用されていた6番目のデバイスQ6は余分にな
るから、この6番目のデバイスは、正電圧に接続されて
いる整合ラインに関連付けられて、使用される論理の型
(正電位か負電位)に従って、アンド/ナンド機能か、
またはオア/ノア機能かの何れかに選択する役割を持た
せることが出来る。加えて、これは、上述したデ・モル
ガンの規則に従って、実施例のアンド・アレイ中のアン
ド関数か、またはオア・アレイ中のオア関数の何れかを
保証する。第1図に示した実施例において、このQ6の
FETデバイスは、転送ゲート構造になるように接続さ
れたNチャンネルFETである。NチャンネルFET、
Q6のゲート電極は、制御ラインIL(この実施例の場
合、入力信号を転送する入力ライン)に接続され、その
ドレイン電極は、出力信号を転送する出力ラインOLに
接続され、そして、そのソース電極は、ラッチの第2の
共通ノードBに接続されている。
例えばアンド/ナンドのような所望の論理関数は、入力
信号とストレージ素子SHにストアされた制御データの
表示であるノードBの信号との間で得られ、そして、そ
の結果は、出力ラインOLに現われる。換言すれば、ラ
インILの入力信号と、ノードBに与えられた信号(S
Rにストアされた制御データを表わす信号)との闇の「
不整合」は、正の電圧に事前充電された整合ラインML
Iと、整合ラインMLIに接続されたドレイン電極を持
つ転送ゲート(例えばQ6)の動作とを組合せることに
よって、セル(例えば第3図に示されたRLFI 1乃
至RLFlm)の全ラインに対して検出される。整合/
不整合の検出の細部については後述する。一方の側にあ
るビット・ラインBL及びワード・ラインWLと、他方
の側にある入力ラインIL及び出力ラインOLとは、2
つの絶縁された(非導通性)交差点を画定する。
信号とストレージ素子SHにストアされた制御データの
表示であるノードBの信号との間で得られ、そして、そ
の結果は、出力ラインOLに現われる。換言すれば、ラ
インILの入力信号と、ノードBに与えられた信号(S
Rにストアされた制御データを表わす信号)との闇の「
不整合」は、正の電圧に事前充電された整合ラインML
Iと、整合ラインMLIに接続されたドレイン電極を持
つ転送ゲート(例えばQ6)の動作とを組合せることに
よって、セル(例えば第3図に示されたRLFI 1乃
至RLFlm)の全ラインに対して検出される。整合/
不整合の検出の細部については後述する。一方の側にあ
るビット・ラインBL及びワード・ラインWLと、他方
の側にある入力ラインIL及び出力ラインOLとは、2
つの絶縁された(非導通性)交差点を画定する。
出カラインOL上に所望の「整合」の検出を行うために
、ストレージ素子SHにストアされた制御データと、入
力ラインTLに与えられるディジタル信号とを組合せる
ことがNチャンネルFETの主な役割である。後に明ら
かになるように、NチャンネルFET、Q6は、出力ラ
インOLにオア・ドツト(ORdotting )を与
える。
、ストレージ素子SHにストアされた制御データと、入
力ラインTLに与えられるディジタル信号とを組合せる
ことがNチャンネルFETの主な役割である。後に明ら
かになるように、NチャンネルFET、Q6は、出力ラ
インOLにオア・ドツト(ORdotting )を与
える。
使用される半導体の技術及び構造に従って、確実な動作
を行うために、入力ライン及び出力ラインに印加される
電圧の振れにある制限が与えられる。この点については
、後で細部する。
を行うために、入力ライン及び出力ラインに印加される
電圧の振れにある制限が与えられる。この点については
、後で細部する。
NチャンネルFET、Q6に関する限り、第2図に示さ
れたように、異なった構造と、異なった導電性型とを使
用することが出来る。デバイスQ6は、転送ゲート構造
(第2a図)に接続されたPチャンネルFETでもよい
し、あるいは、スイッチ構造(第2B図、第2C図)に
接続されたNチャンネルFETかPチャンネルFETの
何れかであってもよい。
れたように、異なった構造と、異なった導電性型とを使
用することが出来る。デバイスQ6は、転送ゲート構造
(第2a図)に接続されたPチャンネルFETでもよい
し、あるいは、スイッチ構造(第2B図、第2C図)に
接続されたNチャンネルFETかPチャンネルFETの
何れかであってもよい。
第3図は、本発明の再プログラム可能論理フユーズ(R
LF)が各入力ライン/出力ラインの交差点で接続され
た時に形成される、再ロード可能なPLA(RPLA)
回路31の模式図である。RPLA31は、アンド・ア
レイ32及びオア・アレイ33の2つの基本的な論理ア
レイと、ブロック34に含まれた感知増幅器を含む一連
の付加的な回路とで構成されている。積項(入力)ゼネ
レータ、即ちデコーダ35は、入力ライン上に入力信号
、A1乃至Apを受取る。転じて、デコーダ35は、個
々の積項ラインPTI乃至PTn上にデコードされた積
項X1乃至Xmを発生する0例えば、隔離された入力の
場合、積項信号X=A1゜A2が積項ラインPTIに発
生される。実際上では、これは、pTlを正の電圧に(
他の3本の付勢されていないラインは0ボルトに留まっ
ている)上昇することによって行われる。アンド・アレ
イ32の中には、積項ラインと整合ラインとの各交差点
にRLFがある。従って、とのRLFはマトリックスの
態様で配列されている。マトリックスの第1列とアンド
・アレイ32との交差点にあるRLFは、RLFIIで
示されている。上述したように、RLFIIは6個のM
O3FETt−含んでいる。ストレージ素子5E11は
、4個の交差接続されたFET、TIO乃至T13で構
成された標準的なメモリ・セルである。5E11の第1
及び第2の共通ノードは、夫々All及びallで表わ
されている。NチャンネルFET、T14は、適正なビ
ット・パーソナリティを確立するために、ストレージ素
子中に制御データを書込む。
LF)が各入力ライン/出力ラインの交差点で接続され
た時に形成される、再ロード可能なPLA(RPLA)
回路31の模式図である。RPLA31は、アンド・ア
レイ32及びオア・アレイ33の2つの基本的な論理ア
レイと、ブロック34に含まれた感知増幅器を含む一連
の付加的な回路とで構成されている。積項(入力)ゼネ
レータ、即ちデコーダ35は、入力ライン上に入力信号
、A1乃至Apを受取る。転じて、デコーダ35は、個
々の積項ラインPTI乃至PTn上にデコードされた積
項X1乃至Xmを発生する0例えば、隔離された入力の
場合、積項信号X=A1゜A2が積項ラインPTIに発
生される。実際上では、これは、pTlを正の電圧に(
他の3本の付勢されていないラインは0ボルトに留まっ
ている)上昇することによって行われる。アンド・アレ
イ32の中には、積項ラインと整合ラインとの各交差点
にRLFがある。従って、とのRLFはマトリックスの
態様で配列されている。マトリックスの第1列とアンド
・アレイ32との交差点にあるRLFは、RLFIIで
示されている。上述したように、RLFIIは6個のM
O3FETt−含んでいる。ストレージ素子5E11は
、4個の交差接続されたFET、TIO乃至T13で構
成された標準的なメモリ・セルである。5E11の第1
及び第2の共通ノードは、夫々All及びallで表わ
されている。NチャンネルFET、T14は、適正なビ
ット・パーソナリティを確立するために、ストレージ素
子中に制御データを書込む。
最後の6番目のデバイスはNチャンネルのFET。
T15である。このNチャンネルFET%T15のゲー
ト電極は、積項ラインPTIに接続され、そのドレイン
電極は、整合ラインML1に接続されている。
ト電極は、積項ラインPTIに接続され、そのドレイン
電極は、整合ラインML1に接続されている。
6番目のデバイスのドレイン電極(例えば、RLFII
に対するT15のドレイン電極10.。
に対するT15のドレイン電極10.。
RLFlmに対するT15mのドレイン電極)は、オア
・ドツト論理機能を与えるために、整合ライン(例えば
ML1)に接続されていることを理解することは本発明
にとって重要なポイントである。
・ドツト論理機能を与えるために、整合ライン(例えば
ML1)に接続されていることを理解することは本発明
にとって重要なポイントである。
本発明においては、第9図の論理ブロック26は最早や
必要がない。
必要がない。
ストレージ素子5EII中に制御データを書込むことは
、従来と同じである。転送ゲートのNチャンネルFET
、T14が導通するように、ワード・ラインWL1e高
位(VH)に上昇し、そしてビット・ラインBLIをV
Hに上昇することによって適当なバイナリ・データ、例
えば「1」がラッチされる。VHのような正の電圧が、
第2の共通ノードBllのような、ストレージ素子5E
11の右側のノードに現われた時、論理「1」が5EI
I中にストアされたことになる。
、従来と同じである。転送ゲートのNチャンネルFET
、T14が導通するように、ワード・ラインWL1e高
位(VH)に上昇し、そしてビット・ラインBLIをV
Hに上昇することによって適当なバイナリ・データ、例
えば「1」がラッチされる。VHのような正の電圧が、
第2の共通ノードBllのような、ストレージ素子5E
11の右側のノードに現われた時、論理「1」が5EI
I中にストアされたことになる。
アンド・アレイを構成しているストレージ素子のマトリ
ックスへの書込みは、標準的な付属的回路、即ちワード
・ラインのドライバ回路及びデコード回路を含む論理ブ
ロック36と、すべてのビット・ライン書込みドライバ
回路を含む論理ブロック37とによって行われる。
ックスへの書込みは、標準的な付属的回路、即ちワード
・ラインのドライバ回路及びデコード回路を含む論理ブ
ロック36と、すべてのビット・ライン書込みドライバ
回路を含む論理ブロック37とによって行われる。
また、PTI乃至PTnで表わされた積項ラインは、ア
ンド入力ラインを表わし、他方、Xl乃至Xmで表わさ
れた積項信号は、アンド入力の信号(アンド入力1の信
号500.アンド入力nの信号)を表わす、また、ML
I乃至MLnで表わされた整合ラインは、アンド出力ラ
インを表わし、他方、アンド項1乃至nは、アンド出力
信号(アンド出力1の信号及びアンド出力nの信号)で
ある。
ンド入力ラインを表わし、他方、Xl乃至Xmで表わさ
れた積項信号は、アンド入力の信号(アンド入力1の信
号500.アンド入力nの信号)を表わす、また、ML
I乃至MLnで表わされた整合ラインは、アンド出力ラ
インを表わし、他方、アンド項1乃至nは、アンド出力
信号(アンド出力1の信号及びアンド出力nの信号)で
ある。
第3図に示された特定の回路を用いて、「整合」検出動
作を以下に説明する。既に説明したように、積項ライン
(例えばPT1)は、選択されると正電圧であり、選択
されなければOボルトである。
作を以下に説明する。既に説明したように、積項ライン
(例えばPT1)は、選択されると正電圧であり、選択
されなければOボルトである。
ノードBが正電圧の時、SRセルは論理「1」がストア
されている。「整合」ラインMLは、サイクルの始めに
正電圧に事前充電される。転送ゲートに接続されたFE
T、T15の導通は、FET、T15のゲート電極(積
項ラインPTに接続されている電極)がFET、T15
のソース電極(セルSEのノードBに接続されている電
極)に対して正電圧である時に生じる。換言すれば、転
送ゲートT15の導通は、正電圧にされた積項ラインP
Tに対応するセルSE中に、論理「0」(ノードBが0
ボルト)がストアされた時にのみ生じる。
されている。「整合」ラインMLは、サイクルの始めに
正電圧に事前充電される。転送ゲートに接続されたFE
T、T15の導通は、FET、T15のゲート電極(積
項ラインPTに接続されている電極)がFET、T15
のソース電極(セルSEのノードBに接続されている電
極)に対して正電圧である時に生じる。換言すれば、転
送ゲートT15の導通は、正電圧にされた積項ラインP
Tに対応するセルSE中に、論理「0」(ノードBが0
ボルト)がストアされた時にのみ生じる。
これは、与えられたデコード入力ライン上の「不整合」
状態に対応する。MLI上に最初に正電圧に事前に充電
された電圧が、T15、ノードB及びセル5EIIのト
ランジスタT13とを介して、グランド電位に放電した
時に、転送ゲート(例えばT15)の導通が発生する(
T15のドレイン電極は「整合」ラインMLIに接続さ
れている)。
状態に対応する。MLI上に最初に正電圧に事前に充電
された電圧が、T15、ノードB及びセル5EIIのト
ランジスタT13とを介して、グランド電位に放電した
時に、転送ゲート(例えばT15)の導通が発生する(
T15のドレイン電極は「整合」ラインMLIに接続さ
れている)。
従って、与えられた整合ラインMLに沿って発生したす
べての「不整合」は、そのラインを非選択にする(これ
はデ・モルガンの規則に従って、「整合」アンド関数と
等価である)、「整合」ラインに最初に事前に充電され
た正の電圧に留まっている「整合」ラインだけが、選択
されたラインと見做される。
べての「不整合」は、そのラインを非選択にする(これ
はデ・モルガンの規則に従って、「整合」アンド関数と
等価である)、「整合」ラインに最初に事前に充電され
た正の電圧に留まっている「整合」ラインだけが、選択
されたラインと見做される。
第3図に示された特定の実施例において、例えばMLI
のような「整合」ラインは、感知増幅器とラッチとで構
成されている一連の回路34.1乃至34.nを介して
オア・アレイ33に接続されている。整合ラインMLI
乃至MLn上のn個の感知回路34.1乃至34.nの
すべては、参照数字34で示された整合ライン感知増幅
器/ラッチ(MLSA)のブロック34に含まれている
。
のような「整合」ラインは、感知増幅器とラッチとで構
成されている一連の回路34.1乃至34.nを介して
オア・アレイ33に接続されている。整合ラインMLI
乃至MLn上のn個の感知回路34.1乃至34.nの
すべては、参照数字34で示された整合ライン感知増幅
器/ラッチ(MLSA)のブロック34に含まれている
。
MLSAのブロック34は、アンド・アレイ動作の最後
において整合ラインの状態をストアするRPLAの主要
部である。これは、次に続くオア・アレイ33の動作の
闇で、整合ラインを、その初期の正電圧に再度予備充電
させる。このことは、RPLAの高い性能を達成するた
めの重要な特色である。
において整合ラインの状態をストアするRPLAの主要
部である。これは、次に続くオア・アレイ33の動作の
闇で、整合ラインを、その初期の正電圧に再度予備充電
させる。このことは、RPLAの高い性能を達成するた
めの重要な特色である。
第3図の実施例に示した特定のオア・アレイ33に従う
と、ブロック34の出力はすべての整合ラインの真数状
態、または補数状態をオア・アレイに伝達することが出
来る。第3図に示した特定の実施例においては、「選択
された」アンド・アレイ32の整合ラインMLに対応す
る出力である正電圧がオア・アレイ33に伝達される。
と、ブロック34の出力はすべての整合ラインの真数状
態、または補数状態をオア・アレイに伝達することが出
来る。第3図に示した特定の実施例においては、「選択
された」アンド・アレイ32の整合ラインMLに対応す
る出力である正電圧がオア・アレイ33に伝達される。
然しながら、例えば、アンド・アレイがNチャンネルF
ETで作られており、且つオア・アレイがPチャンネル
FETで作られているような特別の装置の場合、補数化
動作や、増幅動作などが必要ないので、MLSAブロッ
ク34は、必要がなくなる。この場合、RPLA回路は
組合せ的論理回路と同様に動作する。
ETで作られており、且つオア・アレイがPチャンネル
FETで作られているような特別の装置の場合、補数化
動作や、増幅動作などが必要ないので、MLSAブロッ
ク34は、必要がなくなる。この場合、RPLA回路は
組合せ的論理回路と同様に動作する。
オア・アレイ33はアンド・アレイ32と同じ構造を持
っている。従って、RLF’llは6個のFET、即ち
T10′乃至T15′を含んでいる。RLF’ 11に
おいて、NチャンネルFET15′のドレイン電極は、
オア出力ラインORIに接続されているが、そのゲート
電極は整合出力ラインMLIに接続されている(感知増
幅器34゜1において増幅され補数化された後のMLI
のディジタル信号)、また、オア・アレイ出力信号P1
乃至Pkはクロック信号の制御の下で増幅され、ラッチ
される。オア・アレイ出力信号P1乃至Pkは対応する
回路38.1乃至38.kに印加され、それらの回路3
8.1乃至38.には、異なった機能を持っているが、
本質的には、感知増幅器とラッチとで構成されている。
っている。従って、RLF’llは6個のFET、即ち
T10′乃至T15′を含んでいる。RLF’ 11に
おいて、NチャンネルFET15′のドレイン電極は、
オア出力ラインORIに接続されているが、そのゲート
電極は整合出力ラインMLIに接続されている(感知増
幅器34゜1において増幅され補数化された後のMLI
のディジタル信号)、また、オア・アレイ出力信号P1
乃至Pkはクロック信号の制御の下で増幅され、ラッチ
される。オア・アレイ出力信号P1乃至Pkは対応する
回路38.1乃至38.kに印加され、それらの回路3
8.1乃至38.には、異なった機能を持っているが、
本質的には、感知増幅器とラッチとで構成されている。
結果の出力信号は、参照記号、01乃至Okで示されて
いる。上記の回路38.1乃至38.にのすべては、出
力感知増幅器/ラッチのブロック38に含まれている。
いる。上記の回路38.1乃至38.にのすべては、出
力感知増幅器/ラッチのブロック38に含まれている。
また、ワード・ライン・デコーダのブロック39及びビ
ット・ライン書込みドライバのブロック40がオア・ア
レイに与えられている。RPL八回へ31の出力信号0
1乃至Okが、ブロック38の出力端子における出力ラ
イン束38aに与えられる。
ット・ライン書込みドライバのブロック40がオア・ア
レイに与えられている。RPL八回へ31の出力信号0
1乃至Okが、ブロック38の出力端子における出力ラ
イン束38aに与えられる。
また、整合出力ラインML’ 1乃至ML’ nは、
オア入力信号(オア入力1の信号100.オア入力nの
信号)を伝播するオア・アレイの入力ラインを表わす、
OR1乃至ORkで示されたオア出力ラインは、Pl乃
至Pkで表わされたオア出力信号(オア出力1の信号1
00.オア出力nの信号)を伝播する。
オア入力信号(オア入力1の信号100.オア入力nの
信号)を伝播するオア・アレイの入力ラインを表わす、
OR1乃至ORkで示されたオア出力ラインは、Pl乃
至Pkで表わされたオア出力信号(オア出力1の信号1
00.オア出力nの信号)を伝播する。
第3図を参照して、オア・アレイ33の動作を以下に説
明する。第3図に示された特定の実施例において、Nチ
ャンネルFETの転送ゲートは、オア・アレイのセルS
E’をオア・ラインORI乃至ORkに接続するために
使用される。オア・ラインはアンド・アレイ動作の間で
、正の電圧に初期充電される。オア・アレイのセルSE
’ は、それらのノードB(転送ゲートT15′のソー
ス電極に接続されている)が接地電位にある時、論理「
1」がストアされたと称される(「正の論理」がアンド
・アレイにおいて使用されている間、「負の論理」に反
転する)、ブロック34の出力によって駆動されるML
’ 1のような整合出力ラインは、MLIのような対
応する整合ライン上のアンド・アレイに「整合」が生じ
た時、正の電圧になる。転送ゲートT15’ は、T1
5′のゲート電極(整合出力ラインに接続されている)
が、そのソース電極(セルSR’のノードBに接続され
ている)に対して正電位になった時に導通する。
明する。第3図に示された特定の実施例において、Nチ
ャンネルFETの転送ゲートは、オア・アレイのセルS
E’をオア・ラインORI乃至ORkに接続するために
使用される。オア・ラインはアンド・アレイ動作の間で
、正の電圧に初期充電される。オア・アレイのセルSE
’ は、それらのノードB(転送ゲートT15′のソー
ス電極に接続されている)が接地電位にある時、論理「
1」がストアされたと称される(「正の論理」がアンド
・アレイにおいて使用されている間、「負の論理」に反
転する)、ブロック34の出力によって駆動されるML
’ 1のような整合出力ラインは、MLIのような対
応する整合ライン上のアンド・アレイに「整合」が生じ
た時、正の電圧になる。転送ゲートT15’ は、T1
5′のゲート電極(整合出力ラインに接続されている)
が、そのソース電極(セルSR’のノードBに接続され
ている)に対して正電位になった時に導通する。
換言すれば、転送ゲートT15′は、セルが論理「1」
(ノードBがOボルト)をストアしており、且つ整合出
力ラインML’が選択状態(正電圧)にある時に導通す
る。転送ゲートT15′が導通すると、予備充電された
オア・ラインの正電圧は、T15’、ノードB及びセル
SE’のT13′を介して、接地電位に放電される。オ
ア・ラインの正電圧が接地電位に放電されるというこの
動作は、オア・ライン(オア・アレイに使用されている
論理「1」のオア関数、即ち負の論理)に接続されてい
るすべてのセルの導通に対して当て嵌まる。
(ノードBがOボルト)をストアしており、且つ整合出
力ラインML’が選択状態(正電圧)にある時に導通す
る。転送ゲートT15′が導通すると、予備充電された
オア・ラインの正電圧は、T15’、ノードB及びセル
SE’のT13′を介して、接地電位に放電される。オ
ア・ラインの正電圧が接地電位に放電されるというこの
動作は、オア・ライン(オア・アレイに使用されている
論理「1」のオア関数、即ち負の論理)に接続されてい
るすべてのセルの導通に対して当て嵌まる。
例えばRLFIIのような再プログラム可能論理フユー
ズのアンド・アレイにおいて、入力ライン及び出力ライ
ンは、夫々、PTIのような積項ラインと、MLIのよ
うな整合ラインであることを認識することは、本発明を
正しく理解するために重要なポイントである。同様に、
オア・アレイにおいて、例えばRLF’llのような再
プログラム可能論理フユーズのオア・アレイにおいて、
入力ライン及び出力ラインは夫々、ML’ 1のよう
な整合出力ラインと、ORIのようなオア出力ラインで
あることも注意を払う必要がある。
ズのアンド・アレイにおいて、入力ライン及び出力ライ
ンは、夫々、PTIのような積項ラインと、MLIのよ
うな整合ラインであることを認識することは、本発明を
正しく理解するために重要なポイントである。同様に、
オア・アレイにおいて、例えばRLF’llのような再
プログラム可能論理フユーズのオア・アレイにおいて、
入力ライン及び出力ラインは夫々、ML’ 1のよう
な整合出力ラインと、ORIのようなオア出力ラインで
あることも注意を払う必要がある。
第3図の特定の実施例を更に参照すると、MLlの出力
ラインと同じ出力ラインに接続されているセル間の混線
を回避すること、即ち′FC″LFI 1のセルとRL
Flmのセルの間の不所望のコミニュケーションを回避
するために、セルの間を完全に隔離する何らかの方策が
施されねばならないことを示唆している。この問題を理
解するために、ここで、ノードBllの電位が0ボルト
であり、これに対してノードB1mの電位はVHである
と仮定する。若しPTIが高位(VH)にされたならば
、整合ラインMLIの電位はOボルトになり、同時に、
若し、積項ラインPTnが高位に上昇したとすれば、ト
ランジスタT15mは導通され、そして論理「0」がス
トレージ素子SE1mにストアされた論理「1」の上に
書°込まれることになり、これは許容し得ない状態であ
る。上記の出力ラインの電位は、入力ラインの電位(例
えばアンド・アレイ中のPTIの電位)から、FETの
閾値Vtを差し引いた電圧以上の大きさでなければなら
ない。
ラインと同じ出力ラインに接続されているセル間の混線
を回避すること、即ち′FC″LFI 1のセルとRL
Flmのセルの間の不所望のコミニュケーションを回避
するために、セルの間を完全に隔離する何らかの方策が
施されねばならないことを示唆している。この問題を理
解するために、ここで、ノードBllの電位が0ボルト
であり、これに対してノードB1mの電位はVHである
と仮定する。若しPTIが高位(VH)にされたならば
、整合ラインMLIの電位はOボルトになり、同時に、
若し、積項ラインPTnが高位に上昇したとすれば、ト
ランジスタT15mは導通され、そして論理「0」がス
トレージ素子SE1mにストアされた論理「1」の上に
書°込まれることになり、これは許容し得ない状態であ
る。上記の出力ラインの電位は、入力ラインの電位(例
えばアンド・アレイ中のPTIの電位)から、FETの
閾値Vtを差し引いた電圧以上の大きさでなければなら
ない。
上述のことを要約すると、アンド・アレイ32及びオア
・アレイ33の両方において、入力ラインの高位レベル
(論理1)がVH−Vtの値に制限されるという要件を
満たした時に、セルの間のコミニュケーションは起きな
い。同じ原理がアンド・アレイ及びオア・アレイの間の
整合ラインMLと整合出力ラインML’ に適用される
。従って、整合出力ラインの電位は、VH−2Vt以下
の低い値に維持されねばならない、換言すれば、VH−
Vtは論理「1」であり、VH−2Vtは論理「0」で
ある、整合出力ラインの低いレベル(論理O)はVH−
2Vtにクランプされる。その結果、フル電圧スイング
、即ち完全な電圧の振れ(0ボルトからVHまで)の代
りに、小さくされた電圧の振れは、アクセス時間及び消
費電力の観点からは改良する半面、「整合」/「不整合
」状態を検出するための事前充電されたライン上の非常
に小さなアナログ電圧の振れを増幅するために、ブロッ
ク34及び38に感知増幅器を設けることが必要である
。
・アレイ33の両方において、入力ラインの高位レベル
(論理1)がVH−Vtの値に制限されるという要件を
満たした時に、セルの間のコミニュケーションは起きな
い。同じ原理がアンド・アレイ及びオア・アレイの間の
整合ラインMLと整合出力ラインML’ に適用される
。従って、整合出力ラインの電位は、VH−2Vt以下
の低い値に維持されねばならない、換言すれば、VH−
Vtは論理「1」であり、VH−2Vtは論理「0」で
ある、整合出力ラインの低いレベル(論理O)はVH−
2Vtにクランプされる。その結果、フル電圧スイング
、即ち完全な電圧の振れ(0ボルトからVHまで)の代
りに、小さくされた電圧の振れは、アクセス時間及び消
費電力の観点からは改良する半面、「整合」/「不整合
」状態を検出するための事前充電されたライン上の非常
に小さなアナログ電圧の振れを増幅するために、ブロッ
ク34及び38に感知増幅器を設けることが必要である
。
低いVtのFET及び高いVtのFETと言われる異な
った閾値電圧を有するFETを使用することは、これら
の制限を回避する1つの解決方法である。然しながら、
この解決法は、かなり複雑な製造プロセスを必要とする
という意味から他の弱点を持つことになる。
った閾値電圧を有するFETを使用することは、これら
の制限を回避する1つの解決方法である。然しながら、
この解決法は、かなり複雑な製造プロセスを必要とする
という意味から他の弱点を持つことになる。
第3図のRPLA回路31の動作に必要な他の重要な制
御信号を以下に説明する0例えば、「セット論理積項」
信号、SPTは、ブロック35において、積項信号の発
生を制御する。ワード検出器36は「アドレスJADD
信号及び「セット・ワード・デコーダJSWD信号によ
って制御される。ビット・ライン・ドライバのブロック
37は、DI倍信号データ入力信号)及びWR信号(書
込み信号)の制御の下にある。最後に、整合ライン感知
増幅器/ラッチのブロック34は5SA(セット感知増
幅器の信号)、R(復帰信号)及びG(三状態クロック
)によって制御される。これらの信号及び制御クロック
の役割は、後述する。同じ回路構成がオア・アレイの付
加的論理回路にも適用される。
御信号を以下に説明する0例えば、「セット論理積項」
信号、SPTは、ブロック35において、積項信号の発
生を制御する。ワード検出器36は「アドレスJADD
信号及び「セット・ワード・デコーダJSWD信号によ
って制御される。ビット・ライン・ドライバのブロック
37は、DI倍信号データ入力信号)及びWR信号(書
込み信号)の制御の下にある。最後に、整合ライン感知
増幅器/ラッチのブロック34は5SA(セット感知増
幅器の信号)、R(復帰信号)及びG(三状態クロック
)によって制御される。これらの信号及び制御クロック
の役割は、後述する。同じ回路構成がオア・アレイの付
加的論理回路にも適用される。
また、第3図は、再ロード可能なプログラム可能論理ア
レイ、即ち1’tPLA31t−持つシリコン・チップ
に形成される回路の形状の全体像を与えるものである。
レイ、即ち1’tPLA31t−持つシリコン・チップ
に形成される回路の形状の全体像を与えるものである。
A1乃至Apはチップに印加される入力信号であり、他
方、01乃至Okは外部で処理される出力信号である。
方、01乃至Okは外部で処理される出力信号である。
第4図は、整合ライン感知増幅器/ラッチのブロック3
4中の例えば34.1のような回路を示す図である。こ
の回路は、整合ラインML’ 1を、上述したような
VH−2Vt電位に維持するためのクランプ回路42.
1と、感知後、MLlをVHの電位に復帰するための復
帰回路43,1との両方を含んでいる。1つの端子を持
つ感知増幅器44.1はMLIで与えられるディジタル
信号(アンドの出力信号)を増幅する0次に、増幅され
た信号は、MLIがVHに復帰された時、隔離目的の標
準的な三状態ドライバ回路45,1に印加される。三状
態ドライバ回路45.1は、制御クロック信号Gの制御
の下にある。然しながら、この三状態ドライバ回路は、
特定の装置における付加的な装置である。若し、アンド
・アレイがNチャンネルFETか、またはオア・アレイ
がPチャンネルFET、またはその逆で実施されたなら
ば、三試態ドライバ回路は極めて有用な機能を果たす、
PチャンネルFETの寸法はNチャンネルFETの寸法
よりも大きいことは当業者に知られている。出力信号は
整合出力ラインML’ 1に充当された極性を持つ信
号をラッチするために、ラッチ46.1に印加される。
4中の例えば34.1のような回路を示す図である。こ
の回路は、整合ラインML’ 1を、上述したような
VH−2Vt電位に維持するためのクランプ回路42.
1と、感知後、MLlをVHの電位に復帰するための復
帰回路43,1との両方を含んでいる。1つの端子を持
つ感知増幅器44.1はMLIで与えられるディジタル
信号(アンドの出力信号)を増幅する0次に、増幅され
た信号は、MLIがVHに復帰された時、隔離目的の標
準的な三状態ドライバ回路45,1に印加される。三状
態ドライバ回路45.1は、制御クロック信号Gの制御
の下にある。然しながら、この三状態ドライバ回路は、
特定の装置における付加的な装置である。若し、アンド
・アレイがNチャンネルFETか、またはオア・アレイ
がPチャンネルFET、またはその逆で実施されたなら
ば、三試態ドライバ回路は極めて有用な機能を果たす、
PチャンネルFETの寸法はNチャンネルFETの寸法
よりも大きいことは当業者に知られている。出力信号は
整合出力ラインML’ 1に充当された極性を持つ信
号をラッチするために、ラッチ46.1に印加される。
相補的なP型及びN型デバイスで構成された第3図の特
定の実施例に関して、ラッチ46.1においてラッチさ
れたディジタル信号は、整合ラインMLIに印加された
入力信号の極性に対して反対の極性を持っていることは
注意を要する。
定の実施例に関して、ラッチ46.1においてラッチさ
れたディジタル信号は、整合ラインMLIに印加された
入力信号の極性に対して反対の極性を持っていることは
注意を要する。
ML’ 1のような整合出力ラインがVH−2Vtの
電位にクランプするために、ラッチ46: 1及び三状
態ドライバ回路45.1はその電圧の電源にバイアスさ
れる。
電位にクランプするために、ラッチ46: 1及び三状
態ドライバ回路45.1はその電圧の電源にバイアスさ
れる。
出力感知増幅器/ラッチのブロック38の回路は、(a
)三状態ドライバは必要ないこと、(b)出力ラッチは
真数/補数出力によって与えられることが望ましてこと
を除いて、同じ構造である。
)三状態ドライバは必要ないこと、(b)出力ラッチは
真数/補数出力によって与えられることが望ましてこと
を除いて、同じ構造である。
第5図は参照数字37.1で示したようなビット・ライ
ン書込みドライバのブロック37の基本的な回路を示し
ている。この回路はVH及びGNDの間に直列に接続さ
れた4個のFET、T16乃至T19を含んでいる。N
チャンネルFET、718のゲート電極はWl’を信号
(書込み信号)が印加され、PチャンネルFET%T1
9のゲート電極には補数の書込み信号WRが印加される
。
ン書込みドライバのブロック37の基本的な回路を示し
ている。この回路はVH及びGNDの間に直列に接続さ
れた4個のFET、T16乃至T19を含んでいる。N
チャンネルFET、718のゲート電極はWl’を信号
(書込み信号)が印加され、PチャンネルFET%T1
9のゲート電極には補数の書込み信号WRが印加される
。
WRクロック信号が選択された時、ディジタル・データ
は、FET%T16及びT17で構成されているインバ
ータによって反転されて、ラインBLl上に現われ、ワ
ード・ラインが選択された時、反転されたディジタル・
データは、ストレージ素子5EIIに転送され、そこに
ラッチされる。
は、FET%T16及びT17で構成されているインバ
ータによって反転されて、ラインBLl上に現われ、ワ
ード・ラインが選択された時、反転されたディジタル・
データは、ストレージ素子5EIIに転送され、そこに
ラッチされる。
ワード・ライン・デコード回路のブロック36及び39
の回路はこの技術分野で公知なので、細部の説明は行わ
ない、然しながら、例えばPTIのような積項ラインを
駆動する35.1のような各出力ドライバは、上述した
理由によって、VH−Vtの電圧値を持つ電源でバイア
スされていることは注意を要する。
の回路はこの技術分野で公知なので、細部の説明は行わ
ない、然しながら、例えばPTIのような積項ラインを
駆動する35.1のような各出力ドライバは、上述した
理由によって、VH−Vtの電圧値を持つ電源でバイア
スされていることは注意を要する。
第3図に示されたRPLA31のデザインは、クロック
で動作するタイプの回路であることを想起する必要があ
る。これは、クロック・パルスが与えられた後に、すべ
ての信号が活性化され、そして、その機能が完了するや
否や復帰されることを意味する。このクロック・システ
ムは、回路全体のアクセス及び電力消費を向上させる。
で動作するタイプの回路であることを想起する必要があ
る。これは、クロック・パルスが与えられた後に、すべ
ての信号が活性化され、そして、その機能が完了するや
否や復帰されることを意味する。このクロック・システ
ムは、回路全体のアクセス及び電力消費を向上させる。
アンド・アレイ及びオア・アレイに夫々関連した第6図
及び第7図を参照してRPLA31の動作を以下に説明
する。アンド・アレイ32において、主クロック(グラ
フ47)の立上りエツジに続いて、シングル・ショット
装置からのパルス(図示せず)が調節されたパルス幅で
発生される。SPT信号と言われるこのパルスは、上述
したラインPTIのような1つの積項PTライン上のパ
ルスを取り出すために積項ゼネレータ35t!:付勢す
る。このデコードされたPTラインPTIの電位が、高
位になった時、このPTクランプ例えばPT15に接続
されているFETは、若しそれらの左側の電極(ソース
電極)がOボルトにあるならば、オンに転じる。ストレ
ージ素子、例えば5EIIにストアされている制御デー
タに従って、整合が生じるか、または整合が生じない、
不整合の場合、高電位レベル(VH)に事前充電されて
いる例えばMLのような整合ラインは、整合ラインの高
位レベルが2つのRLF’の間のコミニュケーションを
阻止するためにVH−Vtにクランプされているので、
VH−2Vtにクランプされる。これは、グラフ49か
ら明らかである。44.1のような感知増幅器は、整合
ラインに十分な電圧スイングが現われた時、セットされ
る。グラフ50はSSA信号を表わしている。感知増幅
器の出力の電位はグラフ51に示しである。三状態ドラ
イバ回路(第3図の45.1)は、整合がストアされた
時に、MLI及びストレージ素子5EIIを隔離するた
めにクロックG1またはストローブ信号(グラフ52)
によって制御される。三状態ドライバ回路がオフに転じ
るや否や、整合比カラインML’1上の信号(グラフ5
3)感知用としてオア・アレイに与えられる。次に、M
LIは初期のレベルに復帰される(その復帰信号はグラ
フ54の信号で表わされている)。同時に、オア機能を
実行するために、オア・アレイ33に同じ動作が遂行さ
れる。この動作を、第7図を参照して以下に簡単に説明
する。
及び第7図を参照してRPLA31の動作を以下に説明
する。アンド・アレイ32において、主クロック(グラ
フ47)の立上りエツジに続いて、シングル・ショット
装置からのパルス(図示せず)が調節されたパルス幅で
発生される。SPT信号と言われるこのパルスは、上述
したラインPTIのような1つの積項PTライン上のパ
ルスを取り出すために積項ゼネレータ35t!:付勢す
る。このデコードされたPTラインPTIの電位が、高
位になった時、このPTクランプ例えばPT15に接続
されているFETは、若しそれらの左側の電極(ソース
電極)がOボルトにあるならば、オンに転じる。ストレ
ージ素子、例えば5EIIにストアされている制御デー
タに従って、整合が生じるか、または整合が生じない、
不整合の場合、高電位レベル(VH)に事前充電されて
いる例えばMLのような整合ラインは、整合ラインの高
位レベルが2つのRLF’の間のコミニュケーションを
阻止するためにVH−Vtにクランプされているので、
VH−2Vtにクランプされる。これは、グラフ49か
ら明らかである。44.1のような感知増幅器は、整合
ラインに十分な電圧スイングが現われた時、セットされ
る。グラフ50はSSA信号を表わしている。感知増幅
器の出力の電位はグラフ51に示しである。三状態ドラ
イバ回路(第3図の45.1)は、整合がストアされた
時に、MLI及びストレージ素子5EIIを隔離するた
めにクロックG1またはストローブ信号(グラフ52)
によって制御される。三状態ドライバ回路がオフに転じ
るや否や、整合比カラインML’1上の信号(グラフ5
3)感知用としてオア・アレイに与えられる。次に、M
LIは初期のレベルに復帰される(その復帰信号はグラ
フ54の信号で表わされている)。同時に、オア機能を
実行するために、オア・アレイ33に同じ動作が遂行さ
れる。この動作を、第7図を参照して以下に簡単に説明
する。
第7図に示されたグラフ55及び56(グラフ53と同
じ)は主クロツク信号と、整合出力ライン上の信号を表
わしている。オア・アレイ出力信号は、オア・アレイ出
力ライン上に現われ、この信号はグラフ57で示されて
いる0次に、ブロック38中の対応する感知増幅器はセ
ットされ(グラフ57の信号により)、その出力信号、
即ちオア・アレイ出力信号はグラフ59で示されている
。
じ)は主クロツク信号と、整合出力ライン上の信号を表
わしている。オア・アレイ出力信号は、オア・アレイ出
力ライン上に現われ、この信号はグラフ57で示されて
いる0次に、ブロック38中の対応する感知増幅器はセ
ットされ(グラフ57の信号により)、その出力信号、
即ちオア・アレイ出力信号はグラフ59で示されている
。
ラッチされた後のオア出力信号はグラフ60で与えられ
ている。
ている。
第6図は、第3図のFLPLA回路のデータの重要な仕
様であるサイクル時間Teと、アクセス時間Taとを示
している。
様であるサイクル時間Teと、アクセス時間Taとを示
している。
F1発明の・効果
電源電圧と電圧スイングの観点から見て、本発明のRL
Fが従来の標準的なSRAMの電圧及び電圧スイングと
互換性があることが本発明の1つの重要な利点である。
Fが従来の標準的なSRAMの電圧及び電圧スイングと
互換性があることが本発明の1つの重要な利点である。
その結果、本発明のRPLAは真にrRAMのPLAJ
である。本発明の回路は、次のような利点を持つ成長し
つる再ロード可能なPLAを構成する能力を完全にユー
ザに与える。
である。本発明の回路は、次のような利点を持つ成長し
つる再ロード可能なPLAを構成する能力を完全にユー
ザに与える。
一輪理回路のデザインのある部分のパーソナリゼーショ
ンをソフトウェアにより容易に行うことが出来ること。
ンをソフトウェアにより容易に行うことが出来ること。
一輪理回路のデザインの段階の間でのエンジニャリング
・チェンジの負担を最少限に軽くすること。
・チェンジの負担を最少限に軽くすること。
一上述の利点に加えて、システムのエンジニャリング・
チェンジをシステムの設置後でも容易に行うことが出来
ること。
チェンジをシステムの設置後でも容易に行うことが出来
ること。
本発明の秀れた代表的な適用例は、異なったプロトコル
(スタート/ストップ、5DLC,B5C199,)を
必要とする異なったCCI TTの条件を必要する環境
に使用するコミニュケーション・システム、またはモデ
ムである。特定のプロトコルがストアされた幾つかのR
OMチップを準備した上、所望のアプリケーションに応
じてそれらのチップを選択し装着する代りに、本発明は
、所定のアプリケーションに適するプロトコルに応じた
マイクロ・コードによって、システムの立上げの間でロ
ードすることが出来るRPLAのチップをたった1つだ
け準備することで実現することが出来る。
(スタート/ストップ、5DLC,B5C199,)を
必要とする異なったCCI TTの条件を必要する環境
に使用するコミニュケーション・システム、またはモデ
ムである。特定のプロトコルがストアされた幾つかのR
OMチップを準備した上、所望のアプリケーションに応
じてそれらのチップを選択し装着する代りに、本発明は
、所定のアプリケーションに適するプロトコルに応じた
マイクロ・コードによって、システムの立上げの間でロ
ードすることが出来るRPLAのチップをたった1つだ
け準備することで実現することが出来る。
可変の解答が必要な時には、テーブル・ルックアップに
よる本発明の適用例がある。
よる本発明の適用例がある。
第1図は本発明を適用した論理アレイ中の電子論理フユ
ーズとして使用される6デバイス・セルに基づく再プロ
グラム可能論理フユーズ(RLF)のブロック式の回路
図、第2図は第1図の再プログラム可能論理フユーズを
実現するための他の異なった回路を示すブロック式の回
路図、第3図は本発明を適用して、第1図の再プログラ
ム可能論理フユーズを用いた再ロード可能なPLA(R
PLA)のブロック図、第4図は第3図のRPLA回路
に必要な感知増幅器の細部を示すブロック図、第5図は
第3図のRPLA回路に使用されるビット・ライン書込
みドライバ回路の細部を示すブロック図、第6図及び第
7図は第3図のRPLAのアンド・アレイ及びオア・ア
レイの夫々のタイミング図、第8図は従来の「固定され
た」内容のPLAのブロック図、第9図は各入力ライン
及び各出力ラインの各交差点にラッチのようなストレー
ジ素子及び4デバイスのナンド・ゲートで構成された電
子論理フユーズを含む従来の再構成可能なアンド・アレ
イの一部を示すブロック図、第10図は上述の電子論理
フユーズがMO8FET技術によって、標準的な6デバ
イスSFLAMセルと4デバイス・ナンド・ゲートで実
行された時、第9図の再構成可能アンド・アレイの一部
を示すブロック図、第11図はユーザによるソフトウェ
アで再構成することが出来るデコーダ及び書込み論理回
路が与えられた時の従来の「可変」内容PLAのブロッ
ク図である。 31・・・・再ロード可能なプログラム可能論理アレイ
(RPLA)、32・・・・アンド・アレイ、33・・
・・オア・アレイ、34・・・・整合ライン感知増幅器
/ラッチ(MLSA)、35・・・・デコーダ(積項ゼ
ネレータ)、36・・・・ワード検出器、37・・・・
ビット・ライン・ドライバ、38・・・・出力感知増幅
器/ラッチ、39・・・・ワード・ライン・デコーダ、
40・・・・ビット・ライン書込みブロック、WL・・
・・ワード・ライン、BL・・・・ビット・ライン、I
L・・・・入力ライン、OL・・・・出力ライン、PT
・・・・積項ライン(アンド入力ライン)、ML・・・
・整合ライン、ML’、・・・・整合出力ライン、OR
・・・・オア出力ライン、A%B・・・・第1及び第2
の共通ノード、SE・・・・ストレージ素子、RLF・
・・・再プログラム可能論理フユーズ。
ーズとして使用される6デバイス・セルに基づく再プロ
グラム可能論理フユーズ(RLF)のブロック式の回路
図、第2図は第1図の再プログラム可能論理フユーズを
実現するための他の異なった回路を示すブロック式の回
路図、第3図は本発明を適用して、第1図の再プログラ
ム可能論理フユーズを用いた再ロード可能なPLA(R
PLA)のブロック図、第4図は第3図のRPLA回路
に必要な感知増幅器の細部を示すブロック図、第5図は
第3図のRPLA回路に使用されるビット・ライン書込
みドライバ回路の細部を示すブロック図、第6図及び第
7図は第3図のRPLAのアンド・アレイ及びオア・ア
レイの夫々のタイミング図、第8図は従来の「固定され
た」内容のPLAのブロック図、第9図は各入力ライン
及び各出力ラインの各交差点にラッチのようなストレー
ジ素子及び4デバイスのナンド・ゲートで構成された電
子論理フユーズを含む従来の再構成可能なアンド・アレ
イの一部を示すブロック図、第10図は上述の電子論理
フユーズがMO8FET技術によって、標準的な6デバ
イスSFLAMセルと4デバイス・ナンド・ゲートで実
行された時、第9図の再構成可能アンド・アレイの一部
を示すブロック図、第11図はユーザによるソフトウェ
アで再構成することが出来るデコーダ及び書込み論理回
路が与えられた時の従来の「可変」内容PLAのブロッ
ク図である。 31・・・・再ロード可能なプログラム可能論理アレイ
(RPLA)、32・・・・アンド・アレイ、33・・
・・オア・アレイ、34・・・・整合ライン感知増幅器
/ラッチ(MLSA)、35・・・・デコーダ(積項ゼ
ネレータ)、36・・・・ワード検出器、37・・・・
ビット・ライン・ドライバ、38・・・・出力感知増幅
器/ラッチ、39・・・・ワード・ライン・デコーダ、
40・・・・ビット・ライン書込みブロック、WL・・
・・ワード・ライン、BL・・・・ビット・ライン、I
L・・・・入力ライン、OL・・・・出力ライン、PT
・・・・積項ライン(アンド入力ライン)、ML・・・
・整合ライン、ML’、・・・・整合出力ライン、OR
・・・・オア出力ライン、A%B・・・・第1及び第2
の共通ノード、SE・・・・ストレージ素子、RLF・
・・・再プログラム可能論理フユーズ。
Claims (3)
- (1)ビット・ライン信号を転送するビット・ライン(
BL)と、 ワード・ライン選択信号を転送するワード・ライン(W
L)と、 入力信号を転送する入力ライン(IL)と、出力信号を
転送する出力ライン(OL)と、で構成された論理アレ
イに使用される再プログラム可能論理フユーズ(RLF
)において、制御データをストアするために、第1及び
第2の電源(VH及びGND)の間にバイアスされ、且
つ第1及び第2の共通ノード(A、B)を与えられたス
タティック・ランダム・アクセス・メモリ(SE)と、 上記ビット・ライン(BL)及び上記第1の共通ノード
(A)との間に接続され、且つワード・ライン(WL)
上の信号によつて制御されるアドレス/書込み手段と、 上記出力ラインの出力信号は、上記入力ラインに印加さ
れた信号と、上記第2の共通ノードに与えられた上記制
御データとの間の所定の論理関数(例えばアンド/ナン
ド)であるように、一方において、上記第2の共通ノー
ド(B)及び上記入力ラインとの間に接続され、他方に
おいて、上記第2の共通ノード(B)及び上記出力ライ
ンに接続されている論理機能/ドット手段と、 を含むことを特徴とする再プログラム可能論理フユーズ
。 - (2)非導電性の交差点を持つ第1のマトリックスと、
非導電性の交差点を持つ第2のマトリックスと、第1及
び第2のマトリックスの非導電性の交差点に配置された
複数個の再プログラム可能論理フユーズとからなる再ロ
ード可能な論理アレイ(RLA)において、 (a)上記第1のマトリックスは、 ワード・ライン・ドライバ/デコーダのブロック(36
)に接続されており、且つ水平方向に配列され、電気的
に絶縁されているワード・ライン(WL1、...、W
Ln)と、 ビット・ライン書込みドライバのブロック(37)に接
続されており、且つ垂直方向に配列され、電気的に絶縁
されているビット・ライン(BL1、...、BLm)
と、 で形成され、 (b)上記第2のマトリックスは、 第1の方向に配列されており、且つディジタル入力信号
(X1、...Xm)を転送する複数個の入力ライン(
PT1、...PTm)と、上記第1の方向に対して直
角な第2の方向に沿つて配列されており、且つ出力信号
(アンド出力1、...、アンド出力n)を転送する複
数個の出力ラインと、 で形成された再ロード可能な論理アレイであつて、 少なくとも1つの上記再プログラム可能論理フユーズ(
例えばRFL11)が、次の構成を含むことを特徴とす
る再ロード可能な論理アレイ(31)、 (イ)第1及び第2の電圧(VH、GND)の間でバイ
アスされており、且つ制御データをストアするために、
第1及び第2の共通ノード(例えばA11、B11)が
与えられているスタティック・ランダム・アクセス・メ
モリ・セル(SE11)。 (ロ)ゲート電極が対応するワード・ライン(例えばW
L1)に接続されているFETであつて、ビット・ライ
ン(例えばBL1)及び上記第1の共通ノード(例えば
A11)との間に接続転送ゲート構造として接続さてい
る第1のFET(例えばT14)。 (ハ)上記第2の共通ノード(例えばB11)に接続さ
れている第1の電極、上記入力ラインに接続されている
第2の電極及び上記出力ラインに接続されている第3の
電極を持つ第2のFET(例えばT15)を設け、上記
出力ライン上の出力信号が、上記第1の電極及び第2の
電極に印加された信号の制御の下で、上記第1の電極に
接続されたセルのノードの電位に駆動されること。 - (3)非導通性の交差点の第1のマトリックス及び非導
通性の交差点を持つ第2のマトリックスで構成される論
理アンド・アレイ(32)と、非導通性の交差点を持つ
第3のマトリックス及び非導通性の交差点を持つ第4の
マトリックスで構成される論理オア・アドレス・アレイ
(33)と、複数個の再プログラム可能論理フユーズ(
アンド・アレイ中のRLF11、...、RLFnm)
及びオア・アレイ中のRLF′11...、RLF′n
k)とからなる再ロード可能なプログラム可能論理アレ
イ(RPLA)(31)において、(a)上記第1のマ
トリックスは、 水平に配列され、電気的に絶縁されており、且つワード
・ライン・ドライバ/デコーダのブロック(36)に接
続されている複数本の第1のワード・ライン(WL1、
...、WLn)と、垂直に配列され、電気的に絶縁さ
れてており、且つビット・ライン書込みドライバのブロ
ック(37)に接続されている複数本の第1のビット・
ライン(BL1、...、BLm)とで形成され、(b
)上記第2のマトリックスは、 第1の方向に沿つて配列されており、且つ第1のディジ
タル入力信号(X1、...、Xm)を転送する複数本
の第1の入力ライン(PT 1、...、PTm)と、 上記第1の方向に対して垂直な第2の方向に沿つて配列
されており、且つ第1の出力信号(アンド出力1、..
.、アンド出力n)を転送する複数本の第1の出力ライ
ン(ML1、...、MLn)とで形成され、 (c)上記第3のマトリックスは、 水平に配列され、電気的に絶縁されており、且つワード
・ライン・ドライバ/デコーダのブロック(39)に接
続されている複数本の第2のワード・ライン(WL′1
、...、WL′n)と、垂直に配列され、電気的に絶
縁されており、且つビット・ライン書込みドライバのブ
ロック(40)に接続されている複数本の第2のビット
・ライン(BL′1、...、BL′m)とで形成され
、 (d)上記第4のマトリックスは、 第3の方向に沿つて配列されており、且つ第2のディジ
タル入力信号(オア入力1、...、オア入力n)を転
送する複数本の第2の入力ライン(ML′1、...、
ML′n)と、 上記第3の方向に対して垂直な第4の方向に沿つて配列
されており、且つ出力信号(OR 1、...ORk)を転送する複数本の第2の出力ライ
ンとで構成された非導通性の交差点の第4のマトリック
スとで形成され、 (e)上記再プログラム可能論理フユーズは、夫々の交
差点に配置されている、 再ロード可能でプログラム可能な論理アレイ(RPLA
)のアンド・アレイ及びオア・アレイ中の再プログラム
可能論理フユーズのうちの少なくとも1つが、下記の要
件を含んでいることを特徴とする再ロード可能でプログ
ラム可能な論理アレイ、 (イ)第1及び第2の電圧(VH/GND)の間でバイ
アスされており、且つ制御データをストアするための第
1及び第2の共通ノード(例えばA11、B11)が与
えられたスタティック・ランダムアクセス・メモリ・セ
ル。 (ロ)ゲート電極が対応するワード・ライン(例えばW
L1)に接続されており、且つ転送ゲート構造に接続さ
れているFETデバイスであつて、1つのビット・ライ
ン(例えばBL1)及び上記第1の共通ノード(例えば
A11)の間に接続されている第1のFETデバイス(
例えばT14)。 (ハ)上記第2の共通ノード(例えばB11)に接続さ
れた第1の電極、上記入力ライン(例えばPT1)に接
続された第2の電極及び上記出力ライン(例えばML1
)に接続された第3の電極を有する第2のFETデバイ
スを設けることにより、上記出力ライン上の出力信号が
上記第1及び第2の電極に印加される信号の間の論理的
アンド機能を行わせること。
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