JPH02141912A - 薄膜磁気ヘッド - Google Patents
薄膜磁気ヘッドInfo
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- JPH02141912A JPH02141912A JP29536388A JP29536388A JPH02141912A JP H02141912 A JPH02141912 A JP H02141912A JP 29536388 A JP29536388 A JP 29536388A JP 29536388 A JP29536388 A JP 29536388A JP H02141912 A JPH02141912 A JP H02141912A
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Links
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、高記録密度の磁気記録再生電磁変換素子と
して優れた特性を持つ薄膜磁気ヘッドに関する。
して優れた特性を持つ薄膜磁気ヘッドに関する。
「従来の技術」
従来、薄膜磁気ヘッドの製造は、半導体製造プロセスで
用いられるのと同様の薄膜堆積法やフォトリゾグラフィ
技術によって行われる。以下に従来の薄膜磁気ヘッドの
構造および製造方法について説明する。
用いられるのと同様の薄膜堆積法やフォトリゾグラフィ
技術によって行われる。以下に従来の薄膜磁気ヘッドの
構造および製造方法について説明する。
第3図に薄膜磁気ヘッドの断面図を示す。この図におい
て、lはウェハ基板であり、このウェハ基板lの上に下
部保1層2を介して下層コア3が形成されている。この
下層コア3の上にギャップ層4がAltos、5ift
などの非磁性無機酸化物により形成されている。次に、
上記ギャップ層4の上に絶縁層5を介してコイル6が4
層形成されており、さらに最上部に上層コア7が形成さ
れている。この場合、絶縁層5には、SiO,、A1.
0.などの非無機絶縁体あるいはレジスト、ポリイミド
樹脂などの有機絶縁体が用いられる。また、コイル6は
、スパッタ、蒸着等により、Cu。
て、lはウェハ基板であり、このウェハ基板lの上に下
部保1層2を介して下層コア3が形成されている。この
下層コア3の上にギャップ層4がAltos、5ift
などの非磁性無機酸化物により形成されている。次に、
上記ギャップ層4の上に絶縁層5を介してコイル6が4
層形成されており、さらに最上部に上層コア7が形成さ
れている。この場合、絶縁層5には、SiO,、A1.
0.などの非無機絶縁体あるいはレジスト、ポリイミド
樹脂などの有機絶縁体が用いられる。また、コイル6は
、スパッタ、蒸着等により、Cu。
Ag、AI、Au等の金属膜を堆積させ、この金属膜を
コイルパターンに加工する方法、あるいは、レジストで
コイルパターンの反転像をっ(す、コイルパターンのみ
に選択的に金属膜を析出させる等の方法によって作成さ
れる。
コイルパターンに加工する方法、あるいは、レジストで
コイルパターンの反転像をっ(す、コイルパターンのみ
に選択的に金属膜を析出させる等の方法によって作成さ
れる。
次に、上述した薄膜磁気ヘッドの製造方法にっいて説明
する。ここで、第4図(a)〜(m)は薄膜磁気ヘッド
の製造手順を示す製造工程図である。
する。ここで、第4図(a)〜(m)は薄膜磁気ヘッド
の製造手順を示す製造工程図である。
この図において、まず、下部保護層2、下層コア3およ
びギャップ層4を介して、金属下地膜9が付けられたウ
ェハ基板lの上にレジスト8を4〜5μmの厚さに塗布
する(第4図(a)参照)。
びギャップ層4を介して、金属下地膜9が付けられたウ
ェハ基板lの上にレジスト8を4〜5μmの厚さに塗布
する(第4図(a)参照)。
このレジスト8にコイルパターンが形成され(第4図(
b)参照)、このコイルパターンにCuなどのメツキに
より1層目のコイル6aが形成される(第4図(C)参
照)。次に、レジスト8を除去しく第4図(d)参照)
、この後、A「イオンによるミーリング等により金属下
地膜9が除去される(第4図(e)参照)。そして、上
記コイル6aの上に再びレジスト8を6〜7μmの厚さ
にスピナー塗布し、絶縁層5aが形成される(第4図(
f)参照)。この絶縁層5aの上に再びスパッタ等によ
り金属下地膜9が形成され、さらに、この金属下地膜9
の上にレジスト8を塗布する(第4図(g)参照)。こ
の場合、レジスト8の膜厚はコイル形成部の上部で3〜
4μm、その他の場所は4〜5μmである。そして、上
記1層目と同様にして2層目のコイル6bが形成され、
このコイル6bの上に絶縁層5bが形成される(第4図
(h)参照)。以下、1.2層目と同様に第4図(i)
〜(k)に示すようにコイル6c、6dおよび絶縁層5
cが形成される。そして、4層目のコイル6dの上に絶
縁層5dが形成され、この絶縁層5dの上に上層コア7
のためのNi−Fed’の金属下地膜9を付ける(第4
図(+)参照)。
b)参照)、このコイルパターンにCuなどのメツキに
より1層目のコイル6aが形成される(第4図(C)参
照)。次に、レジスト8を除去しく第4図(d)参照)
、この後、A「イオンによるミーリング等により金属下
地膜9が除去される(第4図(e)参照)。そして、上
記コイル6aの上に再びレジスト8を6〜7μmの厚さ
にスピナー塗布し、絶縁層5aが形成される(第4図(
f)参照)。この絶縁層5aの上に再びスパッタ等によ
り金属下地膜9が形成され、さらに、この金属下地膜9
の上にレジスト8を塗布する(第4図(g)参照)。こ
の場合、レジスト8の膜厚はコイル形成部の上部で3〜
4μm、その他の場所は4〜5μmである。そして、上
記1層目と同様にして2層目のコイル6bが形成され、
このコイル6bの上に絶縁層5bが形成される(第4図
(h)参照)。以下、1.2層目と同様に第4図(i)
〜(k)に示すようにコイル6c、6dおよび絶縁層5
cが形成される。そして、4層目のコイル6dの上に絶
縁層5dが形成され、この絶縁層5dの上に上層コア7
のためのNi−Fed’の金属下地膜9を付ける(第4
図(+)参照)。
さらに、上記金属下地膜9の上にレジスト8を塗布し、
このレジスト8を上層コア7のパターンにカットした後
、メツキにより上層コア7が形成される(第4図(m)
参照)。
このレジスト8を上層コア7のパターンにカットした後
、メツキにより上層コア7が形成される(第4図(m)
参照)。
このように、コイル形成部が上層にいくに従いコイル6
と絶縁層5の積み重ねにより、このコイル形成部と周囲
のウェハ基板1との段差が大きくなるため、スピナー塗
布時の均一作用によりコイル形成部のレジスト8の膜厚
は薄くなる。゛このレジスト8が薄くなることにより、
金属下地膜9の上に形成されたレジスト8のコイルパタ
ーンにメツキする場合、第5図(a)に示すようにメツ
キがレジスト8を越えて横方向に成長するため、コイル
6の隣接間隔の減少あるいは接触などが生じ、ミーリン
グによる金属下地膜9の除去がうまくいかず、コイル6
の隣接する導体が接触する確率が非常に高くなる(第5
図(b)参照)。
と絶縁層5の積み重ねにより、このコイル形成部と周囲
のウェハ基板1との段差が大きくなるため、スピナー塗
布時の均一作用によりコイル形成部のレジスト8の膜厚
は薄くなる。゛このレジスト8が薄くなることにより、
金属下地膜9の上に形成されたレジスト8のコイルパタ
ーンにメツキする場合、第5図(a)に示すようにメツ
キがレジスト8を越えて横方向に成長するため、コイル
6の隣接間隔の減少あるいは接触などが生じ、ミーリン
グによる金属下地膜9の除去がうまくいかず、コイル6
の隣接する導体が接触する確率が非常に高くなる(第5
図(b)参照)。
そこで、レジスト8の膜厚を1〜4層まで同一にするた
めに、レジスト80粘度を上層にいくに従って大きくす
るとともに、スピナー塗布におけるスピナー回転数を下
げる必要がある。しかし、スピナー回転数を下げるとレ
ジスト8の膜厚の不均一性が増大する。このレジスト8
の膜厚が不均一になると、コイルパターンを形成する際
に露光したコイルパターンの焦点の均一性が上層にいく
に従って悪化し、レジストカットの精度が低くなる。以
下に、この点についての説明をする。
めに、レジスト80粘度を上層にいくに従って大きくす
るとともに、スピナー塗布におけるスピナー回転数を下
げる必要がある。しかし、スピナー回転数を下げるとレ
ジスト8の膜厚の不均一性が増大する。このレジスト8
の膜厚が不均一になると、コイルパターンを形成する際
に露光したコイルパターンの焦点の均一性が上層にいく
に従って悪化し、レジストカットの精度が低くなる。以
下に、この点についての説明をする。
第6図に、ウェハ基板lの上面に露光されるコイルパタ
ーンの焦点11が各部で一致している場合の様子を示す
。この場合、露光はマスクからの平面光10に対して、
全面均一に焦点11を合わせることができる。一方、第
7図に3層のコイル6を形成後、この3層目のコイル6
cの上にスピナー回転数を下げて塗布したレジスト8に
露光する場合を示す。この場合、上記理由により塗布さ
れたレジスト8は、コイル形成部】5の中心がやや厚く
、端部ではやや薄くなっている。このため、中心部で焦
点11を合わせた場合、端部ではいわゆるピントずれと
呼ばれる現象により、レジストカットの精度が落ちる。
ーンの焦点11が各部で一致している場合の様子を示す
。この場合、露光はマスクからの平面光10に対して、
全面均一に焦点11を合わせることができる。一方、第
7図に3層のコイル6を形成後、この3層目のコイル6
cの上にスピナー回転数を下げて塗布したレジスト8に
露光する場合を示す。この場合、上記理由により塗布さ
れたレジスト8は、コイル形成部】5の中心がやや厚く
、端部ではやや薄くなっている。このため、中心部で焦
点11を合わせた場合、端部ではいわゆるピントずれと
呼ばれる現象により、レジストカットの精度が落ちる。
また、上記同様にスピナー回転数が低い場合、第8図に
示すようにレジスト8の膜厚がウェハ基板1内で異なる
ために、ウェハ基板1のある場所のコイル形成部15に
焦点11を合わせても、他に焦点11が異なる場所が生
七、コイルパターンをウェハ基板1の全面に均一に形成
することが困難になる。
示すようにレジスト8の膜厚がウェハ基板1内で異なる
ために、ウェハ基板1のある場所のコイル形成部15に
焦点11を合わせても、他に焦点11が異なる場所が生
七、コイルパターンをウェハ基板1の全面に均一に形成
することが困難になる。
このように、コイルパターンが焦点精度の悪い露光によ
って形成された場合、第9図(a)に示すようにレジス
ト8のエツジがなだらかな形状になる。そして、このレ
ジスト8のコイルパターンに沿ってメツキが行われ(第
9図(b)参照)、レジスト8を除去することにより第
9図(C)に示すような断面形状のコイル6が形成され
る。次に、第9図(d)に示すようにArイオン13な
どの物理的な衝撃によりコイル6の間の金属下地膜9を
ミーリングする。しかし、焦点精度の悪い場合には、コ
イル6の隣接間隔が狭いため、A「イオン13がコイル
6の間を通りに<<、かつ、コイル6のエツジにおいて
ミーリングされた金属イオンが再び金属下地膜9に付着
するために容易にコイル6の間の金属下地膜9が除去で
きない。
って形成された場合、第9図(a)に示すようにレジス
ト8のエツジがなだらかな形状になる。そして、このレ
ジスト8のコイルパターンに沿ってメツキが行われ(第
9図(b)参照)、レジスト8を除去することにより第
9図(C)に示すような断面形状のコイル6が形成され
る。次に、第9図(d)に示すようにArイオン13な
どの物理的な衝撃によりコイル6の間の金属下地膜9を
ミーリングする。しかし、焦点精度の悪い場合には、コ
イル6の隣接間隔が狭いため、A「イオン13がコイル
6の間を通りに<<、かつ、コイル6のエツジにおいて
ミーリングされた金属イオンが再び金属下地膜9に付着
するために容易にコイル6の間の金属下地膜9が除去で
きない。
したがって、最終的に第9図(e)に示すように、除去
できる金属下地膜9の幅は僅かであり、隣接間でコイル
6が接触する確率が高くなる。特に、コイル6の間隔が
狭い場合、この間隔を精密に決定することが難しくなる
。
できる金属下地膜9の幅は僅かであり、隣接間でコイル
6が接触する確率が高くなる。特に、コイル6の間隔が
狭い場合、この間隔を精密に決定することが難しくなる
。
また、上層にいくに従って粘度の高いレジスト8を使用
した場合、上層にいくに従い各層の段差部のレジストフ
ローが悪くなり、このために上層にいくに従い段差部の
角度が大きくなる。このように段差部の角度が大きくな
る構造は、上部磁性層7が形成されるためのスパッタに
よる金属下地膜9の被膜が悪く、メツキが載らないなど
の欠陥を生じ易い。
した場合、上層にいくに従い各層の段差部のレジストフ
ローが悪くなり、このために上層にいくに従い段差部の
角度が大きくなる。このように段差部の角度が大きくな
る構造は、上部磁性層7が形成されるためのスパッタに
よる金属下地膜9の被膜が悪く、メツキが載らないなど
の欠陥を生じ易い。
「発明が解決しようとする課題」
ところで、上述した従来の薄膜磁気ヘッドの構造では、
多段積み上げにともなうレジスト塗布厚の減少および不
均一により露光精度が低下するためコイルを形成する導
体の隣接間接触を生じる確率が高く、また、段差部の角
度異常が生じ易いことからコイル作成の歩留まりを下げ
るという問題を生じる。
多段積み上げにともなうレジスト塗布厚の減少および不
均一により露光精度が低下するためコイルを形成する導
体の隣接間接触を生じる確率が高く、また、段差部の角
度異常が生じ易いことからコイル作成の歩留まりを下げ
るという問題を生じる。
この発明は、上述の問題点に鑑みてなされたもので、露
光精度の低下から生じるコイルを形成する導体の隣接間
接触を無くし、さらに、段差部の角度を滑らかにするこ
とによりコイル作成の歩留まりを向上できる薄膜磁気ヘ
ッドを提供することを目的としている。
光精度の低下から生じるコイルを形成する導体の隣接間
接触を無くし、さらに、段差部の角度を滑らかにするこ
とによりコイル作成の歩留まりを向上できる薄膜磁気ヘ
ッドを提供することを目的としている。
「課題を解決するための手段」
このような問題点を解決するために、この発明ではスパ
イラル状に巻回されたコイルが複数層設けられる薄膜磁
気ヘッドにおいて、前記コイルを形成する導体を上層に
いくに従って幅広にし、かつ、各層における前記コイル
の電気抵抗が等しくなるように前記導体の断面積を設定
したことを特徴とする。
イラル状に巻回されたコイルが複数層設けられる薄膜磁
気ヘッドにおいて、前記コイルを形成する導体を上層に
いくに従って幅広にし、かつ、各層における前記コイル
の電気抵抗が等しくなるように前記導体の断面積を設定
したことを特徴とする。
「作用」
下層では、露光精度を保てることからコイルを形成する
導体の間隔1幅を小さくし、しかも前記導体の厚さを厚
くすることによりコイル巻き数を多くしている。これに
対し、上層では、露光精度が低下することから上層にい
くに従って前記導体の間隔1幅を大きくし、しかも各層
におけるコイルの電気抵抗が等しくなるようにコイルの
厚さを薄くすることにより、コイルを形成する際のメツ
キがレジストを越えて接触するのを防ぐ。
導体の間隔1幅を小さくし、しかも前記導体の厚さを厚
くすることによりコイル巻き数を多くしている。これに
対し、上層では、露光精度が低下することから上層にい
くに従って前記導体の間隔1幅を大きくし、しかも各層
におけるコイルの電気抵抗が等しくなるようにコイルの
厚さを薄くすることにより、コイルを形成する際のメツ
キがレジストを越えて接触するのを防ぐ。
「実施例」
次に図面を参照してこの発明の実施例について説明する
。
。
第1図は、本発明の一実施例の構成を示す断面図である
。また、第3図に示す薄膜磁気ヘッドの各部に対応する
部分については同一の符号を付して説明を省略する。
。また、第3図に示す薄膜磁気ヘッドの各部に対応する
部分については同一の符号を付して説明を省略する。
この図において、1層目のコイル6の巻数は、16ター
ン、2層目は12ターン、3層目は9ターン、4層目は
5ターンであり、コイル6の間隔は1層目、2層目が3
μm、3層目が4.5μm。
ン、2層目は12ターン、3層目は9ターン、4層目は
5ターンであり、コイル6の間隔は1層目、2層目が3
μm、3層目が4.5μm。
4層目が6μmである。また、コイル6の導体の幅は上
層にいくに従い広くなるとともに、コイル6の導体の厚
さは各層におけるコイルの電気抵抗が等しくなるように
1層目が4μm、2層目が2゜5μm、3層目が2μm
、4層目が1.4μmに設定されている。
層にいくに従い広くなるとともに、コイル6の導体の厚
さは各層におけるコイルの電気抵抗が等しくなるように
1層目が4μm、2層目が2゜5μm、3層目が2μm
、4層目が1.4μmに設定されている。
次に、薄膜磁気ヘッドの製造方法について説明する。第
2図<a>〜(m)は薄膜磁気ヘッドの製造手順を示す
製造工程図である。
2図<a>〜(m)は薄膜磁気ヘッドの製造手順を示す
製造工程図である。
まず、下部保護層2、下層コア3およびギャップ層4を
介して、金属下地膜9が付けられたウェハ基板1の上に
レジスト8を4〜5μmの厚さに塗布する(第2図(a
)参照)。この場合、レジスト8は平面のため露光焦点
の精度は保ちやすい。
介して、金属下地膜9が付けられたウェハ基板1の上に
レジスト8を4〜5μmの厚さに塗布する(第2図(a
)参照)。この場合、レジスト8は平面のため露光焦点
の精度は保ちやすい。
そして、このレジスト8に16ターンのコイルパターン
を形成しく第2図(b)参照)、Cuなどのメツキによ
り、第2図(C)に示すように厚さが4μmの1層目の
コイル6aが形成される。次に、上記レジスト8を第2
図(d)に示すように除去した後、A「イオン13など
の物理的な衝撃によりコイル6aの間の金属下地膜9を
ミーリングする(第2図(e)参照)。さらに、この1
層目のコイル6aの上にレジスト8をスピナー塗布し、
第2図(f)に示すように絶縁層5aが形成される。
を形成しく第2図(b)参照)、Cuなどのメツキによ
り、第2図(C)に示すように厚さが4μmの1層目の
コイル6aが形成される。次に、上記レジスト8を第2
図(d)に示すように除去した後、A「イオン13など
の物理的な衝撃によりコイル6aの間の金属下地膜9を
ミーリングする(第2図(e)参照)。さらに、この1
層目のコイル6aの上にレジスト8をスピナー塗布し、
第2図(f)に示すように絶縁層5aが形成される。
次に、上記絶縁層5aの上部に、1層目と同一条件でレ
ジスト8を3〜4μmの厚さにスピナー塗布する(第2
図(g)参照)。そして、このレジスト8に12ターン
のコイルパターンが形成され、さらにメツキにより2.
5μmの厚さの2層目のコイル6bが形成される(第2
図(h)参照)この場合、レジストカットの精度は、第
3図に示す従来例の2層目とほぼ同等である。
ジスト8を3〜4μmの厚さにスピナー塗布する(第2
図(g)参照)。そして、このレジスト8に12ターン
のコイルパターンが形成され、さらにメツキにより2.
5μmの厚さの2層目のコイル6bが形成される(第2
図(h)参照)この場合、レジストカットの精度は、第
3図に示す従来例の2層目とほぼ同等である。
次に、2層目の絶縁層5bの上部に、1層目と同一条件
でレジスト8を2.5〜3,5μmの厚さに塗布する(
第2図(i)参照)。そして、このレジスト8にコイル
パターンが形成された後、巻数が9ターン、導体の幅が
7〜8μm、導体の間隔が3〜4.5μmのコイル6C
がメツキにより形成される。この場合、上記レジスト8
が1層目に比べ薄いためレジストカットの精度はやや落
ちているが、2層目と同じ断面積を確保するには、コイ
ル6Cの厚さは2μmで済むこと、さらに、コイル6c
の導体の間隔が従来に比べ1.5倍に広がったことによ
り隣接間の接触等の危険性が大幅に低下している(第2
図(j)参照)。
でレジスト8を2.5〜3,5μmの厚さに塗布する(
第2図(i)参照)。そして、このレジスト8にコイル
パターンが形成された後、巻数が9ターン、導体の幅が
7〜8μm、導体の間隔が3〜4.5μmのコイル6C
がメツキにより形成される。この場合、上記レジスト8
が1層目に比べ薄いためレジストカットの精度はやや落
ちているが、2層目と同じ断面積を確保するには、コイ
ル6Cの厚さは2μmで済むこと、さらに、コイル6c
の導体の間隔が従来に比べ1.5倍に広がったことによ
り隣接間の接触等の危険性が大幅に低下している(第2
図(j)参照)。
次に、3層目の絶縁層5Cの上部に、レジスト8を1層
目と同一条件で2〜3μmの厚さに塗布する(第2図(
k)参照)。この場合、1層目に比べるとレジストカッ
トの精度は2倍以上悪化している。しかし、4層目のコ
イル6dの巻数は5ターン、導体の幅は12μm、導体
の間隔は6μmであるため、3層目と同じ断面積を確保
するには、コイル6dの厚さは1,4μmで済む。この
ため、メツキがオーバーフローして上記レジスト8を越
えてコイル6dの隣接間を接触させることはない。
目と同一条件で2〜3μmの厚さに塗布する(第2図(
k)参照)。この場合、1層目に比べるとレジストカッ
トの精度は2倍以上悪化している。しかし、4層目のコ
イル6dの巻数は5ターン、導体の幅は12μm、導体
の間隔は6μmであるため、3層目と同じ断面積を確保
するには、コイル6dの厚さは1,4μmで済む。この
ため、メツキがオーバーフローして上記レジスト8を越
えてコイル6dの隣接間を接触させることはない。
そして、4層目のコイル6dが形成された後、このコイ
ル6dを絶縁層5dにより覆ってから、上層コア7のた
めのNi−Fe等の金属下地膜9を上記絶縁層5dの上
に付け、さらに、この金属下地膜9の上にレジスト8を
塗布する(第2図(1)参照)。そして、このレジスト
8を上層コア7のパターンにカットした後、メツキによ
り上層コア7が形成される(第2図(m)参照)。
ル6dを絶縁層5dにより覆ってから、上層コア7のた
めのNi−Fe等の金属下地膜9を上記絶縁層5dの上
に付け、さらに、この金属下地膜9の上にレジスト8を
塗布する(第2図(1)参照)。そして、このレジスト
8を上層コア7のパターンにカットした後、メツキによ
り上層コア7が形成される(第2図(m)参照)。
このように、レジスト8は、1層目から4層目まで同一
のスピナー回転数および同一の粘度で塗布しているため
上層にいくに従い薄くなり、レジスト8へのコイルパタ
ーンの露光精度は悪化する。
のスピナー回転数および同一の粘度で塗布しているため
上層にいくに従い薄くなり、レジスト8へのコイルパタ
ーンの露光精度は悪化する。
しかし、コイル6の間隔を上層にいくに従い3〜6μm
と広げ、また、コイル6の厚さを4〜1゜4μmと薄(
なるような構造にすることにより、露光精度の悪い上層
においてもコイル6がレジスト8を越えて接触すること
はない。
と広げ、また、コイル6の厚さを4〜1゜4μmと薄(
なるような構造にすることにより、露光精度の悪い上層
においてもコイル6がレジスト8を越えて接触すること
はない。
「発明の効果」
以上説明したように、この発明によれば上層にいくに従
いコイルを形成する導体を幅広にし、かつ、各層におけ
るコイルの電気抵抗が等しくなるようにコイルの厚さを
設定したことにより、多段積み上げにともなうレジスト
塗布厚の減少および不均一による露光精度の低下から生
じるコイルの隣接間接触が無くなり、さらに、段差部の
角度が滑らかになることによりコイル作成の歩留まりを
向上できる利点が得られる。
いコイルを形成する導体を幅広にし、かつ、各層におけ
るコイルの電気抵抗が等しくなるようにコイルの厚さを
設定したことにより、多段積み上げにともなうレジスト
塗布厚の減少および不均一による露光精度の低下から生
じるコイルの隣接間接触が無くなり、さらに、段差部の
角度が滑らかになることによりコイル作成の歩留まりを
向上できる利点が得られる。
第1図は本発明の一実施例の構成を示す断面図、第2図
(a)〜(m)は本発明の薄膜磁気ヘッドの製造手順を
示す製造工程図、第3図は従来の薄膜磁気ヘッドの構成
を示す断面図、第4図(a)〜(m)は従来の薄膜磁気
ヘッドの製造手順を示す製造工程図、第5図(a)、(
b)はレジスト厚が薄い場合のメツキトラブルを示す断
面図、第6図〜第8図はレジスト塗布厚不均一によるバ
タ−ン精度の低下を説明する断面図、第9図(a)〜(
e)は焦点精度の悪いレジストカット断面におけるコイ
ル隣接間の接触を説明する断面図である。 l・・・・・・クエへ基板、2・・・・・・下部保護層
、3・・・1.。 下層コア、4・・・・・・ギャブ層、5・・・・・・絶
縁層、6・・・・・・コイル、7・・・・・・上層コア
。
(a)〜(m)は本発明の薄膜磁気ヘッドの製造手順を
示す製造工程図、第3図は従来の薄膜磁気ヘッドの構成
を示す断面図、第4図(a)〜(m)は従来の薄膜磁気
ヘッドの製造手順を示す製造工程図、第5図(a)、(
b)はレジスト厚が薄い場合のメツキトラブルを示す断
面図、第6図〜第8図はレジスト塗布厚不均一によるバ
タ−ン精度の低下を説明する断面図、第9図(a)〜(
e)は焦点精度の悪いレジストカット断面におけるコイ
ル隣接間の接触を説明する断面図である。 l・・・・・・クエへ基板、2・・・・・・下部保護層
、3・・・1.。 下層コア、4・・・・・・ギャブ層、5・・・・・・絶
縁層、6・・・・・・コイル、7・・・・・・上層コア
。
Claims (1)
- スパイラル状に巻回されたコイルが複数層設けられる薄
膜磁気ヘッドにおいて、前記コイルを形成する導体を上
層にいくに従って幅広にし、かつ、各層における前記コ
イルの電気抵抗が等しくなるように前記導体の断面積を
設定したことを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29536388A JPH02141912A (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 薄膜磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29536388A JPH02141912A (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 薄膜磁気ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02141912A true JPH02141912A (ja) | 1990-05-31 |
Family
ID=17819654
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29536388A Pending JPH02141912A (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 薄膜磁気ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02141912A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0376013A (ja) * | 1989-08-16 | 1991-04-02 | Nec Corp | 薄膜磁気ヘッド |
WO1997029497A2 (en) * | 1996-02-09 | 1997-08-14 | Integrated Micromachines, Inc. | Bulk fabricated electromagnetic micro-relays/micro-switches and method of making same |
US6262463B1 (en) | 1999-07-08 | 2001-07-17 | Integrated Micromachines, Inc. | Micromachined acceleration activated mechanical switch and electromagnetic sensor |
JP2011029522A (ja) * | 2009-07-29 | 2011-02-10 | Kyocera Corp | 多層配線基板 |
-
1988
- 1988-11-22 JP JP29536388A patent/JPH02141912A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0376013A (ja) * | 1989-08-16 | 1991-04-02 | Nec Corp | 薄膜磁気ヘッド |
WO1997029497A2 (en) * | 1996-02-09 | 1997-08-14 | Integrated Micromachines, Inc. | Bulk fabricated electromagnetic micro-relays/micro-switches and method of making same |
WO1997029497A3 (en) * | 1996-02-09 | 1997-11-06 | Integrated Micromachines Inc | Bulk fabricated electromagnetic micro-relays/micro-switches and method of making same |
US5778513A (en) * | 1996-02-09 | 1998-07-14 | Denny K. Miu | Bulk fabricated electromagnetic micro-relays/micro-switches and method of making same |
US6262463B1 (en) | 1999-07-08 | 2001-07-17 | Integrated Micromachines, Inc. | Micromachined acceleration activated mechanical switch and electromagnetic sensor |
JP2011029522A (ja) * | 2009-07-29 | 2011-02-10 | Kyocera Corp | 多層配線基板 |
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