JPH02140676A - 多値駆動回路 - Google Patents

多値駆動回路

Info

Publication number
JPH02140676A
JPH02140676A JP63295530A JP29553088A JPH02140676A JP H02140676 A JPH02140676 A JP H02140676A JP 63295530 A JP63295530 A JP 63295530A JP 29553088 A JP29553088 A JP 29553088A JP H02140676 A JPH02140676 A JP H02140676A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
voltages
circuit
circuits
output terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63295530A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2911038B2 (ja
Inventor
Toshiyuki Okayasu
俊幸 岡安
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP63295530A priority Critical patent/JP2911038B2/ja
Publication of JPH02140676A publication Critical patent/JPH02140676A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2911038B2 publication Critical patent/JP2911038B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は例えばIC試験装置に利用することができる
多値駆動回路に関する。
「従来の技術」 ICの中にはHg@理とL論理の他に例えば第4図に示
すように第3の電圧VT?を印加しなければならない種
類のものがある。
このような3値の波形を被試験ICに与えるために従来
は第5図に示すような多値駆動回路が用いられζいる。
この従来から用いられている多値駆動回路は差動的にオ
ン・オフ動作するように接続された二対のトランジスタ
Q、、Q、及びQ、、Q、と、つの抵抗器Rと、トラン
ジスタQ、、Q、及びQ、、Q、を流れる電流をTIと
12の値に制限する定電流回路1及び2と、トランジス
タQ2とQ4のベースに一定のバイアス電圧■、を与え
るイアスミ圧a3とによって構成される。
トランジスタQ、とQ、のベースには入力端子4と5か
ら制御信号■、□とV ia!を与える。
制御信号V inl +  Via!とバイアス電圧■
、との関係がVent > Vm 、  Vtnz >
 VtのときはトランジスタQ2とQ4は共にオフとな
り、抵抗器Rには電流が流れないから出力端子6には電
源の電圧■。が出力される。
制御信号V i+++ +  ■rn2とバイアス電圧
■、との関係がv、、、<v、、v、az>v、のとき
はトランジスタQtがオン、トランジスタQ4がオフと
なる。このとき抵抗器Rには定電流回路1の電流夏、が
流れ抵抗器RにはR1,の電圧降下が生じる。よってこ
のときの出力端子6の電圧は■1−■。〜RI+ とな
る。
制御信号Villl+ViR□とバイアス電圧■、との
関係がVi、>v、 、Vi、□<V、である場合はト
ランジスタQ2がオフ、トランジスタQ4がオンとなる
。このときは抵抗器Rには定電流回路2の電流I2が流
れ、抵抗器RにはR1,の電圧降下が生じる。よってこ
のとき出力端子6の電圧はVz = Vo  RI z
 トftル。定電[1+ とlzがI+<1gの関係に
設定されているとすると、制御信号V i n l と
■8□の論理によって第6図に示すように3値を持つ多
値信号が出力され、この多値信号が例えば被試験IC等
に与えられる。
「発明が解決しようとする課題」 第5図に示した従来の多値駆動回路は抵抗器Rの電圧降
下を利用して波形を生成するから消費電流が大きく効率
が悪い。
また大きい振幅を得るために抵抗器Rの抵抗値を大きく
すると出力端子6と共通電位との間に形成される浮遊容
量と、この抵抗器Rとによって形成される時定数が大き
くなり、多値波形の立上り時間が遅くなってしまう欠点
がある。
この発明の目的はこれらの欠点を一掃することができる
多値駆動回路を提供するにある。
この発明では予め設定された多値の値を持つ複数の直流
電圧源を用意し、この複数の電圧源の電圧をスイッチ回
路で選択的に出力端トに取出す構造としたものである。
このようにこの発明によれば予め決められた互に異なる
電圧を出力する直流電圧源を複数用意し、この複数の電
圧源の電圧をスイッチ回路で選択的に取出して多値波形
を生成するものである。この結果抵抗器で電圧降下を発
生させて多値信号を得る方法と比較して効率がよい。
然も発生している電圧をスイッチで取出す構造のため波
形の立上り及び立下りが時定数等で遅れることはない。
よって立上り及び立下りが急峻に変化する多値波形を得
ることができる。
「実施例」 第1図にこの発明の一実施例を示す。第1図において、
11,12.13は予め設定された直流電圧V、、V2
.V3を出力する電圧源を示す。
この例では3値の多値波形を発生させるために3つの電
圧源を設けた場合を示す。
この電圧源10.11.12の電圧V+ 、Vz。
■3はスイ・ンチ回路13.14.15によって選択的
に出力端子6に出力させ多値波形を生成する。
この例ではダイオードブリッジ回路によってスイッチ回
路を構成した場合を示す。
これらスイッチ回路13,14.15は平素はクランプ
回路16と24によってオフに制御される。クランプ回
路16は各スイッチ回路13゜14.15の各B、F、
J点の電位を電圧StO。
1112の電圧V+ 、Vi 、V3のどれよりも低い
電圧にクランプする動作を行なう。このために電圧源’
13,14.15の電圧V+ 、Vi、V3より低い電
圧■イ (V、<Vi 、Vi 、V3 )を発生する
電圧源17と、この電圧tA17と各スイッチ回」烙1
3,14.15を各別に接続する絶縁用ダイオード18
,19.20と、この絶縁ダイオード1B、19.20
を通じて電流Iを引き込む定電流回路21,22.23
とによって構成される。
従って上側のスイッチ制御回路41を構成するトランジ
スタがオンに制御されない状態では各スイッチ回路13
,14.15の各点B、F、Jは電圧源17の電圧■4
にクランプされる。
一方スインチ回路13.14.15の下側の点CGKは
クランプ回路24によって電圧源10 11.12の電
圧V+ 、Vz 、V3(Dどの電圧よりも大きい電圧
■、にクランプされる。つまり電圧■、はVs >Vi
 、Vz 、Vtの関係に設定され、定電流回路26.
27.28から絶縁ダイオード29,30.31を通し
て電流を吸込むことによってC,G、  Kの各点の電
位を電圧■、にクランプする。
このようにクランプ回路16と24のクランプ電圧■4
と■、をV、<v、に設定したことによってダイオード
ブリッジによって構成したスイッチ回路13,14.1
5はオフの状態に制御される。
ここで上側のスイッチ制御回路41と下側のスイッチ制
御回路42を構成するトランジスタ41A及び42Aが
オンに制御されたとすると、トランジスタ41Aからは
定電流回路43から2■の電流がスイッチ回路13に流
し込まれる。
また下側のトランジスタ42Aは定電流回路44により
2Iの電流を吸引する。
この結果上側のトランジスタ41Aから流し込まれた電
流の半分■ば定電流回路21に流れ込み、残る半分の電
流■はスイッチ回路13を通って下側のトランジスタ4
2Aに流れ込む。下側のトランジスタ42Aには更に定
電流回路26から■の電流が流れ込み、合せて2Iの電
流が流れる。
このように定電流回路21と26の電流はクランプ用電
圧源17と25に流れ込むことなく、トランジスタ41
Aと42Aを流れる状態に切替わり、スイッチ回路13
には電流Iが流れる。よってこのときスイッチ回路13
を構成するダイオードは全てオンの状態となり電圧源l
Oの電圧が出力端子6に取出される。
このようにして上側のスイッチ制御回路41と、下側の
スイッチ制御回路42のトランジスタ41Aと42A及
び41Bと42B、41Cと42Cの何れか一つの組が
オンに制御されることによってスイッチ回路13,14
.15の何れか一つがオンに制御され、このときスイッ
チ回路13.14゜15に接続した電圧源13,14.
15の電圧V、、V、、V、の何れかが出力端子6に選
択されて出力される。この出力された電圧は必要に応し
てバンファ増幅器45を通じて例えば被試験IC(特に
図示しない)に与えられる。
50A、50B、50Cはそれぞれスイッチ制御回路4
1と42の各トランジスタ41A〜41G及び42A〜
42Cを制御する駆動回路を示す。
50Aはスイッチ制御回路41.42のトランジスタ4
1Aと42Aをオン、オフ駆動する駆動回路、50Bは
スイッチ制御回路41.42のトランジスタ41Bと4
2Bをオン、オフ駆動する駆動回路、50Cはスイッチ
制御回路41.42のトランジスタ41Gと42Cをオ
ン、オフ駆動する駆動回路をそれぞれ示す。
これら各駆動回路50A、50B、50Cはそれぞれ差
動接続された二対のトランジスタA、B。
C,Dによって構成される。トランジスタA、  Bは
NPN型トランジスタが用いられ、トランジスタC,D
はPNP型トランジスタが用いられる。
これら差動接続された二対のトランジスタA。
B及びC,DはトランジスタA、CとB、Dのベースを
共通接続し、トランジスタA、Cの共通接続したベース
をそれぞれ入力端子51,52.53に接続する。
またトランジスタB、Dのベースは全て共通接続し、こ
の共通接続点にバイアス電圧■□を与える。
このよ)に構成することによって入力端子51゜52.
53にバイアス電圧■、を越えると共に正パルスを与え
ることによってトランジスタAとDがオンの状態に反転
し、スイッチ制御回路4142のトランジスタをオンの
状態に駆動することができる。
この様子を第2図に示す。入力端子51に矩形波■P、
が与えられた区間(第2図A)ではスイッチ制御回路4
1と42のトランジスタ41A。
42Aがオンの状態となり電圧aioの電圧Vを出力端
子6に出力する。
入力端子52に矩形波VP、が与えられた区間(第2図
B)ではスイッチ制御回路41と42のトランジスタ4
1B、42Bがオンの状態となり第2図りに示すように
電圧SZの電圧■2を出力端子6に出力する。
入力端子53に矩形波VP、が与えられた区間(第2図
C)ではスイッチ制御回路41と42のトランジスタ4
1Cと42Cがオンとなり第2図りに示すように電圧源
12の電圧■、を出力端子6に出力する。
このようにして入力端子51,52.53に与える矩形
波vP、、VPz 、VF6の人力に対応した値を持つ
電圧■1〜■、が選択されて出力端子6に出力され、任
意の波形を持つ多値電圧信号を生成することかできる。
第3図はこの発明の変形実施例を示す、この例では第1
図で説明したクランプ電圧源17と25を省略し、これ
に代えて各電圧源10.11.12の電圧をダイオード
DA、DI、DCを通じてクランプ回路16と24を構
成するダイオード18゜1920と29.30.31に
与え、電圧源10.11.12の中の最高電圧■、と最
低電圧■、を選択して自動的にクランプ電圧として利用
するように構成した場合を示す9図は駆動回路を省略し
て示している。
尚第1図の実施例では3植体号を出力する場合について
説明したが、3値に限らず更に多くの値を持つ多値信号
を生成するように構成することができる。
「発明の効果」 以上説明したようにこの発明によれば各電圧源to、1
1.1217)電圧V+ 、V2 、Vsをスイッチ回
路13,14.15のオン、オフ動作によって出力端子
6に取出す構成とし、抵抗器の電圧降下によって多値電
圧を生成する構造でないため電流消費量を少なくするこ
とができる。
また抵抗器の電圧降下を利用して多値信号を生成するか
ら出力端子6に浮遊容量が存在しても、時定数回路が形
成されない。
この結果立上り及び立下りの速度が速い多値信号を得る
ことができる。
また電圧源から各別に電圧を出力するから一つの電圧源
の電圧設定変更が他に影響を与えることがない、よって
単独で電圧の設定を行なうことができる。更に電圧間の
遷移状態における動的特性に影響を与えない。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す接続図、第2図はそ
の動作を説明するための波形図、第3図はこの発明の変
形実施例を示す接続図、第4図は従来の技術を説明する
ための接続図、第5図は第4図の動作を説明するための
波形図である。 6:出力端子、to、11,12:電圧源、13.14
.t5:スイッチ回路、16.24:クランプ回路、4
1,42;スイッチ制御回路、50A、50B、50C
:駆動回路、51,52゜53二人力端子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)A、互に異なる電圧を出力する複数の電圧源と、 B、この複数の電圧源のそれぞれの電圧を選択的に出力
    端子に取り出す複数のスイッチ 回路と、 C、この複数のスイッチ回路を選択的にオン・オフ操作
    し、出力端子に上記複数の電圧 源の電圧を取出す複数のスイッチ制御回路 と、 によって構成した多値駆動回路。
JP63295530A 1988-11-21 1988-11-21 多値駆動回路 Expired - Fee Related JP2911038B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63295530A JP2911038B2 (ja) 1988-11-21 1988-11-21 多値駆動回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63295530A JP2911038B2 (ja) 1988-11-21 1988-11-21 多値駆動回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02140676A true JPH02140676A (ja) 1990-05-30
JP2911038B2 JP2911038B2 (ja) 1999-06-23

Family

ID=17821820

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63295530A Expired - Fee Related JP2911038B2 (ja) 1988-11-21 1988-11-21 多値駆動回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2911038B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003076958A1 (fr) * 2002-03-08 2003-09-18 Advantest Corporation Dispositif testeur a semi-conducteur
US7292629B2 (en) 2002-07-12 2007-11-06 Rambus Inc. Selectable-tap equalizer
US7408378B2 (en) 2003-12-19 2008-08-05 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
US7439760B2 (en) 2005-12-19 2008-10-21 Rambus Inc. Configurable on-die termination
US7439789B2 (en) 2004-12-20 2008-10-21 Rambus Inc. Systems and methods for controlling termination resistance values for a plurality of communication channels
US7525338B2 (en) 2003-09-08 2009-04-28 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
US8599631B2 (en) 2006-12-21 2013-12-03 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US8861667B1 (en) 2002-07-12 2014-10-14 Rambus Inc. Clock data recovery circuit with equalizer clock calibration
US9544169B2 (en) 1999-10-19 2017-01-10 Rambus Inc. Multiphase receiver with equalization circuitry

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63124973A (ja) * 1986-11-14 1988-05-28 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 電子デバイス駆動回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63124973A (ja) * 1986-11-14 1988-05-28 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 電子デバイス駆動回路

Cited By (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9998305B2 (en) 1999-10-19 2018-06-12 Rambus Inc. Multi-PAM output driver with distortion compensation
US9544169B2 (en) 1999-10-19 2017-01-10 Rambus Inc. Multiphase receiver with equalization circuitry
US7193425B2 (en) 2002-03-08 2007-03-20 Advantest Corporation Semiconductor test device
WO2003076958A1 (fr) * 2002-03-08 2003-09-18 Advantest Corporation Dispositif testeur a semi-conducteur
US8861667B1 (en) 2002-07-12 2014-10-14 Rambus Inc. Clock data recovery circuit with equalizer clock calibration
US7292629B2 (en) 2002-07-12 2007-11-06 Rambus Inc. Selectable-tap equalizer
US10270441B2 (en) 2003-09-08 2019-04-23 Rambus Inc. Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US11522544B2 (en) 2003-09-08 2022-12-06 Rambus Inc. Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US7741868B2 (en) 2003-09-08 2010-06-22 Rambus Inc. Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US9780784B2 (en) 2003-09-08 2017-10-03 Rambus Inc. Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US7928757B2 (en) 2003-09-08 2011-04-19 Rambus Inc. Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US10666254B2 (en) 2003-09-08 2020-05-26 Rambus Inc. Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US7564258B2 (en) 2003-09-08 2009-07-21 Rambus Inc. Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US9391613B2 (en) 2003-09-08 2016-07-12 Rambus Inc. Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US7525338B2 (en) 2003-09-08 2009-04-28 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
US9191243B2 (en) 2003-09-08 2015-11-17 Rambus Inc. Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US7408378B2 (en) 2003-12-19 2008-08-05 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
US7439789B2 (en) 2004-12-20 2008-10-21 Rambus Inc. Systems and methods for controlling termination resistance values for a plurality of communication channels
US8941407B2 (en) 2005-12-19 2015-01-27 Rambus Inc. Integrated circuit with configurable on-die termination
US11012071B2 (en) 2005-12-19 2021-05-18 Rambus Inc. Integrated circuit with configurable on-die termination
US9338037B2 (en) 2005-12-19 2016-05-10 Rambus Inc. Integrated circuit with configurable on-die termination
US11843372B2 (en) 2005-12-19 2023-12-12 Rambus Inc. Integrated circuit with configurable on-die termination
US8466709B2 (en) 2005-12-19 2013-06-18 Rambus Inc. Integrated circuit with configurable on-die termination
US8072235B2 (en) 2005-12-19 2011-12-06 Rambus Inc. Integrated circuit with configurable on-die termination
US9685951B2 (en) 2005-12-19 2017-06-20 Rambus Inc. Integrated circuit with configurable on-die termination
US7948262B2 (en) 2005-12-19 2011-05-24 Rambus Inc. Configurable on-die termination
US7772876B2 (en) 2005-12-19 2010-08-10 Rambus Inc. Configurable on-die termination
US7439760B2 (en) 2005-12-19 2008-10-21 Rambus Inc. Configurable on-die termination
US10651848B2 (en) 2005-12-19 2020-05-12 Rambus Inc. Integrated circuit with configurable on-die termination
US10236882B2 (en) 2005-12-19 2019-03-19 Rambus Inc. Integrated circuit with configurable on-die termination
US9570129B2 (en) 2006-12-21 2017-02-14 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US10510388B2 (en) 2006-12-21 2019-12-17 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US10115439B2 (en) 2006-12-21 2018-10-30 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US9721629B2 (en) 2006-12-21 2017-08-01 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US10720196B2 (en) 2006-12-21 2020-07-21 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US10971201B2 (en) 2006-12-21 2021-04-06 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US9299407B2 (en) 2006-12-21 2016-03-29 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US11468928B2 (en) 2006-12-21 2022-10-11 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US8947962B2 (en) 2006-12-21 2015-02-03 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US11688441B2 (en) 2006-12-21 2023-06-27 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US8599631B2 (en) 2006-12-21 2013-12-03 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals
US12002540B2 (en) 2006-12-21 2024-06-04 Rambus Inc. On-die termination of address and command signals

Also Published As

Publication number Publication date
JP2911038B2 (ja) 1999-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02140676A (ja) 多値駆動回路
US4893036A (en) Differential signal delay circuit
JPH02892B2 (ja)
US6774680B2 (en) Comparator including a differential transistor pair and a diode arrangement
US4083036A (en) Arrangement for producing pulse-shaped signals
JPS62232216A (ja) パルス発生器
JP2966464B2 (ja) 多値駆動回路
JPH07169004A (ja) プリアンプ回路装置
US6172551B1 (en) Wide dynamic-range current switches and switching methods
JP3569099B2 (ja) 波形生成回路および半導体試験装置
US3446987A (en) Variable resistance circuit
JPH07152468A (ja) キーマトリクス入力装置
JP2691182B2 (ja) 集積回路のラッチアップ測定方法
US20030004700A1 (en) Circuit configuration for simulating the input or output load of an analog circuit
JP2680940B2 (ja) D/a変換器
KR100668250B1 (ko) 출력 신호 레벨을 스위칭하는 트리스테이트 회로 및 방법
JP2947174B2 (ja) 可変利得増幅器
JPH0650788Y2 (ja) デジタル信号発生回路
JPH0638492Y2 (ja) アナログスイッチ回路
JPS62196919A (ja) 比較器
JPS6025840B2 (ja) サンプルホ−ルド回路
JP2751387B2 (ja) Ecl回路の入力回路
JPH04334120A (ja) Ecl出力回路
KR940007877B1 (ko) 하나의 단자를 이용한 다단 뮤트회로
JPH04318418A (ja) 磁気式エンコーダ信号処理回路

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees