JPH0211788Y2 - - Google Patents

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JPH0211788Y2
JPH0211788Y2 JP9886483U JP9886483U JPH0211788Y2 JP H0211788 Y2 JPH0211788 Y2 JP H0211788Y2 JP 9886483 U JP9886483 U JP 9886483U JP 9886483 U JP9886483 U JP 9886483U JP H0211788 Y2 JPH0211788 Y2 JP H0211788Y2
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electrode
anode electrode
plate
cathode electrode
semiconductor device
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は圧接型の半導体装置の構造に関するも
ので、特にアノード電極面とカソード電極面がゲ
ート電極を有するペレツトに対し均一に圧接せし
めるとともに、ペレツトを挾持せしめるアノード
電極とカソード電極間の平行度をよくし、半導体
装置が局部分で電流集中が起らないようにする半
導体装置のシール構造に関するものである。
最近、静電誘導サイリスタ(以下SIサイリスタ
という)、ゲートターンオフサイリスタなど半導
体装置の半導体基板(以下ウエハという)上に形
成される電極構造が緻密なものとなり、この種の
開発が種々進められている。そして、大電流用の
ものとしては圧接型のシールに組み込まれている
のが一般的である。
この圧接型のシールは、ペレツトに対して主電
極としてのアノード電極、カソード電極を均一に
圧接することが難かしかつたりまた、この電極間
の平行度が出し難くかつた。これらの改良策とし
て、主電極がペレツトに接触せしめる圧力緩衝板
など種々考案されている。
例えば、従来のSIサイリスタのシール構造につ
いて、第1図、第2図を参照して説明する。
第1図は従来のSIサイリスタのシール構造を示
す断面図、第2図は第1図に示したものの組立前
の状態を示す断面図である。
第1図、第2図において、シールとしての銅ポ
ストら形成される円形状のアノード電極1の外周
部分にはアノード電極1を保持する円環状のつば
2が固着されている。そして、アノード電極1の
上側にはこのアノード電極1面に対して良好なオ
ーミツクコンタクトが得られるように銀板3が備
えられ、その上にペレツト4が備えられ、更にそ
の上にモリブデン板6が備えられている。なお、
ペレツト4はウエハにモリブデン板が接着されて
ゲート電極が形成され、且つゲート電極に引き出
し線4aを固着せしめたものからなる。また、ペ
レツト4をシール内に固定するためのテフロンバ
ンド5が銀板3、ペレツト4などの外周部分に備
えられている。更にまた、これらの上側にはシー
ルとしての銅ポストから形成されるカソード電極
7が備えられ、カソード電極7の外周部分にはカ
ソード電極7を保持する円環状のつば8が固着さ
れている。このつば8に円筒形状の外枠9の一方
が固着され、外枠9の他方に円環状の板10が固
着されている。そして、ペレツト4を挾持した銀
板3、モリブデン板6およびテフロンバンド5を
外枠9内に納めて圧接し、この状態で、つば2と
板10がアーク溶接などによつて固着されてい
る。なお、11は引き出し線4aを外部に引き出
すための取り出し口、12はアノード電極1に有
する銅円板フランジである。
かくして、このような圧接型の半導体装置のシ
ール構造ではシール部品としてのアノード電極
1、つば2、カソード電極7、つば8、外枠9お
よび板10に変形または加工不良があつた場合に
はペレツト4に対して均一に圧接せしめることが
難しい。また、アノード電極1、カソード電極7
間の平行度をだすことが難しい。つまり、つば
2,8および板10は特に薄くまた幅の広いもの
であるためにこれらの表面は凹凸ができ易い。こ
の変形したものを組み立てて上下から圧接せしめ
た場合、カソード電極7面とモリブデン板6は均
一に圧接されない。すなわち、ペレツト4は均一
に圧接されない。また、両電極間の平行度も得ら
れない。
ここで、変形量および加工誤差量を吸収する対
策として、つば2と板10間に円環状の隙間Pが
設けられているが、変形量、加工不良の程度によ
つては隙間Pでカバーできないことがよくある。
ここに、変形したりまたは加工不良があつたも
のを圧接しながらシールを行つたものは、通電し
たとき圧接力の大きい部分にも電流集中が生じ、
破壊してしまう。また、隙間Pでカバーできたと
しても、無理にカソード電極7面をモリブデン板
6に圧接せしめるので、これらに傷がつき、この
原因で電流集中が生じ易い。
本考案は、かような欠点を解決し、シール部品
に変形または加工不良が生じていても主電極面が
銀板3およびモリブデン板6に均一に圧接され、
また、主電極間の平行度がよくなり、更にまたア
ノード電極1、銀板3、モリブデン板6およびカ
ソード電極7に傷がつきにくい圧接型の半導体装
置のシール構造を提供することにある。以下、本
考案を、第3図〜第5図に基づいて説明する。
第3図は本考案にかかる半導体装置のシール構
造の一実施例を示す断面図、第4図、第5図はそ
れぞれ他の実施例を示す断面図である。図中、第
1図と同符号のものは同じ機能を有する部分を示
す。
第3図において、第1図に示したシールとして
の銅ポストから形成される円形状のアノード電極
1は2分割され、その分割面を滑らかな球面形状
にせしめる凹曲面側の主電極1aと凸曲面側の主
電極1bが備えられている。そして、凹曲面側の
主電極1aまたは凸曲面側の主電極1bのいずれ
が摺動しても、凹曲面と凸曲面が接触するように
形成されている。また、アノード電極1bの摺動
面の外周部分は摺動し易く且つ銅くずが摺動部分
に入り込まないように面取りが行われている。ま
た、アノード電極1aの外周部分にはアノード電
極1aを保持する円環状のつば2が固着されてい
る。更にまた、アノード電極1bの上側には銀板
3が備えられている。ここで、ペレツト4、テフ
ロンバンド5、モリブデン板6、カソード電極
7、つば8、外枠9、板10、取り出し口11お
よびゲート引き出し線4aは第1図に示したもの
と同じ機能を有するため、説明を省略する。
さて、かくのごとく構成された圧接型の半導体
装置、例えばSIサイリスタにおいて、ペレツト4
などのシールを行う場合、まず主電極としてのア
ノード電極1a、カソード電極7間の平行度チエ
ツクを行う。シール部品に変形または加工不良が
生じていない場合にはアノード電極1bを摺動さ
せることなく、アノード電極1aおよびカソード
電極7を外力によつて圧接しながらつば2と板1
0をアーク溶接などによつて固着せしめ、ペレツ
ト4、モリブデン板6などを外枠9に密封する。
しかし、変形または加工不良が生じていた場合に
はアノード電極1bを摺動せしめて主電極間の平
行度を得る。次に、これらを圧接しながら、つば
2と板10を溶接してペレツト4、モリブデン板
6などを密封する。
このようにして圧接せしめるものは主電極間の
平行度をとりながら主電極面が銀板3およびモリ
ブデン板6に均一に圧接される。また、無理に圧
接せしめないため主電極面などに傷がつくことが
ない。従つて、通電を行つた場合局部分に電流が
集中するということはない。
次に、2分割する電極がカソード電極の場合を
第4図に示し、また2分割する電極がカソード電
極とアノード電極の場合を第5図に示してこれら
を説明する。
第4図および第5は本考案にかかるもののそれ
ぞれ他の実施例を示す断面図である。なお、図
中、第1図と同符号のものは同じ機能を有する部
分を示す。また、主電極間の平行度をよくしたの
ち、圧接しながらつば2を板10を溶接し、銀板
3、ペレツト4、モリブデン板6などを外枠9内
に密封することは第3図で説明したものの製作手
順と同じであるため、ここでは説明を省略する。
第4図において、第3図に示したアノード電極
を2分割する代りにカソード電極を2分割する。
すなわち、アノード電極1はそのままで、カソ
ード電極は凹曲面側のカソード電極7aと凸曲面
側のカソード電極7bからなり、カソード電極7
aが凸曲面を摺動たときそれぞれの面が接触する
ように形成されている。また、カソード電極7a
には円環状のつば8が固着されている。また、カ
ソード電極7bはモリブデン板6の上側に備えら
れている。
次に、第5図に示したものは、第3図および第
4図に示した構造の両者をとりいれたものであ
る。
すなわち、アノード電極は凹曲面側のアノード
電極1aと凸曲面側のアノード電極1bからな
り、カソード電極は凹曲面側のカソード電極7a
と凸曲面側のカソード電極7bからなる。
主電極間の平行度をとる場合にはアノード電極
1b、カソード電極1a、カソード電極1bを摺
動せしめる。
以上説明したように本考案によれば、アノード
電極またはカソード電極またはアノード電極とカ
ソード電極を滑らかな球面形状を有する凹曲面側
と凸曲面側に2分割し凹曲面側または凸曲面側を
摺動させても常にそれぞれの面が接触するように
形成されているので、シール部品に変形または加
工不良があつても主電極面が銀板およびモリブデ
ン板に均一に圧接される。また、主電極間の平行
度もよくなり、更にまた無理な外力を主電極間に
加えないので、アノード電極、銀板、モリブデン
板およびカソード電極に傷がつくことがない。
なお、2分割した球面形状の向きはいずれの方
向であつても本考案の主旨に反するものでない。
よつて、本考案にかかる半導体装置のシール構
造は通電を行つたとき電流の局部集中がなくなつ
たため有用性の高いものを提供できた。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のSIサイリスタのシール構造を示
す断面図、第2図は第1図に示したものの組立前
の状態を示す断面図、第3図は本考案にかかるも
のの一実施例を示す断面図、第4図、第5図はそ
れぞれの他のものの実施例を示す断面図である。 1,1a,1b……アノード電極、7,7a,
7b……カソード電極。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 圧接型の半導体装置において、該圧接型の半導
    体装置の主電極を2分割してその分割面を滑らか
    な球面形状にせしめる凹曲面側の主電極と凸曲面
    側の主電極を備え、前記凹曲面側の主電極または
    凸曲面側の主電極のいずれが摺動しても凹曲面と
    凸曲面が接触するように形成したことを特徴とす
    る半導体装置のシール構造。
JP9886483U 1983-06-28 1983-06-28 半導体装置のシ−ル構造 Granted JPS609225U (ja)

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JP9886483U JPS609225U (ja) 1983-06-28 1983-06-28 半導体装置のシ−ル構造

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JP9886483U JPS609225U (ja) 1983-06-28 1983-06-28 半導体装置のシ−ル構造

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JPS609225U JPS609225U (ja) 1985-01-22
JPH0211788Y2 true JPH0211788Y2 (ja) 1990-04-03

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