JPS6028139B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPS6028139B2
JPS6028139B2 JP4232979A JP4232979A JPS6028139B2 JP S6028139 B2 JPS6028139 B2 JP S6028139B2 JP 4232979 A JP4232979 A JP 4232979A JP 4232979 A JP4232979 A JP 4232979A JP S6028139 B2 JPS6028139 B2 JP S6028139B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor element
gate
insulator
external
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP4232979A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS55134941A (en
Inventor
太 徳能
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4232979A priority Critical patent/JPS6028139B2/ja
Publication of JPS55134941A publication Critical patent/JPS55134941A/ja
Publication of JPS6028139B2 publication Critical patent/JPS6028139B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/33Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/8385Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/078Adhesive characteristics other than chemical
    • H01L2924/07802Adhesive characteristics other than chemical not being an ohmic electrical conductor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は半導体素子装置内部で半導体素子が移動する
ことを防止した構造を有する半導体装置に関するもので
ある。
第1図は従来のゲート加圧方式の平形大容量サィリスタ
を示す断面図である。
図中1は外部陰極電極、2は外部陽極電極、3は半導体
素子、3一1は半導体素子3の陰極電極、3−2は半導
体素子3のゲート電極、3−3は半導体素子3の半導体
基体、3−4は半導体素子3の陽極電極、4は絶縁体筒
、5は外部陰極電極1と絶縁体筒4とに磯付蔓れた金属
薄板、6は絶縁体筒4に磯付された金属薄板、7は外部
陽極電極2に磯付された金属薄板、8は絶縁体筒4に磯
付された外部ゲート電極、9はゲートリード、10はゲ
ートリード9と外部陰極電極1とを絶縁する絶縁体管、
11はゲートリード9を支持する絶縁性支持体、12は
絶縁性支持体11と外部陰極電極との間に設置され絶縁
性支持体1 1を界してゲートリード9の先端分部を半
導体素子3のゲート電極、3−1に圧接する為のコイル
バネである。この様な半導体装置を組み立てるには先ず
外部陰極電極1、絶縁体筒4金属薄板5,6外部ゲート
電極8の鍵付完了品にコイルバネ12、絶縁性支持体1
1、ゲートリード9、絶縁体筒10を設置し、絶縁性支
持体11の外周部に金属板13の内周部が係合する様に
金属板13を設置する。
次に、半導体素子3を絶縁体筒4の内側に挿入し、外部
陽極電極2と金属薄板7の磯付完了品を設置して、金属
薄板6,7を溶接、外部ゲート電極8をゲートリード9
と共に溶接封止する。この様な半導体装置において半導
体素子3は、半導体素子3と絶縁体筒4とのクリアラン
スにより、第1図の横方向への移動を起こす。
この場合特に半導体素子のゲート電極3一2とゲートリ
ード9の相対的な位置ずれの為に半導体素子のゲート電
極3一2とゲートリード9が接触不良を起こす危険性が
あった。この危険性は半導体装置の大容量化に伴う半導
体素子の大口蓬化によってさらに増す煩向にある。これ
は以下に示す理由によるものである。半導体素子が大口
径化すると、これに伴って絶縁体節(第1図では4)の
内径も大きくなるが、絶縁体としては、耐熱性、気密性
の面から暁結アルミナ等が用いられるが、この様な材料
は鱗結時に材料収縮を起こす為、大口蓬化に伴い寸法公
差を大きくとる必要性が生じるのである。
以上の様な位置ずれを起こさない構造として、ゲートボ
ンディング方式がある。
第2図はゲートボンディング方式の大容量平形サィリス
タの断面図である。
図中14は金属板13を支持する絶縁性支持体で、ゲー
トリード9の先端部は半導体素子3のゲート電極、3一
2にボンディングされている。その他、第1図と同一番
号おものは、同一構成部分を示している。この様な半導
体素子を組み立てるには、先ず半導体素子のゲート電極
、3−1にゲートリード9の先端部をボンデイングし、
ゲートリード9に絶縁体管9を設置し、次に絶縁性支持
体14を外部陰極電極1、絶縁体筒4、金属板5,6、
外部ゲート電極との麹付完了品に装着して、金属板13
、及び半導体素子3、ゲートリード9、絶縁体管10組
立完了品を設置する。
次に外部陽極電極2と金属薄板7との銭付完了品を設置
し、しかる後金属簿板6,7を溶接、外部ゲート電極8
をゲートリード9と共に溶接封止する。この様な半導体
装置においては、半導体素子の中心軸を中心とする回転
移動を起こす為、ゲートリードが切断あるいは疲労する
危険性があった。
この発明は以上2例の様な半導体素子の移動を防止し半
動体装置の信頼性を向上させ得る構造の半導体装置を提
供するものである。以下、本発明の一実施例を第3図、
第4図を用いて詳細に説明する。
第3図は本発明によるゲート加圧方式の大容量平形サリ
スタの断面図である。
図中15は絶縁体筒4と半導体素子3の陽極電極の間隙
に圧入された弾性体、(シリンゴム、バイトン等の耐熱
性ゴムが好ましい)である。その他、第1図と同一番号
のものは同一又は同等の構成部分を示す。
この様な半導体装置を組み立てるには、先ず外部陰極電
極1、絶縁体筒4、金属薄板5,6、外部ゲート電極8
の鍵付完了品にコイルバネ12、絶縁性支持体1 1、
ゲートリード9、絶縁体管10を設置し、絶縁性支持体
11の外周部に金属板13の内周部が係合する様に金属
板13を設置する。
次に絶縁体筒4に設けられた溝部分(第4図A部分)に
弾性体15を設置し、弾性体15を絶縁体筒4の内壁に
押しつけながら半導体素子3を挿入する。しかる後金属
薄板6,7を溶接、外部ゲート電極8をゲートリード9
と共に溶接封止する。ゲートボンディング方式の大容量
平形サィリス夕についても上記実施例と全く同機に絶縁
体筒に溝を設け、この溝部分と半導体素子との間隙に弾
性体を圧入することによって、半導体素子の回転移動を
防止し、前記従来のものの欠点を除去することができる
本発明による半導体装置の絶縁体筒の溝の形状として第
4図にその例を示している。
第4図では4個の溝を設けているが、これは一例にすぎ
ず、3個、あるいは5個以上であっても良い。溝の幅B
を充分にとれば2個であってもよい。本発明は実施例に
示す様な平形サィリスタに限らず、主電極を圧援によっ
て取り出す密封形の大容量半導体素子全般に容易に適用
することができる。
以上のようにこの発明によれば、絶縁体筒内周部と半導
体素子外周部との間隙を弾性体15で埋め、しかも前記
弾性体の弾力、及び摩擦力によって半導体素子を保持し
ている為、半導体素子が、半導体装置内部において横方
向の移動を起こすことがなく半導体装置の信頼性を向上
させることができる。
また、半導体素子の外周部と絶縁体筒の内周部との間隙
の全周に、一連の弾性体を設けるのではなく、絶縁体筒
の内周部の複数個の溝に対応させて、複数個の分割され
た4・片として弾性体を設けるようにしているので、弾
性体を圧入しやすく、しかも、半導体素子を中心に向っ
て均等に押圧するようにでき、さらに厚さの違ってた小
片の弾性体を複数個づつ用意するだけで、径の異なる半
導体素子に変えてこれを取付けることができる等の利点
もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のゲート加圧方式による大容量平形サィリ
スタを示す断面図、第2図は従来のゲートボンディング
方式による大容量平形サィリスタを示す断面図、第3図
は本発明の一実施例によるゲート加圧方式の大容量平形
サィリスタを示す断面図、第4図は本発明による平形サ
ィリスタに用いられる絶縁体筒、外部陰極電極、金属薄
板、外部ゲート電極の磯付完了品を示す斜視図である。 図中同一番号は同一又は同等の構成部分を示す。1・・
・・・・外部陰極電極、2・・・・・・外部陽極電極、
3・…・・半導体素子、4・・・・・・絶縁体筒、5,
6,7・・・・・・金属薄板、8・・・・・・外部ゲー
ト電極、9・・・・・・ゲートリード、10・・・・・
・絶縁体管、11・.…・絶縁性支持体、12・・・・
・・コイルバネ、13・・・・・・金属板、15・・・
・・・弾性体。 第1図 第2図 第3図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 少なくとも1つのPN接合を有する半導体素子、こ
    の半導体素子の2つの主面に対向する少なくとも2つの
    外部電極、これらの外部電極を支持し、前記半導体素子
    を密封する絶縁体筒、及びこの絶縁体筒の内周部で前記
    半導体素子の外周部に対向する部分に複数個の溝を有し
    、この溝部分における前記半導体素子の外周部と絶縁体
    筒の内周部との間隙に、それぞれ弾性体を圧入して成る
    ことを特徴とする半導体装置。
JP4232979A 1979-04-06 1979-04-06 半導体装置 Expired JPS6028139B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4232979A JPS6028139B2 (ja) 1979-04-06 1979-04-06 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4232979A JPS6028139B2 (ja) 1979-04-06 1979-04-06 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS55134941A JPS55134941A (en) 1980-10-21
JPS6028139B2 true JPS6028139B2 (ja) 1985-07-03

Family

ID=12632962

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4232979A Expired JPS6028139B2 (ja) 1979-04-06 1979-04-06 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6028139B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0592321U (ja) * 1992-03-03 1993-12-17 丸井産業株式会社 耐火被覆材吹付け用下地金具

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6042863A (ja) * 1983-08-17 1985-03-07 Mitsubishi Electric Corp 光駆動半導体装置
DE3421672A1 (de) * 1984-06-09 1985-12-12 SEMIKRON Gesellschaft für Gleichrichterbau u. Elektronik mbH, 8500 Nürnberg Wechsellastbestaendiges, schaltbares halbleiterbauelement
US6781227B2 (en) * 2002-01-25 2004-08-24 International Rectifier Corporation Compression assembled electronic package having a plastic molded insulation ring

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0592321U (ja) * 1992-03-03 1993-12-17 丸井産業株式会社 耐火被覆材吹付け用下地金具

Also Published As

Publication number Publication date
JPS55134941A (en) 1980-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1152654A (en) Explosion-proof semiconductor device
US3721867A (en) Tablet-shaped semiconductor component and process for its manufacture
US4775916A (en) Pressure contact semiconductor device
US3457472A (en) Semiconductor devices adapted for pressure mounting
US4008486A (en) Compression-assembled semiconductor device with nesting circular flanges and flexible locating ring
US4673961A (en) Pressurized contact type double gate static induction thyristor
US4591896A (en) Pressure-contact sealing arrangement for a semiconductor pellet
JPS6028139B2 (ja) 半導体装置
JPH05290902A (ja) 導体接触装置
JP3266281B2 (ja) 逆導通サイリスタ装置、圧接型半導体装置及び半導体基板
JPH01228138A (ja) 二端子半導体素子の外装構造
JPS58108771A (ja) 半導体装置
JPH08330337A (ja) 平型半導体装置
JPS5943737Y2 (ja) 半導体装置
JPS6116687Y2 (ja)
JPS6211498B2 (ja)
JP6011206B2 (ja) 圧接型半導体装置、圧接型半導体装置の製造方法
JPH02220452A (ja) 半導体装置
JPS6279669A (ja) 半導体装置
JP2598573B2 (ja) 圧接型半導体装置
JPS5829679Y2 (ja) 音響機器のスリットダンパ構造
JPS6127901B2 (ja)
JPH0211788Y2 (ja)
JPH032993Y2 (ja)
JPS5814604Y2 (ja) 半導体装置