JPH0211354U - - Google Patents

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JPH0211354U
JPH0211354U JP9033888U JP9033888U JPH0211354U JP H0211354 U JPH0211354 U JP H0211354U JP 9033888 U JP9033888 U JP 9033888U JP 9033888 U JP9033888 U JP 9033888U JP H0211354 U JPH0211354 U JP H0211354U
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floating gate
insulating
film
semiconductor film
electrode
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【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例のフローテイングゲ
ート型記憶素子、第2図は従来のMOSFETに
よるフローテイングゲート型記憶素子である。 21……絶縁性基板、22……制御ゲート、2
4……絶縁膜、25……フローテイングゲート、
26……半導体膜、29……ソース電極、30…
…ドレイン電極、30a……突部、33……トン
ネル領域。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 絶縁性基板と、該絶縁性基板上に形成された制
    御ゲートと、該制御ゲートと絶縁して積層形成さ
    れたフローテイングゲートと、該フローテイング
    ゲートを囲つて絶縁し、一部に薄膜部を設けた絶
    縁膜と、少なくとも前記フローテイングゲートに
    対向させて形成された半導体膜と、該半導体膜と
    電気的に接続され、前記絶縁膜の薄膜部を介して
    前記フローテイングゲートと対向する突部を形成
    した第1の電極と、前記半導体膜と電気的に接続
    され、第1の電極と所定の間隔をもつて形成され
    た第2の電極とを備えたことを特徴とする薄膜半
    導体素子。
JP9033888U 1988-07-07 1988-07-07 Pending JPH0211354U (ja)

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JP9033888U JPH0211354U (ja) 1988-07-07 1988-07-07

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JPH0211354U true JPH0211354U (ja) 1990-01-24

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JP9033888U Pending JPH0211354U (ja) 1988-07-07 1988-07-07

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11154714A (ja) * 1997-09-20 1999-06-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 不揮発性メモリおよびその製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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