JPH02107922A - 磁気誘導流量の測定方法及び滋気誘導流量計 - Google Patents
磁気誘導流量の測定方法及び滋気誘導流量計Info
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- JPH02107922A JPH02107922A JP1220107A JP22010789A JPH02107922A JP H02107922 A JPH02107922 A JP H02107922A JP 1220107 A JP1220107 A JP 1220107A JP 22010789 A JP22010789 A JP 22010789A JP H02107922 A JPH02107922 A JP H02107922A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F1/00—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
- G01F1/56—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using electric or magnetic effects
- G01F1/58—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using electric or magnetic effects by electromagnetic flowmeters
- G01F1/60—Circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F25/00—Testing or calibration of apparatus for measuring volume, volume flow or liquid level or for metering by volume
- G01F25/10—Testing or calibration of apparatus for measuring volume, volume flow or liquid level or for metering by volume of flowmeters
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- Electromagnetism (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は周期的に交番する区分的に一定の磁界によって
行なわれる測定が、半周期毎の区分で処理される磁気誘
導流量の測定方法及び、磁界を生成するコイルと、磁界
制御回路と、磁界及び流れ方向とほぼ垂直な電極配列と
、電極配列に接続された増幅器と、評価回路とから成る
磁気誘導流量計、特に前記方法を実施するための流量計
に関する。
行なわれる測定が、半周期毎の区分で処理される磁気誘
導流量の測定方法及び、磁界を生成するコイルと、磁界
制御回路と、磁界及び流れ方向とほぼ垂直な電極配列と
、電極配列に接続された増幅器と、評価回路とから成る
磁気誘導流量計、特に前記方法を実施するための流量計
に関する。
流量計の機能テスト又はその測定コンバータ検出の継続
期間変更のテスト又は校正を実施するために、電極配列
による測定の代りにシミュレート信号を利用することは
公知である。この信号を生成するシミュレータはセット
又は保守目的だけのために使用される外部装置でもよい
。しかし、測定コンバータ内にシミュレータを組込んで
、シミュレータ動作に切換えるだけで機能テスト又は校
正を行なうことができる構成も公知である。しかし、シ
ミュレータ動作中、電極配列と測定コンバータの間の接
続はしゃ断され、又は測定にシミュレート信号が重なっ
てしまう。その結果、流量測定の妨害又は中断すること
なしではシミュレータを用いて正規の機能テストを行な
うことができない。DE−PS 3303017号から
、テスト信号を所望値と比較するため、測定信号とテス
ト信号とを交番でコンバータに接続することが公知であ
る。しかし、この方法は、あき期間が生じ、それによっ
て、特に小量の流量を測定する場合、かなりの誤差が生
じることがあるという欠点を有している。
期間変更のテスト又は校正を実施するために、電極配列
による測定の代りにシミュレート信号を利用することは
公知である。この信号を生成するシミュレータはセット
又は保守目的だけのために使用される外部装置でもよい
。しかし、測定コンバータ内にシミュレータを組込んで
、シミュレータ動作に切換えるだけで機能テスト又は校
正を行なうことができる構成も公知である。しかし、シ
ミュレータ動作中、電極配列と測定コンバータの間の接
続はしゃ断され、又は測定にシミュレート信号が重なっ
てしまう。その結果、流量測定の妨害又は中断すること
なしではシミュレータを用いて正規の機能テストを行な
うことができない。DE−PS 3303017号から
、テスト信号を所望値と比較するため、測定信号とテス
ト信号とを交番でコンバータに接続することが公知であ
る。しかし、この方法は、あき期間が生じ、それによっ
て、特に小量の流量を測定する場合、かなりの誤差が生
じることがあるという欠点を有している。
DB−O33537752号は、測定信号走査期間中の
各半周期で信号電圧を走査し、且つ走査によって得られ
た信号を記憶する方法を開示している。同じ半周期内の
各測定信号走査期間に続く補償期間中に、測定信号に重
ねられた干渉DC電圧を補償するため、信号電圧を走査
し且つ記憶するため補償電圧が生成される。補償電圧は
補償期間内の信号電圧をゼロの値に補償する。補償電圧
は次の補償期間まで記憶され、信号電圧に重ねられる。
各半周期で信号電圧を走査し、且つ走査によって得られ
た信号を記憶する方法を開示している。同じ半周期内の
各測定信号走査期間に続く補償期間中に、測定信号に重
ねられた干渉DC電圧を補償するため、信号電圧を走査
し且つ記憶するため補償電圧が生成される。補償電圧は
補償期間内の信号電圧をゼロの値に補償する。補償電圧
は次の補償期間まで記憶され、信号電圧に重ねられる。
同一の半周期内の各補償期間に続く走査修正期間中に、
信号電圧は再度走査され、且つそれによって得られた信
号値が同様に記憶される。有用な信号値を得るため、先
ず、異なる半期間での2つの補償期間の間に得られた記
憶された信号値の差が形成され、次に同様にして得られ
た微分値間の差が形成される。このようなシステムは干
渉電圧を抑制するに過ぎない。しかし時間及び温度の流
動中に出現する測定コンバータの誤差はこのシステムに
よっては認識も修正もされない。
信号電圧は再度走査され、且つそれによって得られた信
号値が同様に記憶される。有用な信号値を得るため、先
ず、異なる半期間での2つの補償期間の間に得られた記
憶された信号値の差が形成され、次に同様にして得られ
た微分値間の差が形成される。このようなシステムは干
渉電圧を抑制するに過ぎない。しかし時間及び温度の流
動中に出現する測定コンバータの誤差はこのシステムに
よっては認識も修正もされない。
DB−O33537752号の機構の別の問題点は、信
号値が4つの並列の記憶域内に蓄積されることである。
号値が4つの並列の記憶域内に蓄積されることである。
それによる欠点は、一つの量が他の量に対して変化する
ので、わずかな時間及び温度の変動のうちの一方又は双
方が生じただけで、計算された出力値に誤差が生じるこ
とである。
ので、わずかな時間及び温度の変動のうちの一方又は双
方が生じただけで、計算された出力値に誤差が生じるこ
とである。
本発明の課題は、温度及び時間の一方又は双方の変動に
よる測定コンバータの部品が及ぼす出力値への影響を実
質的に最小限にする方法を提供することである。
よる測定コンバータの部品が及ぼす出力値への影響を実
質的に最小限にする方法を提供することである。
この課題は、区分的に一定のシミュレート量が、磁界と
同期的に変化するように生成され、且つ、測定が処理さ
れるのと同様に、測定と交番で各々の半周期の別の区分
で処理されて出力値が形成されることによる前記の方法
によって解決される。
同期的に変化するように生成され、且つ、測定が処理さ
れるのと同様に、測定と交番で各々の半周期の別の区分
で処理されて出力値が形成されることによる前記の方法
によって解決される。
コイル内の磁界が変化すると、コイルのインダクタンス
によって安定状態に達するまで幾分時間がかかる。この
時間の間、流れが一定でも磁界の変化により電極出力信
号は一定ではないので、この時間の間、電極配列の出力
信号は測定用には利用できない。測定の代りに、測定を
妨害したり、あき期間を生じることなくシミュレート量
を生成し、処理することが可能である。シミュレート量
は測定と同様に処理されることから、測定コンバータの
構成部品又は評価回路の遅い時間離脱を検出することが
できる。何故ならば、シミュレーション量は測定の場合
と同様に影響されるからである。
によって安定状態に達するまで幾分時間がかかる。この
時間の間、流れが一定でも磁界の変化により電極出力信
号は一定ではないので、この時間の間、電極配列の出力
信号は測定用には利用できない。測定の代りに、測定を
妨害したり、あき期間を生じることなくシミュレート量
を生成し、処理することが可能である。シミュレート量
は測定と同様に処理されることから、測定コンバータの
構成部品又は評価回路の遅い時間離脱を検出することが
できる。何故ならば、シミュレーション量は測定の場合
と同様に影響されるからである。
シミュレート量を処理するには多様な方法が可能である
。測定又はその出力値をシミュレート量又はその出力値
と比較することは好適である。そのため、評価回路の校
正又は再校正用にシミュレータを用いることは公知であ
った。このことは通例では、シミュレータの動作中に、
出力値が所望値の範囲内の特定の限度内にセットされる
まで測定コンバータ及び評価回路を調整することによっ
て行なわれる。しかし、この方法では、評価回路又は測
定コンバータの継続期間が変化した場合は校正用の限界
状態の変化を避けることができず、その結果、誤った測
定結果をまねくことがあった。
。測定又はその出力値をシミュレート量又はその出力値
と比較することは好適である。そのため、評価回路の校
正又は再校正用にシミュレータを用いることは公知であ
った。このことは通例では、シミュレータの動作中に、
出力値が所望値の範囲内の特定の限度内にセットされる
まで測定コンバータ及び評価回路を調整することによっ
て行なわれる。しかし、この方法では、評価回路又は測
定コンバータの継続期間が変化した場合は校正用の限界
状態の変化を避けることができず、その結果、誤った測
定結果をまねくことがあった。
本発明によれば、校正は測定中にシミュレート量と測定
とを比較することによって行なわれる。それによって評
価回路に至るまでの測定コンバータの構成部品の値の時
間による変化が補償される。
とを比較することによって行なわれる。それによって評
価回路に至るまでの測定コンバータの構成部品の値の時
間による変化が補償される。
測定とシミュレート量は処理後に比較されることが有利
である。それによって、時間及び温度変動を受ける全て
の素子を確実に測定及びシミュレート量が通過する。し
たがって全ての変化を永久的校正に組込むことができる
。
である。それによって、時間及び温度変動を受ける全て
の素子を確実に測定及びシミュレート量が通過する。し
たがって全ての変化を永久的校正に組込むことができる
。
前記の種類の方法における課題の別の解決方法では、測
定の連続的な出力値及び場合によってはシミニレ−l−
量は連続的な記憶位置に逐次記憶される。測定又はシミ
ュレート量の新たな出力値が生成されると、現存する出
力値は次に続く記憶位置に記憶され、且つ少なくとも2
つの記憶位置の内容を利用して評価が行なわれる。評価
は通常、コンピュータ又は処理装置によって行なわれる
。
定の連続的な出力値及び場合によってはシミニレ−l−
量は連続的な記憶位置に逐次記憶される。測定又はシミ
ュレート量の新たな出力値が生成されると、現存する出
力値は次に続く記憶位置に記憶され、且つ少なくとも2
つの記憶位置の内容を利用して評価が行なわれる。評価
は通常、コンピュータ又は処理装置によって行なわれる
。
走査される値は連続的に出現するので、これらの値は互
いに処理可能になるまで記憶される必要がある。DE−
O33531752号で公知のような並列の4つの記憶
域の代りに、この発明の方法では、量は直列に記憶され
るので、それぞれの測定は各記憶位置と接触する。それ
によって、記憶域内の変化は確実に全ての測定に作用す
るので、測定間の比率は変化せずに保たれる。
いに処理可能になるまで記憶される必要がある。DE−
O33531752号で公知のような並列の4つの記憶
域の代りに、この発明の方法では、量は直列に記憶され
るので、それぞれの測定は各記憶位置と接触する。それ
によって、記憶域内の変化は確実に全ての測定に作用す
るので、測定間の比率は変化せずに保たれる。
測定とシミュレート量の出力値は好適に記憶位置から別
個に読出され、且つ別個に処理される。
個に読出され、且つ別個に処理される。
それによって測定及びシミュレート量は同様にして、同
じ条件下で処理され、時間的にわずかな偏移がともなう
だけである。
じ条件下で処理され、時間的にわずかな偏移がともなう
だけである。
好適な実施例では、測定又はシミュレートtの少なくと
も3つの連続する出力値が記憶され、その後、共に処理
される。拵気誘導流量計の周知の問題点は、測定のDC
電圧レベルが緩速に、又は急激に変化することがあるこ
とである。このことによって、逆磁界により生成される
測定の正と負の半周期間の差が変化するので、流量の評
価に誤差が生じる。この誤差は、測定を、先行する半周
期と後続の半周期からの2つの測定の和と比較すること
によってほぼ除去することができる。
も3つの連続する出力値が記憶され、その後、共に処理
される。拵気誘導流量計の周知の問題点は、測定のDC
電圧レベルが緩速に、又は急激に変化することがあるこ
とである。このことによって、逆磁界により生成される
測定の正と負の半周期間の差が変化するので、流量の評
価に誤差が生じる。この誤差は、測定を、先行する半周
期と後続の半周期からの2つの測定の和と比較すること
によってほぼ除去することができる。
処理量が第2出力値の2倍と、第1及び第3の出力値の
和との差から処理量が形成されると好適である。それに
よって好適な平均値算出が達成され、従って、測定のD
C電圧レベルの変化は十分な正確さで除去することがで
きる。この原理に基づいて、複数の記憶位置を利用すれ
ば多数の測定を互いに比較することができる。
和との差から処理量が形成されると好適である。それに
よって好適な平均値算出が達成され、従って、測定のD
C電圧レベルの変化は十分な正確さで除去することがで
きる。この原理に基づいて、複数の記憶位置を利用すれ
ば多数の測定を互いに比較することができる。
測定の出力値の処理量の比率と、シミュレート量の出力
値の処理量の比率に比例して流量が形成されるととくに
有利である。このようにして、簡単に永久的な校正を達
成することができる。場合によって生じる評価回路の何
らかの破壊によっても測定及びシミュレート量が影響さ
れる。しかし、2つの量の比率は基本的に変化しないま
まなので、常に正確な流量測定が保証される。シミュレ
ート量に対応する測定用に、通常どれだけの流れが生成
されなければならないかは公知であるので、このように
して形成された商は定係数で乗算されて流量に関する正
確な表示を得ることができる。
値の処理量の比率に比例して流量が形成されるととくに
有利である。このようにして、簡単に永久的な校正を達
成することができる。場合によって生じる評価回路の何
らかの破壊によっても測定及びシミュレート量が影響さ
れる。しかし、2つの量の比率は基本的に変化しないま
まなので、常に正確な流量測定が保証される。シミュレ
ート量に対応する測定用に、通常どれだけの流れが生成
されなければならないかは公知であるので、このように
して形成された商は定係数で乗算されて流量に関する正
確な表示を得ることができる。
好適にパルス幅変調されたパルスを処理量から得ること
ができる。パルス幅変調は測定へのノイズ電圧及び他の
破壊要因に対して比較的強い。パルス幅は容易に処理す
ることができる。比較的正確な時間サイクルベースだけ
が必要である。しかし、このようなベースは事実上全て
の評価ユニット、とくにプロセッサを有する評価ユニッ
トで得ることができる。
ができる。パルス幅変調は測定へのノイズ電圧及び他の
破壊要因に対して比較的強い。パルス幅は容易に処理す
ることができる。比較的正確な時間サイクルベースだけ
が必要である。しかし、このようなベースは事実上全て
の評価ユニット、とくにプロセッサを有する評価ユニッ
トで得ることができる。
流量を4つの連続するパルスを介して形成することが好
適であり、流量は第2と第4のパルスとのパルス幅の差
と、第1と第3のパルスとのパルス幅の差との商と比例
する。それによって比較的簡単に評価が得られる。
適であり、流量は第2と第4のパルスとのパルス幅の差
と、第1と第3のパルスとのパルス幅の差との商と比例
する。それによって比較的簡単に評価が得られる。
好適な実施例では、シミュレート量は半周期よりも大き
い第1区分にわたって一定の第1入力値を帯び、且つ半
周期よりも小さい第2区分にわたって一定の第2入力値
を帯び、測定信号測定周期と、シミュレート信号測定周
期との間に2つの入力値の変化が存在する。シミュレー
ト量の入力値の変更の時点は、それがシミュレート信号
周期と測定信号測定周期との間にあるように選択される
ので、切換え中に出現するどのような干渉電圧があった
としても測定された値を干渉しない。シミ周期の継続期
間のパルス幅を有し、又、負の領域にて−周期のwE続
続開間パルス幅を有するようにも形成することができる
。
い第1区分にわたって一定の第1入力値を帯び、且つ半
周期よりも小さい第2区分にわたって一定の第2入力値
を帯び、測定信号測定周期と、シミュレート信号測定周
期との間に2つの入力値の変化が存在する。シミュレー
ト量の入力値の変更の時点は、それがシミュレート信号
周期と測定信号測定周期との間にあるように選択される
ので、切換え中に出現するどのような干渉電圧があった
としても測定された値を干渉しない。シミ周期の継続期
間のパルス幅を有し、又、負の領域にて−周期のwE続
続開間パルス幅を有するようにも形成することができる
。
このようにしてシミュレート量はより長い周期にわたっ
て一定であり、それによって、電極配列が外部からの影
響に極めて敏感に反応する場合に決定的な利点が得られ
る。
て一定であり、それによって、電極配列が外部からの影
響に極めて敏感に反応する場合に決定的な利点が得られ
る。
シミュレート量の第2入力値が第1又は第2半周期のい
ずれかで周期的な交番で生成されると極めて有利である
。流れを計算する際、シミュレートが測定と同位相であ
るか、すなわち測定が同様に正の領域にある場合に正で
あるか、又は180゜の移相、すなわち測定が負の領域
にある場合に正の領域にあるか、には基本的には差はな
い。しかし、シミュレート量が評価回路又は測定コンバ
ータに影響を及ぼすという問題が生じ得る。第一の場合
、すなわち、シミュレート量と測定が同じ位相を有して
いる場合は、影響を受けるのは主として正の流量測定周
期であり、一方、第2の場合は、影響を受けるのは主と
して負の測定周期である。
ずれかで周期的な交番で生成されると極めて有利である
。流れを計算する際、シミュレートが測定と同位相であ
るか、すなわち測定が同様に正の領域にある場合に正で
あるか、又は180゜の移相、すなわち測定が負の領域
にある場合に正の領域にあるか、には基本的には差はな
い。しかし、シミュレート量が評価回路又は測定コンバ
ータに影響を及ぼすという問題が生じ得る。第一の場合
、すなわち、シミュレート量と測定が同じ位相を有して
いる場合は、影響を受けるのは主として正の流量測定周
期であり、一方、第2の場合は、影響を受けるのは主と
して負の測定周期である。
この誤差をなくするため、生じ得る2つの場合を周期的
に変化させて、それによって生じ得る誤差を相互に相殺
する。
に変化させて、それによって生じ得る誤差を相互に相殺
する。
別の好適な処理方法では、シミュレート量の出力値は好
適に所望値と比較される。それによってコンバータ又は
評価回路の正しい機能を継続的に制御することができる
。
適に所望値と比較される。それによってコンバータ又は
評価回路の正しい機能を継続的に制御することができる
。
シミュレート量の出力値が所望値と所定の((だは離反
した場合にアラームが起動されることが好適である。こ
れは特にコンピュータ測定の場合に望ましい。
した場合にアラームが起動されることが好適である。こ
れは特にコンピュータ測定の場合に望ましい。
本発明の別の課題は、磁気誘導流量計の構成部品が出力
値に及ぼす温度及び時間変動の双方又は一方の影響を大
幅に低減することである。
値に及ぼす温度及び時間変動の双方又は一方の影響を大
幅に低減することである。
前記の課題はシミュレート量を生成するためのシミュレ
ート信号発生器を備え、前記発生器は切換えスイッチの
一つの入力に接続され、増幅器が切換えスイッチの別の
入力に接続され、且つ切換えスイッチの出口が評価回路
に接続された構成の磁気誘導流量計によって解決される
。
ート信号発生器を備え、前記発生器は切換えスイッチの
一つの入力に接続され、増幅器が切換えスイッチの別の
入力に接続され、且つ切換えスイッチの出口が評価回路
に接続された構成の磁気誘導流量計によって解決される
。
この流量計によって、測定とシミュレート量との間の変
化を容易に検出することができるので、両方を同一の評
価回路によって評価することができる。
化を容易に検出することができるので、両方を同一の評
価回路によって評価することができる。
好適な実施例では、流量計のサイクル発生器が磁界制御
回路及びシミュレート信号発生器に第1パルスすなわち
第1サイクルの周波数を供給し、且つ切換えスイッチに
2倍の高さのサイクル周波数の第2パルスを供給する。
回路及びシミュレート信号発生器に第1パルスすなわち
第1サイクルの周波数を供給し、且つ切換えスイッチに
2倍の高さのサイクル周波数の第2パルスを供給する。
サイクルパルスが出現すると、磁界制御回路は磁界の方
向を反転し、シミュレート信号発生器は所定の第1入力
値と所定の第2入力値との間のシミュレート量を変更し
、且つ切換えスイッチが切換ねる。[サイクルパルスの
出現」とは、このようなパルスの上昇又は下降フランク
を意味している。このように、切換えスイッチは各半周
期中に、シミュレート量と測定との間を2往復して切換
え、シミュレ−1・量と測定は各周期中に2つの値の間
で2度切換わる。それによって各半周期中にシミュレー
ト量は一度、又、測定も一度走査され且つ処理される。
向を反転し、シミュレート信号発生器は所定の第1入力
値と所定の第2入力値との間のシミュレート量を変更し
、且つ切換えスイッチが切換ねる。[サイクルパルスの
出現」とは、このようなパルスの上昇又は下降フランク
を意味している。このように、切換えスイッチは各半周
期中に、シミュレート量と測定との間を2往復して切換
え、シミュレ−1・量と測定は各周期中に2つの値の間
で2度切換わる。それによって各半周期中にシミュレー
ト量は一度、又、測定も一度走査され且つ処理される。
評価回路は好適に積分器を備えており、この積分器は切
換えスイッチの出口に接続され、且つ第2サイクルパル
スの各々の負と各々の正のフランクによって、初期値よ
りセットされる。積分器は干渉ノイズ電圧を大幅に除去
する。積分器は第2サイクルパルスによってその初期値
にリセットされることにより、すなわち、切換えスイッ
チの各切換え中に、−周期中に測定とシミュレ−1・量
を別個に積分する。
換えスイッチの出口に接続され、且つ第2サイクルパル
スの各々の負と各々の正のフランクによって、初期値よ
りセットされる。積分器は干渉ノイズ電圧を大幅に除去
する。積分器は第2サイクルパルスによってその初期値
にリセットされることにより、すなわち、切換えスイッ
チの各切換え中に、−周期中に測定とシミュレ−1・量
を別個に積分する。
好適な実施例では、評価回路は、切換えスイッチの出力
と、積分器の入力との間に配設された周波数準拠の減衰
素子を備えている。従って積分器の動作は選択された測
定周波数とは独立している。
と、積分器の入力との間に配設された周波数準拠の減衰
素子を備えている。従って積分器の動作は選択された測
定周波数とは独立している。
測定周波数を半分にすると、信号レベルは減衰装置によ
って半減される。
って半減される。
評価回路は好適に少なくとも2つの記憶位置を有し、積
分器の出力に接続され、且つ、第2パルスが出現すると
、第1記憶位置に積分器出力の実際値を記憶し且つ全て
の記憶位置の従来の内容を1つの記憶位置ぶんだけ変位
するシフトレジスタを備えている。それによって交番測
定を正と負の半周期の間の差を時間平均することに起因
する誤差を除去するための充分な測定が得られる。
分器の出力に接続され、且つ、第2パルスが出現すると
、第1記憶位置に積分器出力の実際値を記憶し且つ全て
の記憶位置の従来の内容を1つの記憶位置ぶんだけ変位
するシフトレジスタを備えている。それによって交番測
定を正と負の半周期の間の差を時間平均することに起因
する誤差を除去するための充分な測定が得られる。
シフトレジスタが5つの記憶位置を有することがとくに
好適である。測定とシミュレート量は交番で走査される
ので、シフトレジスタの内容は常にシミュレート量−測
定−シミュレート量−測定シミュレート量、又は、測定
−シミュレート量一測定−シミュレート量−測定、であ
る。個々の量は時間変位された測定から生起されたもの
である。従って、時間平均を得るため、測定及びシミュ
レート量のための充分な数の値が存在する。
好適である。測定とシミュレート量は交番で走査される
ので、シフトレジスタの内容は常にシミュレート量−測
定−シミュレート量−測定シミュレート量、又は、測定
−シミュレート量一測定−シミュレート量−測定、であ
る。個々の量は時間変位された測定から生起されたもの
である。従って、時間平均を得るため、測定及びシミュ
レート量のための充分な数の値が存在する。
加算回路は好適にシフトレジスタに接続され、第1と第
5の記憶位置の内容の総和と、第3の記憶位置の内容の
2倍との差が形成される。
5の記憶位置の内容の総和と、第3の記憶位置の内容の
2倍との差が形成される。
評価回路が、積分器の出力値から得られた量から、量に
応じたパルス幅を有する評価パルスを形成するパルス幅
変調装置を備えていることが好適である。パルス幅変調
信号は、再処理が比較的簡単である。パルスの継続期間
を測定可能であるためには適切な高分解能の時間ベース
が得られるだけでよい。それによって、はとんど干渉な
く、アナログ/デジタル変換が可能になる。
応じたパルス幅を有する評価パルスを形成するパルス幅
変調装置を備えていることが好適である。パルス幅変調
信号は、再処理が比較的簡単である。パルスの継続期間
を測定可能であるためには適切な高分解能の時間ベース
が得られるだけでよい。それによって、はとんど干渉な
く、アナログ/デジタル変換が可能になる。
流量計は好適に4つの群内の評価パルスを相関し、且つ
第2と第4のパルスの幅と、第1と第3のパルスの幅と
の差の商に比例する流れを算定するコンピュータを備え
ている。
第2と第4のパルスの幅と、第1と第3のパルスの幅と
の差の商に比例する流れを算定するコンピュータを備え
ている。
次に本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第1図は管1を流れる流体の流れを測定する磁気誘導流
量計を示している。磁気制御回路4はコイル2に接続さ
れ、コイル2は本発明では2つのコイル半部2a及び2
bから形成され、且つ流れ方向に対して垂直な磁界を管
1内に生成する。流れ方向とほぼ垂直に、又、コイル2
によって生成される磁界の方向に垂直に、増幅器5に接
続された電極配列3が配されている。この電極配列3は
公知の方法で磁界及び流体の流れによって生成される電
流量を測定する。増幅器5の出力は最終値選択回路38
に接続され、該回路によってユーザーは所望の最終値を
セットすることができる。この回路38は切換えスイッ
チ8の入力に接続されている。切換えスイッチ8の別の
入力はシミュレート信号発生器7に接続されている。シ
ミュレート信号発生器7は同期回路6に接続され、この
同期回路はサイクル発生器25によって制御され、且つ
電極配列3の走査周波数を、磁気制御回路4の磁化周波
数と同期化させる。切換えスイッチ8の出力は評価回路
9に接続されている。
量計を示している。磁気制御回路4はコイル2に接続さ
れ、コイル2は本発明では2つのコイル半部2a及び2
bから形成され、且つ流れ方向に対して垂直な磁界を管
1内に生成する。流れ方向とほぼ垂直に、又、コイル2
によって生成される磁界の方向に垂直に、増幅器5に接
続された電極配列3が配されている。この電極配列3は
公知の方法で磁界及び流体の流れによって生成される電
流量を測定する。増幅器5の出力は最終値選択回路38
に接続され、該回路によってユーザーは所望の最終値を
セットすることができる。この回路38は切換えスイッ
チ8の入力に接続されている。切換えスイッチ8の別の
入力はシミュレート信号発生器7に接続されている。シ
ミュレート信号発生器7は同期回路6に接続され、この
同期回路はサイクル発生器25によって制御され、且つ
電極配列3の走査周波数を、磁気制御回路4の磁化周波
数と同期化させる。切換えスイッチ8の出力は評価回路
9に接続されている。
評価回路9は積分器12を備えており、この積分器の入
力は周波数準拠減衰素子11を介して切換えスイッチ8
の出力に接続されている。周波数準拠減衰素子11は、
切換えスイッチ8が切換える周波数に比例して積分器1
2の入力レベルを減衰する。すなわち、周波数が半分の
ときは、積分器12の入力レベルも同様に半分である。
力は周波数準拠減衰素子11を介して切換えスイッチ8
の出力に接続されている。周波数準拠減衰素子11は、
切換えスイッチ8が切換える周波数に比例して積分器1
2の入力レベルを減衰する。すなわち、周波数が半分の
ときは、積分器12の入力レベルも同様に半分である。
それによって積分器出力の下流の回路部品の過制御が回
避される。積分器12の出力は5つの記憶位置14乃至
18を有するシフトレジスタに接続されている。第1の
記憶位W14及び第5の記憶位置18は加算回路20の
反転入力に接続され、一方、第3の記憶位置16は、第
3の記憶位置16の内容の値を二倍にする乗算器19に
よって加算回路20の正の入力に接続されている。この
ようにして加算回路20は第3の記憶位置の内容の2倍
から、第1と第5の記憶位置の内容の総和を減じた差が
形成される。
避される。積分器12の出力は5つの記憶位置14乃至
18を有するシフトレジスタに接続されている。第1の
記憶位W14及び第5の記憶位置18は加算回路20の
反転入力に接続され、一方、第3の記憶位置16は、第
3の記憶位置16の内容の値を二倍にする乗算器19に
よって加算回路20の正の入力に接続されている。この
ようにして加算回路20は第3の記憶位置の内容の2倍
から、第1と第5の記憶位置の内容の総和を減じた差が
形成される。
加算回路20は第2切換えスイッチのひとつの人力に接
続さている。第2切換えスイッチ21の第2人力は基準
信号発生器22に接続されている。
続さている。第2切換えスイッチ21の第2人力は基準
信号発生器22に接続されている。
第2切換えスイッチ21の出力は、デュアルスロープ積
分器及びパルス幅変調器23に接続されており、該変調
器の出力はマイクロプロセッサ24の入力に接続されて
いる。このデュアルスロープ積分器は所定の期間にわた
って加算回路20によつて供給される値を積分する。初
期値として所定の継続期間の終端に達する値を利用して
、積分器は基準信号発生器によって供給される一定の電
圧で別の方向で積分するので、2つのフランクが基本的
に異なる傾斜を有する三角信号が得られる。
分器及びパルス幅変調器23に接続されており、該変調
器の出力はマイクロプロセッサ24の入力に接続されて
いる。このデュアルスロープ積分器は所定の期間にわた
って加算回路20によつて供給される値を積分する。初
期値として所定の継続期間の終端に達する値を利用して
、積分器は基準信号発生器によって供給される一定の電
圧で別の方向で積分するので、2つのフランクが基本的
に異なる傾斜を有する三角信号が得られる。
パルス幅変調器は、積分器が、第1の所定の継続期間の
終端で達する初期値から再度ゼロに積分するのに必要な
時間を判定する。
終端で達する初期値から再度ゼロに積分するのに必要な
時間を判定する。
流量計は更にサイクル生成回路10を備えている。サイ
クル発生器25は第2切換えスイッチ21及びデュアル
スロープ積分器及びパルス幅変調器23に接続されてい
る。第2切換えスイッチ21は、各サイクルパルスの出
現で切換わり、方、デュアルスロープ積分器及びパルス
幅変調器23は各サイクルパルスの出現でその集積方向
を切換える。サイクル発生器25は更に分割器26に接
続され、分割器26は一方でサイクル周波数を因数2で
分割し且つこの半分に分割されたサイクル周波数を切換
えスイッチ8及びシフトレジスタ13に伝送し、他方、
サイクル周波数を因数4で分割し、この周波数を磁気制
御回路4に伝送する。サイクルパルスが出現すると、磁
気制御回路4はコイル2内の磁界を反転し、且つ、シミ
ュレート信号発生器7は第1の所定値を第2の所定値へ
と、又、この逆へと切換える。切換えスイッチ8は測定
とシミュレート量との間を切換える。サイクル発生器2
5は更にパルス形成器27に接続され、このパルス形成
器はサイクル信号の各上昇フランク毎に、積分器12を
その初期値へとリセットするパルスを発生する。
クル発生器25は第2切換えスイッチ21及びデュアル
スロープ積分器及びパルス幅変調器23に接続されてい
る。第2切換えスイッチ21は、各サイクルパルスの出
現で切換わり、方、デュアルスロープ積分器及びパルス
幅変調器23は各サイクルパルスの出現でその集積方向
を切換える。サイクル発生器25は更に分割器26に接
続され、分割器26は一方でサイクル周波数を因数2で
分割し且つこの半分に分割されたサイクル周波数を切換
えスイッチ8及びシフトレジスタ13に伝送し、他方、
サイクル周波数を因数4で分割し、この周波数を磁気制
御回路4に伝送する。サイクルパルスが出現すると、磁
気制御回路4はコイル2内の磁界を反転し、且つ、シミ
ュレート信号発生器7は第1の所定値を第2の所定値へ
と、又、この逆へと切換える。切換えスイッチ8は測定
とシミュレート量との間を切換える。サイクル発生器2
5は更にパルス形成器27に接続され、このパルス形成
器はサイクル信号の各上昇フランク毎に、積分器12を
その初期値へとリセットするパルスを発生する。
第2図は積分器12と加算回路20の構造を示している
。電極3から来る信号は増幅器5内で増幅され、その増
幅率は外部からインピーダンスZによって調整可能であ
る。増幅器5の出力信号は最終値選択回路38を経てマ
ルチプレクサから成ることができる切換えスイッチ8に
送られる。
。電極3から来る信号は増幅器5内で増幅され、その増
幅率は外部からインピーダンスZによって調整可能であ
る。増幅器5の出力信号は最終値選択回路38を経てマ
ルチプレクサから成ることができる切換えスイッチ8に
送られる。
切換えスイッチ8の出力に接続された積分器は、演算増
幅器28と、抵抗RとコンデンサCから形成されている
。パルス形成回路28からのりセントパルスが出現する
と、コンデンサCは短絡し、積分器の出力はゼロにセッ
トされる。周波数準拠素子11は明解にするため第2図
では省略されている。
幅器28と、抵抗RとコンデンサCから形成されている
。パルス形成回路28からのりセントパルスが出現する
と、コンデンサCは短絡し、積分器の出力はゼロにセッ
トされる。周波数準拠素子11は明解にするため第2図
では省略されている。
シフトレジスタ13は入力37における各サイクルパル
ス用に記憶位置の内容を1つだけ右にシフトする。積分
器12の瞬間的な出力値は記憶位置14内に保持される
。第1記憶位置14の出力と、第5記憶位置18の出力
は抵抗Rを介して演算増幅器29の反転入力に接続され
、前記演算増幅器の戻り線には同サイズの抵抗Rが配設
されている。第3記憶位置16の出力は同一の抵抗Rを
介して演算増幅器29の非反転入力に接続されている。
ス用に記憶位置の内容を1つだけ右にシフトする。積分
器12の瞬間的な出力値は記憶位置14内に保持される
。第1記憶位置14の出力と、第5記憶位置18の出力
は抵抗Rを介して演算増幅器29の反転入力に接続され
、前記演算増幅器の戻り線には同サイズの抵抗Rが配設
されている。第3記憶位置16の出力は同一の抵抗Rを
介して演算増幅器29の非反転入力に接続されている。
演算増幅器29の非反転入力と、アースとの間には、サ
イズが二倍の抵抗Rが配されている。
イズが二倍の抵抗Rが配されている。
それによって加算回路が形成され、この加算回路は第3
記憶位置16の内容の二倍から、第1記憶位置14と第
5記憶位置1日の内容の総和を減じる。第1、第3及び
第5の記憶位置14.16及び18が測定又はシミュレ
ート量を測定するとき、第2及び第4の記憶値W15及
び17はそれぞれシミュレート量又は測定値を記憶する
。このようにして、加算回路20は常に、同種類の量だ
けを相互結合する。
記憶位置16の内容の二倍から、第1記憶位置14と第
5記憶位置1日の内容の総和を減じる。第1、第3及び
第5の記憶位置14.16及び18が測定又はシミュレ
ート量を測定するとき、第2及び第4の記憶値W15及
び17はそれぞれシミュレート量又は測定値を記憶する
。このようにして、加算回路20は常に、同種類の量だ
けを相互結合する。
第3図はシミュレート信号発生器の簡単な実施例を示し
ている。基準電圧源35は分圧器R1、R2によってア
ースに接続されている。シミュレート量は第2抵抗R2
を横切って誘導される。この目的のため、切換えスイッ
チ36はシミュレート信号発生器の出力をR1及びR2
の接合部と、アースとの間を往復して切換える。シミュ
レート量は従って、その2つの値が例えばOvと5mV
である方形信号である。勿論、シミュレート信号発生器
を、シミュレート量がゼロ軸に対称に配分されるように
構成することも考えられる。しかし、積分器12に続く
加算回路20が偏位電圧を除去し、重要であるのはシミ
ュレート量の2つの値開の差だけであるので、さほど意
味がない。
ている。基準電圧源35は分圧器R1、R2によってア
ースに接続されている。シミュレート量は第2抵抗R2
を横切って誘導される。この目的のため、切換えスイッ
チ36はシミュレート信号発生器の出力をR1及びR2
の接合部と、アースとの間を往復して切換える。シミュ
レート量は従って、その2つの値が例えばOvと5mV
である方形信号である。勿論、シミュレート信号発生器
を、シミュレート量がゼロ軸に対称に配分されるように
構成することも考えられる。しかし、積分器12に続く
加算回路20が偏位電圧を除去し、重要であるのはシミ
ュレート量の2つの値開の差だけであるので、さほど意
味がない。
第4図は第1図及び第2図のいくつかの機能信号の進路
を示している。第1図では、それぞれの信号用の導体に
は対応する線の文字を符しである。
を示している。第1図では、それぞれの信号用の導体に
は対応する線の文字を符しである。
サイクル発生器25は第4図aに示された第1サイクル
パルスを生成する。このサイクル信号から、リセットパ
ルス(第4図e)はサイクルパルスの各上昇フランク毎
にパルス形成器27内で生成される。第2サイクルパル
ス(第4図b)は第1サイクルパルスaのサイクル周波
数の半分の周波数を有している。シミュレート信号(第
4図C)は本実施例では、測定信号と同期した正の方形
電圧の形状を呈している。(第4図d)第4図fは積分
器の出力電圧を示している。第4図gは加算回路20の
出力電圧を示している。この出力電圧は、シフトレジス
タ13の記憶位置14乃至18が特定の時点で積分器1
2の出力値を保持しており、且つ新たなサイクルパルス
の出現によってのみ変化するので、区分的に一定である
。第4図りはデュアルスロープ積分器の出力を示し、第
4図iはマイクロプロセッサ24によって供給されるパ
ルス幅変調パルスを示している。
パルスを生成する。このサイクル信号から、リセットパ
ルス(第4図e)はサイクルパルスの各上昇フランク毎
にパルス形成器27内で生成される。第2サイクルパル
ス(第4図b)は第1サイクルパルスaのサイクル周波
数の半分の周波数を有している。シミュレート信号(第
4図C)は本実施例では、測定信号と同期した正の方形
電圧の形状を呈している。(第4図d)第4図fは積分
器の出力電圧を示している。第4図gは加算回路20の
出力電圧を示している。この出力電圧は、シフトレジス
タ13の記憶位置14乃至18が特定の時点で積分器1
2の出力値を保持しており、且つ新たなサイクルパルス
の出現によってのみ変化するので、区分的に一定である
。第4図りはデュアルスロープ積分器の出力を示し、第
4図iはマイクロプロセッサ24によって供給されるパ
ルス幅変調パルスを示している。
第1の一周期中、積分器12はスイッチ8を介してシミ
ュレ−1・信号発生器7に接続さ゛れている。
ュレ−1・信号発生器7に接続さ゛れている。
この−周期内の高電圧の正のシミュレート量(第4図C
)によって、積分器の出力電圧は、積分器かりセットパ
ルスによって再度ゼロにセットし直されるまで比較的高
い値に上昇する。(第4図e)次の一周期中、積分器1
2はスイッチ8を介して測定に接続される。(第4図d
)この量の値は本実施例では先行するシミュレート量よ
りも小さい正の値であり、電圧がリセットパルスによっ
て再度ゼロまでセットされるまで、集積器12を比較的
小さい電圧へと上昇させる。(第4図e)次の分器12
は再び測定に接続され、これは第2の一周期と比較して
磁界が逆であるので、負であり、従って、積分器12の
出力値は負の値に上昇する。
)によって、積分器の出力電圧は、積分器かりセットパ
ルスによって再度ゼロにセットし直されるまで比較的高
い値に上昇する。(第4図e)次の一周期中、積分器1
2はスイッチ8を介して測定に接続される。(第4図d
)この量の値は本実施例では先行するシミュレート量よ
りも小さい正の値であり、電圧がリセットパルスによっ
て再度ゼロまでセットされるまで、集積器12を比較的
小さい電圧へと上昇させる。(第4図e)次の分器12
は再び測定に接続され、これは第2の一周期と比較して
磁界が逆であるので、負であり、従って、積分器12の
出力値は負の値に上昇する。
積分器12の図示した出力値(第4図f)は非反転積分
器からの出力値である。第2図に示した逆転積分器を利
用すると、積分器の出力値は逆の符号を有している。第
4図dに示された測定信号は、干渉電圧又は直流レベル
の変位がない理想的な測定電圧である。しかし、実際の
測定信号には常に干渉電圧が重なり、これは実際の測定
電圧よりも1000倍も高いことがある。このため、図
示された積分信号(第4図f)も又、理想化された表現
である。実際には個々の電圧の間にはずっと大きい差が
ある。その結果、この積分信号は、アナログ/デジタル
変換中に情報の重要部分を損失することなしにはデジタ
ル信号に直接変換することができない。
器からの出力値である。第2図に示した逆転積分器を利
用すると、積分器の出力値は逆の符号を有している。第
4図dに示された測定信号は、干渉電圧又は直流レベル
の変位がない理想的な測定電圧である。しかし、実際の
測定信号には常に干渉電圧が重なり、これは実際の測定
電圧よりも1000倍も高いことがある。このため、図
示された積分信号(第4図f)も又、理想化された表現
である。実際には個々の電圧の間にはずっと大きい差が
ある。その結果、この積分信号は、アナログ/デジタル
変換中に情報の重要部分を損失することなしにはデジタ
ル信号に直接変換することができない。
切換えスイッチ8が切換わる毎に、積分器12はリセッ
トパルスによってゼロにリセットされる。
トパルスによってゼロにリセットされる。
同時に、積分器12によって到達された出力値はシフト
レジスタ13の第1記憶位置14に記憶され、一方、従
来記憶された内容は1つの記憶位置ぶんだけ右にシフト
される。従って、これらの値だけが加算回路20に供給
され、これらは切換えスイッチ8の切換え周期の半分の
期間中、一定である。デュアルスロープ積分器23はこ
の周期の半分にわたって加算回路20の出力電圧を積分
する。この周期の終りに、第2切換えスイッチ21が切
換わり、これによって積分器は規準信号発生器22の一
定電圧と共に降下電圧を生成する。積分器23が降下フ
ランクを生成する期間はパルス幅変調器23の出力に現
われるパルスの幅の尺度である。デュアルスロープ積分
器の入力電圧が低いほど、積分器の出力電圧を再度ゼロ
に戻すために基準信号発生器22の電圧に必要な時間は
少なく、パルス幅変調器23の出力におけるパルスは狭
くなる。
レジスタ13の第1記憶位置14に記憶され、一方、従
来記憶された内容は1つの記憶位置ぶんだけ右にシフト
される。従って、これらの値だけが加算回路20に供給
され、これらは切換えスイッチ8の切換え周期の半分の
期間中、一定である。デュアルスロープ積分器23はこ
の周期の半分にわたって加算回路20の出力電圧を積分
する。この周期の終りに、第2切換えスイッチ21が切
換わり、これによって積分器は規準信号発生器22の一
定電圧と共に降下電圧を生成する。積分器23が降下フ
ランクを生成する期間はパルス幅変調器23の出力に現
われるパルスの幅の尺度である。デュアルスロープ積分
器の入力電圧が低いほど、積分器の出力電圧を再度ゼロ
に戻すために基準信号発生器22の電圧に必要な時間は
少なく、パルス幅変調器23の出力におけるパルスは狭
くなる。
異なる幅を有するパルスはマイクロプロセッサ24に送
られ、このマイクロプロセッサはパルス幅W4とパルス
幅W2との差と、パルス幅W3とパルス幅WIとの差と
の商から流量を判定する。
られ、このマイクロプロセッサはパルス幅W4とパルス
幅W2との差と、パルス幅W3とパルス幅WIとの差と
の商から流量を判定する。
この商は、真の流量を得るためには定数で乗算するだけ
でよい。
でよい。
第1図の流量計はサイクル発生器25の一定のサイクル
周波数にて動作される。第5図はサイクルパルス生成回
路10の別の実施例を示している。
周波数にて動作される。第5図はサイクルパルス生成回
路10の別の実施例を示している。
サイクル発生器25のサイクルは固定分割器26を通っ
てではなく、分割器30を通って選択器回路31へと伝
送される。例えば回路CMO54520によって構成で
きる分割器30は2.4及び8でサイクル周波数を分割
する。例えばマルチプレクサCMO34052によって
構成できる選択回路31には従って、1:2:4:8の
比率の周波数の4つのサイクル信号が供給される。量A
0及びA1によって、出口Qにどの周波数が現れるかを
選択することができる。それによってスイッチ8の切換
え周波数及び、ひいては磁気制御回路及びシミュレート
信号発生器の周期を、異なる要求に適合させることがで
きる。選択された周波数は2つの量A、及びA、によっ
て決定される。両方の周波数がゼロである場合は、サイ
クル発生器25の出力信号cpの周波数は直接、選択回
路31の出口Qに到達する。Ao =I 、A+ =O
の場合は周波数は2分割され、A、=0、A1−1の場
合は4分割され、又、双方の量が1である場合は8分割
される。信号Qはパルス形成器27に直接伝送され、こ
のパルス形成器は信号Qの各上昇フランク毎にリセット
信号Rを生成する。信号Qは分割器32内で2分割され
る。出力信号Q12は切換えスイッチ8に送られる。分
割器32は同様に信号Qを因数4で分割し、且つ、出力
信号Q14を磁気制御回路4に誘導する。
てではなく、分割器30を通って選択器回路31へと伝
送される。例えば回路CMO54520によって構成で
きる分割器30は2.4及び8でサイクル周波数を分割
する。例えばマルチプレクサCMO34052によって
構成できる選択回路31には従って、1:2:4:8の
比率の周波数の4つのサイクル信号が供給される。量A
0及びA1によって、出口Qにどの周波数が現れるかを
選択することができる。それによってスイッチ8の切換
え周波数及び、ひいては磁気制御回路及びシミュレート
信号発生器の周期を、異なる要求に適合させることがで
きる。選択された周波数は2つの量A、及びA、によっ
て決定される。両方の周波数がゼロである場合は、サイ
クル発生器25の出力信号cpの周波数は直接、選択回
路31の出口Qに到達する。Ao =I 、A+ =O
の場合は周波数は2分割され、A、=0、A1−1の場
合は4分割され、又、双方の量が1である場合は8分割
される。信号Qはパルス形成器27に直接伝送され、こ
のパルス形成器は信号Qの各上昇フランク毎にリセット
信号Rを生成する。信号Qは分割器32内で2分割され
る。出力信号Q12は切換えスイッチ8に送られる。分
割器32は同様に信号Qを因数4で分割し、且つ、出力
信号Q14を磁気制御回路4に誘導する。
このようにして選択され得る異なるサイクル周波数によ
って、磁化周波数ごとに異なる値を用い、それによって
流量計の時間定数を変更することができる。シミュレー
ト周波数は磁化周波数に適応されるので、このように異
なる磁化周波数で、流量計を動作させることができる。
って、磁化周波数ごとに異なる値を用い、それによって
流量計の時間定数を変更することができる。シミュレー
ト周波数は磁化周波数に適応されるので、このように異
なる磁化周波数で、流量計を動作させることができる。
第1図の回路及び第4図の信号コースの場合は、シミュ
レート量は半周期にわたって常に一定に保っているが、
これとは対照的に、シミュレート信号発生器はこの実施
例では別個に制御される。シは値0■を生成することが
できる。流量を計算するため、シミュレート量が測定と
同位相であるか180°変位されているかは、基本的に
相異はない。このシミュレート制御信号を生成するには
、分割器32は信号Q14だけではなく逆信号百14を
も生成する。論理回路33を用いて、次に第2信号が全
て省略されている信号Uに対応する信号が生成される。
レート量は半周期にわたって常に一定に保っているが、
これとは対照的に、シミュレート信号発生器はこの実施
例では別個に制御される。シは値0■を生成することが
できる。流量を計算するため、シミュレート量が測定と
同位相であるか180°変位されているかは、基本的に
相異はない。このシミュレート制御信号を生成するには
、分割器32は信号Q14だけではなく逆信号百14を
も生成する。論理回路33を用いて、次に第2信号が全
て省略されている信号Uに対応する信号が生成される。
磁気制御信号Mと同位相の信号の場合は、ゲート33の
2つの出力導線の1つが使用され、一方、別の場合は他
の導線が使用される。最終的にどの信号が使用されるか
については、量A2に応じて選択回路34で決定される
。
2つの出力導線の1つが使用され、一方、別の場合は他
の導線が使用される。最終的にどの信号が使用されるか
については、量A2に応じて選択回路34で決定される
。
第6図は4つの異なる動作様式での磁気制御信号M及び
切換え制御信号U及び2つの異なる動作様式でのシミュ
レート制御信号Sとリセント信号Rの信号コースを示し
ている。
切換え制御信号U及び2つの異なる動作様式でのシミュ
レート制御信号Sとリセント信号Rの信号コースを示し
ている。
A2=0の場合は、シミュレート制御信号Sは磁気制御
信号Mと同位相である。A2−1の場合は信号は180
’変位されている。シミュレート制御信号及びシミュレ
ート量が電極配列又は積分器に影響を及ぼすと問題が生
じる場合がある。
信号Mと同位相である。A2−1の場合は信号は180
’変位されている。シミュレート制御信号及びシミュレ
ート量が電極配列又は積分器に影響を及ぼすと問題が生
じる場合がある。
A2=0のシミュレータ制御を使用した場合は、このこ
とは、主に正の流量測定周期が影響されており、一方、
別の動作態様(Az=1)の場合は主に負の測定周期が
影響されていることを意味している。この誤差を除去す
るため、誤差が互いに相殺することに寄与するため、2
つのシミュレータ制御を周期的に交番させる。
とは、主に正の流量測定周期が影響されており、一方、
別の動作態様(Az=1)の場合は主に負の測定周期が
影響されていることを意味している。この誤差を除去す
るため、誤差が互いに相殺することに寄与するため、2
つのシミュレータ制御を周期的に交番させる。
【図面の簡単な説明】
第1図は磁気誘導流量計を示す回路図である。
第2図は流量計の一部を詳細に示す回路図である。
第3図はシミュレート信号発生器の一実施例を示す回路
図である。 第4図は第1図の流量計の異なる位置での信号の性質を
示す波形図である。 第5図はサイクル生成装置の別の実施例を示す回路図で
ある。 第6図は第4図のサイクル生成装置の量のタイムダイヤ
グラムを示す図である。 図中符号: 1−管 2−コイル3−電極配列
4−磁気制御回路5−増幅器
6−同期回路7−シミュレート信号発生器 8−切換えスイッチ 9−評価回路10−サイクル
生成回路 11−減衰装置 12−積分器13−シフトレ
ジスタ 14〜18−記憶位置 19−・マルチプレクサ 20−加算回路 21−切換えスイッチ2−基
準信号発生器 4−マイクロプロセッサ 5− サイクル発生器 7−パルス形成器 9−演算増幅器 ■−選択回路 3−論理回路 7−人力 、Rz”−抵抗 コンデンサ パルス幅変調器 6−分割器 8− 演算増幅器 0−・−分割器 2−分割器 4−・−選択回路
図である。 第4図は第1図の流量計の異なる位置での信号の性質を
示す波形図である。 第5図はサイクル生成装置の別の実施例を示す回路図で
ある。 第6図は第4図のサイクル生成装置の量のタイムダイヤ
グラムを示す図である。 図中符号: 1−管 2−コイル3−電極配列
4−磁気制御回路5−増幅器
6−同期回路7−シミュレート信号発生器 8−切換えスイッチ 9−評価回路10−サイクル
生成回路 11−減衰装置 12−積分器13−シフトレ
ジスタ 14〜18−記憶位置 19−・マルチプレクサ 20−加算回路 21−切換えスイッチ2−基
準信号発生器 4−マイクロプロセッサ 5− サイクル発生器 7−パルス形成器 9−演算増幅器 ■−選択回路 3−論理回路 7−人力 、Rz”−抵抗 コンデンサ パルス幅変調器 6−分割器 8− 演算増幅器 0−・−分割器 2−分割器 4−・−選択回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、周期的に交番する区分的に一定の磁界によって行な
われる測定が半周期毎の区分で処理される磁気誘導流量
の測定方法において、区分的に一定のシミュレート量が
磁界と同期的に変化するように生成され、且つ、測定が
処理されるのと同様に、測定と交番で各々の半周期の別
の区分で処理されて出力値が形成されることを特徴とす
る方法。 2、測定又はその出力値がシミュレート量又はその出力
値と比較されることを特徴とする請求項1記載の方法。 3、測定及びシミュレート量は処理の後に比較されるこ
とを特徴とする請求項1又は2記載の方法。 4、周期的に交番する区分的に一定の磁界によって行な
われる測定が半周期毎の区分で処理される磁気誘導流量
の測定方法、とくに請求項1乃至3に記載の方法におい
て、測定及び場合によってはシミュレート量の連続出力
値が連続的な記憶位置に逐次記憶され、その際、測定又
はシミュレート量の新たな出力値が生成されると、現存
する出力値は次に続く記憶位置に記憶され、且つ、少な
くとも2つの記憶位置の内容を利用して評価が行なわれ
ることを特徴とする方法。 5、測定及びシミュレート量の出力値は記憶位置から別
個に読出され且つ別個に処理されることを特徴とする請
求項1乃至4記載の方法。 6、測定又はシミュレート量の少なくとも3つの連続す
る出力値が記憶され、次に共に処理されることを特徴と
する請求項1乃至5記載の方法。 7、処理された量は第2の出力値の2倍と、第1及び第
3の出力値の和との差から形成されることを特徴とする
請求項6記載の方法。 8、流量は測定の出力値から処理された量の比率と、シ
ミュレート量の出力値からの処理された量の比率に比例
して形成されることを特徴とする請求項6又は7記載の
方法。 9、パルス幅変調されたパルスが処理された量から得ら
れることを特徴とする請求項6乃至8記載の方法。 10、流量は4つの連続するパルスを介して形成され、
流量は第2と第4のパルスのパルス幅の差と、第1と第
3のパルスのパルス幅の差の商に比例することを特徴と
する請求項9記載の方法。 11、シミュレート量は半周期よりも大きい第1区分に
わたって一定の第1入力値を帯び、且つ半周期よりも小
さい第2区分にわたって一定の第2入力値を帯び、測定
信号測定周期と、シミュレート信号測定周期との間に2
つの入力値間の変化が存在することを特徴とする請求項
1乃至10記載の方法。 12、シミュレート量の第2入力値は第1又は第2半周
期のいずれかで周期的に交番で生成されることを特徴と
する請求項11記載の方法。 13、シミュレート量の出力値が所望値と比較されるこ
とを特徴とする請求項1乃至12の1つに記載の方法。 14、シミュレート量の出力値が所望値と所定の値だけ
相異しているとアラームが起動することを特徴とする請
求項13記載の方法。 15、磁気誘導流量計、とくに請求項1乃至14の1つ
に記載の方法を実施するための磁気誘導流量計であって
、磁界を生成するコイルと、コイルに接続された磁界制
御回路と、磁界及び流れ方向とほぼ垂直な電極配列と、
電極配列に接続された増幅器と、評価回路とから成る磁
気誘導流量計において、シミュレート量を生成するため
のシミュレート信号発生器7を備え、この発生器は切換
えスイッチ8の1つの入口に接続され、増幅器5は切換
えスイッチ8の別の入口に接続され、且つ切換えスイッ
チ8の出口は評価回路9に接続されたことを特徴とする
磁気誘導流量計。 16、磁界制御回路4とシミュレート信号発生器7に第
1サイクル周波数の第1パルスを供給し、且つ切換えス
イッチ8に大きさが2倍である第2サイクル周波数の第
2パルスを供給するサイクル発生器25を備え、サイク
ルパルスが出現すると、磁界制御回路4が磁界の方向を
反転し、シミュレート信号発生器7は所定の第1入力値
と所定の第2入力値との間のシミュレート量を変更し、
且つ切換えスイッチ8が切換わることを特徴とする請求
項15記載の流量計。 17、評価回路9は切換えスイッチ8の出口に接続され
、且つ、第2サイクルパルスのそれぞれの負及びそれぞ
れの正のフランクによってその初期値にリセットされる
積分器12を備えたことを特徴とする請求項15又は1
6記載の流量計。 18、評価回路9は切換えスイッチ8の出口と積分器1
2の入口との間に配設された周波数準拠の減衰素子11
を備えたことを特徴とする請求項17記載の流量計。 19、評価回路9は少なくとも2つの記憶位置14乃至
18を有していて、積分器12の出力に接続されたシフ
トレジスタ13を備え、第2パルスが出現すると第1記
憶位置14内に積分器の出力値を記憶し、且つ全ての記
憶位置14乃至18の以前の内容を1つの記憶位置14
乃至18だけ前進させることを特徴とする請求項15乃
至18の1つに記載の流量計。 20、シフトレジスタ13は5つの記憶位置14乃至1
8を備えたことを特徴とする請求項19記載の流量計。 21、加算回路20がシフトレジスタ13に接続され、
且つ第1と第5の記憶位置14、18の内容の合計と、
第3記憶位置16の内容の2倍との差を形成することを
特徴とする請求項20記載の流量計。 22、評価回路9は積分器12の出力値から得られた量
から、量に応じて評価されたパルス幅を形成するパルス
幅変調装置21乃至23を備えたことを特徴とする請求
項17乃至21の1つに記載の流量計。 23、4つの群に結合された被評価パルスを形成し、且
つ第2と第4のパルスのパルス幅と第1と第3のパルス
のパルス幅の差の商に比例する流れを形成するコンピュ
ータ24を備えたことを特徴とする請求項22記載の流
量計。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3829063.4 | 1988-08-26 | ||
DE3829063A DE3829063C3 (de) | 1988-08-26 | 1988-08-26 | Verfahren zur Drift-Erkennung eines Meßwertumformers bei magnetisch-induktiver Durchflußmessung und magnetisch-induktiver Durchflußmesser |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02107922A true JPH02107922A (ja) | 1990-04-19 |
JPH0625683B2 JPH0625683B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=6361684
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1220107A Expired - Lifetime JPH0625683B2 (ja) | 1988-08-26 | 1989-08-25 | 磁気誘導流量の測定方法及び滋気誘導流量計 |
Country Status (14)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4972722A (ja) |
JP (1) | JPH0625683B2 (ja) |
AU (1) | AU624853B2 (ja) |
BE (1) | BE1003049A3 (ja) |
CA (1) | CA1327901C (ja) |
CH (1) | CH679073A5 (ja) |
DE (1) | DE3829063C3 (ja) |
DK (1) | DK389289A (ja) |
ES (1) | ES2014887A6 (ja) |
FR (1) | FR2635863B1 (ja) |
GB (1) | GB2222263B (ja) |
IT (1) | IT1233181B (ja) |
NL (1) | NL192751C (ja) |
SE (1) | SE503015C2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DK0521169T3 (da) * | 1991-06-08 | 1996-02-26 | Flowtec Ag | Elektromagnetisk flowmåler |
ES2068132B1 (es) * | 1993-04-27 | 1999-02-01 | Vilchez Oyonarte Rafael | Sistema de control automatico del agua de adiccion a una centrifugadora horizontal en la fabricacion de aceite de oliva. |
FI98661C (fi) * | 1995-09-08 | 1997-07-25 | Oras Oy | Menetelmä ja järjestely nesteen, erityisesti veden virtausnopeuden mittaamiseksi |
DE19655107C2 (de) * | 1996-04-17 | 2002-11-14 | Krohne Messtechnik Kg | Magnetisch-induktives Durchflußmeßgerät |
JP3385308B2 (ja) * | 1998-06-01 | 2003-03-10 | 三菱電機株式会社 | 熱式流量計および燃料制御装置 |
DE50014184D1 (de) * | 2000-10-12 | 2007-05-03 | Flowtec Ag | Prüfgerät für ein Coriolis-Massedurchflussmessgerät |
DE10060706A1 (de) * | 2000-12-07 | 2002-06-13 | Flowtec Ag | Verfahren und eine Vorrichtung zur System- und/oder Prozeßüberwachung |
JP2003075239A (ja) * | 2001-09-04 | 2003-03-12 | Aichi Tokei Denki Co Ltd | センサー |
EP1298421A1 (de) * | 2001-09-27 | 2003-04-02 | Endress + Hauser Flowtec AG | Verfahren zur Überwachung eines Coriolis-Massedurchflussmesser |
DE10255698B4 (de) * | 2002-11-29 | 2021-06-24 | Abb Ag | Verfahren zum Betrieb einer Durchflussmesseinrichtung |
ITMI20030494A1 (it) * | 2003-03-14 | 2004-09-15 | Nuovo Pignone Spa | Sistema per il controllo del recupero dei vapori in una |
DE102004018078B3 (de) * | 2004-04-08 | 2006-01-05 | Krohne Meßtechnik GmbH & Co KG | Verfahren zum Betreiben eines magnetisch-induktiven Durchflussmessgeräts |
DE102005033290B4 (de) * | 2005-07-16 | 2013-11-28 | Abb Ag | Verfahren und Einrichtung zur Erkennung von physikalisch-chemischen Zuständen an Messelektroden eines Durchflussmessers |
US7688057B2 (en) * | 2007-07-10 | 2010-03-30 | Rosemount Inc. | Noise diagnosis of operating conditions for an electromagnetic flowmeter |
JP6457899B2 (ja) * | 2015-07-22 | 2019-01-23 | アズビル株式会社 | 標準信号発生器 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0142008Y2 (ja) * | 1979-01-29 | 1989-12-11 | ||
DE3303017C1 (de) * | 1983-01-29 | 1984-07-26 | Krohne Meßtechnik GmbH & Co KG, 4100 Duisburg | Schaltung zur Selbstüberwachung eines Meßwertumformers für magnetisch-induktive Durchflußmeßgeräte |
DE3340330A1 (de) * | 1983-11-08 | 1985-05-15 | Flowtec AG, Reinach, Basel | Verfahren und anordnung zur kompensation eines sich zeitlich nichtlinear aendernden elektrischen signals |
JPS61204521A (ja) * | 1985-03-08 | 1986-09-10 | Hitachi Ltd | 電磁流量計 |
DE3537752A1 (de) * | 1985-10-23 | 1987-04-23 | Flowtec Ag | Verfahren zur kompensation von stoerspannungen im elektrodenkreis bei der magnetisch-induktiven durchflussmessung |
JPS62113019A (ja) * | 1985-11-13 | 1987-05-23 | Yokogawa Electric Corp | 電磁流量計 |
JP2711557B2 (ja) * | 1988-11-21 | 1998-02-10 | 株式会社クラベ | 押出成型用電気絶縁組成物 |
-
1988
- 1988-08-26 DE DE3829063A patent/DE3829063C3/de not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-07-12 CH CH2614/89A patent/CH679073A5/de not_active IP Right Cessation
- 1989-07-17 SE SE8902554A patent/SE503015C2/sv not_active IP Right Cessation
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- 1989-08-14 US US07/393,643 patent/US4972722A/en not_active Expired - Fee Related
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