JPH0210574B2 - - Google Patents

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JPH0210574B2
JPH0210574B2 JP57191640A JP19164082A JPH0210574B2 JP H0210574 B2 JPH0210574 B2 JP H0210574B2 JP 57191640 A JP57191640 A JP 57191640A JP 19164082 A JP19164082 A JP 19164082A JP H0210574 B2 JPH0210574 B2 JP H0210574B2
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JP
Japan
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wiring
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chip
pad
wire
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Yutaka Makino
Takeichi Yoshida
Akira Nakada
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Power Engineering (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体組立工程においてトランジス
タ、IC、LEDなどの半導体素子の電極と外部引
き出し電極間を能率よくかつ品質よく、微細なワ
イヤで結線する全自動ワイヤリング装置に関する
ものである。
従来例の構成とその問題点 半導体組立工程において、第1図AおよびBに
示す素子本体1(以下チツプと称す)の内部電極
2(以下パツドと称す)と外部引出し電極3(以
下リードと称す)を全線、アルミ線などの微細な
ワイヤ4によつてワイヤリングするための現在数
多く実現されているワイヤリング装置において
は、ワイヤリングツールは、第2図に示すように
あらかじめ設定された軌跡で上下動をする。すな
わち、この軌跡はワイヤリングツールを所定位置
まで高速で上下させる位置制御域、、、
と、ワイヤ先端をパツド2あるいはリード3に接
触させるため、低速で下降させる速度制御域、
およびワイヤを固着させるため一定の荷重を加
える荷重制御域、で構成されている。したが
つて、1ワイヤサイクル(〜)の時間短縮を
図るためには、速度制御域、を如何に短縮す
るかが1つの大きな課題であり、そのためには速
度制御域、でのワイヤリングツール下降量h
を可能な限り小さくすること、すなわち位置制御
域終点5,7をそれぞれ速度制御域終点6,8に
如何に近づけるかあるいは同一にするかがポイン
トとなる。第3図に示すように、チツプ1はリー
ド3に接着剤9で固定されているが、そのためリ
ード3の高さは同一であつてもチツプの高さHの
不ぞろいや傾き(第3図Bに示す)を生じ、結果
としてパツド2の高さのばらつきH1,H2となつ
ている。
従来、ワイヤリング装置においてはワイヤ先端
のつぶれや、チツプの割れ、かけを防ぐため低速
でワイヤ先端をパツド2やリード3に接触させる
必要があり、そのためワイヤリングツールの位置
制御域終点5の高さを、前記パツド高さのばらつ
きH1,H2を考慮してパツド面よりかなり上に設
定せざるを得なかつた。そのため速度制御域が
長くなつていた。また、ワイヤリング完了後の品
質確保のため、ワイヤリングミスの検査をする必
要があり、従来より種々の方法(例えば導通チエ
ツク)が提起されている。
しかしこれらの方法はワイヤのパツド側および
リード側の両側を検出することは困難であり、か
つワイヤ固着の際発生する形状不良(第3図A)
による半導体回路10のシヨート不良部11はほ
とんど検出不可であり、従来はワイヤリング完了
後作業者が目視により全数チエツクあるいは抜き
取りチエツクを行なつており、極めて非能率的で
あつた。
発明の目的 本発明は、上記従来の欠点を解消するとともに
品質の確保および、省人化をはかるものである。
発明の構成 本発明は、被ワイヤリング物を保持および移送
する治具と、ワイヤリングするツールを有したデ
イジタル制御できるヘツド部と、前記治具あるい
は、ヘツド部を搭載し移動出来るX−Yテーブル
と、被ワイヤリング物中の半導体素子の高さを読
み取る手段と、それらを制御するコンビユータ
(以下CPUと称す)を有し、前記半導体素子の高
さの読取り量から当該素子上の全パツドの実際高
さを当該コンピユータによつて演算し、このデイ
ジタル情報に基づいて前記ワイヤリングツールを
位置決めさせてワイヤリングを行うことにより、
ワイヤリングスピードの向上をはかることが出
来、さらには、ワイヤリング形状の良否を判定出
来る認識手段を備えており、ワイヤリング後のボ
ンデイングの良否を判定することが出来、品質の
確保と作業者の削減が出来、価格低下へきわめて
有利である。
実施例の説明 以下に本発明の一実施例を図で説明する。第4
図は本発明のワイヤリング装置の全体図を示して
いる。13はリードフレームであり、定ピツチで
チツプ12が装着された、このリードフレーム1
3を移送あるいは保持する治具14がX−Yテー
ブル15に搭載されている。一方ヘツド部16は
デイジタル制御できるアクチユエータ17に連結
され、ガイド18によつて案内され上下に摺動可
能に取りつけられたスライダ19およびスライダ
に固定されたワイヤリングツール20と、チツプ
12上のパツド位置を認識するテレビカメラ21
(以下ITVと称す)で構成され、ベース22上に
固定されている。またヘツド部16の前ポジシヨ
ンにはチツプの高さおよび上下の傾きを計測する
検出器23が設置され、後ポジシヨンにはワイヤ
の固着状態を検査するITV24とその検査結果
をリードフレームに表示する装置25が設置され
ている。
まずリードフレーム13は移載ユニツト(図示
せず)で治具内の高さ計測ポジシヨンにセツトさ
れる。この位置においてリードフレーム13上の
チツプ12の表面を高さ検出器23(例えば既知
の触計による高さ検出あるいは光フアイバーを使
用した無接触形の高さ検出器)によつて、すくな
くとも2ポジシヨン後で行なつているX−Yテー
ブル移動のワイヤリングデータ(最初の場合は、
標準ワイヤリングデータ)によつて3点以上高さ
測定を行い、その3点の高さ測定した位置と、高
さデータからCPUにより各ボンデイングポイン
トのXY座標における高さデータを演算しメモリ
に収納される。さらには、この高さを検出した時
の3点以上の位置の最初の点X,Y方向の原点か
らの座標値は、ワイヤリングデータによつてあき
らかであり、その数値もメモリーに収納される。
次にこのチツプは位置認識ポジシヨンへ前述の移
載ユニツトにて移載される。ここでITV21に
よりチツプをパターン認識し、チツプの標準位置
からのずれ量が計測され、その量によつてあらか
じめ登録されている標準パツド位置(ワイヤリン
グの基準データ)からの補正量がCPUで演算さ
れ各パツドの原点からの座標が判明するとともに
さらに第一パツド位置の原点からのX・Y座標値
と高さ計測ポジシヨンで計測しメモリーへ入力し
た傾き量と、高さ検出の最初の点の座標値とによ
つて、各パツドの高さがCPUによつて演算され
る。この様にして得られた当該チツプの各パツド
の高さデータは、制御部を介してデジタル制御出
来るアクチユエータ17へ、各パツドの最適座標
はX−Yテーブル15のアクチユエータへそれ指
令される。
そこでこのX・Yテーブルの作動開始と同期し
てワイヤリングツール20がアクチエータ17に
よつて上下動しパツド、リード間にワイヤリング
するが、ワイヤリングツール20の位置制御終点
5は、前記高さ計測ポジシヨンで計測演算された
各パツドの真の高さ情報によつて指定される。こ
のため位置制御終点5が荷重制御始点6と同一高
さになるため、速度制御域をなくすことができそ
の分だけ時間短縮が図れるものである。
次にワイヤリングされたチツプは移載ユニツト
によつて検査ポジシヨンに移載される。この位置
において検査用ITV24によつて各パツド、各
リードにワイヤリングされたワイヤの各々の固着
状態の情報が集収されパターン認識によりチエツ
クされる。その結果1チツプ内のワイヤリングさ
れたワイヤボンデイング状態が1つでも悪ければ
不良品として表示装置25によつてマーキングさ
れる。この検査ポジシヨンにおけるチツプの移動
パターンは、ワイヤリングポジシヨンにおけるチ
ツプの移動パターンと同一のため(同一X・Yテ
ーブルによる移動)新たな移動パターンをCPU
に入力する必要はない。このように一連の作業は
次々と連続して行なわれるとともに、同一X・Y
テーブルの動きで行なわれるため一つの移動パタ
ーンを入力すればよく極めて能率よいものとな
る。
発明の効果 以上のように高さ計測を自動化して、その情報
によつてワイヤリングすることにより、ワイヤリ
ング時間の短縮が図れ、またワイヤリング検査を
自動化することにより作業者の目視チエツクを必
要としなくなり、生産性の向上、品質の安定等実
用上の効果は極めて大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図Aは封止前のリードフレームの斜視図、
Bは同拡大斜視図、第2図はワイヤリングツール
の高さ一時間関係図、第3図Aはワイヤリング後
のチツプの拡大断面図、Bはチツプが傾いて接着
された状態を示すチツプの拡大断面図、第4図は
本発明の一実施例におけるワイヤリング装置の概
略図である。 1…チツプ、2…パッド、3…リード、4…ワ
イヤ、13…リードフレーム、14…治具、15
…X・Yテーブル、20…ワイヤリングツール、
21…位置計測ITVカメラ、17…デイジタル
制御アクチユエータ、23…高さ検出器、24…
検査用ITV、25…表示装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被ワイヤリング物を保持および移送する治具
    と、ワイヤリングするツールを有したヘツド部
    と、前記治具を搭載したX−Yテーブルと、被ワ
    イヤリング物中の半導体素子の高さを読み取る読
    取り手段と、この読取り手段により読みとつた情
    報によりあらかじめ前記ヘツド部を所定の位置に
    配するようにコントロールするコンピユータと、
    前記ヘツド部によりワイヤリングした後、ワイヤ
    リング形状の良否を判定出来る認識手段と、その
    判定結果を表示出来る手段とを備えた全自動ワイ
    ヤリング装置。
JP57191640A 1982-10-29 1982-10-29 全自動ワイヤリング装置 Granted JPS5980939A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57191640A JPS5980939A (ja) 1982-10-29 1982-10-29 全自動ワイヤリング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57191640A JPS5980939A (ja) 1982-10-29 1982-10-29 全自動ワイヤリング装置

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Publication Number Publication Date
JPS5980939A JPS5980939A (ja) 1984-05-10
JPH0210574B2 true JPH0210574B2 (ja) 1990-03-08

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ID=16278015

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57191640A Granted JPS5980939A (ja) 1982-10-29 1982-10-29 全自動ワイヤリング装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006294710A (ja) * 2005-04-06 2006-10-26 Nec Corp 傾き補正方法、ワイヤボンディング方法及びワイヤボンディング装置
JP7316796B2 (ja) * 2019-01-23 2023-07-28 三菱電機株式会社 ワイヤボンディング装置、ワイヤボンディング方法および半導体装置の製造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS568832A (en) * 1979-06-30 1981-01-29 Shinkawa Ltd Bonding plane height detector
JPS57183047A (en) * 1981-05-07 1982-11-11 Nec Corp Method for wire bonding and device thereof

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS568832A (en) * 1979-06-30 1981-01-29 Shinkawa Ltd Bonding plane height detector
JPS57183047A (en) * 1981-05-07 1982-11-11 Nec Corp Method for wire bonding and device thereof

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JPS5980939A (ja) 1984-05-10

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