JPH0210384B2 - - Google Patents
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- JPH0210384B2 JPH0210384B2 JP56019408A JP1940881A JPH0210384B2 JP H0210384 B2 JPH0210384 B2 JP H0210384B2 JP 56019408 A JP56019408 A JP 56019408A JP 1940881 A JP1940881 A JP 1940881A JP H0210384 B2 JPH0210384 B2 JP H0210384B2
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- tested
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、一定の間隔をもつ二次元格子点に
配列された検査用プローブを用いて、上記の格子
点と合致しない箇所にスルーホールを有する印刷
回路板の回路短絡および開放などの電気的検査を
する回路板検査装置に関するものである。
配列された検査用プローブを用いて、上記の格子
点と合致しない箇所にスルーホールを有する印刷
回路板の回路短絡および開放などの電気的検査を
する回路板検査装置に関するものである。
近年高密度実装における進歩は著しく、その支
持体となる印刷回路板（以後回路板という）にお
けるパターンの微細化および搭載部品の多様化に
よるパターンの不規則化、不特定化の要求は強
く、この傾向は将来より一層強まるものと予想さ
れる。これまで回路板の設計段階では一般にIC，
LSIなどの半導体部品のピン間隔に適合できるよ
うにある特定の基本格子（例えば2.54mm，または
1.27mm，など）上にスルーホールを有するパター
ン設計がなされ検査段階においては、上記の基本
格子に合致する位置に複数本の検査用プローブを
もつ検査機によつて、自動的に短絡および開放な
どの電気的検査を行なつていた。しかしこの方法
では、当然のことながら基本格子点に合致しない
位置にスルーホールを有する回路板の電気的検査
は不可能である。従来このような回路板の検査方
法として被検査回路板のスルーホールの位置に検
査プローブを設け、電気的検査を実施していた。
また他の従来の方法として第１図に示すものがあ
つた。図において、１は被検査回路板、２は検査
用回路板、３はある一定間隔の基本格子点に固定
された検査プローブ、４は検査用回路板２の検査
用導体部８に合致する検査プローブを選択するた
めの検査プローブ選択板である。第２図にこの方
法における断面図を示す。１は被検査回路板で、
配線パターン、ランド等の印刷導体５とランドつ
きスルーホール６を有するものである。２は検査
用回路板で、上記被検査回路板１のスルーホール
６の位置に合致するようなスルーホール７をも
ち、さらに当該スルーホール７と近接する検査プ
ローブとの電気的接続を得るための検査用導体部
８を有する。４は検査に使用する検査プローブ３
を選択するための検査プローブ選択板である。検
査にあたつては、通常圧縮空気などを利用して圧
触し、上記１，２，３間の電気的接触を得ること
により、短絡、開放等の電気検査を行なう。
持体となる印刷回路板（以後回路板という）にお
けるパターンの微細化および搭載部品の多様化に
よるパターンの不規則化、不特定化の要求は強
く、この傾向は将来より一層強まるものと予想さ
れる。これまで回路板の設計段階では一般にIC，
LSIなどの半導体部品のピン間隔に適合できるよ
うにある特定の基本格子（例えば2.54mm，または
1.27mm，など）上にスルーホールを有するパター
ン設計がなされ検査段階においては、上記の基本
格子に合致する位置に複数本の検査用プローブを
もつ検査機によつて、自動的に短絡および開放な
どの電気的検査を行なつていた。しかしこの方法
では、当然のことながら基本格子点に合致しない
位置にスルーホールを有する回路板の電気的検査
は不可能である。従来このような回路板の検査方
法として被検査回路板のスルーホールの位置に検
査プローブを設け、電気的検査を実施していた。
また他の従来の方法として第１図に示すものがあ
つた。図において、１は被検査回路板、２は検査
用回路板、３はある一定間隔の基本格子点に固定
された検査プローブ、４は検査用回路板２の検査
用導体部８に合致する検査プローブを選択するた
めの検査プローブ選択板である。第２図にこの方
法における断面図を示す。１は被検査回路板で、
配線パターン、ランド等の印刷導体５とランドつ
きスルーホール６を有するものである。２は検査
用回路板で、上記被検査回路板１のスルーホール
６の位置に合致するようなスルーホール７をも
ち、さらに当該スルーホール７と近接する検査プ
ローブとの電気的接続を得るための検査用導体部
８を有する。４は検査に使用する検査プローブ３
を選択するための検査プローブ選択板である。検
査にあたつては、通常圧縮空気などを利用して圧
触し、上記１，２，３間の電気的接触を得ること
により、短絡、開放等の電気検査を行なう。
これら従来の検査方法は、以上のように構成さ
れているため、被検査回路板のスルーホール位置
が変更されれば、それに適合するように検査プロ
ーブの位置あるいは検査用回路板のスルーホール
位置や検査用導体パターンの変更を余儀なくさ
れ、極めて汎用性に乏しいばかりでなく、被検査
回路板が大きな面積あるいは多数のスルーホール
を有する場合は回路板のそりねじれの影響を受け
て、完全な電気的接触を得ることは非常に困難で
あつた。
れているため、被検査回路板のスルーホール位置
が変更されれば、それに適合するように検査プロ
ーブの位置あるいは検査用回路板のスルーホール
位置や検査用導体パターンの変更を余儀なくさ
れ、極めて汎用性に乏しいばかりでなく、被検査
回路板が大きな面積あるいは多数のスルーホール
を有する場合は回路板のそりねじれの影響を受け
て、完全な電気的接触を得ることは非常に困難で
あつた。
この発明は上記のような従来の検査方法の欠点
を除去するためになされたもので、基本格子の格
子点に固定配置されたプローブと合致しない箇所
にスルーホールを有する回路板をも簡単に検査す
ることができる汎用性に富んだ回路板検査装置を
提供することを目的とするものである。
を除去するためになされたもので、基本格子の格
子点に固定配置されたプローブと合致しない箇所
にスルーホールを有する回路板をも簡単に検査す
ることができる汎用性に富んだ回路板検査装置を
提供することを目的とするものである。
本発明の回路板検査装置は、被検査回路板に設
けられた導通孔と対応する導通孔を備え被検査回
路板と対向するように配置された検査回路板と、
所定ピツチの基本格子の格子点上に配置された検
査プローブとを備え、前記被検査回路板に対して
前記検査回路板が押圧された状態で前記検査プロ
ーブを検査回路板の導通孔に当接させて前記被検
査回路板に形成された回路の導通状態を検査する
回路板検査装置であつて、上記目的の達成のため
に、前記検査回路板の導通孔が前記検査プローブ
の配置位置に合致する位置に設けられ、かつ前記
被検査回路板及び検査回路板に設けられた対応す
る導通孔の相対的な位置の相違が所定範囲以内で
ある部分において前記被検査回路板と検査回路板
の間に厚さ方向にのみ導電性を有する導電性ゴム
板が介装されるとともに、被検査回路板及び検査
回路板に設けられた対応する導通孔の相対的な位
置の相違が所定範囲以上である部分において被検
査回路板と検査回路板の間に厚さ方向及び面方向
に導電性を有する導電性ゴム板部材が対応する導
通孔間の導通接続が可能な位置に介装された回路
板検査装置である。
けられた導通孔と対応する導通孔を備え被検査回
路板と対向するように配置された検査回路板と、
所定ピツチの基本格子の格子点上に配置された検
査プローブとを備え、前記被検査回路板に対して
前記検査回路板が押圧された状態で前記検査プロ
ーブを検査回路板の導通孔に当接させて前記被検
査回路板に形成された回路の導通状態を検査する
回路板検査装置であつて、上記目的の達成のため
に、前記検査回路板の導通孔が前記検査プローブ
の配置位置に合致する位置に設けられ、かつ前記
被検査回路板及び検査回路板に設けられた対応す
る導通孔の相対的な位置の相違が所定範囲以内で
ある部分において前記被検査回路板と検査回路板
の間に厚さ方向にのみ導電性を有する導電性ゴム
板が介装されるとともに、被検査回路板及び検査
回路板に設けられた対応する導通孔の相対的な位
置の相違が所定範囲以上である部分において被検
査回路板と検査回路板の間に厚さ方向及び面方向
に導電性を有する導電性ゴム板部材が対応する導
通孔間の導通接続が可能な位置に介装された回路
板検査装置である。
以下この発明の一実施例を示す第３図について
説明する第３図において、ａは被検査回路板であ
り、配線パターンおよびランド等の印刷導体５と
検査プローブ位置に合致しない箇所にランド付き
スルーホール６を有する。２ｂは検査用回路板で
あり、基本格子点に配列された検査プローブ３と
合致する位置に適当な大きさのランド付きスルー
ホール７を有している。このスルーホールのラン
ド部分１１と検査用回路板の任意の位置にあるス
ルーホールのランド部分１０の重なり面積が最小
1.0mm2以上の場合、第３図はこのような場合であ
り、この場合は第３図に示されるように一次元的
即ち表裏厚さ方向にのみ導通を満たすような導電
性ゴム体９ａを上記両回路板１ａ，２ｂ間に挿入
する。また上記重なり面積が最小1.0mm2以上ない
場合又は重なり面積がない場合はそのランド間の
導通を満たすよう第４図に示されるように、二次
元的すなわち表裏厚さ方向および面方向にも導通
を有する複数個の短冊状の導電性ゴム体９ｂを上
記両回路板１ｂ，２ｂ間の適当な位置に選択的に
挿入する。なお上記導電性ゴム体としては例えば
絶縁ゴム体に金属線あるいはカーボン繊維やカー
ボン粒子を埋設したものが知られている。
説明する第３図において、ａは被検査回路板であ
り、配線パターンおよびランド等の印刷導体５と
検査プローブ位置に合致しない箇所にランド付き
スルーホール６を有する。２ｂは検査用回路板で
あり、基本格子点に配列された検査プローブ３と
合致する位置に適当な大きさのランド付きスルー
ホール７を有している。このスルーホールのラン
ド部分１１と検査用回路板の任意の位置にあるス
ルーホールのランド部分１０の重なり面積が最小
1.0mm2以上の場合、第３図はこのような場合であ
り、この場合は第３図に示されるように一次元的
即ち表裏厚さ方向にのみ導通を満たすような導電
性ゴム体９ａを上記両回路板１ａ，２ｂ間に挿入
する。また上記重なり面積が最小1.0mm2以上ない
場合又は重なり面積がない場合はそのランド間の
導通を満たすよう第４図に示されるように、二次
元的すなわち表裏厚さ方向および面方向にも導通
を有する複数個の短冊状の導電性ゴム体９ｂを上
記両回路板１ｂ，２ｂ間の適当な位置に選択的に
挿入する。なお上記導電性ゴム体としては例えば
絶縁ゴム体に金属線あるいはカーボン繊維やカー
ボン粒子を埋設したものが知られている。
検査にあたつては圧縮空気等を利用して第３図
にあつては被検査回路板１ａ、導電ゴム体９ａ、
検査回路板２ｂ、検査プローブ選択板４、プロー
ブ３を互に圧触させ、また第４図にあつては被検
査回路板１ｂ、導電ゴム体９ｂ、検査回路板２
ｂ、検査プローブ選択板（図示せず）、プローブ
（図示せず）を互に圧触させ電気的接触を得る。
これにより被検査板１ａ，１ｂのスルーホールは
検査プローブ３の位置に電気的に移動され、導電
性ゴム体９ａ，９ｂによる電気抵抗の増加も何ら
支障をきたすことなく、短絡、開放の検査が行わ
れる。
にあつては被検査回路板１ａ、導電ゴム体９ａ、
検査回路板２ｂ、検査プローブ選択板４、プロー
ブ３を互に圧触させ、また第４図にあつては被検
査回路板１ｂ、導電ゴム体９ｂ、検査回路板２
ｂ、検査プローブ選択板（図示せず）、プローブ
（図示せず）を互に圧触させ電気的接触を得る。
これにより被検査板１ａ，１ｂのスルーホールは
検査プローブ３の位置に電気的に移動され、導電
性ゴム体９ａ，９ｂによる電気抵抗の増加も何ら
支障をきたすことなく、短絡、開放の検査が行わ
れる。
このように導電然ゴム体を用いることにより、
導電性ゴム体のもつ弾力性により、被検査回路板
と検査用回路板間の電気的接触が大面積にわたり
極めて良好に得られるだけでなく、検査時におけ
る圧縮空気などによる衝撃を緩和するため回路板
を損傷することなく検査できる。また被検査回路
板のスルーホール位置が変更されても、一次元も
しくは二次元的な方向性を伴なう導通を満たす導
電性ゴム体を任意に適用することのよつて容易に
対応できる。もしかりに二次元的導電性ゴム体を
用いたことによるパターン間短絡などの不具合が
生じる可能性がある場合は被検査回路板にソルダ
ーレジスタ等の絶縁膜を形成しておけばよい。ま
た第４図に示した実施例では二次元的導電性ゴム
体を固定させたものであるが、当該導電性ゴム体
を任意に回転させることにより、表裏厚さ方向と
それに加えてある任意の方向に導電性をもたせる
ことができるため、より広範な領域について検査
が可能となる。例えば第５図で説明すると９ｃは
二次元的導電性ゴム体、１０は検査用回路板のス
ルーホールのランド部、１１は被検査用回路板の
スルーホールランド部であり、検査方法はまず第
１ステツプとして図中の右方向に導電性をもたせ
た状態で検査したのち、当該導電性ゴム体９ｃを
時計方向に45゜回転させることにより、図中の右
下方向に導電性をもたせた状態で再び検査する。
さらに時計方向に45゜回転させ、図中の下方向に
導電性をもたせた状態で検査する。
導電性ゴム体のもつ弾力性により、被検査回路板
と検査用回路板間の電気的接触が大面積にわたり
極めて良好に得られるだけでなく、検査時におけ
る圧縮空気などによる衝撃を緩和するため回路板
を損傷することなく検査できる。また被検査回路
板のスルーホール位置が変更されても、一次元も
しくは二次元的な方向性を伴なう導通を満たす導
電性ゴム体を任意に適用することのよつて容易に
対応できる。もしかりに二次元的導電性ゴム体を
用いたことによるパターン間短絡などの不具合が
生じる可能性がある場合は被検査回路板にソルダ
ーレジスタ等の絶縁膜を形成しておけばよい。ま
た第４図に示した実施例では二次元的導電性ゴム
体を固定させたものであるが、当該導電性ゴム体
を任意に回転させることにより、表裏厚さ方向と
それに加えてある任意の方向に導電性をもたせる
ことができるため、より広範な領域について検査
が可能となる。例えば第５図で説明すると９ｃは
二次元的導電性ゴム体、１０は検査用回路板のス
ルーホールのランド部、１１は被検査用回路板の
スルーホールランド部であり、検査方法はまず第
１ステツプとして図中の右方向に導電性をもたせ
た状態で検査したのち、当該導電性ゴム体９ｃを
時計方向に45゜回転させることにより、図中の右
下方向に導電性をもたせた状態で再び検査する。
さらに時計方向に45゜回転させ、図中の下方向に
導電性をもたせた状態で検査する。
このようにして１個の検査プローブを用いて導
電性ゴム体を回転させることにより、被検査回路
板のもつ複数個のスルーホールについて検査が可
能となり、スルーホール間隔の小さいあるいは多
数のスルーホールを有する被検査回路板におい
て、特に有効である。この際導電性ゴム体を回転
させるかわりに被検査板を回転させてもよいこと
は言うまでもない。
電性ゴム体を回転させることにより、被検査回路
板のもつ複数個のスルーホールについて検査が可
能となり、スルーホール間隔の小さいあるいは多
数のスルーホールを有する被検査回路板におい
て、特に有効である。この際導電性ゴム体を回転
させるかわりに被検査板を回転させてもよいこと
は言うまでもない。
以上のようにこの発明によれば、ある特定間隔
の基本格子点に合致しないスルーホールを有する
被検査回路板をも上記基本格子点に固定配置され
た検査板および検査プローブを用いて検査するこ
とができる等効果がある。
の基本格子点に合致しないスルーホールを有する
被検査回路板をも上記基本格子点に固定配置され
た検査板および検査プローブを用いて検査するこ
とができる等効果がある。
第１図および第２図は従来の印刷配線板の検査
方法を説明するための斜視図およびその断面図、
第３図はこの発明の一実施例を説明するための断
面図、第４図および第５図はこの発明の他の実施
例を説明するための断面図および平面図である。 図において、１ａは被検査回路板、２ｂは検査
用回路板、３は検査プローブ、４は検査プローブ
選択板である。なお図中同一符号は同一または相
当部分を示す。
方法を説明するための斜視図およびその断面図、
第３図はこの発明の一実施例を説明するための断
面図、第４図および第５図はこの発明の他の実施
例を説明するための断面図および平面図である。 図において、１ａは被検査回路板、２ｂは検査
用回路板、３は検査プローブ、４は検査プローブ
選択板である。なお図中同一符号は同一または相
当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検査回路板に設けられた導通孔と対応する
導通孔を備え被検査回路板と対向するように配置
された検査回路板と、所定ピツチの基本格子の格
子点上に配置された検査プローブとを備え、前記
被検査回路板に対して前記検査回路板が押圧され
た状態で前記検査プローブを検査回路板の導通孔
に当接させて前記被検査回路板に形成された回路
の導通状態を検査する回路板検査装置において、 前記検査回路板の導通孔が前記検査プローブの
配置位置に合致する位置に設けられ、かつ前記被
検査回路板及び検査回路板に設けられた対応する
導通孔の相対的な位置の相違が所定範囲以内であ
る部分において前記被検査回路板と検査回路板の
間に厚さ方向にのみ導電性を有する導電性ゴム板
が介装されるとともに、被検査回路板及び検査回
路板に設けられた対応する導通孔の相対的な位置
の相違が所定範囲以上である部分において被検査
回路板と検査回路板の間に厚さ方向及び面方向に
導電性を有する導電性ゴム板部材が対応する導通
孔間の導通接続が可能な位置に介装されたことを
特徴とする回路板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56019408A JPS57132392A (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Method of inspecting printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56019408A JPS57132392A (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Method of inspecting printed circuit board |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57132392A JPS57132392A (en) | 1982-08-16 |
| JPH0210384B2 true JPH0210384B2 (ja) | 1990-03-07 |
Family
ID=11998425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56019408A Granted JPS57132392A (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Method of inspecting printed circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57132392A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0458583U (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-20 | ||
| JPH05124652A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-05-21 | Shikoku Sogo Kenkyusho:Kk | 収納具 |
| JPH08188244A (ja) * | 1995-01-06 | 1996-07-23 | Tousei Green:Kk | 樹脂袋包装物品の積み上げ格納・積み上げ移送方法と、物品の吊り上げ・移送紐 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58168974A (ja) * | 1982-03-30 | 1983-10-05 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | プリント基板の検査方法 |
| JPS6367978U (ja) * | 1986-10-22 | 1988-05-07 | ||
| TW360790B (en) | 1996-10-28 | 1999-06-11 | Atg Test Systems Gmbh | Printed circuit board test apparatus and method |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5654096A (en) * | 1979-10-05 | 1981-05-13 | Nippon Electric Co | Device for inspecting printed board |
-
1981
- 1981-02-09 JP JP56019408A patent/JPS57132392A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5654096A (en) * | 1979-10-05 | 1981-05-13 | Nippon Electric Co | Device for inspecting printed board |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0458583U (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-20 | ||
| JPH05124652A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-05-21 | Shikoku Sogo Kenkyusho:Kk | 収納具 |
| JPH08188244A (ja) * | 1995-01-06 | 1996-07-23 | Tousei Green:Kk | 樹脂袋包装物品の積み上げ格納・積み上げ移送方法と、物品の吊り上げ・移送紐 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57132392A (en) | 1982-08-16 |
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