JPS6014216Y2

JPS6014216Y2 - 印刷配線板の検査装置

Info

Publication number: JPS6014216Y2
Application number: JP16011879U
Authority: JP
Inventors: 洋浜野; 幸男小林
Original assignee: 株式会社東芝
Priority date: 1979-11-19
Filing date: 1979-11-19
Publication date: 1985-05-07
Also published as: JPS5677778U

Description

【考案の詳細な説明】本考案は印刷配線板の検査装置の改良に関する。

周知の如く、印刷配線板においてスルホールと回路パタ
ーンとの導通性はその特性の良否を左右するため、その
導通状態を検査することは品質管理の観点から重要であ
る。

とりわけ、内層回路パターンを有する多層印刷配線板に
おいては、該内層回路パターンを外側から観察できない
ため、何んらかの手段でスルホールと回路パターン、及
ヒ回路パターン自体の導通状態を検査することが重要で
ある。

ところで、印刷配線板のスルホールと回路パターンの導
通状態等を検査するには、従来、第１図に示す検査装置
が用いられている。

すなわち、第１図中の１は例えばエポキシ樹脂板からな
る絶縁性の装置本体であり、この本体１には先端に検査
針２・・・２を取着した検査ピン３・・・３が上下動可
能に挿置されている。

これら検査ピン３・・・３は下端部が膨出しており、そ
の膨出部４・・・４をコイルスプリング５・・・５を内
蔵した金属製ハウジング６・・・６に挿入し、このハウ
ジング６・・・６を前記本体１に挿着した片封じ管状の
金属製ソケット７・・・７に挿入することによって、前
記スプリング５・・・５の付勢力により上下動可能に挿
置されている。

なお、前記複数の検査ピン３・・・３先端の検査針２・
・・２は被検査体としての印刷配線板の複数のスルホー
ルと合致するように配列されている。

また、前記ソケット７・・・７は配線８・・・８を介し
て電子制御器９に接続されている。

しかして、このような構造の検査装置の作動を説明する
と、まず、複数のスルホール１０・・・ＩＯ及び該スル
ホール１０・・・１０と接続した内層回路パターン１１
・・・１１を有する多層印刷配線板１２を検出ピン３・
・・３先端の検出針２・・・２に合致するように置き、
さらに押え板１３を載せると、それらの重量により検出
ピン３・・・３がコイルスプリング５・・・５の付勢力
に抗して下方に移動し印刷配線板１２の多少のゆがみに
影響されることなく全部の検出針２・・・２と印刷配線
板１２のスルホール１０・・・１０とが良好に接触する
。

しかるに、この接触状態で電子制御器９から各々の配線
８・・・８を介してソケット７・・・７に一定電流の電
圧を印加することにより、ソケット７・・・７と接続し
た検出針２・・・２を介して印刷配線板１２のスルホー
ル１０・・・１０間に電流が流れ、それらの導通状態が
検出され、これによって多層印刷配線板１２の品質チェ
ックを行なうことができる。

しかしながら、上記構造の検査装置にあっては、装置本
体１に挿置されている検査針２・・・２の配置状態が決
まっているため、適用される印刷配線板１２は検査針２
・・・２の配置により規制される。

その結果、印刷配線板の設計変更により、スルホールの
配置状態が一部変わると、上記検査装置では検査できな
くなる不都合さがあった。

このため、設計変更に応じて検査針の配置が異なる装置
本体を用意することが考えられるが、コストが高騰化す
るばかりか、配線の取りはずし、取付は等の煩雑な作業
を要する。

このようなことから、装置本体の先端に検査針を取着し
た上下動可能な検査ピンを印刷配線板のスルホールの基
本ピッチである２、５４ｍｍ間隔毎間隔数本挿置し、
検査針部を共通化した検査装置が考えられる。

しかしながら、この検査装置にあっては２．５４ｍｍ格
子以外に存在するスルホールの検査ができない。

しかも仮に３００ｍ角の範囲で検査ピンを挿置した場合
、検査ピンの数が１５０００本程度と膨大な数になり、
これらを制御するには処理容量の大きい高価な電子制御
器を必要とすると共に、配線の増大による接続関係の信
頼性やそれらの保守の点で問題がある。

本考案は上記事情に鑑みなされたもので、最小検査能力
の電子制御器で、しかも比較的簡単な構成で、印刷配線
板の設計変更によりスルホールの配置状態が一部変更し
た場合でも、それら印刷配線板の導通検査を遂行し得る
検査装置を提供しようとするものである。

以下、本考案の一実施例を第２図を参照して説明する。

図中２１は装置本体であり、この装置本体２１には複数
個の銅合金製のソケット２２・・・２２が埋設されたガ
ラス入エポキシ樹脂製の絶縁板２３を備えている。

これらソケット２２・・・２２の一部には被検査体とし
ての印刷配線板のスルホールの共通部と接触する共通検
査ピン２４・・・２４が上下動可能で着脱自在に挿置さ
れている。

つまり、該検査ピン２４の下端に膨出部２５が形成され
、この膨出部２５をコイルスプリング２６を内蔵した銅
合金製のハウジング２７に挿置し、これらハウジング２
７が取付けられた状態で共通検査ピン２４をソケット２
２に挿入することにより該ソケット２２に上下動可能で
着脱自在に挿置される。

前記各共通検査ピン２４・・・２４の先端には共通検査
針２８・・・２８が取付けられている。

また、前記ソケット２２・・・２２には配線２９・・・
２９を介してコンピュータ等の電子制御器３０に接続さ
れている。

また、図中３１は前記装置本体２１の空いているソケッ
ト２２・・・２２の一部又は全部と電気的に接続され、
かつ印刷配線板のスルホールと接続される補助検査治具
である。

この検査治具３１は、前記共通検査ピン２４・・・２４
に対応する部分の貫通穴３２を設けたエポキシ樹脂製の
治具板３３を有する。

この治具板３３には被検査体としての印刷配線板に配置
された複数のスルホールのうち前記共通検査ピン２４・
・・２４以外のスルホールと合致するベリリュウム製の
検査針３４・・・３４が上面側に突出して取付けられて
いる。

また、前記治具板３３には、前記各検査針３４・・・３
４と電気的に接続されると共に、上記装置本体２１の空
いているソケット２２・・・２２の一部又は全部に上下
動可能で着脱自在に挿置される接触ピン３５・・・３５
が下面側に突出して取付けられている。

この接触ピン３５・・・３５は前記共通検査ピン２４・
・・２４と同様、下端に膨出部２５′が形成され、この
膨出部２５′をコイルスプリング２６′を内蔵したハウ
ジング２７′に挿置され、ハウジング２７′が取付ケら
れた状態で空いているソケット２２に挿入することによ
り該ソケット２２に対し上下動可能で着脱自在に挿置さ
れる。

また、上記検査針３４・・・３４と接触ピン３５・・・
３５とは該検査針３４・・・３４が挿着される治具板３
３周囲に形成された金属ホール３６・・・３６及び治具
板３３下面に形成された導電膜３７・・・３７を介して
電気的に接続されている。

なお、図中の３８は印刷配線板のスルホールと前記共通
検査ピン２４・・・２４の共通検査針２８・・・２８及
び補助検査治具３１の検査針３４・・・３４との接触性
を高めるための押え板である。

このような構成によれば、今、装置本体２１の共通検査
ピン２４・・・２４が挿置されたソケット２２・・・２
２以外の空いているソケット２２・・・２２に補助検査
治具３１の接触ピン３５・・・３５を上下動可能に挿置
すると、補助検査治具２１の上方に突出した検査針３４
・・・３４は接触ピン３５・・・３５下端のハウジング
２７′・・・２７′、同ピン３５・・・３５、導電膜３
７・・・３７、金属ホール３６・・・３６を介してソケ
ット２２・・・２２と電気的に接続される。

こうした状態で複数のスルホール３９・・・３９及びこ
れらスルホール３９・・・３９と接続される内層回路パ
ターン４０を有する多層印刷配線板４１（以下基板と略
す）を置き、更に基板４１上に押え板３８を載せると、
装置本体２１のソケット２２・・・２２に挿置された共
通検査ピン２４・・・２４先端の共通検査針２８・・・
２８は基板４１の共通のスルホールと一致するように配
列され、かつ補助検査治具３１の検査針３４・・・３４
は基板４１の変更されうるスルホールと対応して配列さ
れているため、共通検査針２８・・・２８及び検査針３
４・・・３４に基板４１のスルホール３９・・・３９が
入り込む。

しかも押え板３８と基板４１の重力により基準検査ピン
２４・・・２４及び検査針３４・・・３４と接続した接
触ピン３５・・・３５がそれらの下端のハウジング２７
・・・２７．２７’・・・２７′に内蔵したコイルスプ
リング２６・・・２６．２６’・・・２６′の付勢力に
抗して下方に移動するため、基板４１の多少のゆがみに
影響されることなく、全部の共通検査針２８・・・２８
、検査針３４・・・３４と基板４１のスルホール３９・
・・３９とが良好に電気的に接続できる。

しかして、装置本体２１のソケット２２・・・２２を挿
置した共通検査ピン２４・・・２４及び同ソケット２２
・・・２２に挿置された補助治具３１の接触ピン３５・
・・３５と基板４１のスルホール３９・・・３９とが接
続された状態で電子制御器３０から各々の配線２９・・
・２９を介して装置本体２１のソケット２２・・・２２
に一定電流の電圧を加えることにより、これらソケット
２２・・・２２と接続した基準検査ピン２４・・・２４
から基板４１の共通のスルホールに直接電流が流れ、同
時に別のソケット２２・・・２２と接続した補助検査治
具３１の接触ピン３５・・・３５から導電膜３７・・・
３７、金属ホール３６・・・３６、検査針３４・・・３
４を介して同基板４１の別のスルホールに電流が流れる
。

その結果、各スルホール３９・・・３９間に電流が流れ
ることになり、それらスルホール３９・・・３９間の導
通状態が検出され、基板４１のスルホール３９・・・３
９と内層回路パターン４０間の接続性、内層回路パター
ン４０自体の導通性をチェックできる。

次に、設計変更により前述した基板の共通スルホール以
外のスルホールの配置状態が変わった基板の導通状態を
検査する場合は、装置本体２１及びこのソケット２２・
・・２２に挿置された共通検査ピン２４・・・２４を交
換せずに、補助検査治具３１の接触ピン３５・・・３５
を本体２１のソケット２２・・・２２から抜き取った後
、基板の一部設計変更に伴なう共通スルホール以外のス
ルホールの配置と同様に配列された検査針を有する別の
補助検査治具の接触ピンを装置本体２１の空いているソ
ケット２２・・・２２に挿置して交換すればよい。

したがって、本考案によれば高価な装置本体側を交換せ
ずに、印刷配線板の一部設計変更に伴なう一部のスルホ
ールの配置変化に対応して検査針が配列された安価にし
て運搬等が楽で、しかも装置本体に対して着脱自在な補
助検査治具のみを交換すれば済む。

このため、装置コストの著しい低減化を図ることができ
るばかりか、電子制御器と装置本体側と接続する配線の
取りはずし、取付けを省略でき、作業能率を著しくく向
上できる。

また、電子制御器はスルホールの数が最上の印刷配線板
にみあう処理能力をもつものを用いればよいため、電子
制御器による付加コストの高騰化を抑制できる。

なお、本考案における装置本体のソケットに挿置される
複数本の共通検査ピンは該ソケットに対して上下動可能
で着脱自在なため、検査体としての印刷配線板の共通ス
ルホールが変更された場合でも、その変更に応じて共通
検査ピンの配列状態を容易に変えることができる。

以上詳述した如く、本考案によれば最小検査能力の電子
制御器で、しかも比較的簡単な構成で、印刷配線板の設
計変更によりスルホールの配置状態が一部変更した場合
でも、それら印刷配線板の導電検査を極めて簡便に遂行
でき、ひいては印刷配線板の品質管理を能率よく低コス
トで行なえる検査装置を提供できるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の印刷配線板の検査装置を示す断面図、第
２図は本考案の一実施例を示す印刷配線板の検査装置の
断面図である。２１・・・・・・装置本体、２２・・・・・・ソケット
、２３・・・・・・絶縁板、２４・・・・・・共通検査
ピン、２６．２６’・・・・・・スピリングコイル、２
８・・・・・・共通検査針、３０・・・・・・電子制御
器、３１・・・・・・補助検査治具、３４・・・・・・
検査針、３５・・・・・・接触ピン、３９・曲・スルホ
ール、４０・・・・・・内層回路パターン、４１・・・
・・・多層印刷配線板。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

絶縁板に埋設された複数個の導電性ソケット、及び該ソ
ケットの一部に上下動可能で、着脱自在に挿置された共
通検査ピンを有する装置本体と、被検査体としての印刷
配線板に配列されたスルホールのうちで前記共通検査ピ
ンと接触する以外のスルホールと合致する複数本の検査
針が絶縁板の上面から突出し、かつこれら検査針と電気
的に接続され前記装置本体の空いている導電性ソケット
の一部又は全部に上下動可能で着脱自在に挿置する複数
本の接続ピンが絶縁板下面から突出した交換可能な補助
検査治具と、前記装置本体の各導電性ソケットと電気的
に接続され、印刷配線板のスルホールと回路パターン間
、ないしスルホール自体の導通状態を検査する電子制御
器とを具備したことを特徴とする印刷配線板の検査装置
。