JPH0197008A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
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- JPH0197008A JPH0197008A JP62254877A JP25487787A JPH0197008A JP H0197008 A JPH0197008 A JP H0197008A JP 62254877 A JP62254877 A JP 62254877A JP 25487787 A JP25487787 A JP 25487787A JP H0197008 A JPH0197008 A JP H0197008A
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- Japan
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- cmos
- bipolar
- circuit
- output
- inverter circuit
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Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 11
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims abstract description 20
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims abstract description 16
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 7
- 238000013500 data storage Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
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- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- 210000003899 penis Anatomy 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体集積回路装置に関するもので、例え
ば、バイポーラ・CMOS複合ゲート回路を基本構成と
するマイクロコンピュータ等の高速論理築積回路等に利
用して有効な技術に関するものである。
ば、バイポーラ・CMOS複合ゲート回路を基本構成と
するマイクロコンピュータ等の高速論理築積回路等に利
用して有効な技術に関するものである。
CMOS(相補型MO3FET)とトーテムポール接続
される一対の出力バイポーラトランジスタとからなるバ
イポーラ・CMOS複合ゲート回路がある。また、この
ようなバイポーラ・CMO8複合ゲート回路を基本構成
とするマイクロコンピュータ等の論理集積回路がある。
される一対の出力バイポーラトランジスタとからなるバ
イポーラ・CMOS複合ゲート回路がある。また、この
ようなバイポーラ・CMO8複合ゲート回路を基本構成
とするマイクロコンピュータ等の論理集積回路がある。
バイポーラ・CMOS複合ゲート回路については、例え
ば、日経マグロウヒル社発行、1986年3月10日付
1日経エレクトロニクスjの199頁〜217頁に記載
されている。
ば、日経マグロウヒル社発行、1986年3月10日付
1日経エレクトロニクスjの199頁〜217頁に記載
されている。
CB明が解決しようとする問題点〕
本願発明者等は、上記のようなマイクロコンビエータを
構成する基本論理回路の一つとして、第7図に示される
ようなバイポーラ・0M0879717071回路を、
この発明に先立って開発した。このバイポーラ・0M0
379717071回路は、CMOSインバータ回路N
9とCMOSクロックドインバータ回路CN4が交差接
続されてなるデータ保持用のラッチと、このラッチの反
転及び非反転出力信号を伝達するバイポーラ・CMOS
インバータ回路BN3及びBN4とを含む。
構成する基本論理回路の一つとして、第7図に示される
ようなバイポーラ・0M0879717071回路を、
この発明に先立って開発した。このバイポーラ・0M0
379717071回路は、CMOSインバータ回路N
9とCMOSクロックドインバータ回路CN4が交差接
続されてなるデータ保持用のラッチと、このラッチの反
転及び非反転出力信号を伝達するバイポーラ・CMOS
インバータ回路BN3及びBN4とを含む。
上記ランチの状態は、クロ7り信号GKがハイレベルと
されるとき、入力データDに従って遷移される。バイポ
ーラ・CMOSインバータ回路BN3及びBN4の出力
信号は、それぞれバイポーラ・0M037971707
1回路の非反転出力信号Q及び反転出力信号Qとされる
。これにより、第7図のバイポーラ・CMOSフリップ
フロンプ回路は、動作の高速化が図られるとともに、比
較的大きな駆動能力を持つものとされる。
されるとき、入力データDに従って遷移される。バイポ
ーラ・CMOSインバータ回路BN3及びBN4の出力
信号は、それぞれバイポーラ・0M037971707
1回路の非反転出力信号Q及び反転出力信号Qとされる
。これにより、第7図のバイポーラ・CMOSフリップ
フロンプ回路は、動作の高速化が図られるとともに、比
較的大きな駆動能力を持つものとされる。
ところが、上記のようなバイポーラ・CMOSフリップ
フロップ回路には、次のような問題点があることが、本
願発明者等によって明らかとなった。すなわち、上記バ
イポーラ・CMOSインバータ回路BN3及びBN4等
のバイポーラ・CMO8複合ゲート回路は、第5図に示
されるように、トーテムポール接続されるバイポーラ型
の出力トランジスタT1及びT2等を含む、したがって
、これらのバイポーラ・CMO5複合ゲート回路の出力
信号のハイレベルvHは、出力トランジスタTI等のペ
ニス・エミッタ電圧VBEI分だけシフトされ、 VH!VCC−Ve2+ となる、同様に、上記バイポーラ・CMOS複合ゲート
回路の出力信号のロウレベルVLは、出力トランジスタ
T2等のベース・エミッタ電j):Vw2分だけシフト
され、 VL =mVss+Vwz となる、このため、バイポーラ・CMOSフリップフロ
ップ回路の出力信号振幅が圧縮され、後段の論理ゲート
回路等までの配線長が制限されるとともに、後段回路と
して多入力の論理ゲート回路を使用できないなど、いく
つかの点で設計制約を受けるものである。
フロップ回路には、次のような問題点があることが、本
願発明者等によって明らかとなった。すなわち、上記バ
イポーラ・CMOSインバータ回路BN3及びBN4等
のバイポーラ・CMO8複合ゲート回路は、第5図に示
されるように、トーテムポール接続されるバイポーラ型
の出力トランジスタT1及びT2等を含む、したがって
、これらのバイポーラ・CMO5複合ゲート回路の出力
信号のハイレベルvHは、出力トランジスタTI等のペ
ニス・エミッタ電圧VBEI分だけシフトされ、 VH!VCC−Ve2+ となる、同様に、上記バイポーラ・CMOS複合ゲート
回路の出力信号のロウレベルVLは、出力トランジスタ
T2等のベース・エミッタ電j):Vw2分だけシフト
され、 VL =mVss+Vwz となる、このため、バイポーラ・CMOSフリップフロ
ップ回路の出力信号振幅が圧縮され、後段の論理ゲート
回路等までの配線長が制限されるとともに、後段回路と
して多入力の論理ゲート回路を使用できないなど、いく
つかの点で設計制約を受けるものである。
この発明の目的は、バイポーラ・CMOS複合ゲート回
路を介して伝達される相補信号の振幅をCMOSレベル
まで拡大することにある。この発明の他の目的は、バイ
ポーラ・CMOSフリップフロフプ回路等を含むマイク
ロコンビエータ等の設計自由度を大きくすることにある
。
路を介して伝達される相補信号の振幅をCMOSレベル
まで拡大することにある。この発明の他の目的は、バイ
ポーラ・CMOSフリップフロフプ回路等を含むマイク
ロコンビエータ等の設計自由度を大きくすることにある
。
この発明の前記ならびにその411の目的と新規な特徴
は、この明細書の記述及び添付図面から明らかになるで
あろう。
は、この明細書の記述及び添付図面から明らかになるで
あろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、バイポーラ・CMOSフリップフロップ回路
等において、一対の相補出力信号を伝達する2個のバイ
ポーラ・CMO5複合ゲート回路の出力端子の間に、そ
の入力端子及び出力端子が互いに交差接続される2個の
CMOSインバータ回路を設けるものである。
等において、一対の相補出力信号を伝達する2個のバイ
ポーラ・CMO5複合ゲート回路の出力端子の間に、そ
の入力端子及び出力端子が互いに交差接続される2個の
CMOSインバータ回路を設けるものである。
(作 用)
上記した手段によれば、交差接続される2個のCMOS
インバータ回路により相補出力信号の振幅をCMOSレ
ベルまで拡大できるため、バイポーラ・CMOSフリッ
プフロップ回路の高速性を維持しつつ、その駆動能力を
増大させ、後段回路に係る設計自由度を大きくすること
ができる。
インバータ回路により相補出力信号の振幅をCMOSレ
ベルまで拡大できるため、バイポーラ・CMOSフリッ
プフロップ回路の高速性を維持しつつ、その駆動能力を
増大させ、後段回路に係る設計自由度を大きくすること
ができる。
〔実施例1〕
第1図には、この発明が適用されたバイポーラ・CMO
Sフリップフロップ回路の一実施例の回路図が示されて
いる。また、第3図ないし第5図には、第1図のバイポ
ーラ・CMOSフリンプフロップ回路を構成するCMO
Sインバータ回路。
Sフリップフロップ回路の一実施例の回路図が示されて
いる。また、第3図ないし第5図には、第1図のバイポ
ーラ・CMOSフリンプフロップ回路を構成するCMO
Sインバータ回路。
CMOSクロックドインバータ回路及びバイポーラ・C
MOSインバータ回路の一実施例の回路図が示されてい
る。この実施例のバイポーラ・CMOSフリップフロッ
プ回路は、特に制限されないが、マイクロコンピュータ
を構成する基本論理回路として使用される。マイクロコ
ンピュータを構成する各ブロックには、それぞれ複数の
バイポーラ・CMOSフリップフロップ回路が含まれる
。
MOSインバータ回路の一実施例の回路図が示されてい
る。この実施例のバイポーラ・CMOSフリップフロッ
プ回路は、特に制限されないが、マイクロコンピュータ
を構成する基本論理回路として使用される。マイクロコ
ンピュータを構成する各ブロックには、それぞれ複数の
バイポーラ・CMOSフリップフロップ回路が含まれる
。
第1図及び第3図ないし第5図の各回路素子は、マイク
ロコンピュータを構成する他の回路素子とともに、特に
制限されないが、単結晶シリコンのような1個の半導体
基板上において形成される。
ロコンピュータを構成する他の回路素子とともに、特に
制限されないが、単結晶シリコンのような1個の半導体
基板上において形成される。
これらの図において、チャンネル(バンクゲート)部に
矢印が付加されるMOSFETはPチャンネル型であっ
て、矢印の付加されないNチャンネルMO5FETと区
別される。また、図示されるバイポーラトランジスタは
、すべてNPN型トランジスタである。以下、第1図及
び第3図ないし第5図の回路図に従って、この実施例の
バイポーラ・CMOSフリ7プフロツプ回路の構成と動
作の概要を説明する。
矢印が付加されるMOSFETはPチャンネル型であっ
て、矢印の付加されないNチャンネルMO5FETと区
別される。また、図示されるバイポーラトランジスタは
、すべてNPN型トランジスタである。以下、第1図及
び第3図ないし第5図の回路図に従って、この実施例の
バイポーラ・CMOSフリ7プフロツプ回路の構成と動
作の概要を説明する。
第1図において、この実施例のバイポーラ・CMOSフ
リップフロップ回路は、特に制限されないが、CMOS
インバータ回路N3及びCMOSクロンクドインバータ
回路CN2が交差接続されてなるデータ保持用のランチ
を基本構成とする。
リップフロップ回路は、特に制限されないが、CMOS
インバータ回路N3及びCMOSクロンクドインバータ
回路CN2が交差接続されてなるデータ保持用のランチ
を基本構成とする。
ここで、N3等のCMOSインバータ回路は、第3図に
示されるように、例えば+5■とされるような電源電圧
Vccと、例えばOvすなわち接地電位とされるような
電源電圧Vssとの間に直列形態に設けられるPチャン
ネルMO3FETQ1及びNチャンネルMO3FETQ
I lにより構成される。MO3FETQI及びQll
のゲートは共通結合され、このCMOSインバータ回路
ノ入力端子iとされる。また、MO3FETQI及びQ
llの共通結合されたドレインは、このCMOSインバ
ータ回路の出力端子0とされる。これにより、CMOS
インバータ回路は、入力端子lに供給される入力信号の
レベルを反転し、そのハイレベルをほぼ電源電圧Vcc
としそのロウレベルをほぼ電源電圧VssとするCMO
Sレベルの出力信号として、出力端子0に伝達する。
示されるように、例えば+5■とされるような電源電圧
Vccと、例えばOvすなわち接地電位とされるような
電源電圧Vssとの間に直列形態に設けられるPチャン
ネルMO3FETQ1及びNチャンネルMO3FETQ
I lにより構成される。MO3FETQI及びQll
のゲートは共通結合され、このCMOSインバータ回路
ノ入力端子iとされる。また、MO3FETQI及びQ
llの共通結合されたドレインは、このCMOSインバ
ータ回路の出力端子0とされる。これにより、CMOS
インバータ回路は、入力端子lに供給される入力信号の
レベルを反転し、そのハイレベルをほぼ電源電圧Vcc
としそのロウレベルをほぼ電源電圧VssとするCMO
Sレベルの出力信号として、出力端子0に伝達する。
一方、CN2等のCMOSクロックドインバータ回路は
、第4図に示されるように、電源電圧VCeと電源電圧
Vssとの間に直列形態に設けられるPチャンネルMO
3FETQ2.Q3及びNチャンネルMO3FETQI
2.Ql 3により構成される。MOSFETQ2の
ゲートは反転クロック入力端子Cに結合され、MOSF
ETQ13のゲートは非反転クロック入力端子Cに結合
される。
、第4図に示されるように、電源電圧VCeと電源電圧
Vssとの間に直列形態に設けられるPチャンネルMO
3FETQ2.Q3及びNチャンネルMO3FETQI
2.Ql 3により構成される。MOSFETQ2の
ゲートは反転クロック入力端子Cに結合され、MOSF
ETQ13のゲートは非反転クロック入力端子Cに結合
される。
MOSFETQ3及びMO3FETQI 2のゲートは
共通結合され、このCMOSクロックドインバータ回路
の入力端子iとされる。また、MOSFETQ3及びQ
l2の共通結合されたドレインは、このCMOSクロッ
クドインバータ回路の出力端子0とされる。これにより
、CMOSクロックドインバータ回路は、反転クロック
入力端子Tに供給される反転クロック信号がロウレベル
とされまた鼻反転りロンク入力端子Cに供給される非反
転クロック信号がハイレベルとされるとき、入力端子l
に供給される入力信号のレベルを反転して、出力端子0
に伝達する。このとき、出力端子0における信号振幅は
、上記CMOSインバータ回路と同様に、CMOSレベ
ルとされる。
共通結合され、このCMOSクロックドインバータ回路
の入力端子iとされる。また、MOSFETQ3及びQ
l2の共通結合されたドレインは、このCMOSクロッ
クドインバータ回路の出力端子0とされる。これにより
、CMOSクロックドインバータ回路は、反転クロック
入力端子Tに供給される反転クロック信号がロウレベル
とされまた鼻反転りロンク入力端子Cに供給される非反
転クロック信号がハイレベルとされるとき、入力端子l
に供給される入力信号のレベルを反転して、出力端子0
に伝達する。このとき、出力端子0における信号振幅は
、上記CMOSインバータ回路と同様に、CMOSレベ
ルとされる。
第1図において、データ保持用のラッチを構成するCM
OSクロンクドインバータ回路CN2の反転クロンク入
力端子Cには、クロック信号CKが供給される。また、
CMOSクロックドインバ 1一タ回路CN2
の非反転クロック入力端子Cには、上記クロック信号C
KのCMOSインバータ回路N4による反転信号すなわ
ち反転クロック信号CKが供給される。
OSクロンクドインバータ回路CN2の反転クロンク入
力端子Cには、クロック信号CKが供給される。また、
CMOSクロックドインバ 1一タ回路CN2
の非反転クロック入力端子Cには、上記クロック信号C
KのCMOSインバータ回路N4による反転信号すなわ
ち反転クロック信号CKが供給される。
CMOSインバータ回BN3の入力端子には、さらにC
MOSクロンクドインバータ回路CNIを介して、入力
データDの反転信号が供給される。
MOSクロンクドインバータ回路CNIを介して、入力
データDの反転信号が供給される。
CMOSクロックドインバータ回路CNIの非反転クロ
ンク入力端子Cには、上記クロック信号CKが供給され
、その反転クロック入力端子Cには、上記反転クロック
信号GKが供給される。これにより、CMOSクロック
ドインバータ回路CNIは、上記CMOSクロックドイ
ンバータ回路CN2と相補的に伝達状態とされる。
ンク入力端子Cには、上記クロック信号CKが供給され
、その反転クロック入力端子Cには、上記反転クロック
信号GKが供給される。これにより、CMOSクロック
ドインバータ回路CNIは、上記CMOSクロックドイ
ンバータ回路CN2と相補的に伝達状態とされる。
CMOSクロックドインバータ回路CN2の出力端子は
、上記CMOSインバータ回路N3の入力端子に結合さ
れるとともに、バイポーラ・CMOSインバータ回路B
NI(第1のバイポーラ・CMOSゲート回路)の入力
端子に結合される。
、上記CMOSインバータ回路N3の入力端子に結合さ
れるとともに、バイポーラ・CMOSインバータ回路B
NI(第1のバイポーラ・CMOSゲート回路)の入力
端子に結合される。
バイポーラ・CMOSインバータ回路BNIの出力信号
は、このバイポーラ・CMOSフリップフロップ回路の
非反転出力信号Qとされる。同様に、CMOSインバー
タ回路N3の出力端子は、上記CMOSクロックドイン
バータ回路CN2の入力端子に結合されるとともに、バ
イポーラ・CMOSインバータ回路BN2 (第2のバ
イポーラ・CMOSゲート回路)の入力端子に結合され
る。バイポーラ・CMOSインバータ回路BN2の出力
信号は、このバイポーラ・CMOSフリンプフロップ回
路の反転出力信号Qとされる。
は、このバイポーラ・CMOSフリップフロップ回路の
非反転出力信号Qとされる。同様に、CMOSインバー
タ回路N3の出力端子は、上記CMOSクロックドイン
バータ回路CN2の入力端子に結合されるとともに、バ
イポーラ・CMOSインバータ回路BN2 (第2のバ
イポーラ・CMOSゲート回路)の入力端子に結合され
る。バイポーラ・CMOSインバータ回路BN2の出力
信号は、このバイポーラ・CMOSフリンプフロップ回
路の反転出力信号Qとされる。
ここで、BNl及びBN2等のバイポーラ・CMOSイ
ンバータ回路は、第5図に示されるように、電源電圧V
ccと電源電圧Vssとの間にトーテムポール形態に設
けられるバイポーラ型の出力トランジスタT1及びT2
を含む、出力トランジスタTIのベースと入力端子iと
の間には、PチャンネルMO3FETQ4及びNチャン
ネルMO3FETQl’4からなるCMOSインバータ
回路が設けられる。出力トランジスタTlのエミッタす
なわち出力トランジスタT2のコレクタと出力トランジ
スタT2のベースとの間には、そのゲートが入力端子l
に共通結合されるNチャンネルMO3FETQ17が設
けられる。また、出力トランジスタT2のベースと電源
電圧Vssとの間には、そのゲートが上記出力トランジ
スタT1のベースに共通結合されるNチャンネルMO5
FETQI8が設けられる。出力トランジスタT1のエ
ミッタすなわち出力トランジスタT’2のコレクタは、
このバイポーラ・CMOSMOSFET回路の出力端子
Oとされる。
ンバータ回路は、第5図に示されるように、電源電圧V
ccと電源電圧Vssとの間にトーテムポール形態に設
けられるバイポーラ型の出力トランジスタT1及びT2
を含む、出力トランジスタTIのベースと入力端子iと
の間には、PチャンネルMO3FETQ4及びNチャン
ネルMO3FETQl’4からなるCMOSインバータ
回路が設けられる。出力トランジスタTlのエミッタす
なわち出力トランジスタT2のコレクタと出力トランジ
スタT2のベースとの間には、そのゲートが入力端子l
に共通結合されるNチャンネルMO3FETQ17が設
けられる。また、出力トランジスタT2のベースと電源
電圧Vssとの間には、そのゲートが上記出力トランジ
スタT1のベースに共通結合されるNチャンネルMO5
FETQI8が設けられる。出力トランジスタT1のエ
ミッタすなわち出力トランジスタT’2のコレクタは、
このバイポーラ・CMOSMOSFET回路の出力端子
Oとされる。
バイポーラ・CMOSインバータ回路の入力端子lがロ
ウレベルとされるとき、出力トランジスタTlのベース
はハイレベルとなり、出力トランジスタT1はオン状態
となる。また、入力端子lがロウレベルとされることで
MOSFETQ17がオフ状態となり、出力トランジス
タT1のベースがハイレベルとされることでMOSFE
TQI8がオン状態となる。これにより、トランジスタ
T2は、そのベース電流が切断されまたそのベー雫
ス容量がディスチャージされるため、カットオフ
状態となる。したがって、出力端子Oのレベルは、出力
トランジスタT1を介して電源電圧Vccが供給される
ことで、急速にハイレベルとなる。この出力端子Oのハ
イレベルvHは、出力トランジスタT1のベース電位が
ほぼ電源電圧Vccとされることから、出力トランジス
タT1のベース・エミッタ電圧v8I:1分だけシフト
され、VH=Vcc−VEIEI となる、一方、バイポーラ・CMOSインバータ回路の
入力端子lがハイレベルとされるとき、出力トランジス
タTIのベースはロウレベルとなり、出力トランジスタ
T1はカットオフ状態となる。
ウレベルとされるとき、出力トランジスタTlのベース
はハイレベルとなり、出力トランジスタT1はオン状態
となる。また、入力端子lがロウレベルとされることで
MOSFETQ17がオフ状態となり、出力トランジス
タT1のベースがハイレベルとされることでMOSFE
TQI8がオン状態となる。これにより、トランジスタ
T2は、そのベース電流が切断されまたそのベー雫
ス容量がディスチャージされるため、カットオフ
状態となる。したがって、出力端子Oのレベルは、出力
トランジスタT1を介して電源電圧Vccが供給される
ことで、急速にハイレベルとなる。この出力端子Oのハ
イレベルvHは、出力トランジスタT1のベース電位が
ほぼ電源電圧Vccとされることから、出力トランジス
タT1のベース・エミッタ電圧v8I:1分だけシフト
され、VH=Vcc−VEIEI となる、一方、バイポーラ・CMOSインバータ回路の
入力端子lがハイレベルとされるとき、出力トランジス
タTIのベースはロウレベルとなり、出力トランジスタ
T1はカットオフ状態となる。
また、入力端子iがハイレベルとされることでMOSF
ETQ17がオン状態となり、出力トランジスタTIの
ベースがロウレベルとされることでMO3FE’rQ1
8がオフ状態となる。これにより、トランジスタT2は
、出力端子Oがロウレベルとされるまでの間MO3FE
TQI 7を介してベース電流が供給されるため、オン
状態となる。
ETQ17がオン状態となり、出力トランジスタTIの
ベースがロウレベルとされることでMO3FE’rQ1
8がオフ状態となる。これにより、トランジスタT2は
、出力端子Oがロウレベルとされるまでの間MO3FE
TQI 7を介してベース電流が供給されるため、オン
状態となる。
したがって、出力端子0のレベルは、急速に引き抜かれ
、ロウレベルとなる。この出力端子0のロウレベルVL
は、出力トランジスタT2のベース電位とほぼ等しくな
ることから、出力トランジスタT2のベース・工文ンタ
電圧v阪2分だけシフトされ、 VL −Vs3+VIIIE2 となる、つまり、バイポーラ・CMOSインバータ回路
BNI及びBN2等は、その出力段がトーテムポール接
続されるバイポーラトランジスタによって構成されるこ
とから、その動作が高速化されまた駆動能力が増大され
る反面、その出力信号振幅が出力トランジスタT1及び
T2のベース・エミッタ電圧骨だけ圧縮される。
、ロウレベルとなる。この出力端子0のロウレベルVL
は、出力トランジスタT2のベース電位とほぼ等しくな
ることから、出力トランジスタT2のベース・工文ンタ
電圧v阪2分だけシフトされ、 VL −Vs3+VIIIE2 となる、つまり、バイポーラ・CMOSインバータ回路
BNI及びBN2等は、その出力段がトーテムポール接
続されるバイポーラトランジスタによって構成されるこ
とから、その動作が高速化されまた駆動能力が増大され
る反面、その出力信号振幅が出力トランジスタT1及び
T2のベース・エミッタ電圧骨だけ圧縮される。
第1図において、バイポーラ・CMOSインバータ回路
BNI及びBN2の出力端子すなわちバイポーラ・CM
OSフリップフロップ回路の非反転出力信号Q及び反転
出力信号Qの間には、その入力端子及び出力端子が互い
に交差接続される2個のCMOSインバータ回路Nl(
第1のCMOSインバータ回路)及びN2(第2のCM
OSインバータ回路)が設けられる。
BNI及びBN2の出力端子すなわちバイポーラ・CM
OSフリップフロップ回路の非反転出力信号Q及び反転
出力信号Qの間には、その入力端子及び出力端子が互い
に交差接続される2個のCMOSインバータ回路Nl(
第1のCMOSインバータ回路)及びN2(第2のCM
OSインバータ回路)が設けられる。
この実施例のバイポーラ・0M0379717077回
路において、クロック信号CKに従ってデータ保持用の
ラッチが状態遷移されるとき、上記バイポーラ・CMO
Sインバータ回路BNI及びBN2の出力信号は、ほぼ
同時に状態遷移されるように設計される。
路において、クロック信号CKに従ってデータ保持用の
ラッチが状態遷移されるとき、上記バイポーラ・CMO
Sインバータ回路BNI及びBN2の出力信号は、ほぼ
同時に状態遷移されるように設計される。
次に、この実施例のバイポーラ・CM OSフリップフ
ロップ回路の動作の概要を説明する。
ロップ回路の動作の概要を説明する。
クロック信号CKがロウレベルとされるとき、CMOS
クロンクドインバータ回路CNIは非伝達状態とされ、
CMOSクロックドインバータ回路CN2が伝達状態と
される。このため、CMOSインバータ回路N3及びC
MOSMOSクロックドインバータN2からなるラッチ
は、データ保持状態とされる。このとき、バイポーラ・
CM OSインバータ回路BNI及びBN2の出力信号
すなわち非反転出力信号Q及び反転出力信号Qは、上記
ラッチの保持データをそれぞれ反転して、相補的にハイ
レベル又はロウレベルとなる。これらの出力信号は、前
述のように、それぞれ出力トランジスタのベース・エミ
ンタ電圧分だけシフトされるが、CMOSインバータ回
路N1及びN2の出力信号がCMOSレベルであること
から、最終的にはほぼ電源電圧Vcc及び電源電圧Vs
aのようなCMOSレベルに拡大される。
クロンクドインバータ回路CNIは非伝達状態とされ、
CMOSクロックドインバータ回路CN2が伝達状態と
される。このため、CMOSインバータ回路N3及びC
MOSMOSクロックドインバータN2からなるラッチ
は、データ保持状態とされる。このとき、バイポーラ・
CM OSインバータ回路BNI及びBN2の出力信号
すなわち非反転出力信号Q及び反転出力信号Qは、上記
ラッチの保持データをそれぞれ反転して、相補的にハイ
レベル又はロウレベルとなる。これらの出力信号は、前
述のように、それぞれ出力トランジスタのベース・エミ
ンタ電圧分だけシフトされるが、CMOSインバータ回
路N1及びN2の出力信号がCMOSレベルであること
から、最終的にはほぼ電源電圧Vcc及び電源電圧Vs
aのようなCMOSレベルに拡大される。
クロック信号CKがハイレベルになると、CMOSクロ
ックドインバータ回路CN2は非伝達状態とされ、代わ
ってCMOSクロックドインバータ回路CNIが伝達状
態とされる。このため、入力データDは、CMOSクロ
ックドインバータ回路CNIによって反転された後、C
MOSインバータ回路N3に伝達される。これにより、
バイポーラ・CMOSインバータ回路BNI及びBN2
の出力信号すなわち非反転出力信号Q及び反転出力信号
Qは、入力データDに従ったレベルとなる。
ックドインバータ回路CN2は非伝達状態とされ、代わ
ってCMOSクロックドインバータ回路CNIが伝達状
態とされる。このため、入力データDは、CMOSクロ
ックドインバータ回路CNIによって反転された後、C
MOSインバータ回路N3に伝達される。これにより、
バイポーラ・CMOSインバータ回路BNI及びBN2
の出力信号すなわち非反転出力信号Q及び反転出力信号
Qは、入力データDに従ったレベルとなる。
また、これらの非反転出力信号Q及び反転出力信号Qの
レベルは、−時的にバイポーラ・CMOSインバータ回
路BNI及びBN2の出力トランジスタのベース・エミ
ッタ電圧骨だけシフトされるが、前述のように、CMO
Sインバータ回路N1及びN2の状態遷移が終了した時
点でCMOSレベルに拡大される。
レベルは、−時的にバイポーラ・CMOSインバータ回
路BNI及びBN2の出力トランジスタのベース・エミ
ッタ電圧骨だけシフトされるが、前述のように、CMO
Sインバータ回路N1及びN2の状態遷移が終了した時
点でCMOSレベルに拡大される。
ところで、上記クロック信号GKがハイレベルとされる
ときデータ保持用のラッチの状態が反転される場合、前
述のように、バイポーラ・CMOSインバータ回路BN
I及びBN2の出力信号は同時に状態遷移するように設
計される。したがって、CMOSインバータ回路N1及
びN2の出力信号もほぼ同時に状態遷移されるため、バ
イポーラ・CMOSインバータ回路BNIとCMOSイ
ンバータ回路N2又はバイポーラ・CMOSインバータ
回路BN2とCMOSインバータ回路N1の出力信号の
レベルが異なることによって生ずる貫通電流はほぼ抑制
される。これにより、バイポーラ・0M0379717
077回路の低消Rffi力化が図られる。
ときデータ保持用のラッチの状態が反転される場合、前
述のように、バイポーラ・CMOSインバータ回路BN
I及びBN2の出力信号は同時に状態遷移するように設
計される。したがって、CMOSインバータ回路N1及
びN2の出力信号もほぼ同時に状態遷移されるため、バ
イポーラ・CMOSインバータ回路BNIとCMOSイ
ンバータ回路N2又はバイポーラ・CMOSインバータ
回路BN2とCMOSインバータ回路N1の出力信号の
レベルが異なることによって生ずる貫通電流はほぼ抑制
される。これにより、バイポーラ・0M0379717
077回路の低消Rffi力化が図られる。
以上のように、この実施例のバイポーラ・CMOSフリ
ップフロップ回路は、データ保持用のランチの相補出力
信号を受ける2個のバイポーラ・CMOSインバータ回
路BNI及びBN2を含む。
ップフロップ回路は、データ保持用のランチの相補出力
信号を受ける2個のバイポーラ・CMOSインバータ回
路BNI及びBN2を含む。
これらのバイポーラ・CMOSインバータ回路の出力端
子すなわちバイポーラ・CMOSフリップフロップ回路
の非反転出力信号Qと反転出力信号Qとの間には、その
入力端子及び出力端子が互いに交差接続される2個のC
MOSインバータ回路N1及びN2が設けられる。さら
に、クロック信号CKに従って上記データ保持用のラッ
チが状態遷移されるとき、バイポーラ・CMOSインバ
ータ回路BNI及びBN2の出力信号はほぼ同時に状態
遷移されるように設計される。このため、この実施例の
バイポーラ・CMOSフリップフロシブ回路は、バイポ
ーラ・CMOSインバータ回路BNI及びBN2を用い
ることで、その動作が高速化される。また、これらのバ
イポーラ・CMOSインバータ回路を用いることで、そ
の出力信号振幅は圧縮されようとするが、交差接続され
るCMOSインバータ回路N1及びN2が設けられるこ
とで、出力信号振幅はCMOSレベルまで拡大される。
子すなわちバイポーラ・CMOSフリップフロップ回路
の非反転出力信号Qと反転出力信号Qとの間には、その
入力端子及び出力端子が互いに交差接続される2個のC
MOSインバータ回路N1及びN2が設けられる。さら
に、クロック信号CKに従って上記データ保持用のラッ
チが状態遷移されるとき、バイポーラ・CMOSインバ
ータ回路BNI及びBN2の出力信号はほぼ同時に状態
遷移されるように設計される。このため、この実施例の
バイポーラ・CMOSフリップフロシブ回路は、バイポ
ーラ・CMOSインバータ回路BNI及びBN2を用い
ることで、その動作が高速化される。また、これらのバ
イポーラ・CMOSインバータ回路を用いることで、そ
の出力信号振幅は圧縮されようとするが、交差接続され
るCMOSインバータ回路N1及びN2が設けられるこ
とで、出力信号振幅はCMOSレベルまで拡大される。
言うまでもなく、CMOSインバータ回路N1及びN2
が交差接続され、センスアンプ形態とされることで、こ
れらのCMOSインバータ回路による出力信号振幅の拡
大動作は、より高速化されるものである。
が交差接続され、センスアンプ形態とされることで、こ
れらのCMOSインバータ回路による出力信号振幅の拡
大動作は、より高速化されるものである。
〔実施例2〕
第2図には、この発明が通用されたバイポーラ・CMO
Sフリンブフロップ回路の第2の実施例の回路図が示さ
れている。また、第6図には、第2図のバイポーラ・C
MOSフリップフロップ回路を構成するバイポーラ・C
MOSクロックドインバータ回路の一実施例の回路図が
示されている。
Sフリンブフロップ回路の第2の実施例の回路図が示さ
れている。また、第6図には、第2図のバイポーラ・C
MOSフリップフロップ回路を構成するバイポーラ・C
MOSクロックドインバータ回路の一実施例の回路図が
示されている。
以下、第2図及び第6図に従って、この実施例のバイポ
ーラ・CMOSMOSフリップフロップ構成と動作の概
要を説明する。なお、この実施例は、基本的には上記第
1の実施例を踏襲するものであるため、上記第1の実施
例と異なる部分についてのみ説明を追加する。
ーラ・CMOSMOSフリップフロップ構成と動作の概
要を説明する。なお、この実施例は、基本的には上記第
1の実施例を踏襲するものであるため、上記第1の実施
例と異なる部分についてのみ説明を追加する。
この実施例のバイポーラ・CMOSフリップフロップ回
路において、特に制限されないが、データ保持用のラン
チは特別に設けられず、非反転出力端子Q及び反転出力
端子Qの間に設けられるCMOSインバータ回路N5及
びN6が上記データ保持用のラッチを兼ねる。これによ
り、この実施例のバイポーラ・CMOSフリップフロッ
プ回路は、回路の簡素化が図られる。
路において、特に制限されないが、データ保持用のラン
チは特別に設けられず、非反転出力端子Q及び反転出力
端子Qの間に設けられるCMOSインバータ回路N5及
びN6が上記データ保持用のラッチを兼ねる。これによ
り、この実施例のバイポーラ・CMOSフリップフロッ
プ回路は、回路の簡素化が図られる。
第2図において、入力データDは、バイポーラ・CMO
Sクロックドインバータ回路BCN2 (第2のバイポ
ーラ・CMOSゲート回路)の入力端子に供給されると
ともに、CMOSインバータ回路N7よって反転された
後、バイポーラ・CMOSクロックドインバータ回路B
CNI (第1のバイポーラ・CMOSゲート回路)の
入力端子に供給される。
Sクロックドインバータ回路BCN2 (第2のバイポ
ーラ・CMOSゲート回路)の入力端子に供給されると
ともに、CMOSインバータ回路N7よって反転された
後、バイポーラ・CMOSクロックドインバータ回路B
CNI (第1のバイポーラ・CMOSゲート回路)の
入力端子に供給される。
ここで、BCNI及びBCN2等のバイポーラ・CMO
Sクロックドインバータ回路は、第6図に示されるよう
に、電源電圧Vccと電源電圧Vssとの間にトーテム
ポール形態に設けられる出力トランジスタT3及びT4
を含む、出力トランジスタT3のベースと入力端子lと
の間には、PチャンネルMO3FET’Q5.Q6及び
NチャンネルMO8FETQ15.Q16からなるCM
OSクロックドインバータ回路が設けられる。このCM
OSクロックドインバータ回路の入力端子は、上記入力
端子iに結合され、その非反転クロック入力端子及び反
転クロック入力端子は、このバイポーラ・CMOSクロ
ックドインバータ回路の非反転クロック入力端子C及び
反転クロック入力端子Cに結合される。出力トランジス
タT3のエミッタすなわち出力トランジスタT4のコレ
クタと出力トランジスタT4のベースとの間には、Nチ
ャンネルMO5FETQI 9及びQ20が直列形態に
設けられる。このうち、MO3FETQI 9のゲート
は上記入力端子iに共通結合され、MOSFE’rQ2
Gのゲートは上記非反転クロック入力端子Cに共通結合
される。出力トランジスタT4のベースと電源電圧Vs
sとの間には、そのゲートが上記出力トランジスタT3
のベースに共通結合されるNチャンネルMO3FETQ
21が設けられる。さらに、出力トランジスタT3のベ
ースと電源電圧Vssとの間には、そのゲートが上記反
転クロック入力端子Cに共通結合されるNチャンネルM
O3FETQ22が設けられる。また、出力トランジス
タT4のベースと電源電圧Vssとの間には、そのゲー
トが上記反転クロンク入力端子Cに共通結合されるNチ
ャンネルMO3FETQ23が設けられる。出力トラン
ジスタT3のエミフタすなわち出力トランジスタT4の
コレクタは、このバイポーラ・CMOSクロックドイン
バータ回路の出力端子0とされる。
Sクロックドインバータ回路は、第6図に示されるよう
に、電源電圧Vccと電源電圧Vssとの間にトーテム
ポール形態に設けられる出力トランジスタT3及びT4
を含む、出力トランジスタT3のベースと入力端子lと
の間には、PチャンネルMO3FET’Q5.Q6及び
NチャンネルMO8FETQ15.Q16からなるCM
OSクロックドインバータ回路が設けられる。このCM
OSクロックドインバータ回路の入力端子は、上記入力
端子iに結合され、その非反転クロック入力端子及び反
転クロック入力端子は、このバイポーラ・CMOSクロ
ックドインバータ回路の非反転クロック入力端子C及び
反転クロック入力端子Cに結合される。出力トランジス
タT3のエミッタすなわち出力トランジスタT4のコレ
クタと出力トランジスタT4のベースとの間には、Nチ
ャンネルMO5FETQI 9及びQ20が直列形態に
設けられる。このうち、MO3FETQI 9のゲート
は上記入力端子iに共通結合され、MOSFE’rQ2
Gのゲートは上記非反転クロック入力端子Cに共通結合
される。出力トランジスタT4のベースと電源電圧Vs
sとの間には、そのゲートが上記出力トランジスタT3
のベースに共通結合されるNチャンネルMO3FETQ
21が設けられる。さらに、出力トランジスタT3のベ
ースと電源電圧Vssとの間には、そのゲートが上記反
転クロック入力端子Cに共通結合されるNチャンネルM
O3FETQ22が設けられる。また、出力トランジス
タT4のベースと電源電圧Vssとの間には、そのゲー
トが上記反転クロンク入力端子Cに共通結合されるNチ
ャンネルMO3FETQ23が設けられる。出力トラン
ジスタT3のエミフタすなわち出力トランジスタT4の
コレクタは、このバイポーラ・CMOSクロックドイン
バータ回路の出力端子0とされる。
非反転クロンク入力端子Cに供給される非反転クロック
信号がロウレベルとされ、反転クロック入力端子Cに供
給される反転クロック信号がハイレベルとされるとき、
MO3FETQ5.Q6及びQ10.Q16からなるC
MOSクロックドインバータ回路は非伝達状態とされる
。また、MO3FETQ20がオフ状態となり、MO3
FETQ22及びQ23がともにオン状態となるため、
出力トランジスタT3及びT4はともにカットオフ状態
となる。したがって、このバイポーラ・CMOSクロッ
クドインバータ回路は、その出力端子0がハイインピー
ダンス状態となり、非伝達状態とされる。
信号がロウレベルとされ、反転クロック入力端子Cに供
給される反転クロック信号がハイレベルとされるとき、
MO3FETQ5.Q6及びQ10.Q16からなるC
MOSクロックドインバータ回路は非伝達状態とされる
。また、MO3FETQ20がオフ状態となり、MO3
FETQ22及びQ23がともにオン状態となるため、
出力トランジスタT3及びT4はともにカットオフ状態
となる。したがって、このバイポーラ・CMOSクロッ
クドインバータ回路は、その出力端子0がハイインピー
ダンス状態となり、非伝達状態とされる。
一方、非反転クロック入力端子Cに供給される非反転ク
ロック信号がハイレベルとされ、反転クロック入力端子
Cに供給される反転クロック信号がロウレベルとされる
とき、MO3FETQ5゜Q6及びQ15.Q16から
なるCMOSクロックドインバータ回路は伝達状態とさ
れる。また、MO3FETQ20がオン状態となり、M
O3FETQ22及びQ23がともにオフ状態となるた
め、出力トランジスタT3及びT4はカットオフ状態を
解かれる。これにより、このバイポーラ・CM OSク
ロックドインバータ回路は伝達状態とされ、その出力端
子0のレベルは、上述のバイポーラ・CMOSインバー
タ回路と同様に、入力端子iに供給される入力信号を反
転したレベルとなる。このとき、バイポーラ・CMOS
クロンクドインバータ回路の出力信号のレベルは、上記
バイポーラ・CM OS−fンバータ回路と同様に、出
力トランジスタT3又はT4のベース・エミッタ電圧分
だけシフトされるが、出力トランジスタT3及びT4に
よって、その動作は高速化され、その駆動能力は太き(
される。
ロック信号がハイレベルとされ、反転クロック入力端子
Cに供給される反転クロック信号がロウレベルとされる
とき、MO3FETQ5゜Q6及びQ15.Q16から
なるCMOSクロックドインバータ回路は伝達状態とさ
れる。また、MO3FETQ20がオン状態となり、M
O3FETQ22及びQ23がともにオフ状態となるた
め、出力トランジスタT3及びT4はカットオフ状態を
解かれる。これにより、このバイポーラ・CM OSク
ロックドインバータ回路は伝達状態とされ、その出力端
子0のレベルは、上述のバイポーラ・CMOSインバー
タ回路と同様に、入力端子iに供給される入力信号を反
転したレベルとなる。このとき、バイポーラ・CMOS
クロンクドインバータ回路の出力信号のレベルは、上記
バイポーラ・CM OS−fンバータ回路と同様に、出
力トランジスタT3又はT4のベース・エミッタ電圧分
だけシフトされるが、出力トランジスタT3及びT4に
よって、その動作は高速化され、その駆動能力は太き(
される。
第2図において、バイポーラ・CMOSクロックドイン
バータ回路BCNI及びBCN2の非反転クロック入力
端子Cには、クロック信号CKが共通に供給される。ま
た、このバイポーラ・CMOSクロックドインバータ回
路の反転クロック入力端子Cには、上記クロック信号G
KのCMOSインバータ回路N8による反転信号すなわ
ち反転クロック信号GKが共通に供給される。これによ
り、バイポーラ・CMOSクロックドインバータ回路B
CNI及びBCN2は、ともにクロック信号GKがハイ
レベルとされることで選択的に伝達状態とされる。
バータ回路BCNI及びBCN2の非反転クロック入力
端子Cには、クロック信号CKが共通に供給される。ま
た、このバイポーラ・CMOSクロックドインバータ回
路の反転クロック入力端子Cには、上記クロック信号G
KのCMOSインバータ回路N8による反転信号すなわ
ち反転クロック信号GKが共通に供給される。これによ
り、バイポーラ・CMOSクロックドインバータ回路B
CNI及びBCN2は、ともにクロック信号GKがハイ
レベルとされることで選択的に伝達状態とされる。
バイポーラ・CMOSクロックドインバータ回路BCN
Iの出力信号は、このバイポーラ・CMOSフリップフ
ロップ回路の算反転出力信号Qとされる。また、バイポ
ーラ・CMOSクロックドインバータ回路BCN2の出
力信号は、このバイポーラ・CMOSフリップフロップ
回路の反転出力信号Qとされる。これらの非反転出力端
子Q及び反転出力端子Qの間には、その入力端子及び出
力端子が互いに交差接続される2個のCMOSインバー
タ回路N5(第1のCMOSインバータ回路)及びN6
(第2のCMOSインパーク回路)が設けられる。前述
のように、これらのCMOSインバータ回路は、このバ
イポーラ・CMOSフリンブフロップ回路のデータ保持
用のランチとしての機能を兼ね備える。
Iの出力信号は、このバイポーラ・CMOSフリップフ
ロップ回路の算反転出力信号Qとされる。また、バイポ
ーラ・CMOSクロックドインバータ回路BCN2の出
力信号は、このバイポーラ・CMOSフリップフロップ
回路の反転出力信号Qとされる。これらの非反転出力端
子Q及び反転出力端子Qの間には、その入力端子及び出
力端子が互いに交差接続される2個のCMOSインバー
タ回路N5(第1のCMOSインバータ回路)及びN6
(第2のCMOSインパーク回路)が設けられる。前述
のように、これらのCMOSインバータ回路は、このバ
イポーラ・CMOSフリンブフロップ回路のデータ保持
用のランチとしての機能を兼ね備える。
次に、この実施例のバイポーラ・CMOSフリップフロ
7プ回路の動作の概要を説明する。
7プ回路の動作の概要を説明する。
クロック信号CKがロウレベルとされるとき、バイポー
ラ・CMOSMOSクロックドインバータCNI及びB
CN2はともに非伝達状態とされる。したがって、CM
OSインパーク回路N5及びN6からなるラッチは、入
力データDのレベルにかかわらず、クロック信号CKが
ロウレベルとされる直前の入力データDを保持する。こ
のとき、バイポーラ・CMOSクロックドインバータ回
路BCNI及びB CN 2の出力信号すなわち非反転
出力信号Q及び反転出力信号Qの信号振幅は、出力トラ
ンジスタのベース・エミッタ電圧分だけ圧縮されるが、
CMOSインバータ回路N5及びN6により、CMOS
レベルに拡大される。
ラ・CMOSMOSクロックドインバータCNI及びB
CN2はともに非伝達状態とされる。したがって、CM
OSインパーク回路N5及びN6からなるラッチは、入
力データDのレベルにかかわらず、クロック信号CKが
ロウレベルとされる直前の入力データDを保持する。こ
のとき、バイポーラ・CMOSクロックドインバータ回
路BCNI及びB CN 2の出力信号すなわち非反転
出力信号Q及び反転出力信号Qの信号振幅は、出力トラ
ンジスタのベース・エミッタ電圧分だけ圧縮されるが、
CMOSインバータ回路N5及びN6により、CMOS
レベルに拡大される。
クロック信号CKがハイレベルとされると、バイポーラ
・CMOSクロックドインバータ回路BCNI及びBC
N2はともに伝達状態とされる。
・CMOSクロックドインバータ回路BCNI及びBC
N2はともに伝達状態とされる。
したがって、CMOSインバータ回路N5の入力端子に
は、入力データDのインバータ回路N7による反転信号
のさらに反転された信号すなわち非反転入力データDが
供給される。また、CMOSインパーク回路N6の入力
端子には、入力データDの反転信号が供給される。これ
により、非反転出力信号Q及び反転出力信号Qは、入力
データDに従ったレベルとされる。このとき、上述の場
合と同様に、非反転出力信号Q及び反転出力信号Qの(
39振幅は、バイポーラ・CMOSMOSクロックドイ
ンバータ出力トランジスタのベース・エミッタ電圧分だ
け圧縮されるが、CMOSインバータ回路N5及びN6
の状態遷移が終了した時点で、CMOSレベルに拡大さ
れる。
は、入力データDのインバータ回路N7による反転信号
のさらに反転された信号すなわち非反転入力データDが
供給される。また、CMOSインパーク回路N6の入力
端子には、入力データDの反転信号が供給される。これ
により、非反転出力信号Q及び反転出力信号Qは、入力
データDに従ったレベルとされる。このとき、上述の場
合と同様に、非反転出力信号Q及び反転出力信号Qの(
39振幅は、バイポーラ・CMOSMOSクロックドイ
ンバータ出力トランジスタのベース・エミッタ電圧分だ
け圧縮されるが、CMOSインバータ回路N5及びN6
の状態遷移が終了した時点で、CMOSレベルに拡大さ
れる。
以上のように、この実施例のバイポーラ・CMo5フリ
ップフロップ回路は、クロック信号CKに従って入力デ
ータD又はその反転信号を選択的に伝達する2個のバイ
ポーラ・CMOSクロックドインバータ回路BCNI及
びBCN2を含む。
ップフロップ回路は、クロック信号CKに従って入力デ
ータD又はその反転信号を選択的に伝達する2個のバイ
ポーラ・CMOSクロックドインバータ回路BCNI及
びBCN2を含む。
これらのバイポーラ・CMOSクロックドインバータ回
路の出力信号は、それぞれこのバイポーラ・0M037
9717071回路の非反転出力信号Q及び反転出力信
号Qとされる。非反転出力端子Qと反転出力端子Qとの
間には、その入力端子及び出力端子が互いに交差接続さ
れる2個のCMo5インバ一タ回路N5及びN6が設け
られる。
路の出力信号は、それぞれこのバイポーラ・0M037
9717071回路の非反転出力信号Q及び反転出力信
号Qとされる。非反転出力端子Qと反転出力端子Qとの
間には、その入力端子及び出力端子が互いに交差接続さ
れる2個のCMo5インバ一タ回路N5及びN6が設け
られる。
これらのCMOSインバータ回路は、このバイポーラ・
0M0379717071回路のデータ保持用のラッチ
を兼ねる。これにより、このバイポーラ・0M0379
717071回路の保持状態は、クロック信号GKがハ
イレベルとされるとき入力データDに従って遷移される
。このとき、非反転出力信号Q及び反転出力信号Qの信
号振幅は、バイポーラ・CMOSクロンクドインバータ
回路BCNI及びBCN2の出力トランジスタのベース
・エミッタ電圧分だけ圧縮されるが、CMOSインバー
タ回路N5及びN6の状態遷移が終了することで、最終
的にCMOSレベルまで拡大される。つまり、この実施
例のバイポーラ・0M0379717071回路は、比
較的簡単な回路構成とされるにもかかわらず、上記第1
の実施例と同様な効果を持つものである。
0M0379717071回路のデータ保持用のラッチ
を兼ねる。これにより、このバイポーラ・0M0379
717071回路の保持状態は、クロック信号GKがハ
イレベルとされるとき入力データDに従って遷移される
。このとき、非反転出力信号Q及び反転出力信号Qの信
号振幅は、バイポーラ・CMOSクロンクドインバータ
回路BCNI及びBCN2の出力トランジスタのベース
・エミッタ電圧分だけ圧縮されるが、CMOSインバー
タ回路N5及びN6の状態遷移が終了することで、最終
的にCMOSレベルまで拡大される。つまり、この実施
例のバイポーラ・0M0379717071回路は、比
較的簡単な回路構成とされるにもかかわらず、上記第1
の実施例と同様な効果を持つものである。
以上の二つの実施例に示されるように、この発明をバイ
ポーラ・CMOSゲート回路を基本構成とするマイクロ
コンビエータ等の半導体集積回路装置に通用することで
、次のような効果が得られる。すなわち、 (1)マイクロコンビエータ等に内蔵されるバイポーラ
・CMOSフリップフロップ回路等において、一対の相
補出力信号を伝達する2個のバイポーラ・CMOS複合
ゲート回路の出力端子の間に、交差接続される2個のC
MOSインバータ回路を設けることで、バイポーラ・C
MOSフリフブフロンブ回路の動作の高速化と駆動能力
の増大を図りつつ、その出力信号振幅をCMOSレベル
に拡大できるという効果が得られる。
ポーラ・CMOSゲート回路を基本構成とするマイクロ
コンビエータ等の半導体集積回路装置に通用することで
、次のような効果が得られる。すなわち、 (1)マイクロコンビエータ等に内蔵されるバイポーラ
・CMOSフリップフロップ回路等において、一対の相
補出力信号を伝達する2個のバイポーラ・CMOS複合
ゲート回路の出力端子の間に、交差接続される2個のC
MOSインバータ回路を設けることで、バイポーラ・C
MOSフリフブフロンブ回路の動作の高速化と駆動能力
の増大を図りつつ、その出力信号振幅をCMOSレベル
に拡大できるという効果が得られる。
(2)上記(1)項により、バイポーラ・CMOSフリ
ップフロップ回路の出力端子から後段の論理ゲート回路
までの配線長の制限il!履を延長し、またその後段に
多入力論理ゲート回路を設けることができる等、バイポ
ーラ・CMOSフリ717071回路の後段回路に係る
詞約を解(ことができるという効果が得られる。
ップフロップ回路の出力端子から後段の論理ゲート回路
までの配線長の制限il!履を延長し、またその後段に
多入力論理ゲート回路を設けることができる等、バイポ
ーラ・CMOSフリ717071回路の後段回路に係る
詞約を解(ことができるという効果が得られる。
(3)上記(1)項及び(2)項により、バイポーラ・
CMOSフリップフロップ回路等を含むマイクロコンビ
ニ−身等の動作の高速性を維持しつつ、その設計自由度
を大きくすることができるという効果が得られる。
CMOSフリップフロップ回路等を含むマイクロコンビ
ニ−身等の動作の高速性を維持しつつ、その設計自由度
を大きくすることができるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、第1図の回路
図において、データ保持用ラッチを2個のCMOSイン
バータ回路によって構成し、それぞれの前段にCMOS
クロックドインバータ回路を設けるようにしてもよい。
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、第1図の回路
図において、データ保持用ラッチを2個のCMOSイン
バータ回路によって構成し、それぞれの前段にCMOS
クロックドインバータ回路を設けるようにしてもよい。
また、第1図及び第2図の実施例において、入力データ
Dは反転信号であってもよいし、バイポーラ・CMOS
フリップフロ77回路の前段で相補信号とされるもので
あってもよい、同様に、クロック信号CKも、バイポー
ラ・CMOSフリップフロップ回路の前段で相補信号と
されるものであってもよい。さらに、第1図及び第2図
に示されるバイポーラ・CM OSフリ7ブフロツプ回
路の具体的な構成や、第3図ないし第6図に示されるC
MOSインバータ回路、CMOSMOSクロックドイン
バータバイポーラ・CMOSインバータ回路及びバイポ
ーラ・CMOSクロックドインバータ回路の具体的な構
成は、種々の実施形態を採りうるちのである。
Dは反転信号であってもよいし、バイポーラ・CMOS
フリップフロ77回路の前段で相補信号とされるもので
あってもよい、同様に、クロック信号CKも、バイポー
ラ・CMOSフリップフロップ回路の前段で相補信号と
されるものであってもよい。さらに、第1図及び第2図
に示されるバイポーラ・CM OSフリ7ブフロツプ回
路の具体的な構成や、第3図ないし第6図に示されるC
MOSインバータ回路、CMOSMOSクロックドイン
バータバイポーラ・CMOSインバータ回路及びバイポ
ーラ・CMOSクロックドインバータ回路の具体的な構
成は、種々の実施形態を採りうるちのである。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその雪景となつた利用分野であるマイクロコンピュー
タ等のバイポーラ・CMOSフリップフロップ回路に通
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、例えば、マイクロコンピュータ等の信号分配
回路やバイポーラ・CMOS複合ゲート回路を用いた他
のブロックにも通用できる。また、同様なバイポーラ・
CMOS複合ゲート回路を含むバイポーラ・CMO8型
I?AM等の半導体記憶装置や各種のディジクル集積回
路装置にも適用できる0本発明は、少なくとも相補信号
を伝達する1対以上のバイポーラ・CM OSゲート回
路を含む半導体集積回路装置に広く通用できる。
をその雪景となつた利用分野であるマイクロコンピュー
タ等のバイポーラ・CMOSフリップフロップ回路に通
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、例えば、マイクロコンピュータ等の信号分配
回路やバイポーラ・CMOS複合ゲート回路を用いた他
のブロックにも通用できる。また、同様なバイポーラ・
CMOS複合ゲート回路を含むバイポーラ・CMO8型
I?AM等の半導体記憶装置や各種のディジクル集積回
路装置にも適用できる0本発明は、少なくとも相補信号
を伝達する1対以上のバイポーラ・CM OSゲート回
路を含む半導体集積回路装置に広く通用できる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、マイクロコンピュータ等に内蔵されるバ
イポーラ・CMOSフリップフロップ回路等において、
一対の相補出力信号を伝達する2個のバイポーラ・CM
OS ′6i合ゲート回路の出力端子の間に、交差接
続される2個のCMOSインパーク回路を設けることで
、その出力信号振幅をCMOSレベルまで拡大すること
ができるため、バイポーラ・CMOSフリップフロ7ブ
回路等の高速性を維持しつつ、その駆動能力を増大させ
ることができるとともに、後段回路に係る制約を解き、
その設針自由度を大きくすることができるものである。
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、マイクロコンピュータ等に内蔵されるバ
イポーラ・CMOSフリップフロップ回路等において、
一対の相補出力信号を伝達する2個のバイポーラ・CM
OS ′6i合ゲート回路の出力端子の間に、交差接
続される2個のCMOSインパーク回路を設けることで
、その出力信号振幅をCMOSレベルまで拡大すること
ができるため、バイポーラ・CMOSフリップフロ7ブ
回路等の高速性を維持しつつ、その駆動能力を増大させ
ることができるとともに、後段回路に係る制約を解き、
その設針自由度を大きくすることができるものである。
第1図は、この発明が適用されたバイポーラ・CMOS
フリップフロ7ブ回路の一実施例を示す回路図、 第2図は、この発明が通用されたバイポーラ・CM O
Sフリップフロップ回路の第2の実施例を示す回路図、 第3図は、第1図及び第2図のバイポーラ・CMOSフ
リップフロップ回路に含まれるCMOSインバータ回路
の一実施例を示す回路図、第4図は、第1図の°バイポ
ーラ・CMOSフリップフロップ回路に含まれるCMO
Sクロックドインバータ回路の一実施例を示す回路図、
第5図は、第1図のバイポーラ・CMOSフリップフロ
ップ回路に含まれるバイポーラ・CMOSインバータ回
路の一実施例を示す回路図、第6図は、第2図のバイポ
ーラ・CMOSフリップフロップ回路に含まれるバイポ
ーラ・CMOSMOSクロックドインバータ一実施例を
示す回路図、 87図は、この発明に先立って本願発明者等が開発した
バイポーラ・CMOSフリップフロップ回路の回路図で
ある。 N1〜NIO・・・CM OSインバータ回路、CNI
〜CN4・・・CMOSクロックドインバータ回路、B
NI〜BN4・・・バイポーラ・CMOSインバータ回
路、BCNI、BCN2・・・バイポーラ・CMOSM
OSクロックドインバータT1〜T4・・・NPN型バ
イポーラトランジスタ、Q1〜Q6・・・Pチャンネル
MO3FET、Qll〜Q23・・・NチャンネルMO
3FET。
フリップフロ7ブ回路の一実施例を示す回路図、 第2図は、この発明が通用されたバイポーラ・CM O
Sフリップフロップ回路の第2の実施例を示す回路図、 第3図は、第1図及び第2図のバイポーラ・CMOSフ
リップフロップ回路に含まれるCMOSインバータ回路
の一実施例を示す回路図、第4図は、第1図の°バイポ
ーラ・CMOSフリップフロップ回路に含まれるCMO
Sクロックドインバータ回路の一実施例を示す回路図、
第5図は、第1図のバイポーラ・CMOSフリップフロ
ップ回路に含まれるバイポーラ・CMOSインバータ回
路の一実施例を示す回路図、第6図は、第2図のバイポ
ーラ・CMOSフリップフロップ回路に含まれるバイポ
ーラ・CMOSMOSクロックドインバータ一実施例を
示す回路図、 87図は、この発明に先立って本願発明者等が開発した
バイポーラ・CMOSフリップフロップ回路の回路図で
ある。 N1〜NIO・・・CM OSインバータ回路、CNI
〜CN4・・・CMOSクロックドインバータ回路、B
NI〜BN4・・・バイポーラ・CMOSインバータ回
路、BCNI、BCN2・・・バイポーラ・CMOSM
OSクロックドインバータT1〜T4・・・NPN型バ
イポーラトランジスタ、Q1〜Q6・・・Pチャンネル
MO3FET、Qll〜Q23・・・NチャンネルMO
3FET。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、一対の相補信号を伝達する第1及び第2のバイポー
ラ・CMOS複合ゲート回路と、上記第1のバイポーラ
・CMOS複合ゲート回路の出力端子と上記第2のバイ
ポーラ・CMOS複合ゲート回路の出力端子との間に設
けられその入力端子及び出力端子が互いに交差接続され
る第1及び第2のCMOSインバータ回路とを具備する
ことを特徴とする半導体集積回路装置。 2、上記第1及び第2のバイポーラ・CMOS複合ゲー
ト回路ならびに上記第1及び第2のCMOSインバータ
回路は、バイポーラ・CMOSフリップフロップ回路に
含まれるものであることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の半導体集積回路装置。 3、上記バイポーラ・CMOSフリップフロップ回路は
、さらに上記第1及び第2のバイポーラ・CMOS複合
ゲート回路の前段に設けられるデータ保持用のラッチを
含み、上記相補信号は、上記ラッチの非反転出力信号及
び反転出力信号であることを特徴とする特許請求の範囲
第1項又は第2項記載の半導体集積回路装置。 4、上記第1及び第2のバイポーラ・CMOS複合ゲー
ト回路の出力信号は、ほぼ同時に状態遷移するように設
計されることを特徴とする特許請求の範囲第1項、第2
項又は第3項記載の半導体集積回路装置。 5、上記第1及び第2のCMOSインバータ回路は、上
記バイポーラ・CMOSフリップフロップ回路のデータ
保持用のラッチを兼ねることを特徴とする特許請求の範
囲第1項又は第2項記載の半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62254877A JPH0197008A (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62254877A JPH0197008A (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0197008A true JPH0197008A (ja) | 1989-04-14 |
Family
ID=17271073
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62254877A Pending JPH0197008A (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0197008A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5867049A (en) * | 1996-11-21 | 1999-02-02 | Sun Microsystems, Inc. | Zero setup time flip flop |
JP2000187986A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-04 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | 高速の半導体メモリ装置のデ―タ入力バッファリング方法及び装置 |
US7132870B2 (en) * | 2004-04-02 | 2006-11-07 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Differential register slave structure |
-
1987
- 1987-10-09 JP JP62254877A patent/JPH0197008A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5867049A (en) * | 1996-11-21 | 1999-02-02 | Sun Microsystems, Inc. | Zero setup time flip flop |
JP2000187986A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-04 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | 高速の半導体メモリ装置のデ―タ入力バッファリング方法及び装置 |
US7132870B2 (en) * | 2004-04-02 | 2006-11-07 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Differential register slave structure |
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