JPH0153733B2 - - Google Patents
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- JPH0153733B2 JPH0153733B2 JP19977682A JP19977682A JPH0153733B2 JP H0153733 B2 JPH0153733 B2 JP H0153733B2 JP 19977682 A JP19977682 A JP 19977682A JP 19977682 A JP19977682 A JP 19977682A JP H0153733 B2 JPH0153733 B2 JP H0153733B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/36—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting change in dimensions of the structure being tested
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、食品缶詰等の密封容器における密封
部の不良検査方法に関する。
部の不良検査方法に関する。
海苔あるいは米菓等の乾燥食品は、常温及び常
圧の雰囲気の下で密封容器に充填される。このよ
うに、非内圧力密封容器に充填された食品の品質
を長期間にわたつて維持するには、密封容器の密
封性、特に蓋部密封部の密封性を高める必要があ
る。そのため、非内圧力密封容器における密封不
良の検査が必要とされる。
圧の雰囲気の下で密封容器に充填される。このよ
うに、非内圧力密封容器に充填された食品の品質
を長期間にわたつて維持するには、密封容器の密
封性、特に蓋部密封部の密封性を高める必要があ
る。そのため、非内圧力密封容器における密封不
良の検査が必要とされる。
しかし、従来の打検法等の密封容器の密封不良
検査方法は、いずれも高温充填法、真空充填法等
による減圧缶詰容器、又は炭酸ガス、窒素ガス等
による加圧缶詰容器のように、検査の行なわれる
密封容器（以下、被検容器という。）の内部に、
正又は負の圧力を付与してある場合にのみ有効な
方法であり、常温及び常圧の雰囲気で充填密封を
行なう海苔あるいは米菓等の乾燥食品缶詰には実
施できなかつた。そのため、非内圧力密封容器の
正確な密封不良検査はほとんど不可能であつた。
検査方法は、いずれも高温充填法、真空充填法等
による減圧缶詰容器、又は炭酸ガス、窒素ガス等
による加圧缶詰容器のように、検査の行なわれる
密封容器（以下、被検容器という。）の内部に、
正又は負の圧力を付与してある場合にのみ有効な
方法であり、常温及び常圧の雰囲気で充填密封を
行なう海苔あるいは米菓等の乾燥食品缶詰には実
施できなかつた。そのため、非内圧力密封容器の
正確な密封不良検査はほとんど不可能であつた。
本発明は、上記の欠点に鑑みてなされたもの
で、乾燥食品缶詰等の非内圧力密封容器の被検容
器を外部から一定時間ずつ加熱と冷却又は冷却と
加熱し、被検容器内の気体を膨脹及び収縮せし
め、この気体の膨脹及び収縮による被検容器内の
圧力変化に基づく、該被検容器の弾力的又は可撓
的壁面あるいは蓋部の変形により、非内圧力密封
容器の密封不良検査を行なう密封容器の密封不良
検査方法の提供を目的とする。
で、乾燥食品缶詰等の非内圧力密封容器の被検容
器を外部から一定時間ずつ加熱と冷却又は冷却と
加熱し、被検容器内の気体を膨脹及び収縮せし
め、この気体の膨脹及び収縮による被検容器内の
圧力変化に基づく、該被検容器の弾力的又は可撓
的壁面あるいは蓋部の変形により、非内圧力密封
容器の密封不良検査を行なう密封容器の密封不良
検査方法の提供を目的とする。
第１図は本発明の原理説明図、第２図は本発明
を実施するための一装置例、第３図は各種大きさ
の密封不良箇所を有する被検容器内における圧力
変化の実験データ図、第４図は被検容器の蓋部変
形ヒステリシス曲線図である。
を実施するための一装置例、第３図は各種大きさ
の密封不良箇所を有する被検容器内における圧力
変化の実験データ図、第４図は被検容器の蓋部変
形ヒステリシス曲線図である。
第１図によつて本発明の原理を説明する。乾燥
食品等を常温、常圧下で充填した食品缶詰等の被
検容器１０に、一定時間、例えば１分間加熱装置
２２から熱風を吹き付けて加熱し、その後、一定
時間自然冷却して常温状態に戻す。このとき、被
検容器１０の密封部に不良箇所が無いと、被検容
器内の気体が加熱によつて膨脹し、内部圧力が高
まつて被検容器１０の変形部、例えば蓋部１１を
突出させる。そして、その後の冷却により被検容
器内の気体は収縮し、内部圧力が下がつて常圧に
近づく。しかしこの場合、被検容器１０の内部圧
力は、常圧以下にはならないので、蓋部１１は突
出状態を維持する。
食品等を常温、常圧下で充填した食品缶詰等の被
検容器１０に、一定時間、例えば１分間加熱装置
２２から熱風を吹き付けて加熱し、その後、一定
時間自然冷却して常温状態に戻す。このとき、被
検容器１０の密封部に不良箇所が無いと、被検容
器内の気体が加熱によつて膨脹し、内部圧力が高
まつて被検容器１０の変形部、例えば蓋部１１を
突出させる。そして、その後の冷却により被検容
器内の気体は収縮し、内部圧力が下がつて常圧に
近づく。しかしこの場合、被検容器１０の内部圧
力は、常圧以下にはならないので、蓋部１１は突
出状態を維持する。
一方、被検容器１０の密封部に不良箇所が有る
と、被検容器１０の加熱によつて、上記不良箇所
が無い場合と同様蓋部１１が外側に突出するもの
の、気体の膨脹、昇圧の段階で外部に気体が漏洩
する。そのため、加熱に続く冷却により、気体が
収縮し被検容器１０の内部圧力が下がつてくる
と、内部圧力は常温となる前に常圧に達し、常温
となつた時には常圧以下となり（第３図参照）、
外側に突出している蓋部１１を被検容器１０の内
側に吸引し没入せしめることとなる。この蓋部１
１の突出、没入、すなわち変形動作にはヒステリ
シスがあるので、その後被検容器１０の内部圧力
が常圧に戻つても、蓋部１１の没入状態は変わら
ない。
と、被検容器１０の加熱によつて、上記不良箇所
が無い場合と同様蓋部１１が外側に突出するもの
の、気体の膨脹、昇圧の段階で外部に気体が漏洩
する。そのため、加熱に続く冷却により、気体が
収縮し被検容器１０の内部圧力が下がつてくる
と、内部圧力は常温となる前に常圧に達し、常温
となつた時には常圧以下となり（第３図参照）、
外側に突出している蓋部１１を被検容器１０の内
側に吸引し没入せしめることとなる。この蓋部１
１の突出、没入、すなわち変形動作にはヒステリ
シスがあるので、その後被検容器１０の内部圧力
が常圧に戻つても、蓋部１１の没入状態は変わら
ない。
このように、被検容器１０の密封部に不良箇所
が無い場合には、蓋部１１は突出したままの状態
を維持するが、被検容器１０に不良箇所が有る場
合には、蓋部１１は没入状態となる。そこで、こ
の蓋部１１の突出、没入状態を測定装置３０で測
定し、被検容器１０の密封部不良箇所有無の検査
を行なう。
が無い場合には、蓋部１１は突出したままの状態
を維持するが、被検容器１０に不良箇所が有る場
合には、蓋部１１は没入状態となる。そこで、こ
の蓋部１１の突出、没入状態を測定装置３０で測
定し、被検容器１０の密封部不良箇所有無の検査
を行なう。
なお、非内圧力密封容器の密封部不良箇所の検
査は、加熱による被検容器内の圧力変化だけを利
用しても行なうことができる。すなわち、この方
法は、被検容器１０を一定時間加熱した際、密封
部に不良箇所が無い場合には被検容器内の圧力が
所定値まで上昇するものの、密封部に不良箇所が
有る場合には被検容器内の圧力が所定値まで上昇
しない。そこで、一定時間加熱した後の被検容器
内の圧力を測定し、この測定値が所定値に達して
いるか否かによつて密封部不良箇所の有無を検査
することができる。又、この場合、密封部不良箇
所が有る場合と無い場合では、内部圧力の差によ
つて被検容器１０の蓋部１１の突出状態が異なつ
てくるので、蓋部１１の突出状態を測定すること
によつて密封部の不良箇所を検査することもでき
る。
査は、加熱による被検容器内の圧力変化だけを利
用しても行なうことができる。すなわち、この方
法は、被検容器１０を一定時間加熱した際、密封
部に不良箇所が無い場合には被検容器内の圧力が
所定値まで上昇するものの、密封部に不良箇所が
有る場合には被検容器内の圧力が所定値まで上昇
しない。そこで、一定時間加熱した後の被検容器
内の圧力を測定し、この測定値が所定値に達して
いるか否かによつて密封部不良箇所の有無を検査
することができる。又、この場合、密封部不良箇
所が有る場合と無い場合では、内部圧力の差によ
つて被検容器１０の蓋部１１の突出状態が異なつ
てくるので、蓋部１１の突出状態を測定すること
によつて密封部の不良箇所を検査することもでき
る。
この検査方法によると、本発明検査方法の如く
冷却工程を必要としないものの、被検容器加熱の
際の条件、例えば風温、風量、温度分布等が全く
同一でないと内部圧力の上昇にバラツキが生じ、
誤差が大きくなつて正確な検査を行なえない。そ
のため、加熱装置として、常に同一条件で加熱の
可能なものを用いなければならず、装置の複雑
化、大型化を免れ得ないといつた欠点がある。
冷却工程を必要としないものの、被検容器加熱の
際の条件、例えば風温、風量、温度分布等が全く
同一でないと内部圧力の上昇にバラツキが生じ、
誤差が大きくなつて正確な検査を行なえない。そ
のため、加熱装置として、常に同一条件で加熱の
可能なものを用いなければならず、装置の複雑
化、大型化を免れ得ないといつた欠点がある。
以下、第２図に示す装置例による本発明検査方
法の実施例の説明を行なう。
法の実施例の説明を行なう。
被検容器１０は、海苔あるいは米菓等の乾燥食
品を常温、常圧の雰囲気下で充填した直径60mm、
容積300cm3の非内圧力密封容器で、その蓋部１１
は厚さ10μのポリエステル、30μのアルミニウム、
50μのポリエステルをラミネートしてなるシール
部材を熱溶着して形成している。なお、これら被
検容器１０の形状、大きさ、蓋部１１のシール部
材等は一例であり、勿論他のものであつても以下
に説明する検査方法の実施は可能である。
品を常温、常圧の雰囲気下で充填した直径60mm、
容積300cm3の非内圧力密封容器で、その蓋部１１
は厚さ10μのポリエステル、30μのアルミニウム、
50μのポリエステルをラミネートしてなるシール
部材を熱溶着して形成している。なお、これら被
検容器１０の形状、大きさ、蓋部１１のシール部
材等は一例であり、勿論他のものであつても以下
に説明する検査方法の実施は可能である。
この被検容器１０は、ベルトコンベア２１によ
つて順次移送され、その途中の第一工程でブロワ
型加熱装置２２により、80℃の熱風300を１分
間にわたつて吹き付けられ、これによつて加熱さ
れる。この加熱工程によつて被検容器１０内の気
体が膨脹し、密封部不良箇所の有無及び不良箇所
の大きさに応じて、被検容器１０の内部圧力を高
め、これによつて蓋部１１を外側に突出させる
（第３図に示す実験データによれば、密封部に不
良箇所が無いものは、内部圧力が約530mmAq、
50μのピンホールに該当する不良箇所が有るもの
は約400mmAq、400μのピンホールに該当する不良
箇所が有るものは約40mmAqまで上昇する）。しか
し、密封部不良箇所がほぼ400μ以上の大きさの
ピンホールに該当するものにあつては、被検容器
１０の内部圧力がほとんど上昇せず、蓋部１１は
外側に突出しない。
つて順次移送され、その途中の第一工程でブロワ
型加熱装置２２により、80℃の熱風300を１分
間にわたつて吹き付けられ、これによつて加熱さ
れる。この加熱工程によつて被検容器１０内の気
体が膨脹し、密封部不良箇所の有無及び不良箇所
の大きさに応じて、被検容器１０の内部圧力を高
め、これによつて蓋部１１を外側に突出させる
（第３図に示す実験データによれば、密封部に不
良箇所が無いものは、内部圧力が約530mmAq、
50μのピンホールに該当する不良箇所が有るもの
は約400mmAq、400μのピンホールに該当する不良
箇所が有るものは約40mmAqまで上昇する）。しか
し、密封部不良箇所がほぼ400μ以上の大きさの
ピンホールに該当するものにあつては、被検容器
１０の内部圧力がほとんど上昇せず、蓋部１１は
外側に突出しない。
加熱装置２２で加熱された被検容器１０は、ベ
ルトコンベア２１によつて次工程の行なわれるブ
ロワ型冷却装置２３まで移送され、ここで、常温
の風を吹き付けられて常温まで冷却される。冷却
工程は自然冷却手段を採つてもよいが、冷却時間
を短縮するには本実施例の如く強制冷却手段を採
るのが望ましい。この冷却工程で被検容器１０を
一定時間冷却し常温まで下げると、被検容器１０
内の気体は収縮されその内部圧力を低下させる。
この場合、密封部に不良箇所の無いものは、常温
まで冷却されても被検容器１０の内部圧力が常圧
以下になることはない。したがつて、外側に突出
している蓋部１１はそのままの状態を維持する。
しかし、密封部に不良箇所を有するものは、加熱
工程における気体漏洩のため、被検容器１０が常
温まで冷却される途中あるいは常温まで冷却され
た際に、その内部圧力が常圧以下、すなわち、
-10mmAqから -70mmAq程度の負圧となる（第３
図に示す実験データ参照）。そのため、外側に突
出していた蓋部１１は内側に吸引され没入状態と
なる。
ルトコンベア２１によつて次工程の行なわれるブ
ロワ型冷却装置２３まで移送され、ここで、常温
の風を吹き付けられて常温まで冷却される。冷却
工程は自然冷却手段を採つてもよいが、冷却時間
を短縮するには本実施例の如く強制冷却手段を採
るのが望ましい。この冷却工程で被検容器１０を
一定時間冷却し常温まで下げると、被検容器１０
内の気体は収縮されその内部圧力を低下させる。
この場合、密封部に不良箇所の無いものは、常温
まで冷却されても被検容器１０の内部圧力が常圧
以下になることはない。したがつて、外側に突出
している蓋部１１はそのままの状態を維持する。
しかし、密封部に不良箇所を有するものは、加熱
工程における気体漏洩のため、被検容器１０が常
温まで冷却される途中あるいは常温まで冷却され
た際に、その内部圧力が常圧以下、すなわち、
-10mmAqから -70mmAq程度の負圧となる（第３
図に示す実験データ参照）。そのため、外側に突
出していた蓋部１１は内側に吸引され没入状態と
なる。
なお、密封部不良箇所が400μ以上のピンホー
ルの大きさに該当する場合は、被検容器１０を加
熱した際の内部圧力の上昇が小さいと共に、冷却
した際の負圧も小さいこと、更には、第４図に示
す如く蓋部１１の突出、没入の変形動作にヒステ
リシスを有するため、加熱、冷却工程で蓋部１１
が突出、没入動作を行なわない場合がある。
ルの大きさに該当する場合は、被検容器１０を加
熱した際の内部圧力の上昇が小さいと共に、冷却
した際の負圧も小さいこと、更には、第４図に示
す如く蓋部１１の突出、没入の変形動作にヒステ
リシスを有するため、加熱、冷却工程で蓋部１１
が突出、没入動作を行なわない場合がある。
そこで、被検容器１０は、ベルトコンベア２１
によつて次の工程の行なわれるブロワ型蓋部押圧
装置２４まで移送され、被検容器１０の蓋部１１
に外方から短時間風が吹き付けられる。これによ
り、密封部に不良箇所が有るにも拘わらず、外側
に突出した状態となつていた蓋部１１は風圧によ
り内側に没入される。しかし、密封部に不良箇所
の無い被検容器１０の蓋部１１は、風が吹き付け
られても、内部の気体が漏洩しないので依然とし
て外側に突出した状態を維持する。このようにし
て、密封部に不良箇所の無い被検容器１０の蓋部
１１を突出させ、一方、密封部に不良箇所の有る
被検容器１０の蓋部１１を確実に没入させる。
によつて次の工程の行なわれるブロワ型蓋部押圧
装置２４まで移送され、被検容器１０の蓋部１１
に外方から短時間風が吹き付けられる。これによ
り、密封部に不良箇所が有るにも拘わらず、外側
に突出した状態となつていた蓋部１１は風圧によ
り内側に没入される。しかし、密封部に不良箇所
の無い被検容器１０の蓋部１１は、風が吹き付け
られても、内部の気体が漏洩しないので依然とし
て外側に突出した状態を維持する。このようにし
て、密封部に不良箇所の無い被検容器１０の蓋部
１１を突出させ、一方、密封部に不良箇所の有る
被検容器１０の蓋部１１を確実に没入させる。
次いで、被検容器１０はベルトコンベア２１に
よつて測定装置３０の測定器３１下方まで移送さ
れる。この測定装置３０は、被検容器１０の蓋部
１１の突出、没入状態を測定するもので、例え
ば、単純なアナログ式もしくは３点以上の多点測
定による曲率算出方式等の近接距離計、又は凹凸
面鏡効果を利用した光学的な測定計等種々のもの
を用いることができる。被検容器蓋部１１の突
出、没入状態を測定する測定器３１からの検出信
号は、位置検出計３２から被検容器１０が所定位
置に達した旨の信号を得た場合に開くゲート回路
３３に出力され、ここで、常に被検容器１０の蓋
部１１の一定位置を測定した信号のみが比較回路
３５に送られる。比較回路３５では、設定回路３
４に予め設定された良、否判定のための閾値と、
ゲート回路３３から送られてきた測定値との比較
が行なわれる。その結果、被検容器１０の蓋部１
１が没入しており、密封部に不良箇所の有ること
が判明した場合には、比較回路３５から遅延回路
３６に信号が送られ、密封部不良箇所を有する被
検容器１０が排出位置まで移送されたときに排出
器３７を作動させて排出を行なう。遅延回路３６
はベルトコンベア２１の速度検出器３８からの信
号に基づいて排出器３７へ作動信号を出す。
よつて測定装置３０の測定器３１下方まで移送さ
れる。この測定装置３０は、被検容器１０の蓋部
１１の突出、没入状態を測定するもので、例え
ば、単純なアナログ式もしくは３点以上の多点測
定による曲率算出方式等の近接距離計、又は凹凸
面鏡効果を利用した光学的な測定計等種々のもの
を用いることができる。被検容器蓋部１１の突
出、没入状態を測定する測定器３１からの検出信
号は、位置検出計３２から被検容器１０が所定位
置に達した旨の信号を得た場合に開くゲート回路
３３に出力され、ここで、常に被検容器１０の蓋
部１１の一定位置を測定した信号のみが比較回路
３５に送られる。比較回路３５では、設定回路３
４に予め設定された良、否判定のための閾値と、
ゲート回路３３から送られてきた測定値との比較
が行なわれる。その結果、被検容器１０の蓋部１
１が没入しており、密封部に不良箇所の有ること
が判明した場合には、比較回路３５から遅延回路
３６に信号が送られ、密封部不良箇所を有する被
検容器１０が排出位置まで移送されたときに排出
器３７を作動させて排出を行なう。遅延回路３６
はベルトコンベア２１の速度検出器３８からの信
号に基づいて排出器３７へ作動信号を出す。
上述のようにして被検容器１０の密封部不良箇
所を検査するが、通常、海苔あるいは米菓等の乾
燥食品の密封容器としては、50μのピンホールに
該当する程度の密封不良まで許容範囲内とされて
いる。したがつて、良否判定の閾値を50μとした
場合には、冷却時間を１分以内、例えば30秒間と
して、被検容器１０の内部圧力が常圧より高いう
ちに検査を行なうようにする。又、密封容器１０
に充填するものによつては、良否判定の閾値を
50μ以上あるいは以下とすることもできるが、こ
の場合も閾値に応じて冷却時間を調節すればよ
く、更に加熱時間によつてもある程度の調節が可
能となる。
所を検査するが、通常、海苔あるいは米菓等の乾
燥食品の密封容器としては、50μのピンホールに
該当する程度の密封不良まで許容範囲内とされて
いる。したがつて、良否判定の閾値を50μとした
場合には、冷却時間を１分以内、例えば30秒間と
して、被検容器１０の内部圧力が常圧より高いう
ちに検査を行なうようにする。又、密封容器１０
に充填するものによつては、良否判定の閾値を
50μ以上あるいは以下とすることもできるが、こ
の場合も閾値に応じて冷却時間を調節すればよ
く、更に加熱時間によつてもある程度の調節が可
能となる。
なお、本発明は、上記実施例の場合とは逆に、
被検容器１０を初めに一定温度冷却してその蓋部
１１を没入せしめ、その後被検容器１０を常温ま
で加熱して、そのときに蓋部１１が没入したまま
の状態であるか、あるいは突出した状態に変形す
るかによつて密封部に不良箇所があるか否かを判
定することも可能である。又、被検容器１０の内
部圧力変化による変形部は、蓋部１１の他に、被
検容器本体の弾力的又は可撓的な壁面や底面を利
用することもできる。
被検容器１０を初めに一定温度冷却してその蓋部
１１を没入せしめ、その後被検容器１０を常温ま
で加熱して、そのときに蓋部１１が没入したまま
の状態であるか、あるいは突出した状態に変形す
るかによつて密封部に不良箇所があるか否かを判
定することも可能である。又、被検容器１０の内
部圧力変化による変形部は、蓋部１１の他に、被
検容器本体の弾力的又は可撓的な壁面や底面を利
用することもできる。
以上の如く本発明によれば、被検容器を外部か
ら一定時間ずつ加熱と冷却又は冷却と加熱し、そ
のときの被検容器変形部の変形状態を測定するだ
けで密封部の不良検査を行なえるので、従来自動
化による正確な検査が不可能とされていた、常温
及び常圧の雰囲気下で充填密封を行なう非内圧力
密封容器の密封不良検査を簡単かつ確実に行なえ
る。
ら一定時間ずつ加熱と冷却又は冷却と加熱し、そ
のときの被検容器変形部の変形状態を測定するだ
けで密封部の不良検査を行なえるので、従来自動
化による正確な検査が不可能とされていた、常温
及び常圧の雰囲気下で充填密封を行なう非内圧力
密封容器の密封不良検査を簡単かつ確実に行なえ
る。
また、検査方法が簡単であるばかりでなく、こ
の検査方法を実施するための装置も簡潔な構造の
ものでよく、それ程高精度のものを必要としない
など優れた効果を奏する。
の検査方法を実施するための装置も簡潔な構造の
ものでよく、それ程高精度のものを必要としない
など優れた効果を奏する。
第１図は本発明の原理説明図、第２図は本発明
の検査方法を実施するための一装置例、第３図は
各種大きさの密封不良箇所を有する被検容器内に
おける圧力変化図、第４図は被検容器の蓋部変形
ヒステリシス曲線図を示す。 １０……被検容器、１１……蓋部、２１……ベ
ルトコンベア、２２……加熱装置、２３……冷却
装置、２４……押圧装置、３０……測定装置。
の検査方法を実施するための一装置例、第３図は
各種大きさの密封不良箇所を有する被検容器内に
おける圧力変化図、第４図は被検容器の蓋部変形
ヒステリシス曲線図を示す。 １０……被検容器、１１……蓋部、２１……ベ
ルトコンベア、２２……加熱装置、２３……冷却
装置、２４……押圧装置、３０……測定装置。
Claims (1)
- １ 検査の行なわれる密封容器を、一定時間加熱
もしくは冷却して密封容器内の気体を膨脹もしく
は収縮せしめ、これによる密封容器内の圧力変化
によつて密封容器の変形部を突出もしくは没入さ
せた後、今度は密封容器を常温まで冷却もしくは
加熱し、このときの密封容器の変形部の突出もし
くは没入状態を測定して密封部に不良箇所がある
か否かを判断する密封容器の密封不良検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19977682A JPS5990026A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | 密封容器の密封不良検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19977682A JPS5990026A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | 密封容器の密封不良検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5990026A JPS5990026A (ja) | 1984-05-24 |
| JPH0153733B2 true JPH0153733B2 (ja) | 1989-11-15 |
Family
ID=16413419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19977682A Granted JPS5990026A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | 密封容器の密封不良検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5990026A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61115827A (ja) * | 1984-11-13 | 1986-06-03 | 株式会社クボタ | 袋詰検査方法 |
| DE3528248A1 (de) * | 1985-08-07 | 1987-02-19 | Jagenberg Ag | Verfahren und vorrichtung zum kontrollieren der dichtheit von gefuellten, durch einen angesiegelten bzw. aufgeschweissten deckel od. dgl. verschlossenen behaelter |
| JPS63308537A (ja) * | 1987-06-10 | 1988-12-15 | Yoshino Kogyosho Co Ltd | リ−ク検査方法および良品容器選別方法 |
| JP2824574B2 (ja) * | 1987-06-10 | 1998-11-11 | 株式会社吉野工業所 | リーク検査方法および良品容器選別方法 |
| JPH0285739A (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-27 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 密封容器の内圧検出方法 |
| US6167751B1 (en) | 1997-11-26 | 2001-01-02 | Thermedics Detection, Inc. | Leak analysis |
| GB2351565B (en) * | 1999-07-01 | 2003-10-08 | Bwi Plc | Aerosol container testing apparatus |
-
1982
- 1982-11-16 JP JP19977682A patent/JPS5990026A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5990026A (ja) | 1984-05-24 |
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