JPH0147068B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0147068B2
JPH0147068B2 JP52075664A JP7566477A JPH0147068B2 JP H0147068 B2 JPH0147068 B2 JP H0147068B2 JP 52075664 A JP52075664 A JP 52075664A JP 7566477 A JP7566477 A JP 7566477A JP H0147068 B2 JPH0147068 B2 JP H0147068B2
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JP
Japan
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light
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transparent
sample
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Expired
Application number
JP52075664A
Other languages
English (en)
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JPS533282A (en
Inventor
Chaaruzu Pagusurei Peetaa
Jon Periman Mitsucheru
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Crosfield Electronics Ltd
Original Assignee
Crosfield Electronics Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Crosfield Electronics Ltd filed Critical Crosfield Electronics Ltd
Publication of JPS533282A publication Critical patent/JPS533282A/ja
Publication of JPH0147068B2 publication Critical patent/JPH0147068B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、走査映像解析装置に関する。本発明
による装置は、例えば印刷用原画の電子的走査映
像解析に用いられることができる。
〔従来技術、および発明が解決しようとする問題点〕
ある透明原画の特殊な特性は、強度の大なる照
明下において一時的なブリーチング(bleaching)
をうけることである。このブリーチングは1―2
秒間において発生して0.2もしくは0.3濃度単位の
オーダーの濃度変化をもたらす。この現象は可逆
的であり、すなわち照明が消されたときにはもと
の濃度に回復する。勿論、照明の強度が大き過ぎ
るか、または照射される時間が長過ぎると照射さ
れた部分に恒久的な損傷が生ずる。
この一時的なブリーチング現象は、透明原画を
スキヤナで走査するよう設定するとき、多くの不
都合を生じさせる可能性があり、その理由は、こ
の設定の調整は通常、照明スポツトに対して、透
明原画を停止させた状態で行われるからである。
この調整は、このように透明原画のブリーチング
を生じやすい状態において行われるが、走査が開
始されると透明原画は照明スポツトを通過して迅
速に運動し、それゆえ一時的なブリーチングが発
生するひまがない。この問題はすべての透明原画
について発生するわけではないが、処理が不十分
な材料については特に発生する可能性が大であ
る。したがつて、この現像が発生した時期を検出
することは困難であり、したがつて、設定の調整
がこの現象の発生に影響されないようにあつてほ
しいという、スキヤナに対する明瞭な要求が存在
する。
本発明の目的は、電子的印刷用として透明基板
に画いた写真原画の映像について、映像を解析し
たデータを得るため映像走査を行う場合の、下記
の各動作、すなわち、 (1) 走査映像解析装置の走査休止状態において非
集束の光ビームにより操作者が写真原画映像の
観察を行うこと、 (2) 走査映像解析装置の予備的調整を行うために
集束された光ビームを用いて写真原画映像の選
択されたスポツトの光透過率を測定すること、 (3) 集束された光ビームを用いて走査映像解析装
置の走査動作を行わせること、 を不都合なブリーチングを発生させることなく実
行することにある。
こゝに前述の(2)走査映像解析装置の予備的調整
を行うために集束された光ビームを用いて写真原
画映像の選択されたスポツトの光透過率を測定す
ることを行う事情を説明すると下記のとおりであ
る。
説明を簡単にするためにまず、単色光透明原画
の解析のための準備における“スキヤナの設定”
が考慮される。再生過程用の理想的な透明原画
は、光透過区域の一端に幾つかの明瞭またはほと
んど明瞭な領域を、該光透過区域の他端に不明瞭
またはほとんど不明瞭な領域を有し、これら両極
端の間において光透過の度合の全変動領域をもつ
ようなものである。しかし実際には、透明原画の
あるものは透明(またはほとんど透明)な範囲を
有しておらず、また或るものは不明瞭(またはほ
とんど不明瞭)な範囲を有しておらず透明原画か
ら得られる光透過率の範囲はその一方に片寄り、
例えば、望まれる変化の大部分が透明原画のほと
んど透明な領域によつて示される。
操作者は再生すべき透明原画から得られた光透
過率の範囲の不適切もしくは歪みを補償するため
にスキヤナの「設定」(すなわち調整)を行わね
ばならぬ。このために操作者は透明原画の最も明
るい部分からの光透過率と最も暗い部分の光透過
率を得ることができる。またこれらの値の差は透
明原画から得られる光透過率の範囲を示す。また
光透過率の範囲がその一方に極度に片寄つている
ときは中間濃度の範囲から光透過率を得ることが
できる。これらの情報を用いて操作者はスキヤナ
の映像再生値を調整して透明原画から得られた光
透過量の不適切あるいは歪を補償することができ
る。
カラー透明原画の場合同様なプロセスが用いら
れる。透明原画の選択された面積の濃度はすべて
のカラー成分チヤンネルを調整することができ
る。またもし必要ならば、個々のカラー成分範囲
を測定するためにスキヤンニングヘツドにカラー
フイルタおよび光電増倍装置を用いて透明原画の
選択された面積を透過した光を解析することによ
つて個々のカラー成分の範囲を別々に調整するこ
とができる。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明においては透明原画支持体と、光源か
ら光を該支持体上の透明原画上に集束させる第1
の状態および透明原画の1つの領域を操作者によ
る観察用に非集束の光により照射する第2の状態
とを呈する集束制御手段と、前記透明原画を通過
した光源からの光を受ける光電変換手段と、前記
透明原画支持体と前記光電変換手段を相対的に運
動させる運動手段であつて、透明原画を連続的に
走査し光電変換手段から映像をあらわす信号を得
るか、または操作者による制御の下に濃度測定の
ために前記透明原画上のスポツトを選択し、該ス
ポツトの濃度を測定するための、操作者に制御さ
れるスイツチング手段であつて、集束制御手段を
前記第1の状態へ作動させる手段と、前記光電変
換手段の出力をサンプリングするサンプル・アン
ド・ホールド回路と、前記スイツチング手段の動
作の後に集束された光により前記透明原画上の選
択されたスポツトの照射が開始された後、所定の
期間、サンプル・アンド・ホールド回路を作動さ
せる制御手段とを具備し、それにより前記サンプ
ル・アンド・ホールド回路に保持される濃度表示
信号の値がサンプリング期間の後に生起する光電
変換手段の出力の変化とは無関係になつててるこ
とを特徴とする走査映像解析装置が提供される。
本発明にかゝる装置の好ましい実施形態におい
ては、解析装置は光源からの光が透明原画の選択
された領域上に広げるためのデフオーカス手段と
操作者によつて視覚されるため、照明された領域
の像を表示する手段を含む視覚手段を含むことが
のぞましい。これは測定に必要な濃度のスポツト
をオペレータに選択させることができるからであ
る。かくして、操作者は走査操作の前にデフオー
カス手段を作動させて操作者は照明された領域の
映像を見る。選択されたスポツトの濃度を測定す
るために、光スポツトは結像されて選択されたス
ポツトは一時的に照射され、サンプル・アンド・
ホールド回路がその信号を光電変換手段から取出
す。そして、つぎの走査にたいしてビームは結像
され、この走査動作中、光電変換手段に対して連
続もしくは本質的に連続であつて像のつぎに走査
される点の映像濃度を示す信号を発生する。
このようにして選択されたスポツトの濃度は測
定が行われる前にブリーチングされることなしに
測定することができる。
本発明にかゝる1つの実施例によれば、光ビー
ム中に補助レンズが挿入され、濃度測定が行われ
る前に透明原画を正常に見るために光スポツトを
デフオーカスする。そして、補助レンズを光ビー
ムの外に動かす運動はサンプル・アンド・ホール
ド回路がトリガされる前に丁度発生するようにタ
イミングされる。サンプル・アンド・ホールド回
路は透明原画を通つて伝達された光を受ける光電
子増倍管からの信号値をサンプリングするように
配置される。サンプル・アンド・ホールド回路
は、たとえば光電子増倍管からの信号に応答し、
且つその変換サイクルがサンプル・アンド・ホー
ルドの望むときにトリガされるアナログデイジタ
ル変換器を含むことができる。デイジタル出力は
数値のつぎの処理および表示のために永久に維持
される。
本発明にかゝる他の実施例によれば、透明原画
は結像された光スポツトをもつて単に一時的に照
射され、透明原画を通つて伝達される光の量の測
定は透明原画が照射されると同時に同期して行わ
れる。この場合、透明原画上の同じスポツトにお
いて幾つかの測定が正常に行われ、測定値は平均
される。
〔実施例〕
以下、本発明にかゝる透明原画の走査ヘツドの
実施例について図面により詳細に説明する。
第1図および第2図において、透明原画10は
透明ドラム11の周辺に装着されている。この図
はドラム11の内部に位置する管12に位置する
スキヤナの光学的な要部のみを示す。キセノンラ
ンプ13からの光は管12の一端に入り、レンズ
L1によつてプリズム14に向けられ、このプリ
ズムは光を管12の壁に設けられたレンズL2
介して下向に偏向して透明ドラム11および透明
原画10を透過する。
透明ドラム11から出た光は対物レンズL3(第
2図)によつて受け入れられ、プリズム15によ
つて再び滑動反射鏡16(反射鏡が第2図のごと
き位置にあるとき)もしくは光電子増倍管17
(ミラーが第2図の鎖線の位置に動いたとき)に
偏向される。走査ヘツド17は従来技術によるも
のであつて、普通、透明原画10から受けた信号
の強さを記録するため開口部、色フイルタおよび
光電子増倍管を含んでいる。実際には、シヤープ
な開口部、シヤープでない開口部、ビームスピリ
ツタ、二色のフイルタおよび4個の光電子増倍管
がヘツドに含まれる。
滑動反射鏡16が第2図に示す位置にあるとき
は、光ビームが半透明可視スクリーン18の方向
に向けられて、透明原画の照射された部分を測定
前に観察できる。このようにして透明原画を見る
とき、照射光スポツトはデフオーカスされる。こ
れは補助レンズL4(第1図)を光ビームに挿入す
ることによつて行われる。これは通常光通路にあ
るが、透明原画の走査中もしくは設定測定が行わ
れているときは、ソレノイド19がレンズL4
光ビームの外部におくように付勢している。そし
て結像された光スポツトは透明原画にあたる。デ
フオーカスされた光スポツトの強度は、フオーカ
スされた光スポツトに比べて非常に小さく、フオ
ーカスされた光スポツトが透明原画を照射すると
きにのみ一時的ブリーチング現象が発生する。
第2図に示す滑動反射鏡16は、ソレノイド2
0に電流を流したり流さなかつたりすることによ
つて、第2図に実線および点線で示した2つの位
置の間を移動する。このソレノイド20は、例え
ば回転ソレノイドでもよく、またラツクとピニヨ
ンを介して反射鏡16を動かしてもよい。
第1図および第2図に示すスキヤナの動作シー
ケンスを第3図および第4図について説明する。
第3図はシーケンス制御器を示すブロツクダイア
グラムであり、第4図は第3図に示す部分のタイ
ムチヤートを示す。
スキヤナの通常の静止状態においては、補助レ
ンズL4は光通路内にあり、滑動反射鏡16は第
2図の実線で示した位置にある。この位置におい
ては、透明原画の選択された領域の映像は可視ス
クリーン18に反射する。透明ドラム11はそこ
で操作者によつて可視スクリーン18で観測する
ために、透明原画の所望の領域を選択するように
要求によつて動かされる。このとき、選択された
領域を照射している光スポツトはデフオーカスさ
れているから透明原画はこの段階においてブリー
チングをうけない。
操作者が、透明原画における選択されたスポツ
トを透過した光を測定し、走査動作に先立つて解
析装置の設定を予備調整することができるように
なることを希望するときは、操作者は、選択され
たスポツトをフオーカスされた状態における光ビ
ームの既知の位置に位置合わせする。そこで、操
作者はスイツチ21を操作して、このスイツチ2
1によつてパルス成形回路22を介してソレノイ
ドタイミングモノステーブル回路23の動作を開
始する。回路23はソレノイドリレーのコイル2
4を動作せしめて、その接点25で補助レンズソ
レノイド19および反射鏡ソレノイド20に対す
る回路を完成する。これら2つのソレノイドが動
作することによつて補助レンズL4と反射鏡16
が光路の外に移動して、集束された光ビームが透
明原画の選択されたスポツトを通して走査ヘツド
17の1もしくは複数の光電子増倍器にいたる。
回路22からソレノイドタイミングモノステー
ブル回路23にパルスが印加されると同時に、そ
のパルスが遅延モノステーブル回路26にも印加
される。第4図に示す波形bおよびcから明らか
なように、遅延モノステーブル回路26は回路2
3にて発生するパルス(波形b)よりも非常に短
かい期間のパルス(波形c)を発生する。遅延モ
ノステーブル回路26からのパルスの目的は、ソ
レノイド19および20が補助レンズL4および
反射鏡16を動かす操作を完了するまで、クロツ
ク発生器27(波形a)からパルスカウンタ30
にパルスを印加させないように遅延させることを
保証することにある。パルスがカウンタ30に到
達する態様はつぎの如くである。遅延モノステー
ブル回路26のパルスの正方向への立上り端は、
カウンタ30を零に設定し且つイネーブリングフ
リツプフロツプと称される第1のD型フリツプフ
ロツプ31のクロツク入力に印加される。フリツ
プフロツプ31のD入力は恒久的に高圧レベル配
線されているから、回路26からのパルスの立上
り端でフリツプフロツプ31のQ出力は高圧レベ
ルとなり、したがつてアンドゲート32の1つの
入力が高圧レベルとなる。したがつて、クロツク
発生器27からの次のパルスはアンドゲート32
をへてクロツク同期フリツプフロツプとして知ら
れる第2のD型フリツプフロツプ33のプリセツ
ト入力に印加される。フリツプフロツプ33のD
入力は恒久的に低電圧レベルとして配線されてい
る。アンドゲート32からの反射出力の立下り端
でフリツプフロツプ33をプリセツトし、そのQ
出力は高圧レベルとなるから、アンドゲート34
を動作せしめて、発生器27からカウンタ30に
いたるクロツクパルスの通過を許容し、反転され
たクロツクパルスを出力する。第4図における波
形eはクロツク同期フリツプフロツプ33の出力
を示し、波形fはゲート34の出力である。4つ
目のクロツクパルスがカウンタ30に達すると、
カウンタはそのキヤリー出力にキヤリーパルス
(第4図波形g)を発生してこれがフリツプフロ
ツプ33のクロツク入力およびフリツプフロツプ
31のリセツト端子に印加される。このキヤリー
パルスの負方向の立下り端はフリツプフロツプ3
1の出力を反転し、キヤリーパルスの正方向立上
り端はフリツプフロツプ33の出力を反転する。
これはゲート34を阻止してさらにクロツクパル
スが通過しないようになる。
ゲート34によつて通過させられる4個のパル
スは、また反転増幅器35を介してサンプル・ア
ンド・ホールド回路41に印加される。この回路
41は各クロツクパルスにおいて光電子増倍管お
よび前置増幅器回路17aの出力をサンプリング
してこの値をホールドする。その間また反転増幅
器35からのクロツクパルスによつてトリガされ
るアナログデイジタルコンバータ42は、このホ
ールドされた値をデイジタル信号に変換してその
デイジタル出力をデータ処理回路43に印加す
る。回路43はクロツクパルス回路に応答して得
られた4つのサンプルに対応するコンバーター4
2からの4個のデイジタル出力の平均をとる平均
化手段を含む。平均化手段は例えばアキユムレー
タを含むことが可能であり、該アキユムレータに
おいては該4個のデイジタル出力が合算されてス
トアされ、その後に、右方向に2桁だけ有効に変
位させられて4による除算が行われる。4つの読
みの平均をあたえる回路43のデイジタル出力は
デイジタル表示装置44に印加される。
タイミングモノステーブル23からのパルスは
充分長いために4つの読みが行われる期間を充分
に確保する。このパルスの終りにソレノイド19
および20が解放されて、装置はもとの可視状態
に復帰する。
ソレノイド19および20は、スイツチ45が
スキヤンニング動作の開始時に操作させたときに
リレー24によつて動作させられる。これはスキ
ヤナ制御回路46によつて、リレー24およびリ
レー42が動作し、透明ドラムと走査ヘツドの相
対運動を発生するようにモータ(図示せず)の動
作を制御する。
第5図は本発明にかゝるビーム発生手段と透明
ドラムの配列の他の実施形態を示す。同図におい
て、回転チヨツパデイスク50は小孔51を備え
ていて、光源13から管12にいたる光の通路を
デイスク50の1回転に要する時間の約99%を遮
断する。補助レンズL5は光源からの光をデイス
ク50に結像する。デイスク50は小型モータ5
2によつて回転し、デイスク50はソレノイド5
3によつて操作される光の通路への挿入状態もし
くは回転フレームの上に設けられてデイスクの必
要がなくなつたときに光の通路から完全に取除状
態をとることができる。他の実施例においては、
電磁石はデイスクに取付けられた小アーマチユア
を引きつけるように動作して、デイスクは光が、
観察もしくはスキヤンニング動作の間に孔51を
通過するような位置に固定される。
光電セル54はデイスク50の入射側から反射
される光を受けて孔51の通路が光ビームを通過
しているときはいつでも光電セル54に入射する
反射光がないようなトリガ信号を発生する。光電
セル54の出力はサンプルホールド回路をトリガ
する。前と同様に補助レンズL4は測定およびス
キヤンニングの間、光の通路の外におかれる。か
くして、測定が行われるときは結像された光は時
間において僅か1%だけ透明原画に到達して、そ
の平均強度は一時的なブリーチングを発生させる
ものではない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明において用いられる走査映像解
析装置の概要を示す図、第2図は第1図の装置に
おける走査ヘツドを示す断面図、第3図は第1図
および第2図に示す装置に用いられる制御系を含
む回路のブロツク線図、第4図は第3図の回路の
タイミング線図、第5図は本発明における解析用
走査装置の他の具体例を示す。 10…透明原画、11…透明ドラム、12…
管、13…キセノンランプ、14,15…プリズ
ム、16…反射鏡、17…走査ヘツド、18…可
視スクリーン、50…デイスク、51…小孔、5
4…光電セル、L1,L2,L3,L4,L5…レンズ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 透明原画支持体と、光源から光を該支持体上
    の透明原画上に集束させる第1の状態および透明
    原画の1つの領域を操作者による観察用に非集束
    の光により照射する第2の状態とを呈する集束制
    御手段と、前記透明原画を通過した光源からの光
    を受ける光電変換手段と、前記透明原画支持体と
    前記光電変換手段を相対的に運動させる運動手段
    であつて、透明原画を連続的に走査し光電変換手
    段から映像をあらわす信号を得るか、または操作
    者による制御の下に濃度測定のために前記透明原
    画上のスポツトを選択し、該スポツトの濃度を測
    定するための、操作者に制御されるスイツチング
    手段であつて、集束制御手段を前記第1の状態へ
    作動させる手段と、前記光電変換手段の出力をサ
    ンプリングするサンプル・アンド・ホールド回路
    と、前記スイツチング手段の動作の後に集束され
    た光により前記透明原画上の選択されたスポツト
    の照射が開始された後、所定の期間、サンプル・
    アンド・ホールド回路を作動させる制御手段とを
    具備し、それにより前記サンプル・アンド・ホー
    ルド回路に保持される濃度表示信号の値がサンプ
    リング期間の後に生起する光電変換手段の出力の
    変化とは無関係になつていることを特徴とする走
    査映像解析装置。 2 前記集束制御手段が光源からの光を集束する
    第1のレンズと、光をデフオーカスするために光
    源からのビームの通路に進入し、およびそれから
    退出することができるよう前記スイツチング手段
    の操作に応じてビーム通路から外れるようになつ
    ている可動の第2のレンズからなる特許請求の範
    囲第1項に記載の走査映像解析装置。 3 可視スクリーンと、前記集束制御手段が第2
    の状態にあるとき可視スクリーンに照射領域の画
    像を示す操作手段を具備することを特徴とする特
    許請求の範囲第1項もしくは第2項に記載の走査
    映像解析装置。 4 可視スクリーンに照射領域の画像を示す操作
    手段がビーム通路に出し入れできるよう可動的に
    装着されビーム通路において前記領域から可視ス
    クリーンに光を偏向させるように配列された反射
    鏡を有することを特徴とする特許請求の範囲第2
    項に記載の走査映像解析装置。 5 前記制御手段がサンプル・アンド・ホールド
    回路をその予め決められた期間内に複数回作動さ
    せ前記光電変換手段の出力の対応する数のサンプ
    ルを提供し、映像解析装置がさらにサンプルの平
    均値をあらわす出力を発生させる平均回路を有す
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第
    4項までの何れかに記載の走査映像解析装置。 6 回転デイスクと、測定中に前記回転デイスク
    を光源からの光の通路に動かすために操作者によ
    り制御されたスイツチング手段に応答する手段を
    含み、前記回転デイスクは回転のサイクルの大部
    分の間透明原画から光を遮断し回転サイクルの小
    部分のみ光を通過させ測定中透明原画の平均照射
    を減少させる開口を有することを特徴とする特許
    請求の範囲第1項に記載の走査映像解析装置。 7 デイスクの回転時に前記開口の位置に応答し
    てサンプル・アンド・ホールド回路を作動させる
    手段を含むことを特徴とする特許請求の範囲第6
    項に記載の走査映像解析装置。
JP7566477A 1976-06-26 1977-06-27 Scanning image analyzer Granted JPS533282A (en)

Applications Claiming Priority (1)

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GB26698/76A GB1583145A (en) 1976-06-26 1976-06-26 Scanning heads for transparencies

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JPS533282A JPS533282A (en) 1978-01-12
JPH0147068B2 true JPH0147068B2 (ja) 1989-10-12

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ID=10247807

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JP7566477A Granted JPS533282A (en) 1976-06-26 1977-06-27 Scanning image analyzer

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US (1) US4173416A (ja)
JP (1) JPS533282A (ja)
DE (1) DE2728567A1 (ja)
GB (1) GB1583145A (ja)

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