JPS58166244A - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置

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JPS58166244A
JPS58166244A JP58032997A JP3299783A JPS58166244A JP S58166244 A JPS58166244 A JP S58166244A JP 58032997 A JP58032997 A JP 58032997A JP 3299783 A JP3299783 A JP 3299783A JP S58166244 A JPS58166244 A JP S58166244A
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JP
Japan
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light
measurement field
image
ray
ray inspection
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Application number
JP58032997A
Other languages
English (en)
Inventor
ヨハネス・テオドルス・アントニウス・バン・デ・ベン
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
    • H05G1/36Temperature of anode; Brightness of image power
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/64Circuit arrangements for X-ray apparatus incorporating image intensifiers

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Radiography Using Non-Light Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、X線像増強管と、X線像増強管がらの像情報
を含む光ビームの通路においてX線像増強管の出口側ス
クリーンの後に配置した光ビーム伝送系と、出力像をハ
ードコピー装置およびテレビジ璽ン撮像管上に投影する
ビーム分割装置と、輝度制御装置を制御するため光ビー
ムの通路に配電した光抽出装置とを備えるX線検査装置
に関するものである〇 かかるX線検査装置は英国特許第1.21,007号か
ら既知である。この既知のX線検査装置では光抽出装置
によって抽出した光を用いて出口側スクリーンの輝度を
フィルムを装填したカメラの映像周波数に適合させるよ
うにしている。更に、光ビームにおいてテレビジ冒ン撮
像管の前方に配置した絞りを出口側スクリーンの輝度変
化に適合させるようにしている。
本発明の目的は、輝度制御のため出口側スクリーンの任
意の一部を選択することができ、その際テレビジョン回
路またはハードコピー装置に対する映像形成に悪影響を
及ぼさない測定(または峡クリーン映像の最も興味のあ
る部分に対して最適の露光が達成される一方、興味の少
ない部分の光からの制御作用が除失される。
本発明のX線検査装置は、結像光ビームのビーム通路に
配設した光抽出装置により出口側スクリーン全体から像
−一を含む−ビームを゛光ビームの通路外に指向させ、
副ビームの通路に測定フィールド選択装置を配置し、測
定フィールド選択装置によって決定された測定フィール
ド内の光束を光検出器によって測定する構成としたこと
を特徴とする。
本発明のX線検査装置では、結像ビ□−ムに悪影響を及
ぼす手段を”使用することなく′河定゛フイ゛−ルドを
調節することができる。
本発明の好適な実施例では光抽出装置がプリズム、半透
明にできるミラー、または−束の光7アイパを備える。
かかる光学素子は比較的小さい遮光面を有し、従って結
像ビームの光度の一部だけ受光するに過ぎない。かかる
光学素子を光路において結像ビームが平行になる区域に
配置したことによ゛り光抽出゛−装置は小さいにも拘ら
□ず出口側スクリーン蚕体の映像を発生することができ
る。
本発明の好適な実施例では、測定)−イールド選択装置
が光抽出装置によって偏向した光ビームに対し直角に変
位できるよう配設した測定フィールド絞り板を備える。
この場合・測定フィールドの選択および選択された測定
フィールドの制″御のため測定フィールド絞り板の移動
によって制御できる測定装置を設けることができ、この
測゛定装置は例えば簡単なメテンシ璽メータとすること
ができる。
本発明の他の好適な実゛施例では、測定フィールド選択
装置の背後に光源を設け、この光源から光ビームを選択
された測定フィールド絞りを介してX線像増強管あ出口
側スクリーン上に入射門せるようにする。この場合には
光学系における光路の可逆性を利用する。
選択された測定フィールドは出口側スクリーン上に結像
され、従ってテレビジョン撮像管を介して、例えばこの
撮像管に接続したモニタ上にも表示される。従って放射
線取扱技師は、選択された測定フィールドが最も関心の
ある映像部分を含んでいるか否かを検査を中断すること
なく連続的に観察することができる。代案として、測定
フィールドの関心のある境界だけ出口側スクリーン上に
投影することもできる。
本発明の他の好適な実施例では、米国特許第8.889
.684号から既知のコリメーター測定フィールド選択
装置を光路において光学素子の後に配設する。この場合
光学素子は結像ビームの外側に配置されるから、フリメ
ータの構成および幾何学的配置につき遥に大きい自由度
が得られ、かつ結像に悪影響を及ぼすことがない。同じ
くこの場合にも、選択された測定フィールドを検査に当
り出口側スクリーン上に投影することができる。
放射線写真用には一般に、測定フィールドを結像させる
ための光源をスイッチオフすることが所望される。かか
るスイッチオフにより光源からの光がダイオードを可と
する光検出器によって受光されるのが防止される。選択
された測定フィールドを基準として使用した場合、例え
ばxM写真を作製するために使用したX線パルスの幅を
適切に選択することにより露光を適正露光に調整するこ
とができる。
図面につき本発明を説明する。
第1図に示した本発明のX線検査装置の実施例は電iI
zを有するXll管1を備え、このX線管から発生した
X線ビーム8によって支持台4上に配置した対象物5を
照射することができる。対象物からの像情報を含むXl
lビームを、入口側スクリーン7、電子光学系3および
出口側スクリーン9を有するX線像増強管6に入射させ
る。出口側スクリーン9から生ずる像・情報を含む光ビ
ームlOは光学結像系11によりフィルムを装填したカ
メラlsおよびテレビジョン撮像管18上に結像させる
。光学結像系11は普通の態様で、出口側スクリーン9
と合致する対物焦点面を有する$1し、ンズ14と、テ
レビジョン撮像管18のターゲット・プレー)16と合
致する像焦点面を有する第2レンズ15と、ビーム分割
(罐分布)装置17とを備え、ビーム分割装置は例えば
半透明および/または回動自在ミラーとし、レンズ14
および15の間に配置し、これを介してカメラ12上に
も光ビームを投影することができる。例えば、入口側ス
クリーン7からの光電子を出口側スクリーン9上に結像
する電子ビーム18に対する電磁界の擾乱作用を除去す
るためxlI像増強管6は、例えば米国特許第4,22
0,890号に記載されたように漂遊放射線グリッドお
よび磁気遮蔽の両方の機能を満足できる細条状入口グリ
ッドを有するハウレンズ19内に収納する。
第ルンズ14町本例の如く配設した場合、出口側スクリ
ーン9から生じ出口窓21を介して放射される光ビーム
lOからレンズ14および15の間において平行光ビー
ムが形成される。レンズ14および15の−に光抽出装
置22を配設し、この光抽出装置2!により結像光ビー
ムの一部28を結像光ビームの通路外に偏向させる。本
例では光抽出装置St+はプリズムの形態とし、このプ
リズムにより結像光ビー、ムからの光束の0.1〜1%
を遮光するようにする。先に述べたように、代案として
光抽出装置は4sOの角度で配置したミラー、半透明ミ
ラーまたは一束の光ファイノくおよび結像レンズの形態
とすることができる。プリズム22により光ビームs8
を測定フイ〒ルド選択装置s4に指向させ、測定フィー
ルド選択装置24からリード線8sを介してX線管1に
対する給電制御装置z6を制御することができ−る。ま
た制御装置z6は撮像管18からリード線2フを介して
導出した信号によっても制御できる。撮像管18にはリ
ード@SSを介してテレビジョン・モニタs9を接続す
る。
第3図には光学結像系11の第2レンズ15、第3レン
ズlbおよ、びビーム分割装置17を示す、。
像情報を含む光ビーム10(第1図)はレンズ14のコ
リメータ作用により平行光ビーム8,0となり、この平
行光ビームは光路81からビーム分割装置17およびカ
メラ12のレンズ82を介して記録手段例えばカメラ1
2のフィルム上に出口側スクリーン9の像を形成し、か
つ光路81からレンズ15を介して撮像管18のターゲ
ット・プレート16上に出口側スクリーン9d1像を形
成する。X線像瑠強管6の一出ロ側スクリーン9は通常
は、電子像を蛍光像に変換する蛍光スクリーンである。
この場合かかるスクリー゛ンは、これを像に対する対物
面と考えても差支えないような構造に適切に構成する。
その場合出口室21は光学的透明平坦平行板゛と仮定し
、光路長の変更は別にして像を擾乱しない。これは光フ
アイバ出口窓を有するX@像増強管にも当てはまる。′
またこの場合、増強された像に対し何等問題は起らない
。後述する測定フィールドの光学的照射には、出口側ス
クリーン9が充分拡散した態様で光を反射して、かゆ、
□、よ、ヵ□□0、□iミオ。。
物を形成できるようにすることが所望される。この要件
は普通の形態のスクリーンによって充分満足される。第
8図は本発明による測定フィールド選択および光測定装
置のプリズム22と、所要に応じて設けるレンズ83と
、光ビーム28の光路に配設した測定フィールド選択装
置を構成する測定フィールド・ディスク41と、この測
定フィールド・ディスクの選択された測定フィールド絞
り開口4sの後に配設したレンズ48と、半透明ミラー
44と、引出しリードll!25に接続した光検出器4
5と、光源46を示しである。駆動モータ47および駆
動プーリ48により測定フィールド・ディスク41を軸
411の周りで回転することができ、この軸49の周り
には位置測定装置50を配設する。遮光部材51,1s
1,1521により出口側スクリーン9からの光が光検
出器45に入射するのを阻止する。レンズ88により測
定フィールド・ディスク41の区域には、選択された測
定フィールド絞り開口4mによって選択された所望測定
フィールド内における出口側スクリーンの映像が形成さ
れる。この測定フィールド内への入射光はレンズ48に
より集束し、ミラー44を介して光検出器45に入射さ
せる。ホトダイオードで構成す・るを可とする光検出器
45からの信号は記録すべき映像の露光のタイミング調
整に使用すること、6(できる。測定フィールド・ディ
スク41を回転することにより異なる測定フィールド絞
り開[1を光ビーム28内に配置することができ墨。光
源46により、選択された測定フィールド絞り開口を既
に述べた態様で出口側スクリーン上に投影することがで
きる。出口側スクリーンから、選択された測定フィール
ドもテレビジョン・モニタ29上に表示する。この測定
フィールド60は、テレビジョン・モニタ29上におい
て、出口側スクリーン全体の映像61内に高輝度領域と
して現われる。
映像の記録に当り測定フィールドは最早や点検されるこ
とがなく、従って光源46はスイッチオフすることがで
きる。
所要に応じ、測定フィールドの境界輪郭を、適当な測定
フィールド絞り□開口の近くに配設した交換可能かまた
は変位可能な輪郭マスク65を使用して照射することが
できる。その場合、境界輪郭の照射による映像の擾乱が
防止される。測定フィールドの輪郭を照射するのに必要
な光の量は極めて小さい。
他の同様な方法においては測定フィールド・ディスクの
代りに、米国特許第8.889,684号に記載された
麺類のコリメーター測定フィールド選択装置66を光ビ
ーム28内に配置することができ、その場合光ビーム!
!8はレンズ14および15間の光ビームsOと同じ光
路を有するようにする必要がある。従ってこの場合には
レンズ88は設けない。かかる構成においてもコリメー
ター測定フィールド遍択装置を回転または傾斜させるこ
とにより所望の測定フィールドを調整し、この瀾定フイ
〒ルドを再びテレビジョン・モニタ上に表示させること
ができる。このようにして、調整可能な絞りを使用した
場合に起るコリメーター測定フィールド選択装置の映像
に対する好ましくない影響が防止される。
【図面の簡単な説明】
第1図・は本発明のX線検査装置の実施例を示す路線図
、 第2図は第1図における測定フィールド選択装置の一例
を詳細に示す路線図である。 1・・・X線管      2・・・電源8・・・X@
ビーム    4・・・支持台5・・・対象物    
  6・・・Xg像増強管7・・・入口側スクリーン 
8・・・電子・光学系9・・・出口側スクリーン 10
・・・光ビーム11・・・光学結像系    1jl・
・・カメラ18・・・テレビジョン撮像管 14・・・第ルンズ   15・・・第2レンズ16・
・・ターゲット・プレート 17・・・ビーム分割装置  18・・・電子ビーム1
9・・・ハウジング    20・・・細条状入口グリ
ッド21・・・出口窓     81!!・・・光抽出
製電28・・・光ビーム 24・・・測定フィールド選択装置 26・・・給電制御装置 29・・・テレビジョン・モニタ 80・・・平行光ビーム   81・・・光路81B・
・・カメラのレンズ   88・・・レンズ41・・・
測定フィールド・ディスク 42・・・選択された測定フィールド絞り開口48・・
・レンズ      44・・・半透明ミラー45・・
・光検出器     46・・・光源47・・・駆動モ
ータ    48・・・駆動プーリ49・・・軸   
    50・・・位置測定装置51 、52 、5δ
・・・遮光部材 60・・・測定フィールド 61・−・訣鎗65・・・
輪郭マスク 66・・・コリメーター測定フィールド選択装置。 特許出願人  エヌ・べ−・アイリツブス・フルーイラ
ンペンファブリケン

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 X線像増強管(6)と、X線像増強管からの像情報
    を含む光ビーム(10)の通路においてX線像増強管の
    出口側スクリーン(,9)の後に配置した光ビーム伝送
    系(11)と、出力像をハードコピー装置(12)およ
    びテレビジョン撮像管(18)上に投影するビーム分割
    装置(1))と、輝度制御装置(24゜26)を制御す
    るため光ビーム(80)の通路に配置した光抽出装置(
    22)とを備えるX線検査装置において、結像光ビーム
    のビーム通路に配設した光抽出装置(22)により出口
    側スクリーン全体から像情報を含む副ビーム(98)を
    光ビニム(80)の通路外に指向させ、副ビームの通路
    に測定フィールド選択装置(41)を配置し、測定フィ
    ールド選択装置によって決定された測定フィールド内の
    光束を光検出器(46)によって測定する構成としたこ
    とを特徴とするX線検査装置。 i 光ビーム(80)、の通路外に配置した光源(46
    )により、測定フィールド選択製蓋によって決定された
    測定フィールドをxliI像増強管の出口側スクリーン
    (9)上に投影する特許請求のI1w第1項記載のX線
    検査装置。 龜 光抽出装置(、S、、、、、、 S )がプリズム
    、ミラーまたは一東の光ファイバを備える特許請求の範
    囲第1tたは3項記載のX線検査装置。 4 m定フィールド選択装置を測定フィールド絞り板(
    41)で構成し、測定フィールド絞り板を、レンズ88
    と、副ビーム(2δ)の通路内および道路外へ移動でき
    る測定フィールド絞り板の測定フィールド絞り開口(4
    2)、によって構成される出口側スクリーンの映像の位
    置に配置する特許請求の範囲第1,2または8項記載の
    X線検査装置。 1 測定フィールド絞り板(41)が回転自在ディスク
    であり、その環状区域に測定フィールド絞り開口(42
    )を配設する特許請求の範囲第4項記載のX線検査装置
    。 a 測定フィールド選択装置に、測定フィールド境界輪
    郭を出口側スクリーン上に投影する手段(65)を設け
    る特許請求の範囲第4または5項記載のX線検査装置。 デ コリメートされない副ビーム(2B”)f)通路に
    調整可能フリメーターフィールド選択装置を配設する特
    許請求の範囲第1,2または8項記載のX線検査装置。 & 出口側スクリーン(9)からの光を光検出W(45
    )へ指向させかつ光源(46)からの光を出口側スクリ
    ーン(9)へ□指向させるビーム分割装置を備える特許
    請求の範Nts1乃至7項中のいずれか一項記載のX線
    検査装置。 龜 選択すべき測定フィールドの位置を固定するための
    調整装置を備える特許請求の範囲第1乃至8項中のいず
    れか一項記載のX線検査製電。
JP58032997A 1982-03-03 1983-03-02 X線検査装置 Pending JPS58166244A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8200852A NL8200852A (nl) 1982-03-03 1982-03-03 Roentgenonderzoekinrichting.
NL8200852 1982-03-03

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JP58032997A Pending JPS58166244A (ja) 1982-03-03 1983-03-02 X線検査装置
JP1991107429U Granted JPH04110073U (ja) 1982-03-03 1991-12-26 X線検査装置

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US (1) US4472826A (ja)
EP (1) EP0087843B1 (ja)
JP (2) JPS58166244A (ja)
BR (1) BR8300969A (ja)
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DE (1) DE3367494D1 (ja)
NL (1) NL8200852A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01232699A (ja) * 1988-03-12 1989-09-18 Toshiba Corp デイジタルフルオログラフイ装置
JPH02165598A (ja) * 1988-12-19 1990-06-26 Hitachi Medical Corp X線映像装置

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8202418A (nl) * 1982-06-15 1984-01-02 Philips Nv Roentgenonderzoekapparaat.
FR2577131A1 (fr) * 1985-02-12 1986-08-14 Thomson Cgr Installation de radiologie a compensation dans un trajet optique de l'image
FR2580827B1 (fr) * 1985-04-19 1987-05-22 Thomson Cgr Installation de radiologie
US4677477A (en) * 1985-08-08 1987-06-30 Picker International, Inc. Television camera control in radiation imaging
NL8502569A (nl) * 1985-09-20 1987-04-16 Philips Nv Roentgenonderzoekapparaat met een locaal opgedeelde hulpdetector.
DE3702914A1 (de) * 1986-02-11 1987-08-13 Radiante Oy Verfahren zur herstellung von roentgenaufnahmen
FR2595561A1 (fr) * 1986-03-14 1987-09-18 Thomson Cgr Installation de radiologie a detecteur, notamment un photomultiplicateur, pour le controle des images
DE8710425U1 (ja) * 1987-07-29 1988-11-24 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De
DE8714009U1 (ja) * 1987-10-19 1989-02-16 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De
EP0372101A1 (de) * 1988-12-02 1990-06-13 Siemens Aktiengesellschaft Röntgendiagnostikanlage mit einer Bildverstärker-Fernsehkette
DE58905549D1 (de) * 1989-02-20 1993-10-14 Siemens Ag Röntgendiagnostikeinrichtung.
EP0437650A1 (de) * 1990-01-15 1991-07-24 Siemens Aktiengesellschaft Röntgendiagnostikeinrichtung
EP0547679B1 (en) * 1991-12-19 1996-09-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray imaging system including brightness control
JP3456718B2 (ja) * 1993-01-27 2003-10-14 株式会社東芝 X線撮影装置
BE1007169A3 (nl) * 1993-05-13 1995-04-11 Philips Electronics Nv Röntgenonderzoekapparaat.
JP3554172B2 (ja) * 1998-01-09 2004-08-18 キヤノン株式会社 放射線撮影装置
CN1603945A (zh) 2003-09-29 2005-04-06 Ge医疗系统环球技术有限公司 光辐照器,灯组件和x射线装置
DE102005056066B3 (de) * 2005-11-24 2007-06-28 Siemens Ag Einrichtung für die Röntgen-Brachytherapie mit einer in das Innere eines Körpers einführbaren Sonde

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53127717A (en) * 1977-04-13 1978-11-08 Canon Inc X-ray observation and photographic device
JPS5535512A (en) * 1978-09-04 1980-03-12 Mitsubishi Electric Corp X-ray television equipment
JPS5556399A (en) * 1978-10-20 1980-04-25 Toshiba Corp X-ray camera
JPS5650099A (en) * 1979-09-29 1981-05-07 Toshiba Corp X-ray fluoroscopic photographic system
JPS5781258A (en) * 1980-11-07 1982-05-21 Canon Inc X-ray photographing device

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2441324A (en) * 1946-05-15 1948-05-11 Us Sec War Radiation responsive system
CH477146A (de) * 1967-12-16 1969-08-15 Siemens Ag Röntgendiagnostikeinrichtung
US3546461A (en) * 1968-09-13 1970-12-08 Litton Medical Products Automatic control of a nonsynchronous cine fluororadiographic apparatus
US3749943A (en) * 1969-02-24 1973-07-31 Gec Milwaukee Transistorized grid pulsing circuit for x-ray tubes and other purposes
DE2010360C3 (de) * 1970-03-05 1983-04-28 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Röntgendiagnostikeinrichtung mit einer Bildverstärker-Fernsehkette und mit einer Steueranordnung zum Verändern der Dosisleistung
DE2063676C3 (de) * 1970-12-24 1975-06-26 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Röntgenzielgerät mit einer Einrichtung zur Projektion der auf einer Patientenkarte vermerkten Patientendaten auf optischem Wege in die Aufnahmekamera
DE2207053C2 (de) * 1972-02-15 1984-12-06 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Röntgen-Bildverstärker-Densitometer
US4044264A (en) * 1974-01-22 1977-08-23 Siemens Aktiengesellschaft X-ray diagnostic installation for radioscopy and exposures
US4171484A (en) * 1977-08-03 1979-10-16 Diagnostic Information Automatic brightness control for direct view fluoroscopic imaging systems
US4335307A (en) * 1980-04-21 1982-06-15 Technicare Corporation Radiographic apparatus and method with automatic exposure control
GB2088588B (en) * 1980-11-28 1984-11-07 Tokyo Shibaura Electric Co An x-ray cine radiography apparatus

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53127717A (en) * 1977-04-13 1978-11-08 Canon Inc X-ray observation and photographic device
JPS5535512A (en) * 1978-09-04 1980-03-12 Mitsubishi Electric Corp X-ray television equipment
JPS5556399A (en) * 1978-10-20 1980-04-25 Toshiba Corp X-ray camera
JPS5650099A (en) * 1979-09-29 1981-05-07 Toshiba Corp X-ray fluoroscopic photographic system
JPS5781258A (en) * 1980-11-07 1982-05-21 Canon Inc X-ray photographing device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01232699A (ja) * 1988-03-12 1989-09-18 Toshiba Corp デイジタルフルオログラフイ装置
JPH0530040B2 (ja) * 1988-03-12 1993-05-07 Tokyo Shibaura Electric Co
JPH02165598A (ja) * 1988-12-19 1990-06-26 Hitachi Medical Corp X線映像装置
JP2774119B2 (ja) * 1988-12-19 1998-07-09 株式会社日立メディコ X線映像装置

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Publication number Publication date
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