JPH0139916B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0139916B2 JPH0139916B2 JP55034240A JP3424080A JPH0139916B2 JP H0139916 B2 JPH0139916 B2 JP H0139916B2 JP 55034240 A JP55034240 A JP 55034240A JP 3424080 A JP3424080 A JP 3424080A JP H0139916 B2 JPH0139916 B2 JP H0139916B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- layer
- thickness
- recording material
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 55
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 37
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine Chemical class N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(N=C3C4=CC=CC=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C4=N1 IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000012860 organic pigment Substances 0.000 claims description 9
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 claims description 7
- -1 phthalocyanine compound Chemical class 0.000 claims description 7
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 6
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 claims description 5
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 5
- 239000012752 auxiliary agent Substances 0.000 claims 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 21
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 15
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 14
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 12
- 230000009102 absorption Effects 0.000 description 11
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 10
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 8
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 8
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 8
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 7
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 7
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N germanium dioxide Chemical compound O=[Ge]=O YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 6
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 6
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 5
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 5
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 5
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 5
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 4
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N oxogermanium Chemical compound [Ge]=O PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 3
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 3
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 3
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 2
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 description 2
- SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N Quinoline Chemical compound N1=CC=CC2=CC=CC=C21 SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 2
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PYKYMHQGRFAEBM-UHFFFAOYSA-N anthraquinone Natural products CCC(=O)c1c(O)c2C(=O)C3C(C=CC=C3O)C(=O)c2cc1CC(=O)OC PYKYMHQGRFAEBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000004056 anthraquinones Chemical class 0.000 description 2
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 2
- WMWLMWRWZQELOS-UHFFFAOYSA-N bismuth(iii) oxide Chemical compound O=[Bi]O[Bi]=O WMWLMWRWZQELOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007540 photo-reduction reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 2
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 2
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000010512 thermal transition Effects 0.000 description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 2
- OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 2-(3-phenylmethoxyphenyl)-1,3-thiazole-4-carbaldehyde Chemical compound O=CC1=CSC(C=2C=C(OCC=3C=CC=CC=3)C=CC=2)=N1 OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004261 CaF 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910005191 Ga 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005793 GeO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005839 GeS 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000020 Nitrocellulose Substances 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 229920001328 Polyvinylidene chloride Polymers 0.000 description 1
- NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N Quinacridone Chemical compound N1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=C1C(=O)C3=CC=CC=C3NC1=C2 NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052776 Thorium Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052770 Uranium Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005280 amorphization Methods 0.000 description 1
- 239000002216 antistatic agent Substances 0.000 description 1
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N argon Substances [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N ceric oxide Chemical compound O=[Ce]=O CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000422 cerium(IV) oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001786 chalcogen compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000001787 chalcogens Chemical class 0.000 description 1
- 229910001179 chromel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003431 cross linking reagent Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 229920001973 fluoroelastomer Polymers 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 235000019239 indanthrene blue RS Nutrition 0.000 description 1
- UHOKSCJSTAHBSO-UHFFFAOYSA-N indanthrone blue Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC=C4NC5=C6C(=O)C7=CC=CC=C7C(=O)C6=CC=C5NC4=C3C(=O)C2=C1 UHOKSCJSTAHBSO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N lanthanum oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[La+3].[La+3] MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002611 lead compounds Chemical class 0.000 description 1
- HTUMBQDCCIXGCV-UHFFFAOYSA-N lead oxide Chemical compound [O-2].[Pb+2] HTUMBQDCCIXGCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N lead(II) oxide Inorganic materials [Pb]=O YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001512 metal fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052976 metal sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 239000010445 mica Substances 0.000 description 1
- 229910052618 mica group Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229920001220 nitrocellulos Polymers 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- KTUFCUMIWABKDW-UHFFFAOYSA-N oxo(oxolanthaniooxy)lanthanum Chemical compound O=[La]O[La]=O KTUFCUMIWABKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920001195 polyisoprene Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 229920002689 polyvinyl acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000011118 polyvinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 239000005033 polyvinylidene chloride Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 229920002545 silicone oil Polymers 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003682 vanadium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N yttrium(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Y+3].[Y+3] RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03C—PHOTOSENSITIVE MATERIALS FOR PHOTOGRAPHIC PURPOSES; PHOTOGRAPHIC PROCESSES, e.g. CINE, X-RAY, COLOUR, STEREO-PHOTOGRAPHIC PROCESSES; AUXILIARY PROCESSES IN PHOTOGRAPHY
- G03C1/00—Photosensitive materials
- G03C1/72—Photosensitive compositions not covered by the groups G03C1/005 - G03C1/705
- G03C1/73—Photosensitive compositions not covered by the groups G03C1/005 - G03C1/705 containing organic compounds
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Description
本発明は、新規な情報記録方法、さらに詳しく
いえば光その他のエネルギーに対する吸収帯波長
の変化又は吸収濃度変化を利用して情報を記録す
る形式の情報記録方法に関するものである。 最近、ヒートモード記録材料として、集光され
たレーザー光や、短パルスの強いキセノンフラツ
シユ光などのエネルギーを加えた時、記録用素子
の光学的性質、例えば、反射、吸収、透過などが
変化する現象を利用して情報を記録する材料が注
目されている。このような記録材料は、薬品処理
が不要なドライプロセスであり、リアルタイム記
録ができ、集光されたレーザー光を用いる場合に
は、高密度、大容量記録ができるという実用上の
大きなメリツトを有している。 このようなヒートモード記録材料としては、こ
れまで金属のような無機質の薄膜や、塗料含有ポ
リマー薄膜のような有機質薄膜を用い、これにエ
ネルギーを印加して熱変形させて記録する形式の
もの、(特公昭46−40479号公報、特開昭54−5447
号公報など)硫黄、セレン、テルルのようなカル
コゲン薄層を用い、これにエネルギーを印加して
非晶質から結晶質への転移させ、光学濃度を変化
させて記録する形式のもの(特公昭47−26897号
公報)、あるいは染料の光還元を利用した形式の
ものなどが知られている。 しかしながら、エネルギー印加による熱変形を
利用する形式のもの、例えば集光されたレーザー
光などの高エネルギーを照射して、記録材料の照
射部分に、融解、蒸発又は凝集を起させ、その領
域に孔を開け、孔部分の反射率や透過率の変化を
用いて情報を記録させる形式のものは、孔内に残
留物を生じたり、孔のエツジ部に乱れを生じるた
め、高密度に情報を記録する場合、これらの残留
物や孔縁の盛上りや、孔形状の乱れが原因となつ
てS/N比を大きく低下させるという欠点があ
る。また、金属を記録用素子として用いるもの
は、高温下で感度やS/N比が著しく劣化すると
いう欠点がある。 次に、染料含有ポリマー薄膜の場合は、小型軽
量で直接変調可能な半導体レーザーの近赤外部の
波長に適合する染料が入手しにくく、半導体レー
ザーを用いると記録感度が著しく低下するという
欠点があるし、染料の光還元を利用するものの場
合は、レーザー光の波長を短波長としなければな
らないので、アルゴンイオンレーザーや、ヘリウ
ムネオンレーザーなどの大型レーザー装置を必要
とし、実用上不便であるばかりでなく、室内光下
に保存すると染料が還元し記録材料としての機能
を失うという欠点がある。 さらに、カルコゲン化合物すなわち硫黄、セレ
ン、テルルを含む化合物の薄層を記録用素子とす
るものは、記録段階での感度が低く、かつコント
ラストの変化が小さい上、安定性に難点があると
いう実用上の欠点がある。 このように、従来知られているヒートモード記
録材料は、いずれもなんらかの欠点を有し、実用
上満足しうるものとはいえなかつた。 他方において、情報の書込み用の光源として
は、前記したように、半導体レーザーを使用する
のが有利であり、さらに記録材料に対しては、で
きるだけ多くの情報を含ませるため、多重型のも
のすなわち1つの情報ピツト中に多数の吸収ピー
クや反射ピークを書き込みうるものであることと
が要求されるようになつてきた。 本発明者らは、前記したような従来のヒートモ
ード記録材料のもつ欠点を克服し、高コントラス
トで良好な安定性を有し、開孔などの形状変化を
伴わずに半導体レーザーにより書込みができ、か
つ1つの情報ピツト内に2以上の吸収ピーク、反
射ピークを与えうる全く新規な形式の情報記録材
料を開発すべく、鋭意研究を重ねた結果、適当な
基板上に非晶質有機顔料化合物層を設けたもの
は、半導体レーザーを集光してスポツト状に照射
したとき、熱変形による開孔を生じることはない
が、冷却後その部分だけが結晶化し、反射率、吸
収率などの濃度変化や可視領域ないし近赤外領域
で新たな吸収帯を生じるので、これらの現象を利
用して情報の書込み、読出しを行いうることを見
出し、この知見に基づいて本発明をなすに至つ
た。 すなわち、本発明は、支持体上に非晶質有機顔
料層を記録層として設けた記録材料にエネルギー
を印加し、熱による相転移で光学的変化を生ぜし
めて情報を記録する方法を提供するものである。 本発明において用いられる支持体は、ガラス、
マイカ等の透明無機材料や、金属、合金などの不
透明無機材料のほか、ポリエステル、酢酸セルロ
ース、ニトロセルロース、ポリエチレン、ポリプ
ロピレン、ポリ塩化ビニル、塩化ビニリデン共重
合体、ポリアミド、ポリスチレン、ポリメチルメ
タクリレート及びメチルメタクリレート共重合体
等の有機高分子材料のフイルムや板が挙げられる
が、これらに限定されない。記録時に熱損失が少
なく、感度をあげるという意味で低熱伝導率の有
機高分子からなる支持体が望ましい。 次に本発明に用いられる非晶質有機顔料として
は、アゾ系顔料、キノリン系顔料、アントラキノ
ン系顔料、キナクリドン系顔料、インダントロン
系顔料、フタロシアニン系顔料などを挙げること
ができるが、特に好ましいのはフタロシアニン顔
料である。 このフタロシアニン顔料は、一般式 (式中のMは水素原子又は金属である) で表わされる化合物であるが、一般に最も安定な
β型から、α型、ε型、π型、x型など種々の結
晶形を有し、それぞれの型に特有な光学吸収帯を
可視領域から近赤外領域にかけてもつことが知ら
れている。 本発明は、これらの結晶形とは別の非晶質状態
を新たに作り出すことによつてなされたものであ
る。ここにいう非晶質状態とは、X線回折によつ
て明確な回折線を示さない状態のことであるが、
単に結晶粒子の大きさが小さいというだけでな
く、非晶質特有の分子の集合状態に基づく光吸収
スペクトルが認められる状態である。したがつ
て、従来のα型からβ型への熱による転移でな
く、新たに、非晶質からα又はβ型への熱転移に
よつて、光学的性質が変化することを利用し、情
報の書込みが可能となつた。 このような有機顔料の非晶質薄膜を形成する方
法としては真空蒸着法が最も好ましい。 真空蒸着の際、基板温度は室温より低い方が非
晶質薄膜を形成しやすく、また、蒸着速度は1
Å/秒以上のできるだけ速い速度が望ましい。 フタロシアニン化合物はほとんどのものが低温
の基板上で非晶質膜を形成しやすい。これまでに
金属フタロシアニンとして知られるものは、中心
の金属としてLi、Be、Na、Mg、Al、K、Ca、
Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、
Ge、Y、Mo、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、
Ba、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy、
Tb、Er、Yb、Hf、Os、Pt、Hg、Pb、Th、U
などを含む化合物が知られている。これらの化合
物のうち、Y以降の化合物、例えばY、Mo、
Rh、Pd、Ag、In、Sn、Sb、Ba、La、Hf、Pt、
Pb、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy、Er、Yb
などから選ばれる化合物は、基板温度が室温でも
容易に非晶質となり、かつ光学的濃度変化が大き
いという点で特に好ましい化合物である。この理
由については明らかではないが中心金属イオン
が、平面構造をとるフタロシアニン環の面からと
び出た構造をもつことによると考えられる。 本発明においては、化合物は、単独あるいは2
種以上の組合せで用いられ、2種以上の化合物の
組合せの場合は、積層構造でも、混合された単一
層構造でもよい。記録層の膜厚は50〜10000Åの
範囲が望ましく、好ましくは1000〜5000Åの範囲
が用いられる。 また、形成させた記録像を光学的に再生する
時、反射光を利用することが多い。この場合には
コントラストを高める有効な方法として、支持体
と記録層の間に、高い反射率を示す金属をあらか
じめ設けるとよい。この高反射率の金属として
は、蒸着で安定な膜を形成するものなら何でもよ
いが、特に好ましいのは、近赤外領域で高い反射
率を有する金属という点で、Al、Cr、Au、Pt、
Sn、Biなどである。これらの膜は真空蒸着、ス
パツタリングプラズマ蒸着などの公知の薄膜形成
技術で形成することができ、その膜厚は100〜
10000Åの範囲で選ばれる。また、基板自身の表
面平滑性が問題になるときは、基板上に有機高分
子の均一な膜を設けるとよい。れらのポリマーと
しては、ポリエステル、ポリ塩化ビニルなどの市
販のポリマーが適用可能である。 さらに好ましいのは、記録層の上面のみ、下面
のみ、あるいは、上下両面に安定性改良や、非晶
―結晶転移を容易にするため、あるいは非晶化を
促進するために金属や無機化合物からなる層を設
けることである。 このようなものとして、Al、In、Sn、Zn、
Sb、Se、Te、Cd、Tl、Au、Pd、Cu、Mg、
Rh、Ge、Mn、Cr、Bi、Pbなどの金属や、
PbO、GeO2、SiO2、Bi2O3、Al2O3、SnO2、
SiO、TiO2、ZrO2、Y2O3、La2O3、CeO2、
HfO2、Cy2O3、Ga2O3、Sm2O3、Er2O3などの金
属酸化物、PbS、ZnS、GeS、Cr2S3、CuS′、
NiS′、GeS2などの金属硫化物、MgF2、CaF2、
CeF2などの金属ふつ化物、TiN、Si3N4などの金
属窒化物があげられる。 これらの層の厚みは、50〜1000Å程度で用いら
れる。この形成法としては、真空蒸着、スパツタ
リング、イオンプレーテイング、プラズマ蒸着な
どが用いられる。 さらに、最外層に有機高分子を主体とする保護
層を設け、これにより安定性、保護性を増し、さ
らに、表面反射率の低減による感度増加を目的と
する層を設けることが好ましい。 このような有機高分子化合物としては、ポリ塩
化ビニリデン、ポリ塩化ビニル、塩化ビニリデン
とアクリロニトリル共重合体、ポリ酢酸ビニル、
ポリイミド、ポリメチルメタクリレート、ポリス
チレン、ポリイソプレン、ポリブタジエン、ポリ
ウレタン、ポリビニルブチラール、フツ素ゴム、
ポリエステル、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、
酢酸セルロースなどの単独または、コポリマーお
よびブレンド物が挙げられる。これに対し、シリ
コーンオイル、帯電防止剤、架橋剤などの添加
は、膜性能の強化の点で好ましい。また、有機高
分子化合物の層を2層に重ねることもできる。有
機高分子化合物は、適当な溶剤に溶解して塗布す
るか、薄いフイルムとしてラミネートする方法が
適用可能である。 この有機高分子化合物の膜厚は0.1〜10μの厚み
に設けるが、好ましくは0.1〜2μで用いられる。 次に添付図面に従つて本発明の記録材料の構造
を説明する。 第1図は基本的構造を示す断面図であり、1は
支持体、3は記録層である。また、第2図から第
5図までは、各機能をもつた層をこの基本的構造
に付加した例の断面図である。これらの図中の
4,2は非晶―結晶転移を促進または安定性を増
加させるための補助層であるが必ずしも同一の物
質である必要はない。5は保護層である。 本発明の記録層へ印加するエネルギーとしては
可視から近赤外にかけて吸収をもつ有機顔料化合
物へ吸収される光を発する光源の光が用いられ、
具体的には、He―Neレーザー光や半導体レーザ
ー光、Xeフラツシユランプ光、赤外線ランプ光
などが用いられる。一方、熱的エネルギーも記録
エネルギーとして利用可能で、高密度記録用には
電子ビーム加熱や、余り解像力を要求しないとき
は熱ヘツドの熱などが用いられる。印加する方法
としては、短く、パルス型で用いる事が好まし
い。これらのエネルギーは、レンズ等によりしぼ
つてスポツト状に与えたり、クロムマスクなどの
高解像力のマスクと密着させて、広い面積を照射
したりして与えることができる。しかしながら、
印加するエネルギーは、記録層の熱変形を起すほ
どの大きなエネルギーを加えてはならず、近赤外
光の波長でかつ、出力強度を直接変調しやすいと
いう点で、半導体レーザー光が好ましい光源であ
る。 以下実施例により、本発明を詳細に説明する。 実施例 1 厚さ10mm、直径20cmのポリメチルメタクリレー
トの円板上に、電子ビーム蒸着により、GeO2の
100Åの膜を設けた。続いて鉛フタロシアニンを
同一の真空蒸着装置内で1×10-5Torr、基板温
度は室温で蒸着し、2000Åの膜厚とした。この膜
厚は、蒸着後に膜厚計を用いて測定したものであ
る。この記録材料を450rpmの速度で回転しなが
ら、レンズ系で径1μにしぼつた半導体レーザー
を10-6秒のパルス巾にて照射したところ、照射さ
れた1μ径のスポツト部分の反射率は変化し、同
時に吸収透過濃度も変化した。しかし、孔などの
熱的変形は起らず、ただスポツト部分のみの光学
的性質が変化しただけである。反射光成分をホト
ダイオードで受けて、スペクトルアナライザーに
よつてS/N比を測定した所35dBの値を得た。
また、半導体レーザーの出力は8mWであつた。 実施例 2 厚さ2mmのスライドグラス支持体上に、酸化チ
タンをスパツタリング法により膜形成し(ターゲ
ツト:チタン、導入ガス:空気、真空度:5×
10-3Torr)、膜厚を150Åとした。ついで、鉛フ
タロシアニンの層を真空蒸着法(基板温度:室温
真空度:1×10-4Torr)によつて形成させ、膜
厚を3000Åとした。さらに酸化チタン層を上記と
まつたく同様にして形成した。このようにして形
成した記録材料に、キセノンフラツシユランプ
(コンデンサー容量:100μF、パルス幅:60μsec)
を照射して光学濃度を変化させた。この記録に要
する最小出力電圧(以下しきい値とする)により
感度評価を行つた。上記記録材料の感度は700V
であつた。エネルギー光照射前と照射後の光吸収
スペクトル図とX線回折図をそれぞれ第6図、第
7図に示す。 第6図、第7図において、実線は光照射前の性
質を示し、点線は光照射後の性質を示す。 第6図において明らかなように光照射後に近赤
外領域において大きなコントラストを有する新た
なピークが生じている。また、第7図において、
光照射後のX線回折図には、新たに結晶ピークが
生じており、非晶―結晶の転移の起つていること
を裏づけている。 比較例 1 厚さ2mmのスライドグラスの支持体上に、酸化
ゲルマニウムを30Åの厚みに真空蒸着により層形
成し、続いてビスマス金属を350Åの厚みに真空
蒸着し、さらに上層に酸化ゲルマニウムを30Åの
厚みに同様に層形成した。この記録材料の光学濃
度は1.30であつた。この記録材料を実施例2と同
様な方法で感度評価すると750Vであつた。 比較例 2 厚さ2mmのスライドグラス支持体上に、カルコ
ゲナイトガラスGe50S50を膜厚500Åに真空蒸着し
た。この記録材料を実施例2と同様な方法で感度
評価すると930Vであつた。 上記2つの比較例と実施例2とを比べれば、後
者が明らかに高感度であることがわかる。 実施例 3 厚さ2mmのスライドグラス上に実施例2とまつ
たく同じ層構造で最上層にポリエステルの0.2μ厚
の保護層を設けた記録材料と、層構造がそれぞ
れ、第2図、第3図、第4図に対応する記録材料
を作成した。第2,3,4図の構成では最上層に
ポリエステルの0.2μの膜厚の保護層を設けてあ
る。 この結果を第1表に示す。この表から明らかな
ように、記録層と支持体間に無機化合物の層を形
成すると感度は高くなり、特に記録層の下層がそ
の効果が大きい。
いえば光その他のエネルギーに対する吸収帯波長
の変化又は吸収濃度変化を利用して情報を記録す
る形式の情報記録方法に関するものである。 最近、ヒートモード記録材料として、集光され
たレーザー光や、短パルスの強いキセノンフラツ
シユ光などのエネルギーを加えた時、記録用素子
の光学的性質、例えば、反射、吸収、透過などが
変化する現象を利用して情報を記録する材料が注
目されている。このような記録材料は、薬品処理
が不要なドライプロセスであり、リアルタイム記
録ができ、集光されたレーザー光を用いる場合に
は、高密度、大容量記録ができるという実用上の
大きなメリツトを有している。 このようなヒートモード記録材料としては、こ
れまで金属のような無機質の薄膜や、塗料含有ポ
リマー薄膜のような有機質薄膜を用い、これにエ
ネルギーを印加して熱変形させて記録する形式の
もの、(特公昭46−40479号公報、特開昭54−5447
号公報など)硫黄、セレン、テルルのようなカル
コゲン薄層を用い、これにエネルギーを印加して
非晶質から結晶質への転移させ、光学濃度を変化
させて記録する形式のもの(特公昭47−26897号
公報)、あるいは染料の光還元を利用した形式の
ものなどが知られている。 しかしながら、エネルギー印加による熱変形を
利用する形式のもの、例えば集光されたレーザー
光などの高エネルギーを照射して、記録材料の照
射部分に、融解、蒸発又は凝集を起させ、その領
域に孔を開け、孔部分の反射率や透過率の変化を
用いて情報を記録させる形式のものは、孔内に残
留物を生じたり、孔のエツジ部に乱れを生じるた
め、高密度に情報を記録する場合、これらの残留
物や孔縁の盛上りや、孔形状の乱れが原因となつ
てS/N比を大きく低下させるという欠点があ
る。また、金属を記録用素子として用いるもの
は、高温下で感度やS/N比が著しく劣化すると
いう欠点がある。 次に、染料含有ポリマー薄膜の場合は、小型軽
量で直接変調可能な半導体レーザーの近赤外部の
波長に適合する染料が入手しにくく、半導体レー
ザーを用いると記録感度が著しく低下するという
欠点があるし、染料の光還元を利用するものの場
合は、レーザー光の波長を短波長としなければな
らないので、アルゴンイオンレーザーや、ヘリウ
ムネオンレーザーなどの大型レーザー装置を必要
とし、実用上不便であるばかりでなく、室内光下
に保存すると染料が還元し記録材料としての機能
を失うという欠点がある。 さらに、カルコゲン化合物すなわち硫黄、セレ
ン、テルルを含む化合物の薄層を記録用素子とす
るものは、記録段階での感度が低く、かつコント
ラストの変化が小さい上、安定性に難点があると
いう実用上の欠点がある。 このように、従来知られているヒートモード記
録材料は、いずれもなんらかの欠点を有し、実用
上満足しうるものとはいえなかつた。 他方において、情報の書込み用の光源として
は、前記したように、半導体レーザーを使用する
のが有利であり、さらに記録材料に対しては、で
きるだけ多くの情報を含ませるため、多重型のも
のすなわち1つの情報ピツト中に多数の吸収ピー
クや反射ピークを書き込みうるものであることと
が要求されるようになつてきた。 本発明者らは、前記したような従来のヒートモ
ード記録材料のもつ欠点を克服し、高コントラス
トで良好な安定性を有し、開孔などの形状変化を
伴わずに半導体レーザーにより書込みができ、か
つ1つの情報ピツト内に2以上の吸収ピーク、反
射ピークを与えうる全く新規な形式の情報記録材
料を開発すべく、鋭意研究を重ねた結果、適当な
基板上に非晶質有機顔料化合物層を設けたもの
は、半導体レーザーを集光してスポツト状に照射
したとき、熱変形による開孔を生じることはない
が、冷却後その部分だけが結晶化し、反射率、吸
収率などの濃度変化や可視領域ないし近赤外領域
で新たな吸収帯を生じるので、これらの現象を利
用して情報の書込み、読出しを行いうることを見
出し、この知見に基づいて本発明をなすに至つ
た。 すなわち、本発明は、支持体上に非晶質有機顔
料層を記録層として設けた記録材料にエネルギー
を印加し、熱による相転移で光学的変化を生ぜし
めて情報を記録する方法を提供するものである。 本発明において用いられる支持体は、ガラス、
マイカ等の透明無機材料や、金属、合金などの不
透明無機材料のほか、ポリエステル、酢酸セルロ
ース、ニトロセルロース、ポリエチレン、ポリプ
ロピレン、ポリ塩化ビニル、塩化ビニリデン共重
合体、ポリアミド、ポリスチレン、ポリメチルメ
タクリレート及びメチルメタクリレート共重合体
等の有機高分子材料のフイルムや板が挙げられる
が、これらに限定されない。記録時に熱損失が少
なく、感度をあげるという意味で低熱伝導率の有
機高分子からなる支持体が望ましい。 次に本発明に用いられる非晶質有機顔料として
は、アゾ系顔料、キノリン系顔料、アントラキノ
ン系顔料、キナクリドン系顔料、インダントロン
系顔料、フタロシアニン系顔料などを挙げること
ができるが、特に好ましいのはフタロシアニン顔
料である。 このフタロシアニン顔料は、一般式 (式中のMは水素原子又は金属である) で表わされる化合物であるが、一般に最も安定な
β型から、α型、ε型、π型、x型など種々の結
晶形を有し、それぞれの型に特有な光学吸収帯を
可視領域から近赤外領域にかけてもつことが知ら
れている。 本発明は、これらの結晶形とは別の非晶質状態
を新たに作り出すことによつてなされたものであ
る。ここにいう非晶質状態とは、X線回折によつ
て明確な回折線を示さない状態のことであるが、
単に結晶粒子の大きさが小さいというだけでな
く、非晶質特有の分子の集合状態に基づく光吸収
スペクトルが認められる状態である。したがつ
て、従来のα型からβ型への熱による転移でな
く、新たに、非晶質からα又はβ型への熱転移に
よつて、光学的性質が変化することを利用し、情
報の書込みが可能となつた。 このような有機顔料の非晶質薄膜を形成する方
法としては真空蒸着法が最も好ましい。 真空蒸着の際、基板温度は室温より低い方が非
晶質薄膜を形成しやすく、また、蒸着速度は1
Å/秒以上のできるだけ速い速度が望ましい。 フタロシアニン化合物はほとんどのものが低温
の基板上で非晶質膜を形成しやすい。これまでに
金属フタロシアニンとして知られるものは、中心
の金属としてLi、Be、Na、Mg、Al、K、Ca、
Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、
Ge、Y、Mo、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、
Ba、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy、
Tb、Er、Yb、Hf、Os、Pt、Hg、Pb、Th、U
などを含む化合物が知られている。これらの化合
物のうち、Y以降の化合物、例えばY、Mo、
Rh、Pd、Ag、In、Sn、Sb、Ba、La、Hf、Pt、
Pb、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy、Er、Yb
などから選ばれる化合物は、基板温度が室温でも
容易に非晶質となり、かつ光学的濃度変化が大き
いという点で特に好ましい化合物である。この理
由については明らかではないが中心金属イオン
が、平面構造をとるフタロシアニン環の面からと
び出た構造をもつことによると考えられる。 本発明においては、化合物は、単独あるいは2
種以上の組合せで用いられ、2種以上の化合物の
組合せの場合は、積層構造でも、混合された単一
層構造でもよい。記録層の膜厚は50〜10000Åの
範囲が望ましく、好ましくは1000〜5000Åの範囲
が用いられる。 また、形成させた記録像を光学的に再生する
時、反射光を利用することが多い。この場合には
コントラストを高める有効な方法として、支持体
と記録層の間に、高い反射率を示す金属をあらか
じめ設けるとよい。この高反射率の金属として
は、蒸着で安定な膜を形成するものなら何でもよ
いが、特に好ましいのは、近赤外領域で高い反射
率を有する金属という点で、Al、Cr、Au、Pt、
Sn、Biなどである。これらの膜は真空蒸着、ス
パツタリングプラズマ蒸着などの公知の薄膜形成
技術で形成することができ、その膜厚は100〜
10000Åの範囲で選ばれる。また、基板自身の表
面平滑性が問題になるときは、基板上に有機高分
子の均一な膜を設けるとよい。れらのポリマーと
しては、ポリエステル、ポリ塩化ビニルなどの市
販のポリマーが適用可能である。 さらに好ましいのは、記録層の上面のみ、下面
のみ、あるいは、上下両面に安定性改良や、非晶
―結晶転移を容易にするため、あるいは非晶化を
促進するために金属や無機化合物からなる層を設
けることである。 このようなものとして、Al、In、Sn、Zn、
Sb、Se、Te、Cd、Tl、Au、Pd、Cu、Mg、
Rh、Ge、Mn、Cr、Bi、Pbなどの金属や、
PbO、GeO2、SiO2、Bi2O3、Al2O3、SnO2、
SiO、TiO2、ZrO2、Y2O3、La2O3、CeO2、
HfO2、Cy2O3、Ga2O3、Sm2O3、Er2O3などの金
属酸化物、PbS、ZnS、GeS、Cr2S3、CuS′、
NiS′、GeS2などの金属硫化物、MgF2、CaF2、
CeF2などの金属ふつ化物、TiN、Si3N4などの金
属窒化物があげられる。 これらの層の厚みは、50〜1000Å程度で用いら
れる。この形成法としては、真空蒸着、スパツタ
リング、イオンプレーテイング、プラズマ蒸着な
どが用いられる。 さらに、最外層に有機高分子を主体とする保護
層を設け、これにより安定性、保護性を増し、さ
らに、表面反射率の低減による感度増加を目的と
する層を設けることが好ましい。 このような有機高分子化合物としては、ポリ塩
化ビニリデン、ポリ塩化ビニル、塩化ビニリデン
とアクリロニトリル共重合体、ポリ酢酸ビニル、
ポリイミド、ポリメチルメタクリレート、ポリス
チレン、ポリイソプレン、ポリブタジエン、ポリ
ウレタン、ポリビニルブチラール、フツ素ゴム、
ポリエステル、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、
酢酸セルロースなどの単独または、コポリマーお
よびブレンド物が挙げられる。これに対し、シリ
コーンオイル、帯電防止剤、架橋剤などの添加
は、膜性能の強化の点で好ましい。また、有機高
分子化合物の層を2層に重ねることもできる。有
機高分子化合物は、適当な溶剤に溶解して塗布す
るか、薄いフイルムとしてラミネートする方法が
適用可能である。 この有機高分子化合物の膜厚は0.1〜10μの厚み
に設けるが、好ましくは0.1〜2μで用いられる。 次に添付図面に従つて本発明の記録材料の構造
を説明する。 第1図は基本的構造を示す断面図であり、1は
支持体、3は記録層である。また、第2図から第
5図までは、各機能をもつた層をこの基本的構造
に付加した例の断面図である。これらの図中の
4,2は非晶―結晶転移を促進または安定性を増
加させるための補助層であるが必ずしも同一の物
質である必要はない。5は保護層である。 本発明の記録層へ印加するエネルギーとしては
可視から近赤外にかけて吸収をもつ有機顔料化合
物へ吸収される光を発する光源の光が用いられ、
具体的には、He―Neレーザー光や半導体レーザ
ー光、Xeフラツシユランプ光、赤外線ランプ光
などが用いられる。一方、熱的エネルギーも記録
エネルギーとして利用可能で、高密度記録用には
電子ビーム加熱や、余り解像力を要求しないとき
は熱ヘツドの熱などが用いられる。印加する方法
としては、短く、パルス型で用いる事が好まし
い。これらのエネルギーは、レンズ等によりしぼ
つてスポツト状に与えたり、クロムマスクなどの
高解像力のマスクと密着させて、広い面積を照射
したりして与えることができる。しかしながら、
印加するエネルギーは、記録層の熱変形を起すほ
どの大きなエネルギーを加えてはならず、近赤外
光の波長でかつ、出力強度を直接変調しやすいと
いう点で、半導体レーザー光が好ましい光源であ
る。 以下実施例により、本発明を詳細に説明する。 実施例 1 厚さ10mm、直径20cmのポリメチルメタクリレー
トの円板上に、電子ビーム蒸着により、GeO2の
100Åの膜を設けた。続いて鉛フタロシアニンを
同一の真空蒸着装置内で1×10-5Torr、基板温
度は室温で蒸着し、2000Åの膜厚とした。この膜
厚は、蒸着後に膜厚計を用いて測定したものであ
る。この記録材料を450rpmの速度で回転しなが
ら、レンズ系で径1μにしぼつた半導体レーザー
を10-6秒のパルス巾にて照射したところ、照射さ
れた1μ径のスポツト部分の反射率は変化し、同
時に吸収透過濃度も変化した。しかし、孔などの
熱的変形は起らず、ただスポツト部分のみの光学
的性質が変化しただけである。反射光成分をホト
ダイオードで受けて、スペクトルアナライザーに
よつてS/N比を測定した所35dBの値を得た。
また、半導体レーザーの出力は8mWであつた。 実施例 2 厚さ2mmのスライドグラス支持体上に、酸化チ
タンをスパツタリング法により膜形成し(ターゲ
ツト:チタン、導入ガス:空気、真空度:5×
10-3Torr)、膜厚を150Åとした。ついで、鉛フ
タロシアニンの層を真空蒸着法(基板温度:室温
真空度:1×10-4Torr)によつて形成させ、膜
厚を3000Åとした。さらに酸化チタン層を上記と
まつたく同様にして形成した。このようにして形
成した記録材料に、キセノンフラツシユランプ
(コンデンサー容量:100μF、パルス幅:60μsec)
を照射して光学濃度を変化させた。この記録に要
する最小出力電圧(以下しきい値とする)により
感度評価を行つた。上記記録材料の感度は700V
であつた。エネルギー光照射前と照射後の光吸収
スペクトル図とX線回折図をそれぞれ第6図、第
7図に示す。 第6図、第7図において、実線は光照射前の性
質を示し、点線は光照射後の性質を示す。 第6図において明らかなように光照射後に近赤
外領域において大きなコントラストを有する新た
なピークが生じている。また、第7図において、
光照射後のX線回折図には、新たに結晶ピークが
生じており、非晶―結晶の転移の起つていること
を裏づけている。 比較例 1 厚さ2mmのスライドグラスの支持体上に、酸化
ゲルマニウムを30Åの厚みに真空蒸着により層形
成し、続いてビスマス金属を350Åの厚みに真空
蒸着し、さらに上層に酸化ゲルマニウムを30Åの
厚みに同様に層形成した。この記録材料の光学濃
度は1.30であつた。この記録材料を実施例2と同
様な方法で感度評価すると750Vであつた。 比較例 2 厚さ2mmのスライドグラス支持体上に、カルコ
ゲナイトガラスGe50S50を膜厚500Åに真空蒸着し
た。この記録材料を実施例2と同様な方法で感度
評価すると930Vであつた。 上記2つの比較例と実施例2とを比べれば、後
者が明らかに高感度であることがわかる。 実施例 3 厚さ2mmのスライドグラス上に実施例2とまつ
たく同じ層構造で最上層にポリエステルの0.2μ厚
の保護層を設けた記録材料と、層構造がそれぞ
れ、第2図、第3図、第4図に対応する記録材料
を作成した。第2,3,4図の構成では最上層に
ポリエステルの0.2μの膜厚の保護層を設けてあ
る。 この結果を第1表に示す。この表から明らかな
ように、記録層と支持体間に無機化合物の層を形
成すると感度は高くなり、特に記録層の下層がそ
の効果が大きい。
【表】
実施例 4
支持体として、厚さ2mmのスライドグラス、厚
さ5mmのポリメチルメタクリレート板、厚さ
100μmのポリエチレンテレフタレートフイルム、
厚さ1mmの研摩されたアルミニウム板、及び上記
ポリメチルメタクリレート板にアルミニウムを真
空蒸着法によつて150Åの層を形成したものを用
いて、実施例2と全く同様な構造をもつ記録材料
とした。これらに実施例2と同様に、キセノンフ
ラツシユ光によつて各記録材料の感度を求めた。
この結果を第2表に示す。
さ5mmのポリメチルメタクリレート板、厚さ
100μmのポリエチレンテレフタレートフイルム、
厚さ1mmの研摩されたアルミニウム板、及び上記
ポリメチルメタクリレート板にアルミニウムを真
空蒸着法によつて150Åの層を形成したものを用
いて、実施例2と全く同様な構造をもつ記録材料
とした。これらに実施例2と同様に、キセノンフ
ラツシユ光によつて各記録材料の感度を求めた。
この結果を第2表に示す。
【表】
【表】
実施例 5
厚さ2mmのスライドグラス支持体上に、実施例
2と同様に酸化チタン層を設け、ついで無金属フ
タロシアニンと鉛フタロシアニンの2:3の重量
比からな混合物を同一蒸着源から昇華させて形成
される層、同様に重量比が2:3になるよう2つ
の蒸着源にそれぞれ秤量して、同時に昇華させる
(共蒸着)ことによつて得られる層、又は、それ
ぞれを積層する型の層を設け、さらにその上層に
酸化チタン層を設けた。記録層の厚みは上記の順
に2500Å、2300Å、2600Åであつた。これらの記
録材料に実施例2と同様にキセノンフラツシユ光
を照射すると、各材料の感度はそれぞれ、760V、
750V、800Vであつた。このように、2成分以上
が混合された層では記録感度はやや低下するが、
過度のエネルギー照射による記録層の微小なクラ
ツクの形成がおさえられる点に利点がある。 実施例 6 厚さ2mmのスライドグラス上に、酸化ゲルマニ
ウムを真空蒸着法(真空度:5×10-5Torr)に
より200Å厚の膜を形成た。ついで、記録層であ
るフタロシアニン化合物として、無金属、亜鉛、
銅、鉛、スズ、バナジウムの各化合物を真空蒸着
法により2000Åの膜を形成した。さらに、これら
記録層の上層に、上述のように酸化ゲルマニウム
の200Åの膜を形成した。真空蒸着時の基板温度
はすべて常温にて行つた。これらの記録材料に実
施例2と同様にキセノンフラツシユ光を照射し
た。各化合物の吸収スペクトルを第3表に示す。 鉛、スズ、バナジウムの化合物は光照射前と後
とで、吸収帯波長の変化もみられ、大きな光学濃
度の変化がみられた。
2と同様に酸化チタン層を設け、ついで無金属フ
タロシアニンと鉛フタロシアニンの2:3の重量
比からな混合物を同一蒸着源から昇華させて形成
される層、同様に重量比が2:3になるよう2つ
の蒸着源にそれぞれ秤量して、同時に昇華させる
(共蒸着)ことによつて得られる層、又は、それ
ぞれを積層する型の層を設け、さらにその上層に
酸化チタン層を設けた。記録層の厚みは上記の順
に2500Å、2300Å、2600Åであつた。これらの記
録材料に実施例2と同様にキセノンフラツシユ光
を照射すると、各材料の感度はそれぞれ、760V、
750V、800Vであつた。このように、2成分以上
が混合された層では記録感度はやや低下するが、
過度のエネルギー照射による記録層の微小なクラ
ツクの形成がおさえられる点に利点がある。 実施例 6 厚さ2mmのスライドグラス上に、酸化ゲルマニ
ウムを真空蒸着法(真空度:5×10-5Torr)に
より200Å厚の膜を形成た。ついで、記録層であ
るフタロシアニン化合物として、無金属、亜鉛、
銅、鉛、スズ、バナジウムの各化合物を真空蒸着
法により2000Åの膜を形成した。さらに、これら
記録層の上層に、上述のように酸化ゲルマニウム
の200Åの膜を形成した。真空蒸着時の基板温度
はすべて常温にて行つた。これらの記録材料に実
施例2と同様にキセノンフラツシユ光を照射し
た。各化合物の吸収スペクトルを第3表に示す。 鉛、スズ、バナジウムの化合物は光照射前と後
とで、吸収帯波長の変化もみられ、大きな光学濃
度の変化がみられた。
【表】
一方、H2、Cu、Znのフタロシアニン化合物
は、新たな吸収ピークは生じなかつたが、各吸収
ピークの強度比は大巾に変化した。 実施例 7 厚さ100μのポリエステルフイル上に、酸化ア
ルミの150Å厚の層を真空蒸着法により形成し、
つづいて鉛フタロシアニンを真空蒸着法により、
2000Åの層を設け、さらに、酸化アルミの層を上
記と同様に150Åの膜厚に層を設けた。この上に、
線形ポリエステル(商品名、バイロン200)をス
ピンナーにて1μ厚に塗布した。この記録材料に
12.5μ径のクロメル線からなるサーマル・ヘツド
により書き込みを行つたところ、約10μ径のドツ
ト状に光学濃度の変化がみられた。このときのヘ
ツドの温度は約250℃で、700μ秒のパルス幅であ
る。 実施例 8 厚さ2mmのスライドグラス上に、Y2O3を真空
蒸着法(真空度:4×10-5Torr)により150Å厚
の膜を形成した。次いで、記録層として、アント
ラキノン系顔料のマダーレーキを真空蒸着法によ
り3000Åの膜に形成させた。この記録層の上層に
Y2O3の200Åの膜を形成し、さらにこの上にポリ
エステル系のポリマーを0.2μの厚みに塗布した。
この記録材料に半導体レーザーの光を径1μに集
光してスポツト状に照射したところ、パルス巾
10μ秒照射部の色は変化した。このときの半導体
レーザーの出力は10mWであつた。半導体レーザ
ー光を2mWに落し、スポツト部とそれ以外の個
所の光学濃度を比較すると1:10であつた。光学
顕微鏡で観察すると、スポツト部には孔はあいて
おらず、ただ、光学的濃度が変化したのみであ
る。また、この記録材料に、全面にキセノンフラ
ツシユ光を照射して光学濃度変化を起させた後、
重量変化を測定したが、重量変化は検知できなか
つた。
は、新たな吸収ピークは生じなかつたが、各吸収
ピークの強度比は大巾に変化した。 実施例 7 厚さ100μのポリエステルフイル上に、酸化ア
ルミの150Å厚の層を真空蒸着法により形成し、
つづいて鉛フタロシアニンを真空蒸着法により、
2000Åの層を設け、さらに、酸化アルミの層を上
記と同様に150Åの膜厚に層を設けた。この上に、
線形ポリエステル(商品名、バイロン200)をス
ピンナーにて1μ厚に塗布した。この記録材料に
12.5μ径のクロメル線からなるサーマル・ヘツド
により書き込みを行つたところ、約10μ径のドツ
ト状に光学濃度の変化がみられた。このときのヘ
ツドの温度は約250℃で、700μ秒のパルス幅であ
る。 実施例 8 厚さ2mmのスライドグラス上に、Y2O3を真空
蒸着法(真空度:4×10-5Torr)により150Å厚
の膜を形成した。次いで、記録層として、アント
ラキノン系顔料のマダーレーキを真空蒸着法によ
り3000Åの膜に形成させた。この記録層の上層に
Y2O3の200Åの膜を形成し、さらにこの上にポリ
エステル系のポリマーを0.2μの厚みに塗布した。
この記録材料に半導体レーザーの光を径1μに集
光してスポツト状に照射したところ、パルス巾
10μ秒照射部の色は変化した。このときの半導体
レーザーの出力は10mWであつた。半導体レーザ
ー光を2mWに落し、スポツト部とそれ以外の個
所の光学濃度を比較すると1:10であつた。光学
顕微鏡で観察すると、スポツト部には孔はあいて
おらず、ただ、光学的濃度が変化したのみであ
る。また、この記録材料に、全面にキセノンフラ
ツシユ光を照射して光学濃度変化を起させた後、
重量変化を測定したが、重量変化は検知できなか
つた。
第1図ないし第5図は本発明の異なつた構造例
を示す断面図である。図中、1は支持体、2,4
は金属あるいは無機化合物からなる補助層、3は
記録材料の層である。5は、保護層である。 第6図は鉛フタロシアニンの吸収スペクトルの
変化を示す図、第7図は、鉛フタロシアニンのX
線回折図である。
を示す断面図である。図中、1は支持体、2,4
は金属あるいは無機化合物からなる補助層、3は
記録材料の層である。5は、保護層である。 第6図は鉛フタロシアニンの吸収スペクトルの
変化を示す図、第7図は、鉛フタロシアニンのX
線回折図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 支持体上に非晶質有機顔料層を記録層として
設けた記録材料にエネルギーを印加し、熱による
相転移で光学的変化を生ぜしめて情報を記録する
方法。 2 非晶質有機顔料層が単一又は2種以上のフタ
ロシアニン化合物からなる記録材料を用いる特許
請求の範囲第1項記載の記録方法。 3 金属又は無機化合物から成る補助剤を、非晶
質有機顔料からなる記録層の上又は下又は上下に
設けた記録材料を用いる特許請求の範囲第1項記
載の記録方法。 4 非晶質有機顔料層を記録層とし、金属又は無
機化合物からなる補助剤を設け、更に、最上層に
保護層を有する記録材料を用いた特許請求の範囲
第1項記載の記録方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3424080A JPS56130742A (en) | 1980-03-18 | 1980-03-18 | Novel recording material |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3424080A JPS56130742A (en) | 1980-03-18 | 1980-03-18 | Novel recording material |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56130742A JPS56130742A (en) | 1981-10-13 |
JPH0139916B2 true JPH0139916B2 (ja) | 1989-08-24 |
Family
ID=12408628
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3424080A Granted JPS56130742A (en) | 1980-03-18 | 1980-03-18 | Novel recording material |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS56130742A (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59203252A (ja) * | 1983-05-06 | 1984-11-17 | Ricoh Co Ltd | 光学的情報記憶媒体 |
JPS60184887A (ja) * | 1984-03-05 | 1985-09-20 | Hiroyoshi Shirai | 光記録媒体およびその記録方法 |
JPH0829618B2 (ja) * | 1985-12-20 | 1996-03-27 | 三井東圧化学株式会社 | 光記録媒体の製造方法 |
JP2635330B2 (ja) * | 1986-07-23 | 1997-07-30 | 日立化成工業株式会社 | 光学記録媒体 |
JPH0264933A (ja) * | 1989-07-04 | 1990-03-05 | Ricoh Co Ltd | 光情報記録再生方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5346019A (en) * | 1976-10-08 | 1978-04-25 | Canon Inc | Recoading medium |
JPS545447A (en) * | 1977-06-14 | 1979-01-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | Recording material |
JPS5446507A (en) * | 1977-09-20 | 1979-04-12 | Canon Inc | Recording medium and production thereof |
-
1980
- 1980-03-18 JP JP3424080A patent/JPS56130742A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5346019A (en) * | 1976-10-08 | 1978-04-25 | Canon Inc | Recoading medium |
JPS545447A (en) * | 1977-06-14 | 1979-01-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | Recording material |
JPS5446507A (en) * | 1977-09-20 | 1979-04-12 | Canon Inc | Recording medium and production thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56130742A (en) | 1981-10-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4335198A (en) | Process for recording | |
US4370391A (en) | Recording material | |
US4214249A (en) | Recording member for laser beam and process for recording | |
US3889272A (en) | Metal film recording media for laser writing | |
JPH0697513B2 (ja) | 光記録媒体 | |
JPS62152786A (ja) | 相変化記録媒体 | |
JPS6248301B2 (ja) | ||
JPS5928478B2 (ja) | レ−ザ−ビ−ム記録方法 | |
JPH0671828B2 (ja) | 情報記録用薄膜 | |
JPH1166615A (ja) | 光記録媒体およびその製造方法 | |
JPH0139916B2 (ja) | ||
KR910003044B1 (ko) | 광학 기록 소자 | |
JPH0288288A (ja) | 第三元素を含有するアンチモン‐錫合金からなる光学記録材料 | |
JP2679995B2 (ja) | 情報記録用薄膜 | |
US4341863A (en) | Archival optical recording medium | |
JPS6118262B2 (ja) | ||
JPS60154097A (ja) | 情報記録媒体 | |
JPS59104996A (ja) | 光記録方法 | |
JPH0327974B2 (ja) | ||
JPS59113535A (ja) | 光学記録媒体 | |
CA2044523A1 (en) | Phase-change optical recording media | |
JPH0155118B2 (ja) | ||
US4615967A (en) | Optical information storage material | |
JPS5936595B2 (ja) | ジヨウホウキロクホウホウ | |
JPH04234691A (ja) | テルル合金を基材とする消去可能な光学記録材料およびその記録方法 |