JPH0132700Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 技術分野 この考案は、プリント基盤の布線試験や実装部
品の電気特性の測定検査に用いられるコンタクト
プローブピンに関する。

背景技術 近時、機能部品のIC，LSI化が進むに伴いプリ
ント基板の高密度・高精度化が急速に進展し、そ
の高信頼性が強く要求されている。

そこで、プリント基板の信頼性を高めるため
に、配線パターンに断線がなく導通が確実である
かどうか、独立の線間の絶縁が確実で、異常な導
通がないかどうか、などの回路パターンの接続状
態の良否の検査、すなわち布線試験（電気試験）
や実装された部品の電気的特性の測定検査が行わ
れる。この検査に用いられる試験機は試験機本体
とピンボード治具（アダプタ）とによつて構成さ
れている。アダプタは、第１図に示すように絶縁
基材から成る基盤１と、基盤１の表裏に貫通して
植え込まれた複数のコンタクトプローブピン２…
とから成つており、ピン２の先端部に設けられた
接触子（プローブ）３をプリント基板４の回路パ
ターンに形成したランド５に一定の接触圧で接触
させ、その信号をピン本体の一端に接続されたリ
ード線６を通して試験機本体に取り出すことによ
つて接続状態の良否の判定・検査を自動的に行う
ようになつている。

ところで、従来のコンタクトプローブピン（以
下、単にコンタクトピンと称す）２は第２図に示
すように、基盤１に植え込まれる略円筒形状のス
リーブ７と、このスリーブ７に軸方向に摺動可能
に貫装され、先端部に接触子（プローブ）８を有
すると共に、基盤１から下方に突出する基端部に
リード線６が接続されたピン本体９と、一端がス
リーブ７の小径軸部７ａに嵌挿され、他端がピン
本体９の基端側外周に固定されたバネ１０とから
成つている。ピン本体９はリード線６によつて試
験本体に電気的に接続される。また、ピン本体９
はバネ１０によつて先端側がスリーブ７から突出
する方向に付勢されており、接触子８が基板４の
ランド５に押し当てられた際、バネ１０の伸長に
よりピン本体９がスリーブ７の側に押し込まれ後
退し、その反力によつて接触子８が一定の接触圧
で接触できるようになつている。ところで、この
種のコンタクトピンは、１個のみを手で持つて１
〜２個所程度を検査する際に用いられることは極
めて稀であり、基板４の多数の試験箇所に同時に
接触させて用いられることが一般である。そのた
め、基盤１には多数のコンタクトピン２が密集し
て植え込まれることになる。ところが、従来のコ
ンタクトピン２は第２図に明らかなように単純な
直線形状であり、しかもいつたん基盤１に植え込
まれると、その位置が固定されてしまうため、例
えばプリント基板４の仕様変更等により回路パタ
ーンが変更になり、ピンとの接触位置、すなわち
ランド５の位置が当初設定したところから位置ズ
レした場合は、接触子８をランド５に接触させる
ことができなくなつてしまう。したがつてコンタ
クトピン全体を基盤１から引き抜きズレた位置に
穴を明け、再度ピン２を植え込みをし直さなけれ
ばならない。この場合、修正位置が元の位置から
ある程度離れていれば特に問題は生じないが、新
たな穴が元の穴と接触し、又はオーバーラツプす
る程度の、例えば３mm以内の極くわずかなズレで
あると、同一基材を用いて元の穴をいつたん埋め
込んだ後、そこに再度穴を明けなければならな
い。しかもこの修正作業は他のコンタクトピンが
密集配置されたところで行わねばならない。した
がつて、作業に時間と労力を要し、作業がやつか
いであると共に、時間と労力の無駄な損失を招
き、ラインコストを必要以上に上昇させてしま
う。

考案の開示 この考案はプリント基板の仕様変更等により生
じた接触位置のズレに広く対処できるコンタクト
ピンを提供することを目的とするものである。

この目的は、ピン本体の接触子取付位置近傍か
ら一端側を接触子の中心軸がピン本体の摺動軸線
に対して偏心するように折曲すると共に、ピン本
体が貫装されるスリーブの内周と該ピン本体の摺
動部分外周とに接触子の方向性を定める回り止め
手段を設けることによつて達成できる。

この考案によれば、プリント基板の仕様変更等
により回路パターンが変更になりコンタクト位置
であるランドの位置がズレた場合においても、ズ
レた方向に接触子を正しく位置付けし接触させる
ことができる。そのため、同一のコンタクトピン
で接触位置のズレに幅広く有効適切に対処するこ
とができる。したがつて、従来要していた植え込
み穴の明け直しなどの手間と時間を要する面倒な
修正作業が不要になり、時間と労力の無駄を省く
ことができる。よつて、検査測定のロスタイムを
なくすことができる。

しかも、ピン本体を折曲しかつその摺動部分外
周とスリーブ内周とに簡単な構成の回り止め手段
を設けるのみで良いため、構造も簡単であり、コ
スト上昇を招くようなことはない。

考案を実施するための最良の形態 以下、この考案の実施例を第３図以下の図面を
参照して詳細に説明する。

第３図、第４図は本案に係るコンタクトピン２
０を示すもので、このコンタクトピン２０は基盤
２１に植え込まれる略円筒形状のスリーブ２２
と、スリーブ２２に軸方向に摺動可能に貫装され
る軸状のピン本体２３と、ピン本体２３の先端部
に取付けられた接触子２４と、一端がピン本体２
３の外周を通してスリーブ２２の小径軸部２２１
に嵌挿され、他端がピン本体の一端側外周に固定
されたバネ２５とによつて構成されている。ピン
本体２３はバネ２５によつてスリーブ２２に対し
て先端突出方向に付勢されている。

スリーブ２２にはピン本体２３の摺動部分が貫
装されるガイド穴２２２が設けられている。ガイ
ド穴２２２の周面一部にピン本体２３の摺動部分
に形成した切欠面２３１と対応するフラツト面２
２３が上下に沿つて設けられている。スリーブ２
３の上端部に抜け止め用のフランジ２２４が周方
向に幅広に形成され、このフランジ２２４のフラ
ツト面２２３と対応する外周一部に切り欠き２２
５が設けられている。この切り欠き２２５は後述
する接触子２４の偏心方向を明示するためのもの
である。なお、この切り欠き２２５に替えて１本
又は複数の指示線を刻設するようにし、あるいは
その他のマークを付するようにしても良い。

ピン本体２３のスリーブ２２に嵌挿される摺動
部分の外周一部はフラツト面２２３と対応係合す
るように長手方向に一定の範囲で平坦状に切り欠
かれており、この切欠面２３１とフラツト面２２
３との係合によりピン本体２３がスリーブ２２に
対して回り止めされ、接触子２４の偏心方向の方
向性が定められるようになつている。なお、この
回り止め手段としてはフラツト面２２３と切欠面
２３１のように平坦に切り欠かれたものの他、ピ
ン本体２３の摺動部分の断面を多角形状に形成す
ると共にスリーブ２３のガイド穴２２２を同様の
多角形状に形成し、あるいは両者の一方に突起
を、又他方にこの突起と係合する凹部に形成した
構成のものであつても良い。要するにピン本体２
３の回り止めが確実に行える構造のものであれば
良い。

更にピン本体２３の先端側の接触子取付位置近
傍から上部は、接触子２４の中心軸l₁がピン本体
２３のスリーブ２２に対する摺動中心軸線l₂に対
し互に平行かつ所要距離Ｌで偏心するように一方
向、すなわち上記切欠面２３１と同一方向に折り
曲げられている。

なお、ピン本体２３はスリーブ２２に対して交
換可能にされている。したがつて、偏心距離Ｌの
異なる数種のものを予め多数用意しておけば、接
触位置のズレに更に幅広く対処できる。また、ス
リーブ２２は基盤２０に対し取外し可能に植え込
まれることはいうまでもない。

以上の構成において、被検査対象物であるプリ
ント基板３０の仕様変更等により回路パターンが
変更され、そのランド３１の位置が一部ズレ、又
は植え込み時の取付誤差等によりコンタクトピン
の接触子がランド３１の位置からズレた場合、従
来の構造を有するコンタクトピン２を基盤２１に
植え込みそのまま検査測定に用いようとすると、
第６図に示すように接触子８がランド３１の位置
から完全にズレてしまい、接触させることができ
なくなつてしまう。

そのような場合は、第７図に示すように位置ズ
レしたランドと対応する部分の従来のコンタクト
ピン２を基盤２１の植え込み穴２１１から抜き出
し取去つた後、ズレ量M₁，M₂に相当する偏心量
L₁，L₂を有する接触子２４を備えた本実施例の
コンタクトピン２０を用意し、そのスリーブ２２
を接触子２４がズレたランド３１の方向に正しく
向かいかつ、その中心がズレたランドと正しく対
応するように植込み、基盤２１に装着すれば良
い。

その後、第８図に示すように本プローブ治具
（アダプタ）を押し上げ、接触子８，２４をプリ
ント基板３０のランド３１に押し当てれば、ズレ
の生じていないランドに接触子８が正しく接触す
ることは勿論のこと、ズレたランド３１にも上記
偏心量L₁，L₂に応じて接触子２４が正しく接触
することになる。この場合、第５図に示すように
接触子２４が基板３０のランド３１に押し当てら
れると、ピン本体２３がスリーブ２２の方向に押
し込まれ、バネ２５が伸長する。その反力で接触
子２４に一定の接触圧が与えられる。したがつ
て、接触子２４はランド３１に接触不良などなく
常時良好な状態で接触することになる。

かくして、ランド３１がコンタクトピン２０お
よびその一端に接続されたリード線３２を通して
試験機本体に電気的に接続される。その後、試験
機本体をオンにすると、プリント基板３０の回路
からの信号がランド３１を経てコンタクトピン２
０およびリード線３２を通り試験機本体に取り出
され、その信号を適宜処理することにより回路パ
ターンの接続状態の良否の判定試験が行われる。

本例によると、ランド３１が位置ズレした場
合、従来のように基盤２１に植え込み穴を明け直
す作業は不要であり、極めて簡単な操作によりコ
ンタクトピン２０のみを交換すれば良いため位置
ズレ修正に要する時間も極く短時間で済み、実用
上極めて便利である。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のコンタクトピンが植え込まれた
アダプタを示す断面図、第２図は同じく従来のコ
ンタクトピンの構造を示す斜視図、第３図は本案
コンタクトピンの分解斜視図、第４図は同じく斜
視図、第５図はその使用状態を示す斜視図、第６
図は従来のコンタクトピンと本案コンタクトとの
構造上の差異を説明する断面図、第７図は本案コ
ンタクトピンを用いて位置ズレに対処する場合の
コンタクトピン交換手順を示す斜視図、第８図は
本案コンタクトピンの使用状態を示す断面図であ
る。 ２３……ピン本体、２４……接触子、l₁……中
心軸、l₂……摺動軸線、L₁，L₂，L₃……偏心量、
２２……スリーブ、２２３……フラツト面（回り
止め手段）、２３１……切欠面（回り止め手段）、
２１……基盤、２５……バネ（スプリング）、２
２５……切り欠き（表示手段）。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 絶縁基盤に植え込まれるスリーブと、該スリ
   ーブに軸方向に摺動可能に貫装され、一端部に
   接触子を有する軸状のピン本体と、該ピン本体
   を前記接触子が対象基板と接する方向に付勢す
   るスプリングとから成るコンタクトプローブピ
   ンにおいて、前記ピン本体の前記接触子取付位
   置近傍から一端側を該接触子の中心軸が前記摺
   動軸線に対して偏心するように折曲すると共
   に、前記スリーブの内周と前記ピン本体の摺動
   部分外周とに前記接触子の方向性を定める回り
   止め手段を設けたことを特徴とするコンタクト
   プローブピン。 (2) 前記スリーブの前記基盤から一面に突出する
   部分の外周に前記方向性を指示する表示手段を
   形成して成る実用新案登録請求の範囲第１項に
   記載のコンタクトプローブピン。