KR200421330Y1

KR200421330Y1 - 전자회로 검사장치

Info

Publication number: KR200421330Y1
Application number: KR2020060008375U
Authority: KR
Inventors: 강영삼
Original assignee: 주식회사 엠디플렉스
Priority date: 2006-03-29
Filing date: 2006-03-29
Publication date: 2006-07-11

Abstract

본 고안은 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판의 전자회로가 정상적으로 동작되는지를 검사하는 전자회로 검사장치에 관한 것으로서, 검사체를 안착시키는 안착대와, 상기 안착대를 향하여 상하로 작동하는 머신측 가이드와, 상기 머신측 가이드의 하부에 결합되고, 그 하부로 돌출되는 탐침을 구비한 핀 블록을 포함하고, 상기 머신측 가이드가 하부로 이동함으로써, 상기 핀 블록에 구비된 상기 탐침이 상기 안착대에 안착된 상기 검사체에 형성된 전자회로의 전기 접속부와 전기적으로 접속하여 상기 검사체의 전자회로를 검사하는 전자회로 검사장치에 있어서, 상기 핀 블록은 상기 핀 블록의 하부면을 향하여 상기 전기 접속부가 삽입되는 홀더부와, 상기 홀더부의 측면과 상기 하부면의 사이는 상기 전기 접속부가 상기 홀더부에 삽입될 때 미끄러지면서 삽입될 수 있는 경사면을 포함하고, 상기 머신측 가이드에서 상기 핀 블록이 상·하·좌·우·전·후 방향으로 이동이 가능한 결합수단에 의해 상기 머신측 가이드에 결합된 것을 특징으로 한다.

이와 같은 본 고안은 콘넥터가 연성인쇄회로기판의 정확한 위치에 실장되지 않은 경우에도 검사체 FPCB를 용이하게 검사할 수 있는 효과가 있다.

전자회로 검사장치, 연성인쇄회로기판, 핀 블록, 경사부

Description

전자회로 검사장치{Measurement device for the electronic circuit}

도 1은 종래의 전자회로 검사장치로 전자회로를 검사하기 위해 보조 FPCB가 검사체 FPCB에 부착된 상태를 보이는 도면,

도 2는 본 고안에 의한 전자회로 검사장치를 적용하기 위한 콘넥터의 사시도,

도 3은 도 2에 도시된 콘넥터의 절단 단면도,

도 4는 본 고안에 따른 전자회로 검사장치의 개략 단면도,

도 5는 콘넥터가 기울어져 실장된 검사체 FPCB를 본 고안에 의한 전자회로 검사장치로 검사하는 상태를 보이는 개략 단면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *

30c, 40c : 스테빌 라이저 50 : 콘넥터

55 : 콘넥터 하우징 60 : 검사체 FPCB

70 : 안착대 75 : 베이스 지그

80 : 핀 블록 90 : 핀 블록측 가이드

95 : 탭볼트 97 : 홀

100 : 머신측 가이드 101 : 암나사부

본 고안은 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판(Flexible Printed Circuit Board : FPCB)의 전자회로가 정상적으로 동작되는지를 검사하는 전자회로 검사장치에 관한 것으로, 특히 연성인쇄회로기판에 실장된 콘넥터가 정확한 위치에 실장되어 있지 않아도 그 실장된 전자회로가 정상적으로 동작되는지를 검사하기 위한 전자회로 검사장치에 관한 것이다.

일반적으로 연성인쇄회로기판에 반도체, 저항, 캐패시터, 인덕터 등의 전자부품을 실장하면 그 회로가 정상적으로 동작하는지를 검사하게 된다.

또한, 반도체 제조공정에서 웨이퍼 레벨의 제조공정이 완료된 웨이퍼 상의 각 칩들도 패키징 공정을 수행하기 전에 EDS(Electrical Die Sorting) 공정에서 검사 설비에 의해 전기적인 특성을 검사하게 된다.

또한, 상기 반도체 웨이퍼 제조공정과 마찬가지로 LCD 제조공정에서 패널의 제작후 각각의 신호전달에 따른 문제점이 없는 것인지에 대한 전기적인 특성을 검사하게 된다.

이와 같은 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판, 반도체 장치 또는 LCD 패널의 회로가 정상적으로 동작하는지를 검사하기 위해 포고 핀(Pogo Pin) 또는 스프링 핀(Spring pin)과 같은 탐침에 의해 외부의 검사회로와 전기적으로 접속시키게 된다.

예를들어, 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판의 경우에는 연성인쇄회로기 판에 실장된 콘넥터를 통해 전자회로 검사장치의 검사회로와 전기적으로 접속시키게 되는데 최근에는 전자기기의 소형화에 따라 콘넥터의 크기도 작아져 콘넥터의 콘택트 피치가 0.2㎜이하로 되어 콘넥터를 연성인쇄회로기판에 실장하여 그 위치가 조금만 변경되어도 탐침이 콘넥터의 정확한 위치에 접촉될 수 없어 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판의 전자회로가 정상 동작되는지를 검사할 수 없게 된다.

이와 같은 상황에서의 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판을 검사하기 위한 종래의 방법을 이하에서 설명한다.

도 1은 종래의 전자회로 검사장치로 전자회로를 검사하기 위해 보조 연성인쇄회로기판이 검사대상의 연성인쇄회로기판에 부착된 상태를 보이는 도면이다.

도 1에 있어서, 60은 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판(이하 "검사체" 또는 "검사체 FPCB"라 한다)이고, 3a, 3b, 3c는 검사체 FPCB(60)에 실장된 전자회로와 전기적으로 접속하기 위한 보조 FPCB들이다.

검사체 FPCB(60)에는 각종 전자부품과 콘넥터(50a, 50b, 50c, 50d)들이 실장되어 있다. 그리고, 보조 FPCB(3a, 3b, 3c)들에는 종래의 전자회로 검사장치에 마련된 탐침과 접촉하기 위한 접점(4a, 4b, 4c)들이 있다. 이 접점(4a, 4b, 4c)들은 연성인쇄회로기판에 형성된 인쇄회로에 의해 검사체 FPCB(60)의 콘넥터(50a, 50b, 50c)에 접속되어 있다.

이와 같이 검사체 FPCB(60)의 전자회로는 콘넥터(50a, 50b, 50c, 50d)들을 통하여 전자회로 검사장치의 검사회로에 접속시킴으로써, 전자회로의 정상동작 여부를 검사하게 된다.

즉, 콘넥터(50a, 50b, 50c, 50d)들의 피치는 0.2㎜이하로서 매우 미세한 간격을 유지하고 있어 콘넥터(50a, 50b, 50c, 50d)들의 실장된 위치가 다소 틀어진다하여도 보조 FPCB(3a, 3b, 3c)들에 마련된 접점(4a, 4b, 4c)의 크기를 확대하고 이들의 간격을 넓게 형성함으로써, 전자회로 검사장치의 탐침을 용이하게 접속시킬수 있어 검사체 FPCB(60)에 실장된 콘넥터(50a, 50b, 50c, 50d)의 위치가 다소 변경되어도 검사체 FPCB(60)의 전자회로의 정상 동작여부를 검사할 수 있다.

그러나, 이와 같이 보조 FPCB(3a, 3b, 3c)들을 검사체 FPCB(60)에 실장된 콘넥터(50a, 50b, 50c, 50d)들에 수작업으로 꽂아야 되고, 검사하기 위한 검사대상물이 검사체 FPCB(60)와 보조 FPCB(3a, 3b, 3c)가 되어 그 크기가 커져 이들을 다루기가 어렵고, 콘넥터의 형상 및 그 수에 따른 보조 FPCB를 제작하여야 하는 문제점이 있었다.

따라서, 본 고안의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 보조 FPCB를 사용하지 않고 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판의 전자회로를 검사하기 위한 전자회로 검사장치를 제공하기 위한 것이다.

본 고안의 다른 목적은 연성인쇄회로기판에 실장된 콘넥터의 위치가 정확한 위치에 실장되지 않은 경우에도 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판의 전자회로를 검사하기 위한 전자회로 검사장치를 제공하기 위한 것이다.

본 고안의 또 다른 목적은 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판의 전자회로를 자동화 라인에서 검사할 수 있는 전자회로 검사장치를 제공하기 위한 것이다.

본 고안의 또 다른 목적은 반도체 제조공정에서의 반도체 장치나 LCD 제조공정에서의 LCD 패널의 전자회로를 용이하게 검사할 수 있는 전자회로 검사장치를 제공하기 위한 것이다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 전자회로 검사장치는 검사체를 안착시키는 안착대와, 상기 안착대의 상부에 위치하며, 상기 안착대를 향하여 상하로 작동하는 머신측 가이드와, 상기 머신측 가이드의 하부에 결합되고, 그 하부로 돌출되는 탐침을 구비한 핀 블록을 포함하고, 상기 머신측 가이드가 하부로 이동함으로써, 상기 핀 블록에 구비된 상기 탐침이 상기 안착대에 안착된 상기 검사체에 형성된 전자회로의 전기 접속부와 전기적으로 접속하여 상기 검사체의 전자회로를 검사하는 전자회로 검사장치에 있어서, 상기 핀 블록은 상기 핀 블록의 하부면을 향하여 상기 전기 접속부가 삽입되는 홀더부와, 상기 홀더부의 측면과 상기 하부면의 사이는 상기 전기 접속부가 상기 홀더부에 삽입될 때 미끄러지면서 삽입될 수 있는 경사면을 포함하고, 상기 경사면에 의해 상기 접속부가 미끄러지면서 상기 홀더부에 삽입될 때 상기 머신측 가이드에서 상기 핀 블록이 상·하·좌·우·전·후 방향으로 이동이 가능한 결합수단에 의해 상기 머신측 가이드의 하부에 결합된 것을 특징으로 한다.

또, 상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 전자회로 검사장치는 상기 핀 블록과 상기 머신측 가이드 사이에 핀 블록측 가이드를 더 포함하고, 상기 핀 블록은 핀 블록측 가이드에 고정되며, 상기 핀 블록측 가이드가 상기 머신측 가이드에서 상·하·좌·우·전·후 방향으로 이동 가능한 것을 특징으로 한다.

또, 상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 전자회로 검사장치는 상기 전기 접속부의 상부 모서리가 상기 홀더부의 상기 경사부를 지나 상기 홀더부의 측면과 접촉하게 될 때 상기 전기 접속부의 상부면은 상기 탐침의 끝단과는 이격되어 있는 것을 특징으로 한다.

또, 상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 전자회로 검사장치는 상기 결합수단이 상기 핀 블록 또는 상기 핀 블록측 가이드가 상기 머신측 가이드와 결합하기 위한 3개 이상의 홀을 구비하고, 상기 핀 블록 또는 상기 핀 블록측 가이드는 상기 홀의 직경보다 작은 직경을 갖는 볼트로 상기 머신측 가이드와 밀착되지 않도록 결합된 것을 특징으로 한다.

또, 상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 전자회로 검사장치는 상기 볼트는 노드부를 포함하는 탭 볼트인 것을 특징으로 한다.

또, 상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 전자회로 검사장치는 상기 경사면은 상기 홀더부의 측면의 연장선과 15°의 각을 갖는 것을 특징으로 한다.

또, 상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 전자회로 검사장치는 상기 경사면과 상기 핀 블록의 하부면이 만나는 경계점과 상기 홀더부의 측면의 연장선과의 거리는 0.2㎜인 것을 특징으로 한다.

또, 상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 전자회로 검사장치는 상기 탐침의 길이는 상기 전기 접속부들이 상기 전기 접속부의 상부면과의 거리에 대응하도록 결정되는 것을 특징으로 한다.

또, 상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 전자회로 검사장치는 상기 검사체에 형성된 전자회로의 전기 접속부는 연성인쇄회로기판에 탑재된 콘넥터 또는 외부 회로와 전기적으로 접속 가능하도록 반도체 장치나 LCD에 마련된 전기 접촉수단인 것을 특징으로 한다.

이하에서는 본 고안의 개념을 도면에 따라 설명한다.

또, 도면에 있어서 동일부분에는 동일부호를 부여하고, 그 반복적인 설명은 생략한다.

도 2는 본 고안에 의한 전자회로 검사장치를 적용하기 위한 콘넥터(50)의 사시도이다.

도 2에 있어서, 절연재료제의 인슐레이터(10)에는 좌우로 한 쌍의 회전 운동지지부(11)가 형성되어 있고, 상기 좌우의 회전운동 지지부(암)(11)의 사이에 마찬가지로 절연 재료제의 액튜에이터(20)의 좌우의 회전운동 지지부(21)가 회전 운동이 자유롭게 지지되어 있다.

도 3은 도 2에 도시된 콘넥터의 절단 단면도로서, 도 3a는 Ⅰ-Ⅰ선 절단 단면도이고, 도 3b는 Ⅱ-Ⅱ선 절단 단면도이다.

도 2 및 도 3에 있어서, 인슐레이터(10)에는 제 1 콘택트군(40)을 수납하는 콘택트 수납홈(13)과, 제 2 콘택트군(30)을 수납하는 콘택트 수납홈(12)이 소정 간격으로 하나씩 걸러 정렬 형성되어 있다.

도 3a에 도시된 바와 같이 제 1 콘택트군(40)은 각각 기판(B)상의 랜드(BL)에 납땜되는 납땜각(40a), FPCB 또는 플렉시블 플랫 케이블(FFC)이 접하는 접촉 각(40b) 및 상기 접촉각(40b)에 대향하는 스태빌라이저(40c)가 구비되어 있다. 마찬가지로, 도 3b에 도시된 바와 같이 제 2 콘택트군(30)은 각각 기판(B)상의 랜드(BL)에 납땜되는 납땜각(30a), FPCB 또는 FFC가 접하는 접촉각(30b) 및 상기 접촉각(30b)에 대향하는 스태빌라이저(30c)가 구비되어 있다.

이와 같이 구성된 콘넥터(50)의 스태빌라이저(30c)와 스태빌라이저(40c)의 상부 면에는 전자회로 검사장치의 검사회로와 연결된 탐침인 스프링 핀(82)들이 하향하여 이동됨으로써, 검사체 FPCB(60)의 콘넥터(50)는 스프링 핀(82)들을 통하여 전자회로 검사장치의 검사회로에 전기적으로 접속되게 된다.

이와 같은 방법에 의해 보조 FPCB를 사용하지 않고 전자부품이 실장된 연성인쇄회로기판의 전자회로를 검사할 수 있게 된다.

이하에서는 본 고안의 실시예를 도면에 따라 구체적으로 설명한다.

도 4는 본 고안에 따른 전자회로 검사장치의 개략 단면도이고, 도 4a는 본 고안에 따른 전자회로 검사장치의 세부구조를 나타낸 도면이다.

도 4a에 있어서, 70은 검사체 FPCB(60)를 올려놓는 전자회로 검사장치의 안착대이고, 100은 안착대(70)의 상부에서 안착대(70)를 향하여 상·하 방향으로 이동 가능한 전자회로 검사장치의 머신측 가이드이다.

안착대(70)에는 콘넥터(50)를 포함한 검사체 FPCB(60)가 베이스 지그(75)에 끼워진 채로 안착되어 있다.

또한, 80은 콘넥터(50)의 스태빌라이저(30c)와 스태빌라이저(40c)에 접촉하기 위한 스프링 핀(82)이 하향 돌출되도록 구비된 핀 블록이고, 90은 핀 블록(80) 과 머신측 가이드(100)의 사이에서 핀 블록(80)을 머신측 가이드(100)에 결합시키기 위한 핀 블록측 가이드(90)이다.

핀 블록(80)은 그 하부에 하부면(84)을 가지고 있으며, 하부면(84)에서 상향으로 형성되어 머신측 가이드(100)가 하향 이동할 때 콘넥터(50)를 수용하는 홀더부(85)가 마련되어 있다. 그리고 홀더부(85)에는 벽을 이루는 측면(83)이 수직으로 형성되고, 홀더부(85)의 측면(83)과 핀 블록(80)의 하부면(84)사이는 경사부(86)를 이룬다.

이 경사부(86)는 측면(83)의 연장선과 15°의 각을 이루며, 경사부(86)와 하부면(84)이 만나는 점과 측면(83)의 연장선사이의 거리는 0.2㎜의 거리를 두고 있다.

이와 같은 핀 블록(80)은 핀 블록측 가이드(90)에 고정되어 있으며, 검사체 FPCB(60)에 실장된 콘넥터(50)의 형상에 따라 다른 형상의 핀 블록이 적용되어야 하므로 핀 블록(80)은 핀 블록측 가이드(90)에 착탈 가능하다.

한편, 핀 블록측 가이드(90)에는 머신측 가이드(100)와 결합시키기 위하여 노드부(92)를 갖는 탭볼트(95)를 끼울 수 있는 3개 또는 4개의 홀(97)이 뚫어져 있다. 이 홀(97)의 내경은 탭볼트(95)의 직경보다 0.4㎜ 정도 크게 형성된다.

머신측 가이드(100)의 하부에는 핀 블록(80)이 고정 장착된 핀 블록측 가이드(90)를 탭볼트(95)로 머신측 가이드(100)의 하부에 결합시키는 암나사부(101)가 구비되어 있으며, 핀 블록측 가이드(90)는 0.2㎜ 정도의 간격(t)을 두고 탭볼트(95)에 의해 머신측 가이드(100)와 결합된다.

그리고 핀 블록(80)의 홀더부(85)로 하향 돌출된 스프링 핀(82)들은 콘넥터(50)가 핀 블록(80)의 홀더부(85)에 완전히 삽입되었을 때 콘넥터(50)의 스태빌 라이저(30c)(40c)들과 접촉될 수 있는 위치에 마련되고, 스태빌 라이저(30c)에 접촉되는 스프링 핀(82)의 침의 길이는 스태빌 라이저(30c)가 콘넥터 하우징의 표면의 하부에 위치하므로 그 깊이만큼 스태빌 라이저(40c)에 접촉되는 스프링 핀(82)의 침의 길이보다 길게 되어 있다.

이하에서는 본 고안의 실시예에 의한 전자회로 검사장치의 작용을 도면에 따라 설명한다.

도 4b는 본 고안에 따른 전자회로 검사장치의 머신측 가이드가 하향 이동하여 핀 블록의 경사면과 콘넥터가 접촉되고 있는 상태를 나타낸 도면이다.

도 4b에 있어서, 머신측 가이드(100)는 전자회로 검사장치의 사용자 또는 자동화 라인의 제어장치의 명령 신호에 의해 콘넥터(50)가 정확한 위치를 벗어난 상태로 실장된 검사체 FPCB(60)의 전자회로를 검사하기 위해 안착대(70)를 향하여 하부로 이동하여 핀 블록(80)의 경사면이 콘넥터(50)의 콘넥터 하우징(55)의 상부 모서리와 접하여 있다.

이 상태에서 머신측 가이드(100)가 안착대(70)를 향하여 더욱 하부로 이동하게 되면 머신측 가이드(100)에 결합되어 있는 핀 블록측 가이드(90)와 핀 블록측 가이드(90)에 고정되어 있는 핀 블록(80)의 하중에 의해 콘넥터 하우징(55)의 상부 모서리가 핀 블록(80)의 경사부(86)에서 미끄러지면서 핀 블록측 가이드(90)가 옆으로 밀리게 되면서 콘넥터의 하우징(55)은 홀더부(85)의 양 측면(83)을 타고 핀 블록(80)의 홀더부(85)로 삽입되어 홀더부(85)는 검사체 FPCB(60)에서 정확한 위치를 벗어나 실장된 콘넥터(50)를 완전히 수납하게 된다.

이때 콘넥터 하우징의 상부 모서리가 홀더부(85)의 경사부(86)를 지나 측면(83)과 접촉하게 될 때 콘넥터 하우징(55)의 상부면은 스프링 핀(82)의 침 끝단과는 이격되어 있는 상태이다. 만약 측면(83)의 깊이가 짧으면 스프링 핀(82)의 침 끝단이 하우징(55)의 상부면이나 스테빌 라이저(40c)의 상부면에서 미끄러지면서 스테빌 라이저(30c) 및 스테빌 라이저(40c)의 상부면에 접촉되게 되므로 스프링 핀(82)이 파손되게 된다.

도 4c는 본 고안에 따른 전자회로 검사장치의 머신측 가이드가 하향 이동하여 핀 블록의 홀더부내에 콘넥터가 완전히 삽입되어 있는 상태를 나타낸 도면이다.

도 4c에 있어서, 본 고안에 따른 전자회로 검사장치는 핀 블록(80)의 홀더부(85)내에 콘넥터(50)가 완전히 삽입되어 있고, 스프링 핀(82)들은 스테빌 라이저(30c)와 스테빌 라이저(40c)에 정확하게 접촉되어 있다.

즉, 본 고안에 따른 전자회로 검사장치는 검사체 FPCB(60)의 콘넥터(50)가 다소 정확한 위치에 실장되어 있지 않더라도 핀 블록측 가이드(90)에 고정되어 있는 핀 블록(80)이 좌·우·전·후 방향으로 이동하면서 홀더부(85)에 콘넥터(50)를 수납시킬 수 있다.

도 5는 콘넥터가 기울어져 실장된 검사체 FPCB를 본 고안에 의한 전자회로 검사장치로 검사하는 상태를 보이는 개략 단면도이다.

도 5에 있어서, 콘넥터(50)는 검사체 FPCB(60)에 유격부(53)를 두고 실장되 어 있는 모습이 도시되어 있다.

이와 같이 콘넥터(50)가 실장된 검사체 FPCB(60)의 전자회로를 검사하기 위해 머신측 가이드(100)는 안착대(70)를 향하여 하부로 이동하게 되면 머신측 가이드(100)에 결합되어 있는 핀 블록측 가이드(90)와 핀 블록측 가이드(90)에 고정되어 있는 핀 블록(80)의 하중에 의해 콘넥터 하우징(55)의 상부 모서리가 핀 블록(80)의 경사부(86)에서 미끄러지면서 핀 블록측 가이드(90)가 옆으로 밀리게 되면서 또한, 핀 블록측 가이드(90)는 유격부(53)에 의한 콘넥터(50)의 기울기에 따라 기울어지면서 핀 블록(80)의 홀더부(85)로 콘넥터(50)를 수납시키게 된다.

즉, 본 고안에 따른 전자회로 검사장치는 콘넥터(50)가 다소 유격부(53)를 가지고 검사체 FPCB(60)에 실장되어 있더라도 핀 블록측 가이드(90)에 고정되어 있는 핀 블록(80)이 상·하 방향으로 이동하여 홀더부(85)에 콘넥터(50)를 수납시킬 수 있다.

이상 기술한 바와 같이 본 고안을 상기 실시예에 따라 구체적으로 설명하였지만, 본 고안은 상기 실시예에 한정되는 것은 아니고, 그 요지를 이탈하지 않는 범위 내에서 여러 가지로 변경 가능한 것은 물론이다.

상기 실시예에 있어서, 검사체 FPCB(60)의 전자회로와 검사회로의 전기 접속부로서 콘넥터(50)를 예로 들어 설명하였지만, 반도체 장치의 리이드나 LCD 패널에 마련된 전기 접촉수단에도 적용할 수 있음은 물론이다.

또한, 핀 블록(80)은 핀 블록측 가이드(90)에 고정된 상태로 머신측 가이드(100)와 결합되는 결합수단의 구조에 대해 설명하였지만, 핀 블록(80)에 홀(97) 을 형성하여 머신측 가이드(100)에 탭볼트(95)로 직접 결합하는 결합수단이라도 좋다.

또한, 스테빌 라이저(30c)가 스테빌 라이저(40c)보다 콘넥터 하우징(55)에 깊게 형성된 콘넥터(50)를 예로 들어 설명하였지만, 모든 스테빌 라이저가 동일한 높이를 갖는 콘넥터에도 스프링 핀(82)의 침의 길이를 동일하게 함으로써, 본 고안의 전자회로 검사장치를 적용할 수 있다.

또한, 검사체 FPCB(60)가 베이스 지그(75)에 끼워진 상태로 검사체 FPCB(60)를 검사하는 것으로 설명하였지만, 베이스 지그를 사용하지 않고 검사체 FPCB(60)를 안착대(70)에 직접 안착시켜 검사체 FPCB(60)를 검사할 수도 있다.

상술한 바와 같이, 본 고안의 전자회로 검사장치에 의하면, 보조 FPCB를 사용하지 않고 검사체 FPCB의 전자회로를 용이하게 검사할 수 있는 효과가 있다.

또한, 본 고안의 전자회로 검사장치에 의하면, 연성인쇄회로기판에 실장된 콘넥터의 위치가 정확하게 실장되지 않은 경우에도 검사체 FPCB의 전자회로를 용이하게 검사할 수 있는 효과가 있다.

또한, 본 고안의 전자회로 검사장치에 의하면, 연성인쇄회로기판에 실장된 콘넥터가 유격을 가진 상태로 실장되어 있는 경우에도 검사체 FPCB의 전자회로를 용이하게 검사할 수 있는 효과가 있다.

또한, 본 고안의 전자회로 검사장치에 의하면, 검사체 FPCB의 전자회로를 자동화 라인에서도 검사할 수 있는 것이다.

또한, 본 고안의 전자회로 검사장치에 의하면, 반도체 제조공정에서의 반도체 장치나 LCD 제조공정에서의 LCD 패널의 전자회로를 용이하게 검사할 수 있는 효과가 있다.

Claims

검사체를 안착시키는 안착대와,

상기 안착대의 상부에 위치하며, 상기 안착대를 향하여 상하로 작동하는 머신측 가이드와, 상기 머신측 가이드의 하부에 결합되고, 그 하부로 돌출되는 탐침을 구비한 핀 블록을 포함하고, 상기 머신측 가이드가 하부로 이동함으로써, 상기 핀 블록에 구비된 상기 탐침이 상기 안착대에 안착된 상기 검사체에 형성된 전자회로의 전기 접속부와 전기적으로 접속하여 상기 검사체의 전자회로를 검사하는 전자회로 검사장치에 있어서,

상기 핀 블록은

상기 핀 블록의 하부면을 향하여 상기 전기 접속부가 삽입되는 홀더부와,

상기 홀더부의 측면과 상기 하부면의 사이는 상기 전기 접속부가 상기 홀더부에 삽입될 때 미끄러지면서 삽입될 수 있는 경사면을 포함하고,

상기 경사면에 의해 상기 전기 접속부가 미끄러지면서 상기 홀더부에 삽입될 때 상기 머신측 가이드에서 상기 핀 블록이 상·하·좌·우·전·후 방향으로 이동이 가능한 결합수단에 의해 상기 머신측 가이드의 하부에 결합된 것을 특징으로 하는 전자회로 검사장치.
제 1항에 있어서,

상기 핀 블록과 상기 머신측 가이드 사이에 핀 블록측 가이드를 더 포함하 고,

상기 핀 블록은 핀 블록측 가이드에 고정되며,

상기 핀 블록측 가이드가 상기 머신측 가이드에서 상·하·좌·우·전·후 방향으로 이동 가능한 것을 특징으로 하는 전자회로 검사장치.
제 1항에 있어서,

상기 전기 접속부의 상부 모서리가 상기 홀더부의 상기 경사부를 지나 상기 홀더부의 측면과 접촉하게 될 때 상기 전기 접속부의 상부면은 상기 탐침의 끝단과는 이격되어 있는 것을 특징으로 하는 전자회로 검사장치.
제 1항, 제 2항 또는 제 3항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 결합수단은 상기 핀 블록 또는 상기 핀 블록측 가이드가 상기 머신측 가이드와 결합하기 위한 3개 이상의 홀을 구비하고,

상기 핀 블록 또는 상기 핀 블록측 가이드는 상기 홀의 직경보다 작은 직경을 갖는 볼트로 상기 머신측 가이드와 밀착되지 않도록 결합된 것을 특징으로 하는 전자회로 검사장치.
제 4항에 있어서,

상기 볼트는 노드부를 포함하는 탭 볼트인 것을 특징으로 하는 전자회로 검사장치.
제 4항에 있어서,

상기 경사면은 상기 홀더부의 측면의 연장선과 15°의 각을 갖는 것을 특징으로 하는 전자회로 검사장치.
제 6항에 있어서,

상기 경사면과 상기 핀 블록의 하부면이 만나는 경계점과 상기 홀더부의 측면의 연장선과의 거리는 0.2㎜인 것을 특징으로 하는 전자회로 검사장치.
제 4항에 있어서,

상기 탐침의 길이는 상기 전기 접속부들이 상기 전기 접속부의 상부면과의 거리에 대응하도록 결정되는 것을 특징으로 하는 전자회로 검사장치.
제 1항에 있어서,

상기 검사체에 형성된 전자회로의 전기 접속부는 연성인쇄회로기판에 탑재된 콘넥터 또는 외부 회로와 전기적으로 접속 가능하도록 반도체 장치나 LCD에 마련된 전기 접촉수단인 것을 특징으로 하는 전자회로 검사장치.