JPH01312483A - 磁界測定装置 - Google Patents
磁界測定装置Info
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- JPH01312483A JPH01312483A JP63144263A JP14426388A JPH01312483A JP H01312483 A JPH01312483 A JP H01312483A JP 63144263 A JP63144263 A JP 63144263A JP 14426388 A JP14426388 A JP 14426388A JP H01312483 A JPH01312483 A JP H01312483A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/32—Excitation or detection systems, e.g. using radio frequency signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/032—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect
- G01R33/0322—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect using the Faraday or Voigt effect
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は磁気光学素子によるファラデー回転を観測して
磁界を検出し、その磁界強度を測定する装置に関するも
のである。
磁界を検出し、その磁界強度を測定する装置に関するも
のである。
従来の技術
最、近、磁界強度を光を用いて測定する方法として、フ
ァラデー効果を利用する方法が提案されている。例えば
欠間らによる文献 IE3QE−181619(198
2)がある。
ァラデー効果を利用する方法が提案されている。例えば
欠間らによる文献 IE3QE−181619(198
2)がある。
特に電流が流れている導体の周りの磁界強度を測定して
電流を検知する方法は、光を媒体とするために絶縁性が
良好である、電磁誘導ノイズを受けないなどの特徴を持
ち、送配電没頭への適用が考えられている。
電流を検知する方法は、光を媒体とするために絶縁性が
良好である、電磁誘導ノイズを受けないなどの特徴を持
ち、送配電没頭への適用が考えられている。
第9図にファラデー効果を用いた磁界の測定方法の原理
図を示す。第2図において磁界r(中に磁気光学素子1
が配置されている。この磁気光学素子1(こ偏光子2で
直線偏光とされた光を通過させる。ファラデー効果によ
り偏光面は磁界強度Hに比例し2て回転を受ける。回転
を受けた偏光は偏光子2と透過偏光方向を45°異なら
しめた検光子3を通過し、回転角θの大きさが光量変化
に変換される。その時の光出力は次式で与えられる。
図を示す。第2図において磁界r(中に磁気光学素子1
が配置されている。この磁気光学素子1(こ偏光子2で
直線偏光とされた光を通過させる。ファラデー効果によ
り偏光面は磁界強度Hに比例し2て回転を受ける。回転
を受けた偏光は偏光子2と透過偏光方向を45°異なら
しめた検光子3を通過し、回転角θの大きさが光量変化
に変換される。その時の光出力は次式で与えられる。
P out= K (1+ s in 2θ)
−−−−・−(1)θ =CHe ここで、P o+、+tは光出力、Kは比例定数、θは
ファラデー回転角[度]、Cは感度定数で単位はE度/
cm Oe ]であり、磁気光学素子の感度を示すも
のである。
−−−−・−(1)θ =CHe ここで、P o+、+tは光出力、Kは比例定数、θは
ファラデー回転角[度]、Cは感度定数で単位はE度/
cm Oe ]であり、磁気光学素子の感度を示すも
のである。
この様な原理を応用した磁界測定装置を応用したものと
して、複数点に磁界測定器を配置して、各測定器からの
電気出力を演算器に入力し、その波形の和あるいは差を
取って参照信号とし、例えば零相電流を検出して事故の
判定を行なう様なものが提案されている。
して、複数点に磁界測定器を配置して、各測定器からの
電気出力を演算器に入力し、その波形の和あるいは差を
取って参照信号とし、例えば零相電流を検出して事故の
判定を行なう様なものが提案されている。
さて、この様な磁界測定装置に用いられる磁気光学素子
としては、代表的なものとして、一般弐Y3Feso+
2で示されるYIG結晶がある。しかしながら、第8図
に示す様に感度定数Cの温度変化は大きく、使用温度付
近の一20℃〜120°Cの温度範囲で+16%もの変
化を示し、精度が周囲温度の変化に対して太き(変化す
るという実用上の問題点がある。これを解決するものと
して、一般式Tbx Y3−X F es 012で示
されXの値が0.3≦x≦0.9である希土類鉄ガーネ
ット結晶を磁気光学素子として用いるものがある。この
磁気光学素子を用いた装置における測定精度の温度変化
は一25℃〜120℃で±1%とかなり改善されている
。
としては、代表的なものとして、一般弐Y3Feso+
2で示されるYIG結晶がある。しかしながら、第8図
に示す様に感度定数Cの温度変化は大きく、使用温度付
近の一20℃〜120°Cの温度範囲で+16%もの変
化を示し、精度が周囲温度の変化に対して太き(変化す
るという実用上の問題点がある。これを解決するものと
して、一般式Tbx Y3−X F es 012で示
されXの値が0.3≦x≦0.9である希土類鉄ガーネ
ット結晶を磁気光学素子として用いるものがある。この
磁気光学素子を用いた装置における測定精度の温度変化
は一25℃〜120℃で±1%とかなり改善されている
。
一方、Biで置換した希土類鉄ガーネット結晶のファラ
デー回転能は大きく、磁気光学素子として用いる事によ
って、磁界測定装置の感度も向上し、又量産性も向上す
る利点が有るが、実現された例がない。
デー回転能は大きく、磁気光学素子として用いる事によ
って、磁界測定装置の感度も向上し、又量産性も向上す
る利点が有るが、実現された例がない。
発明が解決しようとする課題
従来の技術で述べてきた様に、磁界測定装置に用いられ
る磁気光学素子については、感度が大きくとれるBi置
換希土類鉄ガーネットにおいて、実用上問題のない、感
度定数の温度変化を持つ磁気光学素子が得られていない
のが現状である。また、その製造上の問題点として、従
来のYIGの様なりiを含まない希土類鉄ガーネット結
晶の場合、長さ2園程度の素子が必要であるため、ブラ
ックス法やFZ法の製造方法をとっていたために、製造
時間が長く、測定装置の量産性が損なわれるといった問
題があった。しかしながら、Bi置換希土類鉄ガーネッ
ト結晶において、感度定数の温度変化が小さいものを提
供すれば、必要な素子の厚みも50〜3001.tm程
度で良く、量産性に富んだLPE法、気相法を用いる事
ができる。
る磁気光学素子については、感度が大きくとれるBi置
換希土類鉄ガーネットにおいて、実用上問題のない、感
度定数の温度変化を持つ磁気光学素子が得られていない
のが現状である。また、その製造上の問題点として、従
来のYIGの様なりiを含まない希土類鉄ガーネット結
晶の場合、長さ2園程度の素子が必要であるため、ブラ
ックス法やFZ法の製造方法をとっていたために、製造
時間が長く、測定装置の量産性が損なわれるといった問
題があった。しかしながら、Bi置換希土類鉄ガーネッ
ト結晶において、感度定数の温度変化が小さいものを提
供すれば、必要な素子の厚みも50〜3001.tm程
度で良く、量産性に富んだLPE法、気相法を用いる事
ができる。
さらに、磁気光学素子の厚みが薄(できる事によって、
従来吸収係数が大きくて、使用不可能であった0、8μ
m帯の波長を持つ光源を用いる事ができる。従って、フ
ァラデー効果の大きな短波長側で使用する事により、低
価格な光源及び受光器を用いる事ができ、さらに低価格
化が実現するものである。
従来吸収係数が大きくて、使用不可能であった0、8μ
m帯の波長を持つ光源を用いる事ができる。従って、フ
ァラデー効果の大きな短波長側で使用する事により、低
価格な光源及び受光器を用いる事ができ、さらに低価格
化が実現するものである。
本発明は、かかる点を鑑みてなされたものであり、感度
定数が大きく、さらにその温度変化が実用上問題となら
ないBi置換型希土類鉄ガーネットを実現し、この結晶
を磁気光学素子として用いた磁界測定装置を提供するも
のであり、さらに量産性を向上させ、低価格化も実現さ
せることを目的としている。
定数が大きく、さらにその温度変化が実用上問題となら
ないBi置換型希土類鉄ガーネットを実現し、この結晶
を磁気光学素子として用いた磁界測定装置を提供するも
のであり、さらに量産性を向上させ、低価格化も実現さ
せることを目的としている。
課題を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するため、透過偏光方向を互
いに異ならしめた偏光子と検光子との間に一般式B i
xG dyY3−(x+y) F e 5012(1
,0≦x≦1.4.0.1≦y≦0.7)で示されるB
i置換希土類鉄ガーネット結晶よりなる磁気光学素子を
配置した磁気光学変換部と、前記磁気光学変換部の両端
に設けられた光伝送路と、前記光伝送路に光を入射する
光発生手段と、前記入射光が前記磁気光学変換部を透過
した後の光出力を検知して電気信号に変換する検知手段
と、前記検知手段からの電気信号を処理する電気回路を
備え、前記磁気光学変換部を磁界中に配置する事により
、磁界強度を検知する磁界測定装置であり、さらに、磁
気光学変換部を被測定磁界の数だけ具備し、それぞれの
前記号に変換する検知手段を被測定磁界の数だけ設け、
各々の前記検知手段がらの電気信号を加減算する信号処
理回路を備え、複数の被測定磁界中に各々の磁気光学変
換部を配置することにより、磁界強度の変化を検知する
磁界測定装置であり、望むら(は、Ca−Mg−Zr置
換型Gd5GasO+2基板又はNd3Ga5o12基
板上にエピタキシャル成長してなる磁気光学素子を用い
るものであり、波長0.7μmから0.9μmの間に発
光ピーク波長を持つ光発生手段を用いるものである。
いに異ならしめた偏光子と検光子との間に一般式B i
xG dyY3−(x+y) F e 5012(1
,0≦x≦1.4.0.1≦y≦0.7)で示されるB
i置換希土類鉄ガーネット結晶よりなる磁気光学素子を
配置した磁気光学変換部と、前記磁気光学変換部の両端
に設けられた光伝送路と、前記光伝送路に光を入射する
光発生手段と、前記入射光が前記磁気光学変換部を透過
した後の光出力を検知して電気信号に変換する検知手段
と、前記検知手段からの電気信号を処理する電気回路を
備え、前記磁気光学変換部を磁界中に配置する事により
、磁界強度を検知する磁界測定装置であり、さらに、磁
気光学変換部を被測定磁界の数だけ具備し、それぞれの
前記号に変換する検知手段を被測定磁界の数だけ設け、
各々の前記検知手段がらの電気信号を加減算する信号処
理回路を備え、複数の被測定磁界中に各々の磁気光学変
換部を配置することにより、磁界強度の変化を検知する
磁界測定装置であり、望むら(は、Ca−Mg−Zr置
換型Gd5GasO+2基板又はNd3Ga5o12基
板上にエピタキシャル成長してなる磁気光学素子を用い
るものであり、波長0.7μmから0.9μmの間に発
光ピーク波長を持つ光発生手段を用いるものである。
作用
本発明は上記の構成により、高感度で測定精度の温度変
化が小さく、量産性に富んだ磁界測定装置を与えるもの
である。この理由を以下に実施例で詳細に述べる。
化が小さく、量産性に富んだ磁界測定装置を与えるもの
である。この理由を以下に実施例で詳細に述べる。
実施例
本発明に用いる磁気光学素子は、一般式%式%
あるが、この結晶の感度定数の温度変化を第3図に示す
。0.1≦y≦0.7の範囲では、−20゜〜80℃の
温度範囲で±1%以内に収まっており、特(こB i
+、3G do、43Y+27F e50+21こおい
ては、±0.5%以内という良好な特性を示している。
。0.1≦y≦0.7の範囲では、−20゜〜80℃の
温度範囲で±1%以内に収まっており、特(こB i
+、3G do、43Y+27F e50+21こおい
ては、±0.5%以内という良好な特性を示している。
この様な良好な結果を得る前に、この組成範囲で、感度
定数の温度変化が小さくなる事を提案したが、その理由
を以下に述べる。
定数の温度変化が小さくなる事を提案したが、その理由
を以下に述べる。
希土類鉄ガーネットは強磁性体であり、ファラデー効果
は第4図の様にある・一定の磁界で飽和する。磁界測定
には、外部磁界に対して直線的に変化する部分を用いる
。この場合、外部磁界に対する回転角θは、 θ−θp (H/ Ms ) e −・”
(2)θF =ファラデー回転能 Ms :飽和磁化 e:結晶長 で示される。従って感度定数C及びその温度仏性は、 C(T)−θF (T)/ Ms (T) −−(
3)と定規できる。(3)式からもわかる様に、感度定
数の温度変化は、θPとMsの双方の温度変化によって
決定される。
は第4図の様にある・一定の磁界で飽和する。磁界測定
には、外部磁界に対して直線的に変化する部分を用いる
。この場合、外部磁界に対する回転角θは、 θ−θp (H/ Ms ) e −・”
(2)θF =ファラデー回転能 Ms :飽和磁化 e:結晶長 で示される。従って感度定数C及びその温度仏性は、 C(T)−θF (T)/ Ms (T) −−(
3)と定規できる。(3)式からもわかる様に、感度定
数の温度変化は、θPとMsの双方の温度変化によって
決定される。
第5図にB i XG dyYx−<x+y+ F e
5o12のθFの温度変化を示す。測定結果は室温のθ
Fで規格化して示しである。Gdのff1nに対してθ
Pの温度変化は変化していない。これは、Bi置換ff
(x(この場合x=1.0〜1.3)によって決まって
いるからである。第6図に、BiyGdyY3−(x+
y)Fe50+2のMSの温度変化を示す。MSはGd
の量yを増加する事により室温付近での温度変化が小さ
くなっている。従って、B 1xyi−yF’e5 o
12の系の感度定数の温度変化をGdの添加で改善する
事ができた。その結果を第7図に示す。第3図にも示し
た様に、B i 1.3Gdo、+3Y+、27Fe5
012においては、±0.5%以下の良好な温度変化を
示している。これらの結晶は量産性の良いLPE法でC
a−Mg−Zr置換Gd5Gaso+2基板上に成長さ
せたものである。又その感度定数はC=1,4°/ c
m Oe (λ=1.3μm)、及びC= 5 、0
’ / crn Oe (λ=0.85.tzm)と従
来のYIGに比較して大きく、λ=0.85μmの場合
の様に短波長光源を用いる事により、さらに感度が向上
する。従って、この磁気光学素子を用いる事によって、
高感度で、温度安定11.量産性に優れた磁界測定装置
が実現できるものである。
5o12のθFの温度変化を示す。測定結果は室温のθ
Fで規格化して示しである。Gdのff1nに対してθ
Pの温度変化は変化していない。これは、Bi置換ff
(x(この場合x=1.0〜1.3)によって決まって
いるからである。第6図に、BiyGdyY3−(x+
y)Fe50+2のMSの温度変化を示す。MSはGd
の量yを増加する事により室温付近での温度変化が小さ
くなっている。従って、B 1xyi−yF’e5 o
12の系の感度定数の温度変化をGdの添加で改善する
事ができた。その結果を第7図に示す。第3図にも示し
た様に、B i 1.3Gdo、+3Y+、27Fe5
012においては、±0.5%以下の良好な温度変化を
示している。これらの結晶は量産性の良いLPE法でC
a−Mg−Zr置換Gd5Gaso+2基板上に成長さ
せたものである。又その感度定数はC=1,4°/ c
m Oe (λ=1.3μm)、及びC= 5 、0
’ / crn Oe (λ=0.85.tzm)と従
来のYIGに比較して大きく、λ=0.85μmの場合
の様に短波長光源を用いる事により、さらに感度が向上
する。従って、この磁気光学素子を用いる事によって、
高感度で、温度安定11.量産性に優れた磁界測定装置
が実現できるものである。
第1図に本発明による一実施例を示す。磁気光素子子1
はB i 1,3G d(+4zY1.27F eso
+2で、厚み90 μrnのものをCa−M g−Z
r置換Gd5Gaso+2基板上に1ビタキシヤル成長
したものを用いた。2は磁気光学素子]の端面に設けた
偏光子であり、3は磁気光学素子のもう一方の端面に、
偏光子2に対して透過偏光方向が45゛傾(ように設置
した検光子である。偏光子2.検光子3としては、グラ
ン[・ムソンプリズム又は偏光ビームスプリッタを用い
た。磁気光学素子1゜偏光子2.検光子3より構成され
ろ磁気光学変換部は、測定磁%! ()−1)中に配置
され1イ)。4はセルフr ツクレンズで、磁気光学変
換部に入射する光叉は磁気光学変換部を透過した光を平
t1光源にするためのちのである1、5は光伝送路を形
成するオブチ゛カルファイバである。6は光発生手段で
あり、Q 、 8 lノm帯又は1 、3 tt m帯
のLED又はLDを用いる。今回はλ−0、85/l
tnのピーク波長を持つ発光ダイオ゛−ドを用いた。、
7は素子1を通iglた後の光を検知し電気信号に変換
する検知手段であり、(;〈・−PD、5i−PIN
PD等を用いるが、今回は0.85μmのL L’、
Dを用いるので、5i−PIN−PDを用いた。8は
電気回路である。この様な構成において、磁界強度を測
定したところ、1500e以下の磁界を周囲温度−20
°〜+80℃の範囲で、±1%以下の精度で測定する事
が出来た。
はB i 1,3G d(+4zY1.27F eso
+2で、厚み90 μrnのものをCa−M g−Z
r置換Gd5Gaso+2基板上に1ビタキシヤル成長
したものを用いた。2は磁気光学素子]の端面に設けた
偏光子であり、3は磁気光学素子のもう一方の端面に、
偏光子2に対して透過偏光方向が45゛傾(ように設置
した検光子である。偏光子2.検光子3としては、グラ
ン[・ムソンプリズム又は偏光ビームスプリッタを用い
た。磁気光学素子1゜偏光子2.検光子3より構成され
ろ磁気光学変換部は、測定磁%! ()−1)中に配置
され1イ)。4はセルフr ツクレンズで、磁気光学変
換部に入射する光叉は磁気光学変換部を透過した光を平
t1光源にするためのちのである1、5は光伝送路を形
成するオブチ゛カルファイバである。6は光発生手段で
あり、Q 、 8 lノm帯又は1 、3 tt m帯
のLED又はLDを用いる。今回はλ−0、85/l
tnのピーク波長を持つ発光ダイオ゛−ドを用いた。、
7は素子1を通iglた後の光を検知し電気信号に変換
する検知手段であり、(;〈・−PD、5i−PIN
PD等を用いるが、今回は0.85μmのL L’、
Dを用いるので、5i−PIN−PDを用いた。8は
電気回路である。この様な構成において、磁界強度を測
定したところ、1500e以下の磁界を周囲温度−20
°〜+80℃の範囲で、±1%以下の精度で測定する事
が出来た。
また、第2図に示すように、電気回路8を除(同じ構成
の磁気光学変換部9を備えた磁界測定装置wを3個用い
、電気信号処理回路に加算減算処理回路10を用いて3
つの被測定磁界を測定した結果、j3つの被測定磁界強
度の和及び差を精度良(測定する事ができた8第2図に
おいで、5−a。
の磁気光学変換部9を備えた磁界測定装置wを3個用い
、電気信号処理回路に加算減算処理回路10を用いて3
つの被測定磁界を測定した結果、j3つの被測定磁界強
度の和及び差を精度良(測定する事ができた8第2図に
おいで、5−a。
5−b * 5−〇!まオブブーイ力月ファイバ、6−
a 。
a 。
6−b、6−cは光源、7−a+ 7 b、 7
cは光検出器、9−a 、 9−b 、 9−cは磁気
光学変換部である。
cは光検出器、9−a 、 9−b 、 9−cは磁気
光学変換部である。
発明の効呆
以上述べてきたことから明らかな様に、本発明の磁界測
定装置によれば、感度良くか一つ周囲温度の変化に影響
されずに高精度に測定できるt)のであ7〕、その王卒
的(Ill1111′fは大へろもσ)である。
定装置によれば、感度良くか一つ周囲温度の変化に影響
されずに高精度に測定できるt)のであ7〕、その王卒
的(Ill1111′fは大へろもσ)である。
品
第17.第;2図は本発明による磁′:O8辿1定装置
のそ+tそれ実施例の概略図、第;3v、第)図は本発
明に用いた磁気光学素子の感度定数U)温度変化を説明
する図、第4図は希]二類鉄カーネットのファラデー効
果を説明する図、第5図はθ」・の温度変化を;jミす
図、第6図はMSの温度変化を示す図、第8[4はf江
東のY ! G (Y:+F esOB)の感度定数の
温度変化を示す図、第9図はファラデー効果を用いた磁
界の測定原理を示す図である。 1・・・・・磁気光学素子、2・・・・・・偏光イ、3
・・・・・・検=yt r、4・・・・・・セルフォッ
クレンズ、5・・・・・・オプティカルファイバ、6・
・・・・・光源、7・・・・・・光検出器、8・・・・
・・電気回路、9・・・・・・磁気光学変換部、10・
・・・・・電気演算回路。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第2図 第3図 10 2゜ Ga 、i掻t(Y) S 外部ムlhH 第5図 、S 屓 (TEMρεFIATLIRε〕(1第8図 O+00 温 度 (+C) 第9図 DEVIATION (%j
のそ+tそれ実施例の概略図、第;3v、第)図は本発
明に用いた磁気光学素子の感度定数U)温度変化を説明
する図、第4図は希]二類鉄カーネットのファラデー効
果を説明する図、第5図はθ」・の温度変化を;jミす
図、第6図はMSの温度変化を示す図、第8[4はf江
東のY ! G (Y:+F esOB)の感度定数の
温度変化を示す図、第9図はファラデー効果を用いた磁
界の測定原理を示す図である。 1・・・・・磁気光学素子、2・・・・・・偏光イ、3
・・・・・・検=yt r、4・・・・・・セルフォッ
クレンズ、5・・・・・・オプティカルファイバ、6・
・・・・・光源、7・・・・・・光検出器、8・・・・
・・電気回路、9・・・・・・磁気光学変換部、10・
・・・・・電気演算回路。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第2図 第3図 10 2゜ Ga 、i掻t(Y) S 外部ムlhH 第5図 、S 屓 (TEMρεFIATLIRε〕(1第8図 O+00 温 度 (+C) 第9図 DEVIATION (%j
Claims (4)
- (1)透過偏光方向を互いに異ならしめた偏光子と検光
子との間に一般式Bi_xGd_yY_3_−_(_x
_+_y_)Fe_5O_1_2(1.0≦x≦1.4
、0.1≦y≦0.7)で示されるBi置換希土類鉄ガ
ーネット結晶よりなる磁気光学素子を配置した磁気光学
変換部と、前記磁気光学変換部の両端に設けられた光伝
送路と、前記光伝送路に光を入射する光発生手段と、前
記入射光が前記磁気光学変換部を透過した後の光出力を
検知し、電気信号に変換する検知手段と、前記検知手段
からの電気信号を処理する電気回路を備え、前記磁気光
学変換部を磁界中に配置することにより、磁界強度を検
出する事を特徴とする磁界測定装置。 - (2)前項記載の磁気光学変換部を被測定磁界の数だけ
具備し、それぞれの前記磁気光学変換部を透過した後の
光出力を検知し、電気信号に変換する検知手段を被測定
磁界の数だけ設け、各々の前記検知手段からの電気信号
を加減算する信号処理回路を備えた事を特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の磁界測定装置。 - (3)Ca−Mg−Zr置換型Gd_3Ga_5O_1
_2基板上又はNd_3Ga_5O_1_2基板上に、
Bi_xGd_yGd_3_−_(_x_+_y_)F
e_5O_1_2で示され、xの値が1.0≦x≦1.
4及びyの値が0.1≦y≦0.7であるBi置換希土
類鉄ガーネット結晶をエピタキシャル成長して得られる
、磁気光学素子を用いる事を特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の磁界測定装置。 - (4)波長0.7μmから0.9μmの間に発光ピーク
波長を持つ光発生手段を用いる事を特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の磁界測定装置。
Priority Applications (5)
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JP63144263A JPH0731232B2 (ja) | 1988-06-10 | 1988-06-10 | 磁界測定装置 |
DE68911992T DE68911992T2 (de) | 1988-06-10 | 1989-06-07 | Magnetfeldmessgerät. |
EP89110299A EP0345759B1 (en) | 1988-06-10 | 1989-06-07 | A magnetic field measurement apparatus |
KR1019890008023A KR960015986B1 (ko) | 1988-06-10 | 1989-06-10 | 자장측정장치 |
US07/611,397 US5075546A (en) | 1988-06-10 | 1990-11-06 | Magnetic field measurement apparatus |
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JP63144263A JPH0731232B2 (ja) | 1988-06-10 | 1988-06-10 | 磁界測定装置 |
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---|---|
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JPH0731232B2 JPH0731232B2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=15358028
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP63144263A Expired - Fee Related JPH0731232B2 (ja) | 1988-06-10 | 1988-06-10 | 磁界測定装置 |
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Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
JPH04324817A (ja) * | 1991-04-25 | 1992-11-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気光学素子及び磁界測定装置 |
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JPH0476476A (ja) * | 1990-07-19 | 1992-03-11 | Ngk Insulators Ltd | 光磁界センサ |
JPH087255B2 (ja) * | 1990-08-30 | 1996-01-29 | 日本碍子株式会社 | 光磁界センサ及びその製造方法 |
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JPH09230013A (ja) | 1996-02-21 | 1997-09-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁界センサプローブ及び磁気光学素子 |
US6333809B1 (en) | 1996-02-21 | 2001-12-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magneto-optical element |
GB2345549A (en) * | 1998-12-21 | 2000-07-12 | Asea Brown Boveri | Magnetic field sensors |
CN109683187B (zh) * | 2019-02-26 | 2020-06-12 | 中国测试技术研究院 | 基于层叠式探测结构的X/γ和β个人剂量当量测量方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62110162A (ja) * | 1985-11-08 | 1987-05-21 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 零相電流検出装置 |
JPS63107900A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-12 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 磁気光学素子材料 |
Family Cites Families (2)
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JPS58139082A (ja) * | 1982-02-15 | 1983-08-18 | Hitachi Ltd | 磁界測定装置 |
FR2603705B1 (fr) * | 1986-09-05 | 1988-10-28 | Thomson Csf | Tete de mesure de champ magnetique integree et son procede de realisation |
-
1988
- 1988-06-10 JP JP63144263A patent/JPH0731232B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-06-07 DE DE68911992T patent/DE68911992T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-06-07 EP EP89110299A patent/EP0345759B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-06-10 KR KR1019890008023A patent/KR960015986B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62110162A (ja) * | 1985-11-08 | 1987-05-21 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 零相電流検出装置 |
JPS63107900A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-12 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 磁気光学素子材料 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04324817A (ja) * | 1991-04-25 | 1992-11-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気光学素子及び磁界測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE68911992T2 (de) | 1994-07-21 |
EP0345759A2 (en) | 1989-12-13 |
KR910001400A (ko) | 1991-01-30 |
KR960015986B1 (ko) | 1996-11-25 |
EP0345759A3 (en) | 1990-11-14 |
EP0345759B1 (en) | 1994-01-05 |
DE68911992D1 (de) | 1994-02-17 |
JPH0731232B2 (ja) | 1995-04-10 |
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