JPS62150184A - 磁界測定装置 - Google Patents

磁界測定装置

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JPS62150184A
JPS62150184A JP29163685A JP29163685A JPS62150184A JP S62150184 A JPS62150184 A JP S62150184A JP 29163685 A JP29163685 A JP 29163685A JP 29163685 A JP29163685 A JP 29163685A JP S62150184 A JPS62150184 A JP S62150184A
Authority
JP
Japan
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magneto
magnetic field
optical
measuring device
field measuring
Prior art date
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Pending
Application number
JP29163685A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Kamata
修 鎌田
Kazuo Toda
戸田 和郎
Sumiko Morizaki
森崎 澄子
Satoshi Ishizuka
石塚 訓
Koichi Kanayama
光一 金山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPS62150184A publication Critical patent/JPS62150184A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は磁気光学素子によるファラデー回転を観測して
磁界を検出し、その磁界強度を測定する磁界測定装置に
関するものである。
従来の技術 最近、磁界強度を光を用いて測定する方法として、磁気
光学効果を利用する方法が提案されている(例えば、入
間らによる 文献アイ イーイーイー(I E E E
) Q′E−1s  1e19(1982))。
特に、電流が流れている導体の周りの磁界強度を測定し
て電流を検知する方法は、光を媒体とするために、絶縁
性が良好である、電磁誘導ノイズを受けない等の特徴を
持ち、送配電設備への適用、特に系統保護等への応用が
考えられている。
従来、複数個の被測定磁界の加減算と行なうためには、
複数個所に光磁界測定装置を設置し、各測定装置からの
信号を電気的演算器に入力して、演算を行なっていた。
また、例えば、特開昭60−102566号公報に示さ
れている光方式電圧測定装置があり、これを第2図に示
す。この従来例は、電圧測定に関するものであるが、光
学的に加減算する構成は同じである。すなわち、発光部
1から放射された光は、光ファイバ2、レンズ3、偏光
子4を透過し、直線偏光の平行光となり、μ波長板6で
円偏光となる。この光は、各々に被測定電圧V、、V2
.V。
を印加した電気光学素子eA、eB、eCを通過し、v
l、v2.v5  の電圧に対応した位相変調を受け、
楕円偏光となる。この楕円偏光は、検光子7により直交
しだ2成分の光に分離され、各々集光レンズ8,9によ
り受光素子12.13に導かれ、検出回路14により、
被測定電圧V、、V2゜v3 の加減演算を行なうもの
である。これは、電気光学効果の加減演算が可能である
事を利用したものであるが、磁気光学効果の場合も同様
であり、複数個の被測定磁界の加減算も、rift記電
気光電気光学素子6A、ecの代りに、磁気光学素子を
用いる事によって可能である。
発明が解決しようとする問題点 しかるに、第2図に示すような構成では、電気光学素子
6A、6B、6Cは各々空気を介して光学的に接続され
ているために、端面が雰囲気中のダストや、結露現象な
どにより汚染され、光出力の損失増加の原因となり、こ
れに伴ない感度の低下が生じる。
また、電気光学素子6A、6B、6Cの各々の間隔を大
きくすると、振動、温度変化による光軸ズレが原因で、
光出力の損失増加をまねき、感度が低下する。従って、
複数の電圧測定個所が比較的離れて存在している場合へ
の適用に限界がある。
この事情は磁気光学素子を用いた磁界測定装置の場合で
も同じである。
問題点を解決するための手段 本発明は、上記の問題点を解決するために、複数個の磁
気光学素子を偏波面保存型光ファイバを介して連続的に
直列配置し、さらに最終段の磁気光学素子を透過した光
を反射体で反射し、再度前記複数個の磁気光学素子及び
、偏波面保存型光ファイバ、及び波長板を透過させ、か
つ前記最終段の磁気光学素子と前記反射体の間に、飽和
磁場中において、透過光の偏波面が45°回転する機能
を有する磁気光学素子を挿入するものである。さらに、
望むらくは、前記磁気光学素子に一般式%式%) れる希土類鉄ガーネット混晶を用いるものである。
作用 本発明は、上記の方法により、複数個の磁気光学素子の
端面の光が透過する部分を完全に空気からしゃ断するこ
とが可能であり、空気によるダストや結露現象によって
生じる光出力の損失増加が防止でき、まだ偏波面保存型
光ファイバの長さを変えることにより、複数の磁界測定
個所が比較的離れて存在している場合にも適用が可能と
なる。
又、一般的に偏波面保存型光ファイバは、互いに直交す
る固有軸の各々の方向での伝般定数の温度特性に差があ
る。従って各々の固有軸の方向と異なった直線偏光が入
射した場合、各々の固有軸に伝搬した場合、周囲温度変
化が原因で位相変化を受け、楕円化を受け、少し感度低
下が起るが、最終段の磁気光学素子と反射体の間に、往
復で90゜偏波面を回転させる磁気光学素子を設ける事
で解決している。また複数個の磁気光学素子に、ヴエル
デ定数の温度変化が無い希土類鉄ガーネット結晶(Tb
XYI −X )5 Fe50+zを用いる事によって
、周囲温度の変化に対して、測定精度が良好な測定装置
を得る事ができる。
実施例 以下に本発明による一実施例を示す。第1図にその構成
を示す。磁“気光学素子20&、20b。
20C(三個所の磁界測定の場合)に、(Tbalp 
Yo、a+ ’)sFe50,2 結晶を用いた。45
°回転、(往復で90’回転)用磁気光学素子21には
、Y、Fe、、012結晶を2.1m先軍みにして用い
、Sm−Goからなる磁石22の中に設置したものを用
いた。偏光子と検光子16は、偏光ビームスプリッタを
用いて共用とした。光源18に半導体レーザを用い、受
光器17にはPIN−PDを用いた。偏波面保存型ファ
イバ15a、15b、1scのそ汎ぞれの長さは、15
aは10772.15b、 16Cは2mとした。位相
板19は水晶結晶をクサビ状に研磨して用い、任意の波
長板となる様に設定しである。
反射体23は誘電体多層膜ミラーを用いた。
本実施例の場合、磁界H1+ H2+ H5が交流。
直流にかかわらず、外部磁界亀子a2−4−H5の測定
精度は周囲温度が一20’C〜110°Cと変化しても
、±1%以内におさまっており、H1+H2+H5””
0.030s最最少検出度であり、高感度な測定装置が
得られた。
発明の効果 以上述べてきたように、本発明によれば、複数個の磁気
光学素子を偏波面保存型光ファイバを介して直列配置す
る事により、雰囲気の影響を受ける事がない信頼性に富
んだ磁界測定装置を提供することかできる。しかも、反
射型の光回路、及びグエルデ定数の温度安定化に優れた
磁気光学結晶を用いる事によって、周囲温度変化にズ=
j しても1llll定精度が変化しない磁界測定装置
全提供することができ、その工業的価値は犬なるもので
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における磁界測定装置の構成
図、第2図は従来の光方式電圧測定装置の構成図である
。 15・・・・・偏波面保存型光ファイバ、16 ・・・
・偏光子(検光子)、17・・・・・・受光器、18・
・・・・光源、19・・・・・位相板、20.21・・
・・・・磁気光学素子、22・・・・・・磁石、23・
・・・・・反射体。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名−Q 第2図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)入射光を2つの直線偏光の光に分離する偏光子と
    検光子の透過偏光方向を互いに異ならしめ、前記偏光子
    と検出子との間に磁気光学素子を配置してなる磁気光学
    変換部を有する磁界測定装置であって、前記磁気光学素
    子を被測定磁界の数だけ、偏波面保存型光ファイバを介
    して連続的に直列配置し、光路の任意の場所に波長板を
    設け、前記磁気光学素子の各々にそれぞれ独立に被測定
    磁界を印加し光学的に加減算するように構成した磁界測
    定装置。
  2. (2)複数個の磁気光学素子の最終段の磁気光学素子を
    透過した光を反射体で反射し、再度、前記複数個の磁気
    光学素子及び、偏波面保存型光ファイバ、及び波長板を
    透過させ、かつ、前記最終段の磁気光学素子と前記反射
    体の間に、飽和磁場中において、透過光の偏波面が45
    °回転する機能を有する磁気光学素子を挿入してなる特
    許請求の範囲第1項記載の磁界測定装置。
  3. (3)磁気光学素子に、一般式(Tb_xY_1_−_
    x)_3Fe_5O_1_2(0.1≦x≦0.3)で
    示される希土類鉄ガーネット混晶を用いる特許請求の範
    囲第1項記載の磁界測定装置。
JP29163685A 1985-12-24 1985-12-24 磁界測定装置 Pending JPS62150184A (ja)

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JPS62150184A true JPS62150184A (ja) 1987-07-04

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0598356A2 (en) * 1992-11-16 1994-05-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Polarization state detector and current sensor using it
JP2007057324A (ja) * 2005-08-23 2007-03-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光ファイバ型計測システム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0598356A2 (en) * 1992-11-16 1994-05-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Polarization state detector and current sensor using it
EP0598356A3 (en) * 1992-11-16 1995-03-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Polarization state detector and current sensor using it.
JP2007057324A (ja) * 2005-08-23 2007-03-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光ファイバ型計測システム

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