JPS60375A - 磁界測定装置 - Google Patents

磁界測定装置

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JPS60375A
JPS60375A JP10874583A JP10874583A JPS60375A JP S60375 A JPS60375 A JP S60375A JP 10874583 A JP10874583 A JP 10874583A JP 10874583 A JP10874583 A JP 10874583A JP S60375 A JPS60375 A JP S60375A
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JP
Japan
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magneto
light
magnetic field
polarizer
magnetooptical
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Pending
Application number
JP10874583A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Kamata
修 鎌田
Kazuo Toda
戸田 和郎
Sumiko Takiuchi
滝内 澄子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPS60375A publication Critical patent/JPS60375A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/032Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect
    • G01R33/0322Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect using the Faraday or Voigt effect

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、磁気光学素子によるファラデー回転を観測し
て磁界を検出し、その磁界強度を測定する装置に関する
ものである。
従来例の構成とその問題点 最近、磁界を測定する従来から周知のホール素子等に代
って、磁気光学効果の一つであるファラデー効果を利用
する方法が提案されている。光を媒体とするために、絶
縁性が良好である、電磁誘導ノイズを受けない等々の特
徴を持ち、発送電設備内の高圧、大電流測定、溶接機の
電流測定への応用がある。
第1図にファラデー効果を用いた磁界の測定方法の原理
図を示す。第1図において磁界H中に磁気光学素子1が
配置されている。この磁気光学素子1に偏光子2で直線
偏光(矢印で示されている)にされた光を通過させる。
ファラデー効果により、偏光面は磁界強度Hに比例して
回転を受ける。その回転角はθで示されている。回転を
受けた偏光は偏光子2と透過偏光方向を異らしめた検光
子3を通過し、回転角θの大きさが光量変化に変換され
る。例えは、偏光子2と検光子3の透過偏光方向を45
°異らしめた場合、検光子3を透過したのちの光量変化
は次式で示される。
ΔI = K sin 2θ −−(1)ここでθ−V
 If t、Δ■は光量変化量、Kは比例定数、θはフ
ァラデー回転角〔度〕、■は、ヴエルデ定数と呼ばれる
もので、単位は(”/c−・Oe〕であり、磁気光学素
子の感度を表わすものである。
従来、強磁性ガーネット結晶、常磁性磁気光学素子、反
磁性磁気光学素子が、代表的な磁気光学素子1として使
用されているが、単体及び単一波長で使用される場合が
多い。反磁性磁気光学素子としては、鉛ガラス、Zn5
e、ZnTe等のn−v+族結晶、等が知られており、
常磁性磁気光学素子としては、常磁性ガラスが知られて
いる。これらの前記ヴエルデ定数は、例えばZn5eの
場合波長0.82μmの光でV = 0.34X 10
−20/′CTnで小さく、高感度なものはない。した
がって、高磁界の測定には向いている。また、Y 3F
 e 5012で代表される強磁性ガーネット結晶のフ
ァラデー効果は大きく、高感度である。しかしながらこ
れは、強磁体である事から、第2図に示す様に、ある磁
界強度具」二では、ファラデー効果が飽和し、測定範囲
を限定する原因となっている。まだ、強磁性ガーネット
結晶は、波長1.1μm〜2.0μmの光は透過するが
それ以外の波長域では吸収が大きい。例としてY 3F
 e s 012の場合を第3図に示す。したがって、
前記結晶は波長1.1μm〜2.0μmの光で用いられ
る。
発明の目的 本発明は上記の欠点を鑑みてなされたものであり、精度
が良好でなおかつ広領域な測定範囲を持ち、小型で信頼
性に優れた磁界測定装置を提供するものである。
発明の構成 本発明は入射光を2つの直線偏光の光に分離する偏光子
と、2つの検光子において、前記偏光子の第1の直線偏
光方向と第1の検光子の直線偏光方向を互いに異ならし
めて、その間に強磁性ガーネット結晶よりなる第1の磁
気光学素子を配置し、かつ偏光子の第2の直線偏光方向
の第2の検光子の直線偏光方向を互いに異ならしめて、
その間に常磁性磁気光学素子又は反磁性磁気光学素子よ
り々る第2の磁気光学素子を配置した磁気光学変換部と
、前記磁気光学部の両端に設けられた3つの光伝送路と
、前記第1の光伝送路に波長がたとえば1.1〜2.0
μmである第1の光及び波長がたとえば0.5μm〜1
.0μm である第2の光を入射する光発生手段と、前
記入射光が磁気光学変換部を透過し、前記第2と第2の
光伝送路に導かれた光の出力をそれぞれ検知する第1.
第2の検知手段を備え、磁気光学変換部を磁界中に配置
することにより、磁界強度を前記検知部で検出するもの
である。
実施例の説明 本発明においては、従来の磁気光学素子単体を用いた場
合の欠点、感度が悪い事または回転角が飽オI」する事
を、第1.第2の磁気光学素子を併用る事によって解消
し、高感度で広領域な測定範囲を持った装置を提供でき
るたけでなく、第1.第2の磁気光学素子の欠点をも利
用して小型で信頼性に優れた装置を提供している。つ捷
り、第1の磁気光学素子を透過してくる光は波長1.1
μm〜2.0μmの第1の光だけであり、波長0.3μ
m〜2.071mの第2の光は吸収されてしまい、第1
の検知部には第1の光のみの出力が検知される。一方、
第2の磁気光学素子は第16光、第2の光の双方を透過
するが、第2の磁気光学素子の第1の光に対するファラ
デー効果は、第2の光に対するファラデー効果に対して
小さく無視できるものである。しだがって、第2の検知
部には第2の光に対する出力のみが検知される。従がっ
て、第1゜第2の磁気光学素子は、一種のフィルター作
用を示し、分波器等の光学部品が不必表となる。
以下に本発明の実施例による磁界測定装置を説ダ 明する1、第81ヅ1にお・いて本発明の一実施例を説
明する。図面において1−a は、強磁性ガーネット結
晶のうち良好な温度特性を持具(Tbo、 19Y0.
18 )3F e5012で示される結晶であり、厚み
が1.3mmとなるように両側面が平行鏡面研磨されて
いる。1−すは、反磁性磁気光学素子として■−■族結
高結晶るZn5e単結晶であり厚みが10mmとなるよ
うに両側面が平行鏡面研磨されている。2は光を二つの
直線偏光に分離するだめの偏光子であり、ここではウォ
ラストンプリズムを用いている。3−a、3−bは、偏
光子2によって偏光分離されたそれぞれの直線偏波方向
に対して、透過偏光方向が46°傾くように設置された
検光子である。
検光子3−a、3−bとして、温度特性が良くまた機械
的強度に寸ぐれており偏光特性が良好なT 102結晶
よりなる偏光分離板を用いた。
強磁性ガーネット結晶1−81反磁性磁気光学素子1−
b偏光子2、検光子s−a、3−bからなる磁気光学変
換部は、磁界H中に配置される。
4−a 、 4−b 、 4−cは、それぞれセルフォ
ックレンズであり、レンズ4−aは、磁気光学変換部に
入射する光を平行光線にするものであり、レンズ4−b
、4−cは、磁気光学変換部を透過した光を集光するも
のである。5−a、5−b、5−Cは第11第2+第3
の光伝送路を形成するオプチカルファイバである。6は
、ファイバ5−aに光を入射する光源であり、1.1〜
2.0pmの範囲のうち波長1.27μmのものと、0
.6μm〜7.0/1mのうち波長0.82μmのもの
を用いている。
7−a、7−bil’f、、磁気光学変換部を透過した
光出力の第1.第2の検知手段で、ここで検知した光強
度に応じて電気信号(I、、I、)に変換され低磁界の
場合は工1.高磁界の場合は工、を測定量とする。7−
aには、ゲルマニウムフォトダイオード、7−bKはシ
リコンP I N 7 t hグイオートを使用した。
本実施例における磁界の測定量2の検知手段による電気
信号工、ば260 0e〜26000e の磁界の測定
に用いられている。電気信号ij H= 2600eで
一致する様に更止されている。Q〜26000eの範囲
で振幅誤差が±1係以内になっており良好なものであっ
た。
なお、本実施例において、強磁性ガーネット結晶1−a
に”’0.19Y0.81 ) 3Fe5012結晶を
用いたが、Y3F @ 5o12で代表される希土類鉄
ガーネット結晶ならどれを用いても良い。又、反磁性磁
気光学素子1−bにZn5eを用いたが、鉛ガラスを用
いても良い。又常磁性磁気光学素子1−bに、常磁性ガ
ラス、希土類を含むガリュウムガーネット結晶、アルミ
ニウムガーネット結晶を用いても良い。偏光子2にウォ
ラストンプリズムを用いたが、ロノションプリズム、偏
光分離板、偏光ビームスプリッタ−を用いても良い。又
検光子3−a。
s−bに偏光分離板を用いだが、ウォラストンプリズム
、ロノションプリズム、偏光ビームスプリッタ−、グラ
ントムソンプリズムを用いても良い。
発明の効果 以」−述べたことから明らかなように、本発明の磁界測
定装置によれば、精度が良好でなおかつ広領域な測定範
囲が得られるものであり、かつ小型で信頼性に優れたも
のであり、その工業的価値は犬なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はファラデー効果を用いた磁界測定装置の基本原
理を説明するだめの図、第2図は強磁性ガーネット結晶
のファラデー効果の飽和を説明する図、第3図は、Y3
Fe ’5012の吸収特性を示す図、第4図は、本発
明の一実施例における磁界測定装置を説明するだめの図
、第6図は本発明を実施した結果を示す図である。 1−a・・・・・・強磁性ガーネット結晶、1−b・・
・−・・常磁性磁気光学素子又は反磁性磁気光学素子、
2・・・・・・偏光子、3−a、b・・・・・・検光子
、4−a、b。 C・・・・・・セルフォックレンズ、6−a 、 b 
、 c、、。 オプチカルファイバ、6・・・・光発生手段、7−a。 b・・・・・・光検知手段。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 一鎌萼H 第3図 1、t/)L7n /、5.ltm 2.0)tq第4
図 ′7a 第5図 νe 名A χL 踵 夜 H

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 入射光を2つの直線偏光の光に分離する偏光子と第1.
    第2の検光子を有し、前記偏光子の第1の直線偏光と前
    記第1の検光子の直線偏光方向を互いく異ならしめて、
    その間に強磁性ガーネット結晶よりなる第1の磁気光学
    素子を配置し、かつ前記偏光子の第2の直線偏光方向と
    前記第2の検光子の直線偏光方向を互いに異ならしめて
    その間に常磁性磁気光学素子又は反磁性磁気光学素子よ
    りなる第2の磁気光学素子を配置した磁気光学変換部と
    、前記磁気光学変換部の両端に設けられた3つの光伝送
    路と、前記第1の光伝送路に第1の光及び第2の光を入
    射する光発生手段と、前記入射光が前記磁気光学変換部
    を透過し、前記第2と第3の光伝送路に導かれた光の出
    力をそれぞれ検知する第1と第1の検出手段を備え、前
    記磁気光学変換部を磁界中に配置することにより、磁界
    強度を前記検知部で検出することを特徴とする磁界測定
    装置。
JP10874583A 1983-06-16 1983-06-16 磁界測定装置 Pending JPS60375A (ja)

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JPS60375A true JPS60375A (ja) 1985-01-05

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ID=14492433

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JP (1) JPS60375A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0316081U (ja) * 1989-06-29 1991-02-18
JPH0572307A (ja) * 1991-09-18 1993-03-26 Ngk Insulators Ltd 磁界測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0316081U (ja) * 1989-06-29 1991-02-18
JPH0572307A (ja) * 1991-09-18 1993-03-26 Ngk Insulators Ltd 磁界測定装置

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