JPH01293514A - バイパス回路素子 - Google Patents

バイパス回路素子

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JPH01293514A
JPH01293514A JP12449888A JP12449888A JPH01293514A JP H01293514 A JPH01293514 A JP H01293514A JP 12449888 A JP12449888 A JP 12449888A JP 12449888 A JP12449888 A JP 12449888A JP H01293514 A JPH01293514 A JP H01293514A
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JP
Japan
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capacitor
resistor
bypass circuit
circuit element
circuit device
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Pending
Application number
JP12449888A
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English (en)
Inventor
Takashi Nakabayashi
隆志 中林
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/647Resistive arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
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    • HELECTRICITY
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    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
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  • Power Engineering (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はバイパス回路素子に関し、特に詳細には、電子
回路等の電源等に接続されるバイパス用の回路素子に関
する。
〔従来技術〕
電子回路等を安定な状態で動作させるためには、そこに
供給される電流又は電圧が変動せず、特に、その電流又
は電圧に高周波成分が含まれていないことが要求される
そこで、この様な高周波成分の変動を除去するため、電
源等の出力端にコンデンサーを接続し、そのコンデンサ
ーの一端を接地することにより、電源等の出力に含まれ
る高周波成分を取り除いていた。
この様な従来の構成を第6図に示す。第6図において、
電子回路1の電源端子2に電源3の出力端子4に接続さ
れている。この電源3の出力端子4には更にコンデンサ
ー5が接続され、このコンデンサー5の一端5aは接地
されている。このように接続されたコンデンサー5はバ
イパスコンデンサーとしての役割を果たし、電源より供
給される電流又は電圧に含まれる高周波成分を取り除く
ことができる。
〔発明の解決しようとする課題〕
先に説明した方法では、電子回路とバイパスコンデンサ
ーとの間でループが形成され、電子回路内を流れる信号
の周波数によっては、発振を起こす場合がある。すなわ
ち、バイパスコンデンサーを挿入したことにより、電子
回路の機能にかえって悪影響を与えることがある。
本発明は上記問題点を解決し、この様な悪影響を防止す
ることができ、かつその使用、実装が容易なバイパス回
路素子を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のバイパス回路素子では、コンデンサーと抵抗と
を含み、前記コンデンサーと前記抵抗とが一体的に構成
されていることを特徴とする。
〔作用〕
本発明のバイパス回路素子では、コンデンサーと抵抗と
を組み合わせ、一体的に構成することにより、取扱が容
易であり、バイパスコンデンサーに抵抗を挿入したこと
によりバイパスコンデンサーを通る高周波成分に対して
適当な減衰を与える。
〔実施例〕
以下図面を参照しつつ本発明に従う実施例について説明
する。
同一符号を付した要素は同一機能を有するため重複する
説明は省略する。
第1図は本発明に従うバイパス回路素子の回路構成及び
電子回路等に接続したときの回路構成を示す。
第1図において、バイパス回路素子6の一端6aが接地
されており、他端6bが、電子回路1の電源端子2及び
電源3の出力端子4に接続されている。そして、バイパ
ス回路素子6の内部には、抵抗7及びコンデンサー8が
直列に接続されている。そして、抵抗7及びコンデンサ
ー8は、一体的に1つの部品となるように構成されてい
る。電子回路1の詳細は本発明と特に関係ないので、省
略しである。
第2図にバイパス回路素子の具体的構成の1例を示す。
この第2図では、抵抗7とコンデンサー8が直列に接続
されており、これらの抵抗7とコンデンサー8とが一体
的にモールドされている。そして、接続端子68% 6
bがこの一体化されたモールドの両端から外部に伸びて
いる。このように一体化することにより、抵抗とコンデ
ンサーとを互いに接続する処理が必要なくなり、容易に
電源等にバイパス回路素子を接続することができる。
第3図にバイパス回路素子の別の一例叡示す。
この第3図に示す例では、抵抗体7及びコンデンサー8
をダイキャップ型に形成し、これらを互いに積層してい
る。そして、積層体の上下面に電極9a及び9bを設け
、全体としてダイキャップ型に構成している。このよう
に構成することにより、コンパクトで実装しやすいバイ
パス回路素子を実現できる。
この第3図に示すバイパス回路素子を製造する方法の一
例を以下に説明する。
まず絶縁基板、例えば、シリコン基板等の表面にスパッ
タリング等により導電層を形成する。この絶縁基板の種
類及び厚さ、導電層の種類及び厚さは、求められる電気
容量及び抵抗値により選択される。次に、この基板の上
下表面に電極となる金属を蒸着する。この蒸着された電
極上にフォトレジストを塗布し、フォトリソグラフィ法
により、矩形状の電極パターンを形成し、このパターン
にそって分割する。このように形成することにより第3
図に示すようなバイパス回路素子を一度にかつ多量に製
造することができる。
第4図(a)に上記バイパス回路素子を半導体チップの
パッケージに実装した例を示す。
第4図(a)に示す実装例では、その実装するパッケー
ジ10の半導体チップのダイボンデング部は導体で形成
され、パッケージ10のインナーリード形成面12には
、多数のインナーリード13.14.17aが形成され
ている。ここで、インナーリード13は電源19に接続
され、インナーリード17aは接地される。更にダイキ
ャップ型のバイパス回路素子16は、半導体チップ18
のパッケージ10内でのダイボンデング面にダイボンデ
ングされている。そして、そのダイボンディング面が抵
抗体側の端子である下側電極9bに接続されている。一
方ダイボンディングされた半導体チップ18の上面には
電源用パッド16V1接地用パツド16G、信号出力用
パッド16Sが形成されている。ここで、接地用パッド
16Gは、ダイボンディング面にワイヤーボンディング
され、このダイボンディング面は接地されているインナ
ーリード17aにワイヤーボンディングされている。こ
のように接続することにより、バイパス回路素子の下側
電極9bは接地されることになる。更に、電源19に接
続されたインナーリード〕3はバイパス回路素子16の
上側電極9aにワイヤーボンディングで接続され、更に
この上側電極9aは半導体チップ18上の電源用パッド
16vにワイヤーボンディングで接続されている。この
ように構成することにより、第1図に示す回路を構成す
ることができる。
次に、第4図(b)に上記バイパス回路素子を半導体チ
ップのパッケージに実装した別の例を示す。
第4図(b)に示す実装例では、その実装するパッケー
ジ10の構造は、複数のセラミック板を積層することに
より形成され、パッケージ10のインナーリード形成面
12には多数のインナーリード13.14が形成されて
いる。ここで、複数のインナーリードのうちのパッケー
ジ10の隅部に近接したインナーリード13は、rTJ
字状にパターン形成されてパッケージ10の隅部から伸
びている。このインナーリード13は外部の電源19に
接続するように構成される。そして、半導体チップ18
がこのパッケージ10内にダイボンディングされている
一部ダイボンディングされた半導体チップ18の上面に
は先に説明した実装例と同様に電源用パッド16v1接
地用パツド16G1信号出力用パッド16Sが形成され
ている。
更にパッケージ1の上面周囲部にはA u S n s
Au Ge 、Ag Sn等の導電性合金よりなるシー
ル材17が設けられ、このシール材17はパッケージ1
0とそれを封止するキャップとの接着にもちいられる。
そして、このシール材17はパッケージ10の隅部に対
応する部分で他の部分よりも内方に伸び、この延長部が
パッケージ10の角隅部に一致するように形成されてい
る。更にこのシール材17の上面にはAu等よりなるメ
タライズ層15が設けられ、このメタライズ層15の一
部はアウターリード(図示せず)に接続され、このアウ
タリードが接地されるように構成゛されている。
このように構成されたパッケージ10の角隅部に第3図
に示すバイパス回路素子16が載置固定されている。そ
して、このバイパス回路素子の下側電極9bがインナー
リード13に接触し、電気的接続が保たれる。更に、バ
イパス回路素子16の上側電極9aは、パッケージ10
をキャップで封止する際、シール材17の延長部が溶融
され垂れ下がりシール材17の上側電極9aに接触する
これにより、バイパス回路素子16の上側電極9aは、
シール材17及びメタライズド層15を介して接地され
る。
先に説明したようにバイパス回路素子16をパッケージ
10内に固定した後、インナーリード13を半導体チッ
プの電源用パッド16Vに、インナーリード14を半導
体チップの信号用パッド16Sに、更に、接地用パッド
16Gをバイパス回路素子の上側電極9aにそれぞれボ
ンディング接続する。
ボンディング接続完了後、パッケージ10にキャップを
かぶせ、封止する。この封止の際、先に説明したように
−、バイパス回路素子16の上側電極9aは接地される
このようにバイパス回路素子をパッケージ10に実装す
ると、第1図に示すような回路を構成することができる
このようなバイパス回路素子をインバータ回路の電源に
接続し、そのインバータ回路の入力電圧と出力電圧とを
測定したところ、第5図(b)に示すような安定なイン
バータ特性を得ることができた。これに対し、従来のバ
イパスコンデンサーのみをインバータ回路に接続し、そ
の入出力電圧を測定したところ第5図(a)に示す様に
、遷移領域で、不安定となる結果が得られた。この実験
結果より、本発明のバイパス回路素子を用いたときのほ
うが、好ましいことが確かめられた。
本発明は上記実施例に限定されるものでなく、種々の変
形例が考えられ得る。
具体的には、先に説明したグイキャップ型バイパス回路
素子の製造方法では、絶縁基板上に導電層を形成し、更
に電極を形成しているが、絶縁基板の代わりに、電極板
上に絶縁層をスパッタリング法等で形成し、更にその上
に導電層をスパッタリング法等で形成してもよい。
更に上記実装構造ではバイパス回路素子の上側電極の接
地をシール材の溶融垂れ下がりを利用して行っているが
、接地されるインナーリードを設け、このインナーリー
ドにボンディング接続するようにしてもよい。
上記実施例では、バイパス回路素子のコンデンサー側の
端子が常に接地されるように配置している。これは、こ
のようにすることが電気特性上好ましいからである。し
かし、逆に抵抗体側の端子が接地するように構成しても
、本発明の効果を十分得ることができる。
〔発明の効果〕
本発明のバイパス回路素子では、この回路素子を従来の
バイパスコンデンサーの代わりに用いることにより、電
子回路の動作を安定化することができる。
更に、このバイパス回路素子をダイキャップ構造に形成
することにより、取扱が容易となる。特に、この様なバ
イパス回路素子を半導体チップのパッケージに装着する
際、電気接続等が簡単に行なえる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明のバイパス回路素子の回路構成説明図
、第2図は、本発明のバイパス回路素子の一例を示す図
、第3図は、本発明のバイパス回路素子の別の一例を示
す図、第4図は、第3因に示すバイパス回路素子を半導
体チップパッケージ内へ実装する実装構造を示す図、第
5図は、本発明のバイパス回路素子と従来のバイパス回
路素子の効果の比較を説明する図、第6図は、従来のバ
イパスコンデンサーの電気接続例を示す図である。 1・・・電子回路、2・・・電源端子、3・・・電源、
4・・・電源の出力端子、5.8・・・コンデンサー、
6・・・バイパス回路素子、7・・・抵抗、6 a %
 6 b・・・接続端子、9a・・・上側電極、9b・
・・下側電極、10・・・パッケージ、12・・・イン
ナーリード形成面、13.14・・・インナーリード、
15・・・メタライズ層、16・・・バイパス回路素子
、17・・・シール材、18・・・半導体チップ。 特許出願人  住友電気工業株式会社 代理人弁理士   長谷用  芳  樹間      
   寺   嶋   史   朗−′ 本発明の回路構成 第】図 6a            6b 第2図 a 本発明の第2実施例 第3図 (a) 実装構造 第4図 (b) 実装構造 第4図 第6図 効果j 第5 比較 図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.コンデンサーと抵抗とを含み、前記コンデンサーと
    前記抵抗とが一体的に構成されているバイパス回路素子
  2. 2.前記コンデンサーがセラミックコンデンサーであり
    、前記抵抗と共に一体的にモールドされている請求項1
    記載のバイパス回路素子。
  3. 3.前記コンデンサーと前記抵抗とがダイキャップ型の
    積層構造になっており、その積層構造体の上下表面に電
    極が設けられている請求項1記載のバイパス回路素子。
JP12449888A 1988-05-20 1988-05-20 バイパス回路素子 Pending JPH01293514A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12449888A JPH01293514A (ja) 1988-05-20 1988-05-20 バイパス回路素子

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JP12449888A JPH01293514A (ja) 1988-05-20 1988-05-20 バイパス回路素子

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JPH01293514A true JPH01293514A (ja) 1989-11-27

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ID=14886978

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JP12449888A Pending JPH01293514A (ja) 1988-05-20 1988-05-20 バイパス回路素子

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