JPH01287991A - クロスオーバ形成方法 - Google Patents
クロスオーバ形成方法Info
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- JPH01287991A JPH01287991A JP11598888A JP11598888A JPH01287991A JP H01287991 A JPH01287991 A JP H01287991A JP 11598888 A JP11598888 A JP 11598888A JP 11598888 A JP11598888 A JP 11598888A JP H01287991 A JPH01287991 A JP H01287991A
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- Pending
Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/101—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by casting or moulding of conductive material
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
厚膜混成集積回路の配線のクロスオーバする部分の形成
方法に関し、 上部導体印刷時に導体ペーストのにじみによる導体幅の
拡大により発生する短絡等の不具合を防止することを目
的とし、 第1の厚膜配線パターンに第2の複数本の平行した厚膜
配線パターンが交差するとき、第1の配線パターンを形
成すると共に、第2の配線パターンを交差部を除いて形
成した後、該交差部の上に絶縁層を形成し、その上に前
記第2の配線パターンを接続するように上部導体パター
ンを形成するクロスオーバ形成方法において、上記上部
導体パターンを形成する前に、前記絶縁層の上に、後で
形成する上部導体パターンの隣接パターン間に絶縁体の
パターンを形成するように構成する。
方法に関し、 上部導体印刷時に導体ペーストのにじみによる導体幅の
拡大により発生する短絡等の不具合を防止することを目
的とし、 第1の厚膜配線パターンに第2の複数本の平行した厚膜
配線パターンが交差するとき、第1の配線パターンを形
成すると共に、第2の配線パターンを交差部を除いて形
成した後、該交差部の上に絶縁層を形成し、その上に前
記第2の配線パターンを接続するように上部導体パター
ンを形成するクロスオーバ形成方法において、上記上部
導体パターンを形成する前に、前記絶縁層の上に、後で
形成する上部導体パターンの隣接パターン間に絶縁体の
パターンを形成するように構成する。
本発明は、厚膜混成集積回路の配線のクロスオーバする
部分の形成方法に関する。
部分の形成方法に関する。
従来、混成集積回路において、厚膜による回路パターン
が混み入って2つの配線が交差するような場合等には、
第3図に示すように、基板1の上に形成された下部導体
2上の所望の部分にガラス等を主成分とする絶縁体4を
形成し、その上面に下部導体3を接続するように上部導
体5を形成して回路パターンを構成するクロスオーバ法
がしばしば用いられている。
が混み入って2つの配線が交差するような場合等には、
第3図に示すように、基板1の上に形成された下部導体
2上の所望の部分にガラス等を主成分とする絶縁体4を
形成し、その上面に下部導体3を接続するように上部導
体5を形成して回路パターンを構成するクロスオーバ法
がしばしば用いられている。
上記従来のクロスオーバ法において、絶縁体4は下部導
体2の上にガラスペーストを印刷し、乾燥・焼成を経て
形成されるが、その表面は、第3図(c)の断面図に示
すように、スクリーン印刷による凹凸、下部導体2によ
る凸部、下部導体3との段差等により表面の状態がかな
り粗くなる。
体2の上にガラスペーストを印刷し、乾燥・焼成を経て
形成されるが、その表面は、第3図(c)の断面図に示
すように、スクリーン印刷による凹凸、下部導体2によ
る凸部、下部導体3との段差等により表面の状態がかな
り粗くなる。
このため該絶縁体4の上にスクリーン印刷Iにより上部
導体5を印刷すると、にじみ等が生じてパターン幅が広
くなり、短絡等の原因となる。また短絡を回避するため
パターン間隔を広げると配線密度が下り、基板を大きく
しなければならないという問題が生ずる。
導体5を印刷すると、にじみ等が生じてパターン幅が広
くなり、短絡等の原因となる。また短絡を回避するため
パターン間隔を広げると配線密度が下り、基板を大きく
しなければならないという問題が生ずる。
本発明は、上部導体印刷時に導体ペーストのにじみによ
る導体幅の拡大により発生する短絡等の不具合を防止で
きるクロスオーバ形成方法を提供することを目的とする
。
る導体幅の拡大により発生する短絡等の不具合を防止で
きるクロスオーバ形成方法を提供することを目的とする
。
上記目的は、第1の厚膜配線パターン2に第2の複数本
の平行した厚膜配線パターン3が交差するとき、第1の
配線パターン2を形成すると共に、第2の配線パターン
3を交差部を除いて形成した後、該交差部の上に絶縁層
4を形成し、その上に前記第2の配線パターン3を接続
するように上部導体パターン5を形成するクロスオーバ
形成方法において、上記上部導体パターン5を形成する
前に、前記絶縁層4の上に、後で形成する上部導体パタ
ーン5の隣接パターン間に絶縁体のパターン6を形成し
ておくクロスオーバ形成方法によって達成される。
の平行した厚膜配線パターン3が交差するとき、第1の
配線パターン2を形成すると共に、第2の配線パターン
3を交差部を除いて形成した後、該交差部の上に絶縁層
4を形成し、その上に前記第2の配線パターン3を接続
するように上部導体パターン5を形成するクロスオーバ
形成方法において、上記上部導体パターン5を形成する
前に、前記絶縁層4の上に、後で形成する上部導体パタ
ーン5の隣接パターン間に絶縁体のパターン6を形成し
ておくクロスオーバ形成方法によって達成される。
第1の厚膜配線パターン2上の絶縁N4に上部導体パタ
ーン5を形成する前に、後で形成する上部導体パターン
5の隣接パターン間に絶縁体のパターン6を形成してお
くことにより、該絶縁体パターン6が絶縁層4上に盛り
上った土手状となるため、次に形成される上部導体パタ
ーン5のペーストのにじみを喰止めることができ、にじ
みによる短絡等を防止することができる。
ーン5を形成する前に、後で形成する上部導体パターン
5の隣接パターン間に絶縁体のパターン6を形成してお
くことにより、該絶縁体パターン6が絶縁層4上に盛り
上った土手状となるため、次に形成される上部導体パタ
ーン5のペーストのにじみを喰止めることができ、にじ
みによる短絡等を防止することができる。
第1図は本発明のクロスオーバ形成方法の実施例を説明
するための図であり、(a)〜(d)は工程を示す図で
ある。同図において、1はセラミック等の基板、2は第
1の厚膜配線パターン(下部導体)、3は第2の厚膜配
線パターン(下部導体)、4はガラス等を主成分とした
絶縁層、5は上部導体パターン、6は絶縁体パターンで
ある。
するための図であり、(a)〜(d)は工程を示す図で
ある。同図において、1はセラミック等の基板、2は第
1の厚膜配線パターン(下部導体)、3は第2の厚膜配
線パターン(下部導体)、4はガラス等を主成分とした
絶縁層、5は上部導体パターン、6は絶縁体パターンで
ある。
本実施例は、先ず第1図(a)に示すように基Fi、l
の上に第1の厚膜配線パターン2と、それに交差する複
数本の第2の厚膜配線パターン3とを導体ペーストで印
刷し焼成して形成する。この場合第2の厚膜配線パター
ン3は第1の厚膜配線パターン2と交差する部分はパタ
ーンを形成しない。
の上に第1の厚膜配線パターン2と、それに交差する複
数本の第2の厚膜配線パターン3とを導体ペーストで印
刷し焼成して形成する。この場合第2の厚膜配線パター
ン3は第1の厚膜配線パターン2と交差する部分はパタ
ーンを形成しない。
次に第1図(b)に示すように、第1の厚膜配線パター
ン2と第2の厚膜配線パターン3とが交差する部分にガ
ラスを主成分とした絶縁体ペースト4′を印刷し乾燥す
る。
ン2と第2の厚膜配線パターン3とが交差する部分にガ
ラスを主成分とした絶縁体ペースト4′を印刷し乾燥す
る。
次に第1図(C)に示すように前記絶縁体ペースト4′
の上に、後工程で形成される上部導体パターン間に絶縁
体ペーストを印刷・乾燥した後、前記絶縁体ペースト4
′と一括焼成して絶縁層4と絶縁体パターン6を形成す
る。
の上に、後工程で形成される上部導体パターン間に絶縁
体ペーストを印刷・乾燥した後、前記絶縁体ペースト4
′と一括焼成して絶縁層4と絶縁体パターン6を形成す
る。
最後に第1図(d)に示すように絶縁層4の上に第2の
厚膜配線パターン3を接続するように導体ペーストを印
刷・乾燥・焼成して上部導体パターン5を形成するので
ある。
厚膜配線パターン3を接続するように導体ペーストを印
刷・乾燥・焼成して上部導体パターン5を形成するので
ある。
第2図はこのように形成されたクロスオーバの平面図及
び断面図を示す図であり、(a)は平面図、(b)はa
図のb−b線における断面図、(c)はa図のc−c線
における断面図、(d)はa図のd−d線における断面
図である。同図において第1図と同一部分は同一符号を
付して示した。
び断面図を示す図であり、(a)は平面図、(b)はa
図のb−b線における断面図、(c)はa図のc−c線
における断面図、(d)はa図のd−d線における断面
図である。同図において第1図と同一部分は同一符号を
付して示した。
本実施例によれば同図(b)に示すように、隣接する上
部導体パターン5の間に予め形成された絶縁体パターン
6が土手状になっており、次に印刷された上部導体パタ
ーン5用の導体ペーストのにじみを防止している。従っ
て上部導体パターン5の拡がり、にじみ等による短絡は
防止される。
部導体パターン5の間に予め形成された絶縁体パターン
6が土手状になっており、次に印刷された上部導体パタ
ーン5用の導体ペーストのにじみを防止している。従っ
て上部導体パターン5の拡がり、にじみ等による短絡は
防止される。
なお絶縁体パターン6の長さは上部導体パターン5の長
さよりも長く形成しておく必要がある。
さよりも長く形成しておく必要がある。
以上説明した様に本発明によれば、絶縁体パターンが上
部導体パターンを形成するときの隔壁となり、上部導体
パターン用の導体ペーストのにじみを抑えることができ
パターン間の短絡を防止することができる。これにより
従来配線パターン間の間隔が導体幅の2〜3倍要したも
のが本発明では1〜1.5倍で良く、パターンの微細化
にも寄与することができる。
部導体パターンを形成するときの隔壁となり、上部導体
パターン用の導体ペーストのにじみを抑えることができ
パターン間の短絡を防止することができる。これにより
従来配線パターン間の間隔が導体幅の2〜3倍要したも
のが本発明では1〜1.5倍で良く、パターンの微細化
にも寄与することができる。
第1図は本発明の詳細な説明するための図、第2図は本
発明方法により形成されたクロスオーバを示す図、 第3図は従来のクロスオーバ法を説明するための図であ
る。 図において、 lは基板、 2は第1の厚膜配線パターン、 3は第2の厚膜配線パターン、 4は絶縁層、 5は上部導体パターン、 6は絶縁体パターン を示す。 (a) (c) 本発明の実施 コ・・・第20厚膜配線パターン (b) (d) 例を説明するための図 第1図 610.絶縁体パターン (C)−図のc−c線における断面図 (d)、図のd−dMKおける断面図 (C)、図のc−c#!における断面図(d)a図のd
−d線における断面図
発明方法により形成されたクロスオーバを示す図、 第3図は従来のクロスオーバ法を説明するための図であ
る。 図において、 lは基板、 2は第1の厚膜配線パターン、 3は第2の厚膜配線パターン、 4は絶縁層、 5は上部導体パターン、 6は絶縁体パターン を示す。 (a) (c) 本発明の実施 コ・・・第20厚膜配線パターン (b) (d) 例を説明するための図 第1図 610.絶縁体パターン (C)−図のc−c線における断面図 (d)、図のd−dMKおける断面図 (C)、図のc−c#!における断面図(d)a図のd
−d線における断面図
Claims (1)
- 1.第1の厚膜配線パターン(2)に第2の複数本の平
行した厚膜配線パターン(3)が交差するとき、第1の
配線パターン(2)を形成すると共に、第2の配線パタ
ーン(3)を交差部を除いて形成した後、該交差部の上
に絶縁層(4)を形成し、その上に前記第2の配線パタ
ーン(3)を接続するように上部導体パターン(5)を
形成するクロスオーバ形成方法において、 上記上部導体パターン(5)を形成する前に、前記絶縁
層(4)の上に、後で形成する上部導体パターン(5)
の隣接パターン間に絶縁体のパターン(6)を形成して
おくことを特徴とするクロスオーバの形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11598888A JPH01287991A (ja) | 1988-05-14 | 1988-05-14 | クロスオーバ形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11598888A JPH01287991A (ja) | 1988-05-14 | 1988-05-14 | クロスオーバ形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01287991A true JPH01287991A (ja) | 1989-11-20 |
Family
ID=14676093
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11598888A Pending JPH01287991A (ja) | 1988-05-14 | 1988-05-14 | クロスオーバ形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01287991A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022130816A1 (ja) * | 2020-12-15 | 2022-06-23 | 株式会社村田製作所 | 伸縮性実装基板 |
-
1988
- 1988-05-14 JP JP11598888A patent/JPH01287991A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022130816A1 (ja) * | 2020-12-15 | 2022-06-23 | 株式会社村田製作所 | 伸縮性実装基板 |
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