JPH01281779A - 集積回路用素子 - Google Patents

集積回路用素子

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Publication number
JPH01281779A
JPH01281779A JP63110888A JP11088888A JPH01281779A JP H01281779 A JPH01281779 A JP H01281779A JP 63110888 A JP63110888 A JP 63110888A JP 11088888 A JP11088888 A JP 11088888A JP H01281779 A JPH01281779 A JP H01281779A
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JP
Japan
Prior art keywords
thin film
superconducting material
superconducting
substrate
buffer layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP63110888A
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English (en)
Inventor
Shinichi Morohashi
信一 諸橋
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Priority to EP89107643A priority patent/EP0341502A3/en
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Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 超伝導材料薄膜を有する集積回路用素子に関し、集積回
路用素子に用いられる超伝導材料の超伝導特性の安定化
を図ることを目的とし、基板上に超伝導材料薄膜を形成
し、該超伝導材料薄膜を被覆するように無機絶縁膜を形
成して成る集積回路用素子において、前記基板と前記超
伝導材料薄膜との間および前記超伝導材料薄膜と前記無
機絶縁膜との間のうち少なくとも前記超伝導材料薄膜と
前記無機絶縁膜との間に有m物の薄膜をバッファ層とし
て設け、あるいは、基板上に超伝導材料薄膜を形成して
なる集積回路用素子において、前記基板と前記超伝導材
料薄膜との間に有機物の薄膜をバッファ層として設ける
ように構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、超伝導材料N膜を有する集81回路用素子に
関する。
現在、高い転移温度(Tc )を示す超伝導材料として
LaBaCu0x、YBaCuOxあるいはB15rC
aCuOx等の酸化物超伝導材料が理学、工学的見地か
ら関心がもたれ、半導体装置への応用について種々の研
究が行なわれている。
〔従来の技術〕
上述の酸化物超伝導材料は比較的容易に作成され、その
作成方法は種々存在し、例えばエレクトロンビーム(E
B)蒸着法、スパッタリング法あるいはモレキュラビー
ムエビタクシ(MBE)法等により5rTlO、Aj2
03あるいはMgO等の基板上に薄膜として形成する方
法がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、超伝導材料の表面を半導体等の集積回路におい
て一般に用いられる二酸化ケイ素(SIO2)の無機絶
縁膜によって被覆すると、S i O2無機絶縁膜中の
Siと超伝導材料中のBaとの反応性が大きいことによ
り界面で拡散がおき、超伝導特性が劣化するという問題
がある。
さらに、酸化物超伝導材料は製造後、空気中に放置して
おくと時間の経過とともに超伝導特性が低下し安定した
超伝導特性が得られないという欠点がある。これは、酸
化物超伝導材料が水分の影響を受は易く、空気中の湿気
により超伝導特性が低下することに起因する。
したがって集積回路に超伝導材料を用いる場合、あるい
はSi基板に超伝導材料薄膜を形成する場合に、超伝導
特性の低下を生じ、実用に耐え得るものではなかっな。
そこで、本発明は集積回路用素子に用いられる超伝導材
料の超伝導特性の安定化を図ることを目的とするもので
ある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、基板上に超伝導材′f4w!膜を形成し、該
超伝導材料薄膜を被覆するように無機絶縁膜を形成して
成るS積回路用素子において、前記基板と前記超伝導材
料薄膜との間および前記超伝導材料薄膜と前記無機絶縁
膜との間のうち少なくとも前記超伝導材料薄膜と前記無
機絶縁膜との間に有機物の薄膜をバッファ層として設け
、あるいは、基板上に超伝導材料薄膜を形成してなる集
積回路用素子において、前記基板と前記超伝導材料薄膜
との間に有機物の薄膜をバッファ層として設けるように
構成した。
〔作用〕
基板上に形成された超伝導材料薄膜を被覆するようにバ
ッファ層としての有機物の薄膜を介して無機絶・縁膜を
形成し、あるいは、基板上にバッファ層としての有機物
の薄膜を介して形成された超伝導材料薄膜を被覆するよ
うにバッファ層としての有機物の薄膜を介して無機絶縁
膜を形成し、あるいは基板上にバッファ層としての有機
物の薄膜を介して超伝導材料薄膜を形成して集積回路用
素子とする。
このように基板あるいは無機絶縁膜と超伝導材料薄膜と
の間に成形された有機物の薄膜は、超伝導材料薄膜と前
記の他の材料との界面における拡散による超伝導特性の
劣化を防止し、また、大気中の湿気による超伝導特性の
劣化を防止する。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
第1図は本発明の集積回路用素子の一実施例を示す概略
図である。
第1図において、基板1上に形成された超伝導材料薄膜
2は、バッファ層3としての有機物の薄膜を介して無機
絶縁膜4により被覆されている。
前記基板1は5rTIO3,Aj203゜MgO等の公
知の材質からなる基板でよい。
前記超伝導材料薄膜2はスパッタリング法、EB蒸着法
、MBE法、CVD法等の公知の手段により前記基板!
上に形成すればよい、また、膜厚は目的に応じ適宜決定
すればよい、なお、前記超伝導材料薄膜2としてはYB
a2 Cu30x。
LaBaCuox等種々の超伝導材料の薄膜であってよ
い。
前記バッファ層3は好ましくはフッ化物系材料を原料と
する有機物の薄膜である。前記フッ化物系材料としては
、ポリテトラフルオロエチレン、テトラフルオロエチレ
ン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、テトラフルオ
ロエチレン−ペルフルオロアルキルビニルエーテル共重
合体、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピ
レン−ペルフルオロアルキルビニルエーテル共重合体、
エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体、ポリクロ
ロトリフルオロエチレン、エチレン−クロロトリフルオ
ロエチレン共重合体、ポリフッ化ビニリデンおよびポリ
フッ化ビニル等が挙げられる。
前記バッファ層3の前記基板1および前記超伝導材料薄
w!i、2上への成膜は、プラズマ重合法あるいは、前
記フッ化物材料を用いた低エネルギーイオンビーム法(
本出願人の昭和63年5月 9日付の特許出願を参照)
等により行なえばよい、また、前記バッファ層3の膜厚
は通常1〜100nIN程度でよい。
前記無機絶縁WA4の材質はSiO□、MgO。
Aj O、Si3N4等の公知のものでよい。
前記無機絶縁膜4の成膜はスパッタリング法、蒸着法等
公知の手段により行なうことができ、膜厚は通常、20
0〜1000nn程度である。
第2図は本発明の他の実施例を示す概略図である。
第2図において、超伝導材料薄膜13は基板11上にバ
ッファ層12としての有機物の薄膜を介して形成されて
いる。
前記基板11はS1単結晶の半導体基板あるいは、AN
 203 、 M g O等の材質からなる公知の基板
でよい。
前記バッファ層12の材質、成膜方法、膜厚等は第1図
に示されている実施例における前記バッファ層3と同じ
である 前記超伝導材料薄膜13の成膜方法は第1図に示されて
いる実施例における前記超伝導材料薄膜2と同じである
また、第3図は、本発明の他の実施例を示す概略図であ
る。
第3図において、超伝導材料薄膜23は、第1のバッフ
ァ層22としての有機物の薄膜を介して基板21上に形
成され、この超伝導材料薄膜は第2のバッファ層24と
しての有機物の薄膜を介して無機絶縁[25により被覆
されている。
前記基板21、前記超伝導材料薄膜23、前記バッファ
層22.24および前記無機絶縁W1425の材質、成
膜方法、膜厚等はそれぞれ第1図に示されている実施例
における前記基板1、前記超伝導材料薄WA2、前記バ
ッファ層3および前記無機絶縁膜4と同じである。
第1図乃至第3図に示されるように、超伝導材料薄膜は
バッファ層としての有機物の薄膜を介して無機絶縁膜に
よって被覆され、あるいはバッファ層としての有機物の
薄膜を介して基板上に形成されているため、超伝導材料
薄膜と基板あるいは無機絶縁膜との界面での拡散が阻止
され、超伝導材料薄膜の超伝導特性の劣化を有効に防止
することができる。さらに、超伝導材料薄膜上にバッフ
ァ層および無機絶縁膜が形成されることにより、大気中
の湿気による超伝導特性の劣化も有効に防°  止する
ことができる。
また、超伝導材料薄膜と他の材料との界面での拡散は、
超伝導材料薄膜がYBa2 Cu0x等のBaを構成元
素として含有する超伝導材料であり、他の材料が81を
構成元素として含有している場合に顕著に発生する。し
たがって、例えば基板上にYBa2 Cu0xの超伝導
材料薄膜を形成し、この超伝導材料薄膜を5IO2無機
絶縁膜で被覆する場合、基板がSiを含有しないA J
 203等の基板である場合は第1図に示される実施例
とし、一方、基板が5102基板あるいはSt単結晶基
板の場合は第3図に示される実施例とすることもできる
また7、例えばSt単結晶基板上に YBaCuOxの超伝導材料薄膜のみを形成する場合は
、第2図に示される実施例とすることができる。なお、
この場合、図には示されていないが、超伝導材料薄膜1
3上にさらにバッファ層12と同様の有機物の薄膜を形
成することによって、超伝導材料薄膜13を大気中の湿
気による影響からより効果的に守ることができる。
次に実験例に基づき、本発明をさらに詳細に説明する。
X1悪 第1図に示されている集積回路用素子の実施例を下記の
条件で作成した。
(i)基板: AJ 203 (ii)超伝導材料薄WA: Y B a 2 Cu 
30・成膜方法ニスバッタリング法 ・成膜後の熱処理二900℃で1時間、酸素雰囲気中で
加熱 (iii)バッファ層としての有機物の薄膜・成膜方法
:プラズマ重合方法(平板千枝型プラズマ装置) ・原料ガス:CHF5 (1■)無機絶縁膜: S iO2 ・成膜方法ニスバッタリング法 上記の条件により作成した素子を試料−1とする。
また、バッファ層としての有機物の薄膜を形成していな
いこと以外は試料−1と同じ条件で作成した素子を試料
−2とする。
上記の試料−1および試料−2を20℃、65%RHの
条件下で14日間放置した後、各試料の超伝導材料薄膜
の転移温度を調べた。その結果、試料−1では転移温度
の変化はほとんどなかったが、試料−2では転移温度が
約4に@下した1以上より、本発明の構成を有する集積
回路用素子は安定した超伝導特性を発揮し得るものであ
る。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明によれば、超伝導材料薄膜と無機
絶縁膜あるいは基板との間に有機物の薄膜をバッファ層
として設けることにより、超伝導材料薄膜と前記の他の
材料との界面における拡散が防止され、また、超伝導材
料薄膜上に形成された前記バッファ層と無機絶縁膜とが
保護膜としての作用をなし、大気中の湿気による超伝導
特性の劣化が防止され、集積回路用素子に用いられてい
る超伝導材料の超伝導特性の大幅な安定化が図れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略断面図、第2図は
本発明の他の実施例を示す概略断面図、第3図は本発明
の他の実施例を示す概略断面図である。 1.11.21・・・基板、 2.13.23・・・超伝導材料薄膜、3.12,22
.24・・・バッファ層、4.25・・・無機絶縁膜。 り 本発明の実施例を示す概略断面図 第  1  図 本発明の実施例を示す概略断面図 第  2  図 フ3 第  3  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板上に超伝導材料薄膜を形成し、該超伝導材料薄
    膜を被覆するように無機絶縁膜を形成して成る集積回路
    用素子において、 前記基板と前記超伝導材料薄膜との間および前記超伝導
    材料薄膜と前記無機絶縁膜との間のうち少なくとも前記
    超伝導材料薄膜と前記無機絶縁膜との間に有機物の薄膜
    をバッファ層として設けたことを特徴とする集積回路用
    素子。 2、基板上に超伝導材料薄膜を形成してなる集積回路用
    素子において、 前記基板と前記超伝導材料薄膜との間に有機物の薄膜を
    バッファ層として設けたことを特徴とする集積回路用素
    子。
JP63110888A 1988-05-07 1988-05-07 集積回路用素子 Pending JPH01281779A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63110888A JPH01281779A (ja) 1988-05-07 1988-05-07 集積回路用素子
EP89107643A EP0341502A3 (en) 1988-05-07 1989-04-27 A cryoelectronic device including a ceramic superconductor

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JP63110888A JPH01281779A (ja) 1988-05-07 1988-05-07 集積回路用素子

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JPH01281779A true JPH01281779A (ja) 1989-11-13

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JP63110888A Pending JPH01281779A (ja) 1988-05-07 1988-05-07 集積回路用素子

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01286920A (ja) * 1988-05-12 1989-11-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超電導体
JP2009035479A (ja) * 1997-06-18 2009-02-19 Massachusetts Inst Of Technol <Mit> 金属オキシフッ化物の超伝導性酸化物への制御された変換

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH01286920A (ja) * 1988-05-12 1989-11-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超電導体
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