JPH02209777A - トンネル接合素子の形成法 - Google Patents

トンネル接合素子の形成法

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JPH02209777A
JPH02209777A JP1030462A JP3046289A JPH02209777A JP H02209777 A JPH02209777 A JP H02209777A JP 1030462 A JP1030462 A JP 1030462A JP 3046289 A JP3046289 A JP 3046289A JP H02209777 A JPH02209777 A JP H02209777A
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JP
Japan
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tunnel junction
junction element
high temperature
oxygen
ceramic
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Pending
Application number
JP1030462A
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English (en)
Inventor
Seiichi Iwamatsu
誠一 岩松
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明はセラミック系高温超電導体を用いたトンネル接
合素子のトンネル接合部及び表面絶縁膜の形成法に関す
る。
[従来の技術] 従来、セラミック系高温超電導体を用いたトンネル接合
素子は、2つのセラミック系高温超電導体配線間隔にs
 i o、膜をはさんで成るのが通例であった。
又、セラミック系高温超電体を用いたトンネル接合素子
の表面絶縁膜形成は、通常5102膜等を被覆するのが
通例であった。
[発明が解決しようとする課題] しかし、上記従来技術によると、例えば5102中の8
1がセラミック系高温超電導体中へ拡散し、超電導性が
失われる等の課題があった。
本発明は、かかる従来技術の課題を解決し、セラミック
系高温超電導体の超電導性を失わない、トンネル接合素
子のトンネル接合及び表面絶縁膜の形成法を提供する事
を目的とする。
[課題を解決するための手段] 上記課′題を解決するために、本発明は、トンネル接合
素子の形成法に関し、 (1)  セラミック系高温超電導体を用いたトンネル
接合素子のトンネル接合素子のトンネル接合部に酸素過
剰層から成る半導体層又は絶縁層を形成する手段を取る
事、及び、 (2)  セラミック系高温超電導体を用いたトンネル
接合素子表面に酸素過剰層から成る絶縁層を形成する手
段を取る事、等である。
[実施例] 以下、実施例により本発明を詳述する。
第1図乃至第6図は本発明の実施例を示すトンネル接合
素子の断面図である。
第1図では、酸化マグネシウムやチタン酸ストロンチウ
ムあるいはサファイヤ等から成る絶縁基板10表面に、
Y、Ba20u、07やBi25r2Qa20u307
あるいはT12Ba、Ca20u。
OY等から成る高温超電導体2,2′の膜が形成され、
該j摸のトンネル接合50部分に酸素イオン打込みを施
してトンネル接合3を半導体化あるいは絶縁体化して成
る。半導体化と絶縁体化は、酸素イオン打込み量によっ
て定まり、酸素イオン打込み等の増大と共に超電導体の
半導体化、更には絶縁体化を計ることができる。
第2図では、絶縁基板110表面に、高温超電導体12
 、12’を形成しソース及びドレインとなし、該高温
超電導体12.12’の間に上記第1図と同様の方法で
トンネル接合713を形成後、ゲート絶縁膜14をやは
り前記第1図の例と同様に酸素イオン打込み法等やOV
D法あるいはスパッタ法あるいは酸素拡散法や酸素ブジ
ズマ処理法等により表面絶縁膜として形成し、該ゲート
絶縁膜14表面のトンネル接合13上にゲート電(斬1
5を形成し、電界効果トランジスタを形成して成る。
第3図では、絶縁基板210表面に高温超電導体22を
膜状に形成後、原子層エピタキシャル法やOV’D法あ
るいはスパッタ法等により、酸素過剰層から成るトンネ
ル接合26を形成し、該トンネル接合23上に高温超電
導体24を膜として形成後、エツチングしてトンネル接
合素子購造となし、該トンネル接合素子の表面保護膜2
4として酸素イオン打込み法や、OVD法あるいはスパ
ッタ法等により高温超電導体22及び22′の材料組成
に対し酸素過剰とした絶縁膜を形成して成る24・・・
・・・・・・表面保護膜 15・・・・・・・・・ゲートTrtわ所以上 [発明の効果] 本発明によりセラミック系高温超電導体の超電導性を失
うことな(、トンネル接合素子が形成できる効果がある

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)セラミック系高温超電導体を用いたトンネル接合
    素子のトンネル接合部には酸素過剰層から成る半導体層
    又は絶縁層が形成されて成る事を特徴とするトンネル接
    合素子の形成法。
  2. (2)セラミック系高温超電導体を用いたトンネル接合
    素子表面には酸素過剰層から成る絶縁層が形成されて成
    る事を特徴とするトンネル接合素子の形成法。
JP1030462A 1989-02-09 1989-02-09 トンネル接合素子の形成法 Pending JPH02209777A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0513832A (ja) * 1991-07-02 1993-01-22 Sumitomo Electric Ind Ltd 超電導装置の作製方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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