JPH01251353A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
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- JPH01251353A JPH01251353A JP63077527A JP7752788A JPH01251353A JP H01251353 A JPH01251353 A JP H01251353A JP 63077527 A JP63077527 A JP 63077527A JP 7752788 A JP7752788 A JP 7752788A JP H01251353 A JPH01251353 A JP H01251353A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光学的記録に用いる光磁気記録媒体に関する
。
。
(従来の技術とその課題)
光メモリー素子の中でも追加記録、消去が可能なイレー
ザブル型メモリーは、光磁気記録方式が最も実用化に近
い段階にいる。光磁気記録媒体の記録層としては総合的
な特性から見て、現在のところ、希土類−遷移金属系薄
膜が最も多く用いられている。
ザブル型メモリーは、光磁気記録方式が最も実用化に近
い段階にいる。光磁気記録媒体の記録層としては総合的
な特性から見て、現在のところ、希土類−遷移金属系薄
膜が最も多く用いられている。
この光磁気記録媒体として、レーザー光照射時の記録・
再生効率を向上させる為に基板上の光磁気記録層上に反
射層を設ける方式も提案されている。この方式はカー効
果とファラデー効果の併用により高いC/N比を得られ
るという点で優れている。
再生効率を向上させる為に基板上の光磁気記録層上に反
射層を設ける方式も提案されている。この方式はカー効
果とファラデー効果の併用により高いC/N比を得られ
るという点で優れている。
記録層上に設けられる反射層は一般的には高反射率の物
質が考えられるが、 Au、Ag、P Lはコストが高
<Cuは腐食を起こし易いためAlまたはA1の合金の
薄膜が多く用いられる。
質が考えられるが、 Au、Ag、P Lはコストが高
<Cuは腐食を起こし易いためAlまたはA1の合金の
薄膜が多く用いられる。
しかしながら、A1やA1合金を使用した場合には耐蝕
性という点で問題がある。 すなわちAlやA1合金は
表面に自然酸化膜をつくるため全体腐食に対しては強固
な特性を示すが一度ピンホールが生成すると腐食電流の
集中が起こりピンホールの拡大をもたらすことになる。
性という点で問題がある。 すなわちAlやA1合金は
表面に自然酸化膜をつくるため全体腐食に対しては強固
な特性を示すが一度ピンホールが生成すると腐食電流の
集中が起こりピンホールの拡大をもたらすことになる。
この反応は特に水分の存在下において顕著である。
(課題を解決するための手段)
本発明者等は上述の欠点を克服した、高耐蝕性で高C/
N比の光磁気記録媒体を提供するべく鋭意検討した結果
、特定の物質で保護層及び接着層を構成することにより
キャリアレベルが高く、経時安定性に優れた光磁気記録
媒体が得られることを見出した。
N比の光磁気記録媒体を提供するべく鋭意検討した結果
、特定の物質で保護層及び接着層を構成することにより
キャリアレベルが高く、経時安定性に優れた光磁気記録
媒体が得られることを見出した。
〔発明の構成]
本発明の要旨は、基板上に金属酸化物からなる干渉層、
希土類金属と遷移金属の合金からなる光磁気記録層、記
録層に接して設けられたAlまたはAlを主体とする合
金からなる反射層、金属酸化物からなる保護層を設けて
なる光磁気記録媒体を保護層側を対向せしめて接着層を
介在させて貼合せてなり、接着層が下記(イ)及び(ロ
)の特性を有することを特徴とする光磁気記録媒体に存
する。
希土類金属と遷移金属の合金からなる光磁気記録層、記
録層に接して設けられたAlまたはAlを主体とする合
金からなる反射層、金属酸化物からなる保護層を設けて
なる光磁気記録媒体を保護層側を対向せしめて接着層を
介在させて貼合せてなり、接着層が下記(イ)及び(ロ
)の特性を有することを特徴とする光磁気記録媒体に存
する。
(イ)JIS K 6301で規定された100%
引張応力が50Kgf/cm”以下 (ロ)JIS Z 020Bで規定された透湿度が
24時間で20g/m”以下 以下、本発明の詳細な説明する。
引張応力が50Kgf/cm”以下 (ロ)JIS Z 020Bで規定された透湿度が
24時間で20g/m”以下 以下、本発明の詳細な説明する。
まず、本発明において用いられる基板としては、ガラス
、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチッ
ク、又はガラス上に溝つき樹脂を形成した基板等が挙げ
られる。
、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチッ
ク、又はガラス上に溝つき樹脂を形成した基板等が挙げ
られる。
基板の厚みは1〜2mI!1程度が一般的である。
光磁気記録層としては、たとえば、TbFe、TbFe
Co、TbCo、DyFeCoなどの希土類と遷移金属
の非晶質磁性合金が用いられる。光磁気記録層としては
単一の層を用いても良いし、GdT b F e /
T b F eのように2層以上の記録層を重ねても良
い。光磁気記録層の膜厚は250〜500人である。
Co、TbCo、DyFeCoなどの希土類と遷移金属
の非晶質磁性合金が用いられる。光磁気記録層としては
単一の層を用いても良いし、GdT b F e /
T b F eのように2層以上の記録層を重ねても良
い。光磁気記録層の膜厚は250〜500人である。
本発明においては、上記基板と光磁気記録層の間に干渉
層を設ける。この層は高屈折率の透明膜による光の干渉
効果を用い反射率を落とすことでノイズを低下さ廿C/
N比を向上させるためのものである。
層を設ける。この層は高屈折率の透明膜による光の干渉
効果を用い反射率を落とすことでノイズを低下さ廿C/
N比を向上させるためのものである。
干渉層は単N膜でも多層膜でもよい。干渉層としては金
属窒化物が用いられる。金属窒化物としては窒化シリコ
ン、窒化アルミニウム等が挙げられるが、これらの金属
窒化物は緻密で外部からの水分や酸素の侵入を防ぐ、特
に窒化シリコンを用いて良好である。
属窒化物が用いられる。金属窒化物としては窒化シリコ
ン、窒化アルミニウム等が挙げられるが、これらの金属
窒化物は緻密で外部からの水分や酸素の侵入を防ぐ、特
に窒化シリコンを用いて良好である。
窒化シリコンのSiとNの比率はNが多すぎれば膜の屈
折率が低下し緻密性も悪くなる。またNが少なすぎれば
、膜に吸収を生じキャリアレベルの低下をもたらす、従
ってSiとNとの比は化学量論的組成比(SiffN4
)もしくはそれより多少Stが多い状態が好ましい。具
体的には、StとNの原子比はS i / Nで0.7
5〜1.0の範囲が良い。窒化シリコンの屈折率は63
0 nmの波長で測定したときの複素屈折率(n9)を
n”=n−iK(iは虚数を表す)としたとき2.0≦
n≦2.5でかつ0<K<0.2の範囲であるのが良い
。
折率が低下し緻密性も悪くなる。またNが少なすぎれば
、膜に吸収を生じキャリアレベルの低下をもたらす、従
ってSiとNとの比は化学量論的組成比(SiffN4
)もしくはそれより多少Stが多い状態が好ましい。具
体的には、StとNの原子比はS i / Nで0.7
5〜1.0の範囲が良い。窒化シリコンの屈折率は63
0 nmの波長で測定したときの複素屈折率(n9)を
n”=n−iK(iは虚数を表す)としたとき2.0≦
n≦2.5でかつ0<K<0.2の範囲であるのが良い
。
この干渉層の膜厚は屈折率により最適膜厚が異なるが、
通常400人〜1500人程以上特に500〜1000
人程度が適当で以上。
通常400人〜1500人程以上特に500〜1000
人程度が適当で以上。
本発明においては光磁気記録層上に反射層を設ける。反
射層は一般的には高反射率の物質が考えられるが、Au
、、Ag、Ptはコストが高<Cuは腐食を起こし易い
ため本発明においてはAlまたはAlの合金の薄膜を用
いる。
射層は一般的には高反射率の物質が考えられるが、Au
、、Ag、Ptはコストが高<Cuは腐食を起こし易い
ため本発明においてはAlまたはAlの合金の薄膜を用
いる。
特にAlにTa、Ti、ZrSMo5PtSV。
Cr、Pdの少なくとも1種を0.1〜15原子%程度
好ましくは1〜10原子%程度添加した合金は高反射率
であり、熱伝導度も低く高C/N比、感度共に良好な特
性をもたらす。
好ましくは1〜10原子%程度添加した合金は高反射率
であり、熱伝導度も低く高C/N比、感度共に良好な特
性をもたらす。
反射層の膜厚は通常100〜1000人程度、好まし以
上200〜600人程度である以上すぎた場合感度が低
下し、薄すぎる場合には反射率が低下し、C/N比も落
ちる。
上200〜600人程度である以上すぎた場合感度が低
下し、薄すぎる場合には反射率が低下し、C/N比も落
ちる。
反射層上に設けられる保護層としては金属酸化物が用い
られる。金属酸化物としてはAl2O,、Tat O,
、S io、 、S to、、TiO等の金属酸化物単
独あるいはこれらの混合物、あるいはAl−Ta−0の
複合酸化物等が挙げられる。また更にこれらに他の元素
、例えばT i、Z r、W、Mo5Yb等が酸化物の
形で単独あるいはAl、Taと複合して酸化物を形成し
ていてもよい。これらの金属酸化物は緻密で外部からの
水分や酸素の侵入を防ぎ、耐食性が高く反射層との反応
性も小さい。特に酸化タンタルを用いて良好である。
られる。金属酸化物としてはAl2O,、Tat O,
、S io、 、S to、、TiO等の金属酸化物単
独あるいはこれらの混合物、あるいはAl−Ta−0の
複合酸化物等が挙げられる。また更にこれらに他の元素
、例えばT i、Z r、W、Mo5Yb等が酸化物の
形で単独あるいはAl、Taと複合して酸化物を形成し
ていてもよい。これらの金属酸化物は緻密で外部からの
水分や酸素の侵入を防ぎ、耐食性が高く反射層との反応
性も小さい。特に酸化タンタルを用いて良好である。
酸化タンタルの保護層は窒化物からなる保護層に比べ内
部応力が小さくクラックの入る確立ははるかに小さくな
る 酸化タンタルの組成は化学量論的組成比(Ta20、)
に近い組成が好ましい。過剰な酸素は記録層の酸化をも
たらすことになる。また、酸素が不足している場合には
未酸化部分に腐食が集中し、ピンホールが発生し易くな
る。
部応力が小さくクラックの入る確立ははるかに小さくな
る 酸化タンタルの組成は化学量論的組成比(Ta20、)
に近い組成が好ましい。過剰な酸素は記録層の酸化をも
たらすことになる。また、酸素が不足している場合には
未酸化部分に腐食が集中し、ピンホールが発生し易くな
る。
好ましい酸化状態での屈折率は633nmの波長で測定
したときの複素屈折率をn”=n−1Kとしたとき2.
0≦n≦2.2でかつIK+<0.15の範囲である。
したときの複素屈折率をn”=n−1Kとしたとき2.
0≦n≦2.2でかつIK+<0.15の範囲である。
また、保護層の作成時に反射層が酸化されることが考え
られるが、AlまたはA1合金の反射層は表面に強固な
酸化皮膜を形成するため深さ数十Å以上の酸化は起こら
ない。
られるが、AlまたはA1合金の反射層は表面に強固な
酸化皮膜を形成するため深さ数十Å以上の酸化は起こら
ない。
この保護層の膜厚は厚いほど保護能力が高いが、厚いほ
ど感度の低下も大きいので、通常50人〜500人以上
が適当である。
ど感度の低下も大きいので、通常50人〜500人以上
が適当である。
本発明の光磁気記録媒体は上記した基板/干渉層/記録
層/反射N/保護層からなる光磁気記録媒体を2枚、保
護層側を向かい合わせて接着層で貼り合わせる。
層/反射N/保護層からなる光磁気記録媒体を2枚、保
護層側を向かい合わせて接着層で貼り合わせる。
接着層としては、内部応力が低く媒体にクラックや反り
を生じさせないもの。また透湿性が低く水分による腐食
を強く抑えられるものが好ましく1、JIS K
6301で規定された100%引張応力にして50Kg
f/cm”以下で、かツJIS Z0208で規定さ
れた透湿度が24時間で20g/m2以下のものが好ま
しく、更に好ましくは上記規定の100%引張応力30
Kgf/cm2以下、かつ上記規定の透湿度が24時間
で10 g/m”以下の有機物が良好な結果をもたらす
。
を生じさせないもの。また透湿性が低く水分による腐食
を強く抑えられるものが好ましく1、JIS K
6301で規定された100%引張応力にして50Kg
f/cm”以下で、かツJIS Z0208で規定さ
れた透湿度が24時間で20g/m2以下のものが好ま
しく、更に好ましくは上記規定の100%引張応力30
Kgf/cm2以下、かつ上記規定の透湿度が24時間
で10 g/m”以下の有機物が良好な結果をもたらす
。
このような有機物としては炭化水素系ポリオールを使用
するポリウレタンが好ましく採用される。
するポリウレタンが好ましく採用される。
このポリウレタンとしては、吸湿性の低い炭化水素系ポ
リオールを主成分とし、イソシアネート化合物をNC0
10H=0.8〜1. 3好ましくはNC010H=0
.9〜1.1となるような配分比で混合し、硬化せしめ
たものが好ましい。
リオールを主成分とし、イソシアネート化合物をNC0
10H=0.8〜1. 3好ましくはNC010H=0
.9〜1.1となるような配分比で混合し、硬化せしめ
たものが好ましい。
このような炭化水素系ポリオールは公知の、例えば特開
昭50−90694号に記載のブタジェンポリマーを水
添する等の方法により、また、これを用いたポリウレタ
ンは公知の、例えば特開昭50−142695号に記載
の、上記ポリオールにポリイソシアネートを反応させる
等の方法により容易に製造される。
昭50−90694号に記載のブタジェンポリマーを水
添する等の方法により、また、これを用いたポリウレタ
ンは公知の、例えば特開昭50−142695号に記載
の、上記ポリオールにポリイソシアネートを反応させる
等の方法により容易に製造される。
この接着層を設けることで媒体の耐蝕性は大きく向上す
る。
る。
接着層の膜厚は1um〜200 am好ましくは3μm
〜100μm程度である。
〜100μm程度である。
基板上に干渉層、記録層、反射層、保護層の各層を形成
する方法には、スパッタリング等の物理蒸着法(PVD
) 、プラズマCVDのような化学蒸着法(CVD)等
が適用される。
する方法には、スパッタリング等の物理蒸着法(PVD
) 、プラズマCVDのような化学蒸着法(CVD)等
が適用される。
PVD法にて干渉層、光磁気記録層、反射層及び保護層
、を成膜形成するには、所定の組成をもったターゲット
を用いて電子ビーム蒸着またはスパッタリングにより基
板上に各層を堆積するのが通常の方法である。
、を成膜形成するには、所定の組成をもったターゲット
を用いて電子ビーム蒸着またはスパッタリングにより基
板上に各層を堆積するのが通常の方法である。
また、イオンブレーティングを用いる方法も考えられる
。
。
膜の堆積速度は早すぎると膜応力を増加させ、遅すぎれ
ば生産性に影響するので通常0.1人/ s e c〜
100人/ s e (程度とされる。
ば生産性に影響するので通常0.1人/ s e c〜
100人/ s e (程度とされる。
保護層の場合、Ta、O,ターゲット等を用いたRFス
パッタ法、Taターゲット等を用いたArと0□ガスに
よるDCまたはRF反応性スパッタ法、電子ビーム蒸着
法等が好ましい。これらのうち、酸素量の制御が可能で
あること、成膜速度が速いこと、基板温度の上昇が小さ
いこと等の点からTaターゲット等を用いたArと02
ガスによるDC反応性スパッタ法が好ましい。
パッタ法、Taターゲット等を用いたArと0□ガスに
よるDCまたはRF反応性スパッタ法、電子ビーム蒸着
法等が好ましい。これらのうち、酸素量の制御が可能で
あること、成膜速度が速いこと、基板温度の上昇が小さ
いこと等の点からTaターゲット等を用いたArと02
ガスによるDC反応性スパッタ法が好ましい。
接着層の成膜法としてはスピンコード法、その他通常の
塗布法により容易に成膜することが可能である。
塗布法により容易に成膜することが可能である。
以下に実施例をもって本発明を更に詳細に説明するが本
発明はその要旨を越えない限り以下の実施例に限定され
るものではない。
発明はその要旨を越えない限り以下の実施例に限定され
るものではない。
実施例1
130mmφのポリカーボネート基板をスパッタリング
装置に導入し、先ず8XiO−’torr以下まで排気
し、Arを3Qsccm、Nzを4secm導入し、圧
力を0.5Paに調整した。この状態で500Wのパワ
ーで4インチφのSiターゲットをRFスパッタリング
し、1.5人/秒の速度で屈折率2.1の窒化シリコン
の干渉層を750人形成した。この膜の633 nmで
測定した屈折率はn“=2.1−0.03tであった。
装置に導入し、先ず8XiO−’torr以下まで排気
し、Arを3Qsccm、Nzを4secm導入し、圧
力を0.5Paに調整した。この状態で500Wのパワ
ーで4インチφのSiターゲットをRFスパッタリング
し、1.5人/秒の速度で屈折率2.1の窒化シリコン
の干渉層を750人形成した。この膜の633 nmで
測定した屈折率はn“=2.1−0.03tであった。
チャンバーを一度排気した後、Arガスを30Sccm
o、3Paの圧力となるように導入しTbターゲットと
Fe、。Co、、ターゲットの同時スパッタリングを行
いT bzz (F eqoCO+o) ysT bz
+ (Fe、。C0IJ?’lの記録層を干渉層の上に
300人形成した。更にTaチップを配したAlツタ−
ットを用いArガス中でスパッターL/A 1 !?T
a xの合金からなる300人の反射層を形成した。
o、3Paの圧力となるように導入しTbターゲットと
Fe、。Co、、ターゲットの同時スパッタリングを行
いT bzz (F eqoCO+o) ysT bz
+ (Fe、。C0IJ?’lの記録層を干渉層の上に
300人形成した。更にTaチップを配したAlツタ−
ットを用いArガス中でスパッターL/A 1 !?T
a xの合金からなる300人の反射層を形成した。
次にArガスを20secm、O,ガスを5secm導
入し、圧力を0.8Paに調整した。この状態で500
Wのパワーで4インチφのTaターゲットを直流スパッ
タリングし、4人/秒の速度で酸化タンタルの保護層を
800人形成した。このような光磁気記録媒体を保護層
を対向させ、下記のようにして得たポリウレタンで貼り
合わせた、接着層であるポリウレタンの厚さは10μと
した。
入し、圧力を0.8Paに調整した。この状態で500
Wのパワーで4インチφのTaターゲットを直流スパッ
タリングし、4人/秒の速度で酸化タンタルの保護層を
800人形成した。このような光磁気記録媒体を保護層
を対向させ、下記のようにして得たポリウレタンで貼り
合わせた、接着層であるポリウレタンの厚さは10μと
した。
「成分Aの製造」
°゛ポリテールHA(商品名)(三菱化成工業株式会社
製、数平均分子量:約2000、水酸基等量: 0.9
07me q/gのポリオレフィンポリオール)100
g。
製、数平均分子量:約2000、水酸基等量: 0.9
07me q/gのポリオレフィンポリオール)100
g。
°“アデカクオドール”° (商品名)(旭電化株式会
社製、4官能ポリオール、水酸基等量13.7meq/
g)19.8g、 ゛パラフィン系プロセスオイル°° (共同石油株式%
式% ゛°スズ系ウレタン化触媒”(MD化成株式会社製、U
L−22)138mg、 これらを50°Cで均一に混合し成分Aとした。この粘
度は25°Cで1800cpsであった。
社製、4官能ポリオール、水酸基等量13.7meq/
g)19.8g、 ゛パラフィン系プロセスオイル°° (共同石油株式%
式% ゛°スズ系ウレタン化触媒”(MD化成株式会社製、U
L−22)138mg、 これらを50°Cで均一に混合し成分Aとした。この粘
度は25°Cで1800cpsであった。
「成分Bの製造」
゛ポリテールHA”100g、
“パラフィン系プロセスオイルP−200”116g、
これらをセパラブルフラスコ中で室温で均一に混合する
。ついで、2.4−トリレンジイソシアネート14.2
gを添加し、80°Cで6時間反応して成分Bを得た、
粘度は25°Cで3800cpsであった。
。ついで、2.4−トリレンジイソシアネート14.2
gを添加し、80°Cで6時間反応して成分Bを得た、
粘度は25°Cで3800cpsであった。
このようにして作成したA液とB液を重量比1:5で混
合し、真空脱泡を行った後ディスクに塗布し、貼り合わ
せた。
合し、真空脱泡を行った後ディスクに塗布し、貼り合わ
せた。
同様にして作成した液を用いプレスジ・−トを作り物性
値を測定したところ JIS K6301での100
%引張応力は3kgf/cm” 引張強度は7kgf
/cm”であった。また、JIS Z0208で規定
された透湿度は厚さ200μmのフィルムで24時間で
5g/cm”であった。
値を測定したところ JIS K6301での100
%引張応力は3kgf/cm” 引張強度は7kgf
/cm”であった。また、JIS Z0208で規定
された透湿度は厚さ200μmのフィルムで24時間で
5g/cm”であった。
このようにして作成した貼合わせディスクを70°C1
85%RHの条件で2000時間加速試験し、エラーレ
ートの増加を経時的に観察した。2000時間経過後も
エラーレートは1.2倍に抑制できた。
85%RHの条件で2000時間加速試験し、エラーレ
ートの増加を経時的に観察した。2000時間経過後も
エラーレートは1.2倍に抑制できた。
結果を第1図に示す。
比較例1
反射層までを実施例と同じ構造とし、接着剤としてアク
リレート系接着剤を用いた。この接着剤は透湿度は24
時間で15g/m2であるが100%引張応力は100
%まで伸びない、すなわち、かなり固いものである。こ
のようにして作成した貼り合わせディスクを70°C1
85%RHの条件で2000時間加速試験し、エラーレ
ートの増加を経時的に観察したところ2000時間経過
後にエラーレートは3.6倍に増加し、クラックの発生
も見られた。結果を第1図に示す。
リレート系接着剤を用いた。この接着剤は透湿度は24
時間で15g/m2であるが100%引張応力は100
%まで伸びない、すなわち、かなり固いものである。こ
のようにして作成した貼り合わせディスクを70°C1
85%RHの条件で2000時間加速試験し、エラーレ
ートの増加を経時的に観察したところ2000時間経過
後にエラーレートは3.6倍に増加し、クラックの発生
も見られた。結果を第1図に示す。
比較例2
反射層までを実施例と同じ構造とし、接着剤として透湿
度が24時間で120g/m”、100%引張応力40
Kg/cm”のポリウレタン系接着剤を用いた。このよ
うにして作成した貼り合わせディスクを70°C185
%RHの条件で2000時間加速試験し、エラーレート
の増加を経時的に観察した。
度が24時間で120g/m”、100%引張応力40
Kg/cm”のポリウレタン系接着剤を用いた。このよ
うにして作成した貼り合わせディスクを70°C185
%RHの条件で2000時間加速試験し、エラーレート
の増加を経時的に観察した。
2000時間経過後にエラーレートは4.3倍に増加し
た。結果を第1図に示す。
た。結果を第1図に示す。
本発明の光磁気記録媒体は耐候性に優れる。
第1図は実施例及び比較例の加速試験によるエラーレー
トの増加を経時的に測定した結果である。 図中イは実施例1、口は比較例1、ハは比較例2の場合
である。 出 願 人 三菱化成工業株式会社代理人 弁理士
長谷用 − (ほか1名)
トの増加を経時的に測定した結果である。 図中イは実施例1、口は比較例1、ハは比較例2の場合
である。 出 願 人 三菱化成工業株式会社代理人 弁理士
長谷用 − (ほか1名)
Claims (1)
- (1)基板上に金属窒化物からなる干渉層、希土類金属
と遷移金属の合金からなる光磁気記録層、記録層に接し
て設けられたAlまたはAlを主体とする合金からなる
反射層、金属酸化物からなる保護層を設けてなる光磁気
記録媒体を保護層側を対向せしめて接着層を介在させて
貼合せてなり、接着層が下記(イ)及び(ロ)の特性を
有することを特徴とする光磁気記録媒体。 (イ)JISK6301で規定された100%引張応力
が50Kgf/cm^2以下。 (ロ)JISZ0208で規定された透湿度が24時間
で20g/m^2以下。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63077527A JPH01251353A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | 光磁気記録媒体 |
CA000570235A CA1324213C (en) | 1987-06-26 | 1988-06-23 | Magnetooptical recording media |
KR1019880007767A KR960010928B1 (ko) | 1987-06-26 | 1988-06-24 | 자기광학 기록 매체 |
DE88305842T DE3883310T2 (de) | 1987-06-26 | 1988-06-24 | Magnetooptische Datenträger. |
EP88305842A EP0296888B1 (en) | 1987-06-26 | 1988-06-24 | Magnetooptical recording media |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63077527A JPH01251353A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01251353A true JPH01251353A (ja) | 1989-10-06 |
Family
ID=13636447
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63077527A Pending JPH01251353A (ja) | 1987-06-26 | 1988-03-30 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01251353A (ja) |
-
1988
- 1988-03-30 JP JP63077527A patent/JPH01251353A/ja active Pending
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