JPH01251353A - 光磁気記録媒体 - Google Patents

光磁気記録媒体

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Publication number
JPH01251353A
JPH01251353A JP63077527A JP7752788A JPH01251353A JP H01251353 A JPH01251353 A JP H01251353A JP 63077527 A JP63077527 A JP 63077527A JP 7752788 A JP7752788 A JP 7752788A JP H01251353 A JPH01251353 A JP H01251353A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
magneto
optical recording
protective layer
adhesive layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP63077527A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshimitsu Kobayashi
喜光 小林
Yoshiyuki Shirosaka
欣幸 城阪
Satohiko Oya
大屋 聡彦
Toshifumi Kawano
敏史 川野
Masao Komatsu
昌生 小松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Kasei Corp
Original Assignee
Mitsubishi Kasei Corp
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Publication date
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Priority to DE88305842T priority patent/DE3883310T2/de
Priority to EP88305842A priority patent/EP0296888B1/en
Publication of JPH01251353A publication Critical patent/JPH01251353A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光学的記録に用いる光磁気記録媒体に関する
(従来の技術とその課題) 光メモリー素子の中でも追加記録、消去が可能なイレー
ザブル型メモリーは、光磁気記録方式が最も実用化に近
い段階にいる。光磁気記録媒体の記録層としては総合的
な特性から見て、現在のところ、希土類−遷移金属系薄
膜が最も多く用いられている。
この光磁気記録媒体として、レーザー光照射時の記録・
再生効率を向上させる為に基板上の光磁気記録層上に反
射層を設ける方式も提案されている。この方式はカー効
果とファラデー効果の併用により高いC/N比を得られ
るという点で優れている。
記録層上に設けられる反射層は一般的には高反射率の物
質が考えられるが、 Au、Ag、P Lはコストが高
<Cuは腐食を起こし易いためAlまたはA1の合金の
薄膜が多く用いられる。
しかしながら、A1やA1合金を使用した場合には耐蝕
性という点で問題がある。 すなわちAlやA1合金は
表面に自然酸化膜をつくるため全体腐食に対しては強固
な特性を示すが一度ピンホールが生成すると腐食電流の
集中が起こりピンホールの拡大をもたらすことになる。
この反応は特に水分の存在下において顕著である。
(課題を解決するための手段) 本発明者等は上述の欠点を克服した、高耐蝕性で高C/
N比の光磁気記録媒体を提供するべく鋭意検討した結果
、特定の物質で保護層及び接着層を構成することにより
キャリアレベルが高く、経時安定性に優れた光磁気記録
媒体が得られることを見出した。
〔発明の構成] 本発明の要旨は、基板上に金属酸化物からなる干渉層、
希土類金属と遷移金属の合金からなる光磁気記録層、記
録層に接して設けられたAlまたはAlを主体とする合
金からなる反射層、金属酸化物からなる保護層を設けて
なる光磁気記録媒体を保護層側を対向せしめて接着層を
介在させて貼合せてなり、接着層が下記(イ)及び(ロ
)の特性を有することを特徴とする光磁気記録媒体に存
する。
(イ)JIS  K  6301で規定された100%
引張応力が50Kgf/cm”以下 (ロ)JIS  Z  020Bで規定された透湿度が
24時間で20g/m”以下 以下、本発明の詳細な説明する。
まず、本発明において用いられる基板としては、ガラス
、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチッ
ク、又はガラス上に溝つき樹脂を形成した基板等が挙げ
られる。
基板の厚みは1〜2mI!1程度が一般的である。
光磁気記録層としては、たとえば、TbFe、TbFe
Co、TbCo、DyFeCoなどの希土類と遷移金属
の非晶質磁性合金が用いられる。光磁気記録層としては
単一の層を用いても良いし、GdT b F e / 
T b F eのように2層以上の記録層を重ねても良
い。光磁気記録層の膜厚は250〜500人である。
本発明においては、上記基板と光磁気記録層の間に干渉
層を設ける。この層は高屈折率の透明膜による光の干渉
効果を用い反射率を落とすことでノイズを低下さ廿C/
N比を向上させるためのものである。
干渉層は単N膜でも多層膜でもよい。干渉層としては金
属窒化物が用いられる。金属窒化物としては窒化シリコ
ン、窒化アルミニウム等が挙げられるが、これらの金属
窒化物は緻密で外部からの水分や酸素の侵入を防ぐ、特
に窒化シリコンを用いて良好である。
窒化シリコンのSiとNの比率はNが多すぎれば膜の屈
折率が低下し緻密性も悪くなる。またNが少なすぎれば
、膜に吸収を生じキャリアレベルの低下をもたらす、従
ってSiとNとの比は化学量論的組成比(SiffN4
)もしくはそれより多少Stが多い状態が好ましい。具
体的には、StとNの原子比はS i / Nで0.7
5〜1.0の範囲が良い。窒化シリコンの屈折率は63
0 nmの波長で測定したときの複素屈折率(n9)を
n”=n−iK(iは虚数を表す)としたとき2.0≦
n≦2.5でかつ0<K<0.2の範囲であるのが良い
この干渉層の膜厚は屈折率により最適膜厚が異なるが、
通常400人〜1500人程以上特に500〜1000
人程度が適当で以上。
本発明においては光磁気記録層上に反射層を設ける。反
射層は一般的には高反射率の物質が考えられるが、Au
、、Ag、Ptはコストが高<Cuは腐食を起こし易い
ため本発明においてはAlまたはAlの合金の薄膜を用
いる。
特にAlにTa、Ti、ZrSMo5PtSV。
Cr、Pdの少なくとも1種を0.1〜15原子%程度
好ましくは1〜10原子%程度添加した合金は高反射率
であり、熱伝導度も低く高C/N比、感度共に良好な特
性をもたらす。
反射層の膜厚は通常100〜1000人程度、好まし以
上200〜600人程度である以上すぎた場合感度が低
下し、薄すぎる場合には反射率が低下し、C/N比も落
ちる。
反射層上に設けられる保護層としては金属酸化物が用い
られる。金属酸化物としてはAl2O,、Tat O,
、S io、 、S to、、TiO等の金属酸化物単
独あるいはこれらの混合物、あるいはAl−Ta−0の
複合酸化物等が挙げられる。また更にこれらに他の元素
、例えばT i、Z r、W、Mo5Yb等が酸化物の
形で単独あるいはAl、Taと複合して酸化物を形成し
ていてもよい。これらの金属酸化物は緻密で外部からの
水分や酸素の侵入を防ぎ、耐食性が高く反射層との反応
性も小さい。特に酸化タンタルを用いて良好である。
酸化タンタルの保護層は窒化物からなる保護層に比べ内
部応力が小さくクラックの入る確立ははるかに小さくな
る 酸化タンタルの組成は化学量論的組成比(Ta20、)
に近い組成が好ましい。過剰な酸素は記録層の酸化をも
たらすことになる。また、酸素が不足している場合には
未酸化部分に腐食が集中し、ピンホールが発生し易くな
る。
好ましい酸化状態での屈折率は633nmの波長で測定
したときの複素屈折率をn”=n−1Kとしたとき2.
0≦n≦2.2でかつIK+<0.15の範囲である。
また、保護層の作成時に反射層が酸化されることが考え
られるが、AlまたはA1合金の反射層は表面に強固な
酸化皮膜を形成するため深さ数十Å以上の酸化は起こら
ない。
この保護層の膜厚は厚いほど保護能力が高いが、厚いほ
ど感度の低下も大きいので、通常50人〜500人以上
が適当である。
本発明の光磁気記録媒体は上記した基板/干渉層/記録
層/反射N/保護層からなる光磁気記録媒体を2枚、保
護層側を向かい合わせて接着層で貼り合わせる。
接着層としては、内部応力が低く媒体にクラックや反り
を生じさせないもの。また透湿性が低く水分による腐食
を強く抑えられるものが好ましく1、JIS  K  
6301で規定された100%引張応力にして50Kg
f/cm”以下で、かツJIS  Z0208で規定さ
れた透湿度が24時間で20g/m2以下のものが好ま
しく、更に好ましくは上記規定の100%引張応力30
Kgf/cm2以下、かつ上記規定の透湿度が24時間
で10 g/m”以下の有機物が良好な結果をもたらす
このような有機物としては炭化水素系ポリオールを使用
するポリウレタンが好ましく採用される。
このポリウレタンとしては、吸湿性の低い炭化水素系ポ
リオールを主成分とし、イソシアネート化合物をNC0
10H=0.8〜1. 3好ましくはNC010H=0
.9〜1.1となるような配分比で混合し、硬化せしめ
たものが好ましい。
このような炭化水素系ポリオールは公知の、例えば特開
昭50−90694号に記載のブタジェンポリマーを水
添する等の方法により、また、これを用いたポリウレタ
ンは公知の、例えば特開昭50−142695号に記載
の、上記ポリオールにポリイソシアネートを反応させる
等の方法により容易に製造される。
この接着層を設けることで媒体の耐蝕性は大きく向上す
る。
接着層の膜厚は1um〜200 am好ましくは3μm
〜100μm程度である。
基板上に干渉層、記録層、反射層、保護層の各層を形成
する方法には、スパッタリング等の物理蒸着法(PVD
) 、プラズマCVDのような化学蒸着法(CVD)等
が適用される。
PVD法にて干渉層、光磁気記録層、反射層及び保護層
、を成膜形成するには、所定の組成をもったターゲット
を用いて電子ビーム蒸着またはスパッタリングにより基
板上に各層を堆積するのが通常の方法である。
また、イオンブレーティングを用いる方法も考えられる
膜の堆積速度は早すぎると膜応力を増加させ、遅すぎれ
ば生産性に影響するので通常0.1人/ s e c〜
100人/ s e (程度とされる。
保護層の場合、Ta、O,ターゲット等を用いたRFス
パッタ法、Taターゲット等を用いたArと0□ガスに
よるDCまたはRF反応性スパッタ法、電子ビーム蒸着
法等が好ましい。これらのうち、酸素量の制御が可能で
あること、成膜速度が速いこと、基板温度の上昇が小さ
いこと等の点からTaターゲット等を用いたArと02
ガスによるDC反応性スパッタ法が好ましい。
接着層の成膜法としてはスピンコード法、その他通常の
塗布法により容易に成膜することが可能である。
〔実施例〕
以下に実施例をもって本発明を更に詳細に説明するが本
発明はその要旨を越えない限り以下の実施例に限定され
るものではない。
実施例1 130mmφのポリカーボネート基板をスパッタリング
装置に導入し、先ず8XiO−’torr以下まで排気
し、Arを3Qsccm、Nzを4secm導入し、圧
力を0.5Paに調整した。この状態で500Wのパワ
ーで4インチφのSiターゲットをRFスパッタリング
し、1.5人/秒の速度で屈折率2.1の窒化シリコン
の干渉層を750人形成した。この膜の633 nmで
測定した屈折率はn“=2.1−0.03tであった。
チャンバーを一度排気した後、Arガスを30Sccm
o、3Paの圧力となるように導入しTbターゲットと
Fe、。Co、、ターゲットの同時スパッタリングを行
いT bzz (F eqoCO+o) ysT bz
+ (Fe、。C0IJ?’lの記録層を干渉層の上に
300人形成した。更にTaチップを配したAlツタ−
ットを用いArガス中でスパッターL/A 1 !?T
 a xの合金からなる300人の反射層を形成した。
次にArガスを20secm、O,ガスを5secm導
入し、圧力を0.8Paに調整した。この状態で500
Wのパワーで4インチφのTaターゲットを直流スパッ
タリングし、4人/秒の速度で酸化タンタルの保護層を
800人形成した。このような光磁気記録媒体を保護層
を対向させ、下記のようにして得たポリウレタンで貼り
合わせた、接着層であるポリウレタンの厚さは10μと
した。
「成分Aの製造」 °゛ポリテールHA(商品名)(三菱化成工業株式会社
製、数平均分子量:約2000、水酸基等量: 0.9
07me q/gのポリオレフィンポリオール)100
g。
°“アデカクオドール”° (商品名)(旭電化株式会
社製、4官能ポリオール、水酸基等量13.7meq/
g)19.8g、 ゛パラフィン系プロセスオイル°° (共同石油株式%
式% ゛°スズ系ウレタン化触媒”(MD化成株式会社製、U
L−22)138mg、 これらを50°Cで均一に混合し成分Aとした。この粘
度は25°Cで1800cpsであった。
「成分Bの製造」 ゛ポリテールHA”100g、 “パラフィン系プロセスオイルP−200”116g、 これらをセパラブルフラスコ中で室温で均一に混合する
。ついで、2.4−トリレンジイソシアネート14.2
gを添加し、80°Cで6時間反応して成分Bを得た、
粘度は25°Cで3800cpsであった。
このようにして作成したA液とB液を重量比1:5で混
合し、真空脱泡を行った後ディスクに塗布し、貼り合わ
せた。
同様にして作成した液を用いプレスジ・−トを作り物性
値を測定したところ JIS  K6301での100
%引張応力は3kgf/cm”  引張強度は7kgf
/cm”であった。また、JIS  Z0208で規定
された透湿度は厚さ200μmのフィルムで24時間で
5g/cm”であった。
このようにして作成した貼合わせディスクを70°C1
85%RHの条件で2000時間加速試験し、エラーレ
ートの増加を経時的に観察した。2000時間経過後も
エラーレートは1.2倍に抑制できた。
結果を第1図に示す。
比較例1 反射層までを実施例と同じ構造とし、接着剤としてアク
リレート系接着剤を用いた。この接着剤は透湿度は24
時間で15g/m2であるが100%引張応力は100
%まで伸びない、すなわち、かなり固いものである。こ
のようにして作成した貼り合わせディスクを70°C1
85%RHの条件で2000時間加速試験し、エラーレ
ートの増加を経時的に観察したところ2000時間経過
後にエラーレートは3.6倍に増加し、クラックの発生
も見られた。結果を第1図に示す。
比較例2 反射層までを実施例と同じ構造とし、接着剤として透湿
度が24時間で120g/m”、100%引張応力40
Kg/cm”のポリウレタン系接着剤を用いた。このよ
うにして作成した貼り合わせディスクを70°C185
%RHの条件で2000時間加速試験し、エラーレート
の増加を経時的に観察した。
2000時間経過後にエラーレートは4.3倍に増加し
た。結果を第1図に示す。
〔発明の効果〕
本発明の光磁気記録媒体は耐候性に優れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例及び比較例の加速試験によるエラーレー
トの増加を経時的に測定した結果である。 図中イは実施例1、口は比較例1、ハは比較例2の場合
である。 出  願  人 三菱化成工業株式会社代理人 弁理士
 長谷用     − (ほか1名)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に金属窒化物からなる干渉層、希土類金属
    と遷移金属の合金からなる光磁気記録層、記録層に接し
    て設けられたAlまたはAlを主体とする合金からなる
    反射層、金属酸化物からなる保護層を設けてなる光磁気
    記録媒体を保護層側を対向せしめて接着層を介在させて
    貼合せてなり、接着層が下記(イ)及び(ロ)の特性を
    有することを特徴とする光磁気記録媒体。 (イ)JISK6301で規定された100%引張応力
    が50Kgf/cm^2以下。 (ロ)JISZ0208で規定された透湿度が24時間
    で20g/m^2以下。
JP63077527A 1987-06-26 1988-03-30 光磁気記録媒体 Pending JPH01251353A (ja)

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