JPH01246173A - 酸化物超電導体及びその製法 - Google Patents
酸化物超電導体及びその製法Info
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- JPH01246173A JPH01246173A JP63073899A JP7389988A JPH01246173A JP H01246173 A JPH01246173 A JP H01246173A JP 63073899 A JP63073899 A JP 63073899A JP 7389988 A JP7389988 A JP 7389988A JP H01246173 A JPH01246173 A JP H01246173A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば磁気浮」二列車及び粒子加速器等の超
電導コイル部分や電子デバイス等に使用される高臨界電
流密度を有する酸化物超電導体及びその製法に関するも
のである。
電導コイル部分や電子デバイス等に使用される高臨界電
流密度を有する酸化物超電導体及びその製法に関するも
のである。
現在、超電導体はN b T i 、、N b 3 S
n 、などに代表される金属系超電導体が実用化され
ているが、その臨界温度(Tc )はたかだか20に程
度までである。
n 、などに代表される金属系超電導体が実用化され
ているが、その臨界温度(Tc )はたかだか20に程
度までである。
しかしながら近年、希土類元素、アルカリ土類元素及び
酸化銅の混合物からなる複合酸化物系超電導体はそのT
cが従来の超電導体と比べ著しく高いものであることが
、フィジカル レピューレターズ58(1978)第9
08頁から第910頁(Phys ica lRevi
ew Letters 58(1978) pp908
−910)などにおいて発表され、冷媒として高価で極
低温(4,2K)の液体ヘリウムよりも比較的高/Fj
L(77K)の液体窒素で充分使用可能となった。それ
ゆえ、この酸化物超電導体の各種利用分野における実用
化の目度に大きな前進がみられた。これらの発表に伴い
上記利用分野におけるバルク状又は薄膜状の酸化物超電
導体において、そのTcをさらに常温まで高めようとす
る研究と並行して、77Kにおける臨界電流密度(Jc
)を向上させる研究がさかんに行われている。
酸化銅の混合物からなる複合酸化物系超電導体はそのT
cが従来の超電導体と比べ著しく高いものであることが
、フィジカル レピューレターズ58(1978)第9
08頁から第910頁(Phys ica lRevi
ew Letters 58(1978) pp908
−910)などにおいて発表され、冷媒として高価で極
低温(4,2K)の液体ヘリウムよりも比較的高/Fj
L(77K)の液体窒素で充分使用可能となった。それ
ゆえ、この酸化物超電導体の各種利用分野における実用
化の目度に大きな前進がみられた。これらの発表に伴い
上記利用分野におけるバルク状又は薄膜状の酸化物超電
導体において、そのTcをさらに常温まで高めようとす
る研究と並行して、77Kにおける臨界電流密度(Jc
)を向上させる研究がさかんに行われている。
R1BazCu30t4(R=希土類元素)系組成の酸
化物超電導体は、斜方系に属し、その単位の格子パラメ
ータは、はぼa=3.89人、b=3.82人、c=1
1.67 人であり、物理的な特性も大きな異方性を有
することが明確になっている。その為、5rTi03、
MgOなどの単結晶基板上にエピタキシャル成長させて
、C軸配向させた薄膜の場合、そのJcは1×106^
/cm2(磁場がOTの時でかつ77Kにおいて)に達
している。しかしながら、これに比べ通常の粉体固体反
応で製造した焼結体においてば、I X103A/cm
”(磁場がOTの時でかつ77Kにおいて)程度とかな
り小さい。この値は、磁界を印加することによりさらに
下がり、ITの時I X 102A/cm2程度となる
。この理由は、結晶粒間の超電導結合が弱いこと及び前
記薄膜のようなC軸配向性がないためであると思われる
。
化物超電導体は、斜方系に属し、その単位の格子パラメ
ータは、はぼa=3.89人、b=3.82人、c=1
1.67 人であり、物理的な特性も大きな異方性を有
することが明確になっている。その為、5rTi03、
MgOなどの単結晶基板上にエピタキシャル成長させて
、C軸配向させた薄膜の場合、そのJcは1×106^
/cm2(磁場がOTの時でかつ77Kにおいて)に達
している。しかしながら、これに比べ通常の粉体固体反
応で製造した焼結体においてば、I X103A/cm
”(磁場がOTの時でかつ77Kにおいて)程度とかな
り小さい。この値は、磁界を印加することによりさらに
下がり、ITの時I X 102A/cm2程度となる
。この理由は、結晶粒間の超電導結合が弱いこと及び前
記薄膜のようなC軸配向性がないためであると思われる
。
上記従来技術では、バルク材に結晶配向性を与える点に
ついて配慮されておらず、この為バルク上超電導体内の
結晶粒の軸はランダムな方向を向いており、a、b軸面
内を流れる高いJc値がC軸方向に流れる低いJc値に
相殺され、結果としてJc値は実用上必要な値にまで達
していないとう問題があった。
ついて配慮されておらず、この為バルク上超電導体内の
結晶粒の軸はランダムな方向を向いており、a、b軸面
内を流れる高いJc値がC軸方向に流れる低いJc値に
相殺され、結果としてJc値は実用上必要な値にまで達
していないとう問題があった。
本発明においては、R1Ba2Cu+Ot−/系酸化物
超電導体の臨界温度Tcを劣化させることなく、77に
での臨界電流密度Jcを著しく向上させることを目的と
する。
超電導体の臨界温度Tcを劣化させることなく、77に
での臨界電流密度Jcを著しく向上させることを目的と
する。
本発明によれば、R1BazCux07−/ (R=希
土類元素)系の板状単結晶が積層された複数の結晶粒か
らなり、前記結晶粒のC軸がお互いに配向され、かつ結
晶粒界において密に超電導結合しているような結晶組織
を有することを特徴とする酸化物超電導体が提供される
。また本発明によれば、R1BazCu3(h−l(R
・希土類元素)系の板状単結晶が積層された複数の結晶
粒からなり、前記結晶粒のC軸がお互いに配向され、か
つ結晶粒界において密に超電導結合しているような結晶
組織を有する酸化物超電導体を、ふっ素の拡散を含む工
程により形成することを特徴とする酸化物超電導体の製
法が提供される。
土類元素)系の板状単結晶が積層された複数の結晶粒か
らなり、前記結晶粒のC軸がお互いに配向され、かつ結
晶粒界において密に超電導結合しているような結晶組織
を有することを特徴とする酸化物超電導体が提供される
。また本発明によれば、R1BazCu3(h−l(R
・希土類元素)系の板状単結晶が積層された複数の結晶
粒からなり、前記結晶粒のC軸がお互いに配向され、か
つ結晶粒界において密に超電導結合しているような結晶
組織を有する酸化物超電導体を、ふっ素の拡散を含む工
程により形成することを特徴とする酸化物超電導体の製
法が提供される。
即ち、R1Ba2CuzOt−1の焼結体は内部にふっ
素が組成比で0.01〜2人っていると、板状単結晶が
積層された多数の結晶粒が密な集合体を形成しているが
、このような結晶mWを有する超電導体(バルク)全体
の臨界電流密度は、結晶粒のC軸がお互いに配向してい
なくても一般のR+BazCu+Otイのそれと比較し
て5倍程度高くなる。本発明による結晶粒のC軸がお互
いに配向した超電導体では、さらに5〜100倍程度の
Jc増加が見込める。この場合の電流経路はa、b軸面
内の方向である。
素が組成比で0.01〜2人っていると、板状単結晶が
積層された多数の結晶粒が密な集合体を形成しているが
、このような結晶mWを有する超電導体(バルク)全体
の臨界電流密度は、結晶粒のC軸がお互いに配向してい
なくても一般のR+BazCu+Otイのそれと比較し
て5倍程度高くなる。本発明による結晶粒のC軸がお互
いに配向した超電導体では、さらに5〜100倍程度の
Jc増加が見込める。この場合の電流経路はa、b軸面
内の方向である。
また、焼結体の密度は5 g/cm3以」二が望ましい
。
。
このような超電導体を得るための製法は、例えば原料粉
末としてR2O3、BaC01、CuOとからなるR1
BazC+gOt−/と、R2O3、BaF2、CuO
とからなるR8BazC11+F4(]+−/とを作成
し、それぞれ850〜950°Cで仮焼を行う。その後
、R+BazCu3F X 07−バ0.01≦X≦2
)となる様な調合比でこれら2種の粉末を混合せず互い
に面状に接触するように成形し、結果的に成形体の内部
にふっ素の濃度勾配をつける。
末としてR2O3、BaC01、CuOとからなるR1
BazC+gOt−/と、R2O3、BaF2、CuO
とからなるR8BazC11+F4(]+−/とを作成
し、それぞれ850〜950°Cで仮焼を行う。その後
、R+BazCu3F X 07−バ0.01≦X≦2
)となる様な調合比でこれら2種の粉末を混合せず互い
に面状に接触するように成形し、結果的に成形体の内部
にふっ素の濃度勾配をつける。
この成形体を酸化性雰囲気中において900°C〜13
00’cで比較的短時間、即ち1分〜20時間焼成した
後、冷却し、その後適宜アニールを行ってから200℃
以下まで冷却する。この様な操作によって、板状単結晶
が積層された多数の結晶粒が、ふっ素の拡散してい(方
向にC軸配向した密な集合体が得られる。この時、ふっ
素はRIBazCu:+Ot−/を板状単結晶にする助
剤的な効果を有するもので、積層体中では板状単結晶の
粒界または結晶粒の粒界に偏在していると考えられる。
00’cで比較的短時間、即ち1分〜20時間焼成した
後、冷却し、その後適宜アニールを行ってから200℃
以下まで冷却する。この様な操作によって、板状単結晶
が積層された多数の結晶粒が、ふっ素の拡散してい(方
向にC軸配向した密な集合体が得られる。この時、ふっ
素はRIBazCu:+Ot−/を板状単結晶にする助
剤的な効果を有するもので、積層体中では板状単結晶の
粒界または結晶粒の粒界に偏在していると考えられる。
よって、ふっ素が0.01より少ないと、板状結晶が層
状にかつ結晶粒が密になるような結晶成長が起きなくな
り、通常のR1BazCu30フイと同程度のJcにな
る。ふっ素が2より多いと析出するBaF zが多くな
り、R1BazCuz07−7組成物のみの結晶構造が
できにくくなり、Jcの低下ばかりでなく、Tcの低下
もおきる。
状にかつ結晶粒が密になるような結晶成長が起きなくな
り、通常のR1BazCu30フイと同程度のJcにな
る。ふっ素が2より多いと析出するBaF zが多くな
り、R1BazCuz07−7組成物のみの結晶構造が
できにくくなり、Jcの低下ばかりでなく、Tcの低下
もおきる。
また、仮焼温度が850℃より低いとRIBazCui
07−7組成物ができず、950℃より高くなると固溶
反応が進み原料が溶出してRIBazCuzOt−1m
m成金物のみの結晶構造にすることが困難になる。
07−7組成物ができず、950℃より高くなると固溶
反応が進み原料が溶出してRIBazCuzOt−1m
m成金物のみの結晶構造にすることが困難になる。
本焼成温度が850℃より低いとTcが劣化し、130
0℃より高いと、完全に溶液の状態となり溶出してしま
いJBazCu3O7−を組成混合物が均一にできにく
く超電導特性が劣化する。また、本焼成後ゆっくり冷却
することにより超電導体相を安定化することができる。
0℃より高いと、完全に溶液の状態となり溶出してしま
いJBazCu3O7−を組成混合物が均一にできにく
く超電導特性が劣化する。また、本焼成後ゆっくり冷却
することにより超電導体相を安定化することができる。
更に、本焼成後、冷却途中で400〜600℃の温度領
域で長時間アニールすればより安定化が図れる。
域で長時間アニールすればより安定化が図れる。
なお、RJazCuzOy−/において、希土類元素で
あるRは、Y(インドリウム)の他、5CXLaz C
ezPr、 Nd、、PTl1% 5lll、 Eus
Gd、 Tb、、 DS1% HO,Er、、 T1
1%Yb、 Lu、及びアクチノイド系元素を含むもの
とする。
あるRは、Y(インドリウム)の他、5CXLaz C
ezPr、 Nd、、PTl1% 5lll、 Eus
Gd、 Tb、、 DS1% HO,Er、、 T1
1%Yb、 Lu、及びアクチノイド系元素を含むもの
とする。
〔実施例1〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。まず
、Y+BazCu+0+−/とYIBa2CJF4(1
+−/の2つの基準原料を作成する為に、前者はY2O
3と、BaC0aと、CuOとを、後者はY2O3と、
BaF2と、CuOとを、それぞれ粉砕混合後、アルミ
ナあるいはムライトボールに入れて空気中で900 ’
C,10時間程度仮焼を行った。各々の仮焼体を粉砕し
、基準材料とした。Y、Ba、Cu30t−z材料1と
YlBazCu:+F40t−/材料2により、第1図
に示す如く界面3を有するように2層構造の直径15+
nmφ、厚み約1mmのペレット状に成形した。このと
き、材料1と2の分量比は全体のふっ素置がイツトリウ
ム1モルに対し約0.4モル比となるように設定した。
、Y+BazCu+0+−/とYIBa2CJF4(1
+−/の2つの基準原料を作成する為に、前者はY2O
3と、BaC0aと、CuOとを、後者はY2O3と、
BaF2と、CuOとを、それぞれ粉砕混合後、アルミ
ナあるいはムライトボールに入れて空気中で900 ’
C,10時間程度仮焼を行った。各々の仮焼体を粉砕し
、基準材料とした。Y、Ba、Cu30t−z材料1と
YlBazCu:+F40t−/材料2により、第1図
に示す如く界面3を有するように2層構造の直径15+
nmφ、厚み約1mmのペレット状に成形した。このと
き、材料1と2の分量比は全体のふっ素置がイツトリウ
ム1モルに対し約0.4モル比となるように設定した。
この成形体を酸素中で1000°C110分間焼成した
後、冷却しさらに酸素中580°C15時間のアニール
を行い、その後、200°C以下までゆっくり冷却した
。この時のペレットの層間は反応し、癒着していた。焼
結後の寸法は、直径12.5φ厚みは0 、8mmであ
った。
後、冷却しさらに酸素中580°C15時間のアニール
を行い、その後、200°C以下までゆっくり冷却した
。この時のペレットの層間は反応し、癒着していた。焼
結後の寸法は、直径12.5φ厚みは0 、8mmであ
った。
こうして得られた試料の破断面について、電子顕微鏡に
よりその結晶組織を観察した。第2図に示すように、そ
の様相はペレット全体に渡ってペレット表面に垂直方向
(矢印方向)にC軸配向している結晶粒4が多く存在す
ることが確認された。
よりその結晶組織を観察した。第2図に示すように、そ
の様相はペレット全体に渡ってペレット表面に垂直方向
(矢印方向)にC軸配向している結晶粒4が多く存在す
ることが確認された。
ここで5は単結晶化した板、6はこれら板の界面である
。
。
この試料を4端子法によって温度に対する抵抗率の変化
を調べた結果、オンセット温度(’rc。)が92K、
オフセット温度(Tce)が91にであった。また、密
度はアルキメデス法によって測定し、5.7g/cm’
であった。
を調べた結果、オンセット温度(’rc。)が92K、
オフセット温度(Tce)が91にであった。また、密
度はアルキメデス法によって測定し、5.7g/cm’
であった。
また振動試料型磁束計により前記試料の77にでのM−
11ヒステリシス曲線をもとめた。この結果を第3図に
実線で示す。さて、M−IIヒステリシス曲線において
、ある磁界11での昇磁時と減磁時の磁化の差ΔM(+
1)は式: %式%() として表される。ここで、μ0は真空の透磁率、dは試
料の厚みの半分、J c (If)は磁界11における
臨界電流密度を表す。第3図の実線の曲線から前記式を
用いると、J c (IT)=IX10’A/cm2で
あった。この値は熱処理条件をコントロールすることに
より、もう1桁上げることが可能である。
11ヒステリシス曲線をもとめた。この結果を第3図に
実線で示す。さて、M−IIヒステリシス曲線において
、ある磁界11での昇磁時と減磁時の磁化の差ΔM(+
1)は式: %式%() として表される。ここで、μ0は真空の透磁率、dは試
料の厚みの半分、J c (If)は磁界11における
臨界電流密度を表す。第3図の実線の曲線から前記式を
用いると、J c (IT)=IX10’A/cm2で
あった。この値は熱処理条件をコントロールすることに
より、もう1桁上げることが可能である。
第4図にはY+BazCu:+(1+−l材料lと、v
+BazCuzF40、−j材料2の積層ペレットに対
し、種々の熱処理条件に対するふっ素の拡散の状態をX
線マイクロアナライザで調べたものを示す。この場合に
おいてもふっ素が拡散しその量がイツトリウム1七ルニ
対し約0.2〜0.5モル比のところで、板状単結晶が
密に積層された多数の結晶粒のC軸がふっ素の拡散方向
にお互いに配向された結晶組織を有していることが明ら
かになった。また、ふっ素の拡散は熱処理条件、即ち温
度と時間により大きく変化することが明らかになった。
+BazCuzF40、−j材料2の積層ペレットに対
し、種々の熱処理条件に対するふっ素の拡散の状態をX
線マイクロアナライザで調べたものを示す。この場合に
おいてもふっ素が拡散しその量がイツトリウム1七ルニ
対し約0.2〜0.5モル比のところで、板状単結晶が
密に積層された多数の結晶粒のC軸がふっ素の拡散方向
にお互いに配向された結晶組織を有していることが明ら
かになった。また、ふっ素の拡散は熱処理条件、即ち温
度と時間により大きく変化することが明らかになった。
そこで、熱処理条件は部材の形状によりかなり変化する
ので例えば第5図に示すようなパターンで、酸化性雰囲
気中で、850℃〜950℃の温度域で2〜240時間
程度保持して種結晶となるY1Ba2Cu3O7−/の
微結晶粒を成長させ、次いで950 ’C〜1300°
Cの温度で1〜30分短時間でふっ素を拡散させる工程
により、結晶配向性を形成し、さらに、850°C〜9
50℃の温度で1〜20時間保持し、前記結晶配向性を
安定化させ、最後に400℃〜600℃の温度で長時間
保持して超電導体化させるという4つの工程からなる熱
処理条件が望ましい。
ので例えば第5図に示すようなパターンで、酸化性雰囲
気中で、850℃〜950℃の温度域で2〜240時間
程度保持して種結晶となるY1Ba2Cu3O7−/の
微結晶粒を成長させ、次いで950 ’C〜1300°
Cの温度で1〜30分短時間でふっ素を拡散させる工程
により、結晶配向性を形成し、さらに、850°C〜9
50℃の温度で1〜20時間保持し、前記結晶配向性を
安定化させ、最後に400℃〜600℃の温度で長時間
保持して超電導体化させるという4つの工程からなる熱
処理条件が望ましい。
さらに比較のために、前記実施例のY1Ba2Cu3O
7−/材料1のみを粉砕後、アルミナあるいはムライト
ボードに入れて前記実施例と同様の条件で仮焼、粉砕、
成形、焼成して厚み0.8+nmの試料を得た。
7−/材料1のみを粉砕後、アルミナあるいはムライト
ボードに入れて前記実施例と同様の条件で仮焼、粉砕、
成形、焼成して厚み0.8+nmの試料を得た。
この試料を同様に4端子法で抵抗率の温度変化を測定し
た結果、オンセント温度(Tco)が92に1オフセッ
ト温度(Tce)が90にであった。また密度はアルキ
メデス法によって測定し、5.5g/cm”であった。
た結果、オンセント温度(Tco)が92に1オフセッ
ト温度(Tce)が90にであった。また密度はアルキ
メデス法によって測定し、5.5g/cm”であった。
さらに、振動試料型磁束計により前記試料の11にでの
M−11ヒステリシスカーブを求めた。この結果を第3
図に破線で示す。このカーブから、前記実施例の式によ
り臨界電流の値を求めた結果、J c (IT)=lX
10”A/cm2であり、本発明の前記実施例と比べて
著しく小さいことが理解される。 次に、実際的にテー
プ、線材などを製造する方法について説明する。
M−11ヒステリシスカーブを求めた。この結果を第3
図に破線で示す。このカーブから、前記実施例の式によ
り臨界電流の値を求めた結果、J c (IT)=lX
10”A/cm2であり、本発明の前記実施例と比べて
著しく小さいことが理解される。 次に、実際的にテー
プ、線材などを製造する方法について説明する。
〔実施例2〕
第6図により、本発明をテープ状酸化物部材に応用した
場合を説明する。第6図(a)においてY1Ba+Cu
:+Ot−/仮焼粉末例えばグリーンシート法などを用
いてテープ状に加工したY、Ba、Cu30t−tテー
プ7の上に、Y、Ba2Cu3F407.rの厚膜8を
一般に知られている物理化学的な膜形成法を用いて形成
する。
場合を説明する。第6図(a)においてY1Ba+Cu
:+Ot−/仮焼粉末例えばグリーンシート法などを用
いてテープ状に加工したY、Ba、Cu30t−tテー
プ7の上に、Y、Ba2Cu3F407.rの厚膜8を
一般に知られている物理化学的な膜形成法を用いて形成
する。
9は前記Y、Ba2Cu3074テープ7とYIBaz
CuzFaOt−(厚膜8の界面である。
CuzFaOt−(厚膜8の界面である。
ここで、Y1Ba2Cu:+07−rとY+BazCu
:+F40t−/のモル比はふっ素の拡散層においてイ
ツトリウム1モル、に対し0.2〜0.5モルとなるよ
うに設定する。こうして形成した積層テープを、上記熱
処理方法により、反応、結晶配向、安定化、超電導体化
を行うことにより、高Jcをもつテープ状超電導部材を
得ることができる。
:+F40t−/のモル比はふっ素の拡散層においてイ
ツトリウム1モル、に対し0.2〜0.5モルとなるよ
うに設定する。こうして形成した積層テープを、上記熱
処理方法により、反応、結晶配向、安定化、超電導体化
を行うことにより、高Jcをもつテープ状超電導部材を
得ることができる。
〔実施例3〕
また、第6図(b)のようにY+BazCuJ7−rテ
ープ状部材7a、7b・・・とY1Ba2Cu3O7(
1+−I厚膜状部材8a、8b・・・を複数回交互に積
層し、これを前記と同様に熱処理することによりさらに
均一なテープを製造することができる。この手法は、テ
ープのみならず超電導体の板を作成する場合にも適用で
きる。
ープ状部材7a、7b・・・とY1Ba2Cu3O7(
1+−I厚膜状部材8a、8b・・・を複数回交互に積
層し、これを前記と同様に熱処理することによりさらに
均一なテープを製造することができる。この手法は、テ
ープのみならず超電導体の板を作成する場合にも適用で
きる。
〔実施例4〕
第7図において本発明の製法を用いた線材を作るプロセ
スについて説明する。第6図(a)においてY、Ba2
Cu:+Ot−/仮焼扮末を線状に加工し′fa10の
外表面に、物理化学的な方法を用いてY1BazC’u
:+F40□7仮焼扮末11をコーティングする。これ
を上記の熱処理方法により、超電導化する。
スについて説明する。第6図(a)においてY、Ba2
Cu:+Ot−/仮焼扮末を線状に加工し′fa10の
外表面に、物理化学的な方法を用いてY1BazC’u
:+F40□7仮焼扮末11をコーティングする。これ
を上記の熱処理方法により、超電導化する。
〔実施例5〕
また、第7図(b)のように前記実施例4で説明した単
芯線を複数化し多芯構造とした後、熱処理することによ
り、超電導体化することにより、超電導体多芯線を製造
することができる。
芯線を複数化し多芯構造とした後、熱処理することによ
り、超電導体化することにより、超電導体多芯線を製造
することができる。
〔実施例6〕
第8図は、MgOや5rTi03など基板12上に、Y
1BazCu307−7膜13a、13b と’1IB
azcuzF407−(膜14a、14bを複数回交互
に積層し、これを熱処理することにより、厚膜の超電導
部材を得ることができる。
1BazCu307−7膜13a、13b と’1IB
azcuzF407−(膜14a、14bを複数回交互
に積層し、これを熱処理することにより、厚膜の超電導
部材を得ることができる。
上記の説明では、Y系についてのみ説明したが、Er、
lloなどの他の希土類元素の酸化物超電導体につい
て、さらにR元素としてY及びランタノイド元素の複数
の組合せ系についても適用できることは言うまでもない
。また上記説明でば、YJazCux07−lとYIB
a2Cu3FtO?−/の組合せに限定したが、ふっ素
の濃度差があればよいので0≦X≦4の範囲であればそ
の間の2種類のふっ素を含む基幹材料の組合せを選んで
も同様の効果が得られる。またふっ素を拡散させる方法
として、公称組成R1BazCu:+FX+0+−/(
0≦X≦3.9)部材をふっ素を含む酸化性雰囲気中で
熱処理することによっても可能であり、上記と同様の効
果が得られる。さらに、Y、Ba、 Cu、の比は1:
2:3に限定したが、出発材料としては化学量論組成比
からずれていてもよいことは言うまでもない。
lloなどの他の希土類元素の酸化物超電導体につい
て、さらにR元素としてY及びランタノイド元素の複数
の組合せ系についても適用できることは言うまでもない
。また上記説明でば、YJazCux07−lとYIB
a2Cu3FtO?−/の組合せに限定したが、ふっ素
の濃度差があればよいので0≦X≦4の範囲であればそ
の間の2種類のふっ素を含む基幹材料の組合せを選んで
も同様の効果が得られる。またふっ素を拡散させる方法
として、公称組成R1BazCu:+FX+0+−/(
0≦X≦3.9)部材をふっ素を含む酸化性雰囲気中で
熱処理することによっても可能であり、上記と同様の効
果が得られる。さらに、Y、Ba、 Cu、の比は1:
2:3に限定したが、出発材料としては化学量論組成比
からずれていてもよいことは言うまでもない。
本発明においては、RlBazCuzOt−z系酸化物
超電導体の臨界温度Tcを劣化させることなく77にで
臨界電流密度Jcを著しく向上させることができる。
超電導体の臨界温度Tcを劣化させることなく77にで
臨界電流密度Jcを著しく向上させることができる。
第1図は本発明の実施例1におけるY+Ba2Cu3o
t−7とY1BazCu3FJff−/との2層構造ペ
レット状試料の斜視図、第2図は実施例1における試料
の断面部分のおよそ300倍の拡大図(図の左側のスケ
ールはおよそ10μmである)、第3図は実施例1及び
比較例における試料の77にでの磁化特性図、第4図は
実施例1における試料の種々の熱処理条件に対するふっ
素の拡散分布図、第5図は本発明の実施例4及び5にお
ける線材の構造を示す斜視図、第8図は基板上の厚膜部
材の斜視図である。 −戸1(MT) 第4図 鬼面力・4鼾1:(−−> 第5図
t−7とY1BazCu3FJff−/との2層構造ペ
レット状試料の斜視図、第2図は実施例1における試料
の断面部分のおよそ300倍の拡大図(図の左側のスケ
ールはおよそ10μmである)、第3図は実施例1及び
比較例における試料の77にでの磁化特性図、第4図は
実施例1における試料の種々の熱処理条件に対するふっ
素の拡散分布図、第5図は本発明の実施例4及び5にお
ける線材の構造を示す斜視図、第8図は基板上の厚膜部
材の斜視図である。 −戸1(MT) 第4図 鬼面力・4鼾1:(−−> 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、R_1Ba_2Cu_3O_7_−_δ(R=希土
類元素)系の板状単結晶が積層された複数の結晶粒から
成り、前記結晶粒のC軸がお互いに配向され、かつ結晶
粒界において密に超電導結合しているような結晶組織を
有することを特徴とする酸化物超電導体。 2、公称組成R_1Ba_2Cu_3F_xO_7_−
_δ(R=希土類元素)で拡散後に0.01≦X≦2と
なるように、材料内部にふっ素の拡散を行わせることを
特徴とする酸化物超電導体の製法。 3、内部にふっ素の濃度差を持つように形成した部材を
熱処理することにより、ふっ素の拡散を行わせることを
特徴とする特許請求の範囲第2項記載の酸化物超電導体
の製法。 4、公称組成R_1Ba_2Cu_3F_X_1O_7
_−_δ(0≦X_1≦3.9)と公称組成R_1Ba
_2Cu_3F_X_2O_7_−_δ(0.1≦X_
2≦4)の2つの基準材料よりなり、これら2つの材料
(但し、X_2−X_1=0.1〜4)で形成した面状
界面を持つ部材を熱処理することにより、前記界面を通
してふっ素の拡散を行わせることを特徴とする特許請求
の範囲第2項記載の酸化物超電導体の製法。 5、公称組成R_1Ba_2Cu_3F_xO_7_−
_δ(0≦X≦1)をふっ素を含む酸化性雰囲気中で熱
処理することにより、外部より、ふっ素の拡散を行わせ
る熱処理工程より成ることを特徴とする特許請求の範囲
第2項記載の酸化物超電導体の製法。 6、850〜1300℃で1分から20時間熱処理する
ことにより、ふっ素の拡散を行わせることを特徴とする
特許請求の範囲第2項記載の酸化物超電導体の製法。 7、酸化性雰囲気中において、850〜950℃で保持
して、R_1Ba_2Cu_3O_7_−_δ(R=希
土類元素)系の種結晶を成長させ、ついで950〜13
00℃の温度で1〜30分間でふっ素拡散により結晶配
向を行わせ、850〜950℃で保持して前記配向性を
安定化させ、最後に、400〜600℃の温度で保持し
超電導体化させる工程を含むことを特徴とする特許請求
の範囲第2項記載の酸化物超電導体の製法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63073899A JPH01246173A (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 酸化物超電導体及びその製法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63073899A JPH01246173A (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 酸化物超電導体及びその製法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01246173A true JPH01246173A (ja) | 1989-10-02 |
Family
ID=13531511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63073899A Pending JPH01246173A (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-28 | 酸化物超電導体及びその製法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01246173A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5110954A (en) * | 1990-07-11 | 1992-05-05 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Dehydrogenation of diols |
JP2017154957A (ja) * | 2016-03-04 | 2017-09-07 | 一般財団法人ファインセラミックスセンター | 膜及びそれを備える積層物 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6328515A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-06 | Hitachi Seiko Ltd | ワイヤ放電加工機の位置補正方法 |
JPS63285159A (ja) * | 1987-05-19 | 1988-11-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化物超電導体の製造方法 |
JPS643010A (en) * | 1987-06-26 | 1989-01-06 | Nippon Mining Co Ltd | Superconducting substance |
JPS6418970A (en) * | 1987-07-14 | 1989-01-23 | Fujikura Ltd | Production of superconductor |
JPH01105409A (ja) * | 1987-06-26 | 1989-04-21 | Hitachi Ltd | 酸化物超電導線とその製造方法 |
JPH02242478A (ja) * | 1989-03-16 | 1990-09-26 | Toshiba Tesuko Kk | ホログラムリ―ダシステム |
-
1988
- 1988-03-28 JP JP63073899A patent/JPH01246173A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6328515A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-06 | Hitachi Seiko Ltd | ワイヤ放電加工機の位置補正方法 |
JPS63285159A (ja) * | 1987-05-19 | 1988-11-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化物超電導体の製造方法 |
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JPH01105409A (ja) * | 1987-06-26 | 1989-04-21 | Hitachi Ltd | 酸化物超電導線とその製造方法 |
JPS6418970A (en) * | 1987-07-14 | 1989-01-23 | Fujikura Ltd | Production of superconductor |
JPH02242478A (ja) * | 1989-03-16 | 1990-09-26 | Toshiba Tesuko Kk | ホログラムリ―ダシステム |
Cited By (2)
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JP2017154957A (ja) * | 2016-03-04 | 2017-09-07 | 一般財団法人ファインセラミックスセンター | 膜及びそれを備える積層物 |
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