JPH01219501A - Ｃｃｄカメラによる測長方法 - Google Patents
Ｃｃｄカメラによる測長方法Info
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- JPH01219501A JPH01219501A JP4445988A JP4445988A JPH01219501A JP H01219501 A JPH01219501 A JP H01219501A JP 4445988 A JP4445988 A JP 4445988A JP 4445988 A JP4445988 A JP 4445988A JP H01219501 A JPH01219501 A JP H01219501A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims abstract description 21
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、所定部位に置かれた物体の長さを非接触で測
定するための方法に関し、そして特にＣＣＤカメラによ
る測長方法に関するものである。
定するための方法に関し、そして特にＣＣＤカメラによ
る測長方法に関するものである。
各種測長方法が知られているが、微小間隔等の測定にＣ
ＣＤカメラを使用することができる。
ＣＤカメラを使用することができる。
これは、ＣＣＤカメラの撮像部におけるピクセル（Ｐｉ
ｘｅｌ）の構成精度を利用し、被測長対象の像に相当す
るピクセル数を基準長さに相当するピクセル数と比較し
、その出力を電気的に処理して正確な測長を行うもので
ある。
ｘｅｌ）の構成精度を利用し、被測長対象の像に相当す
るピクセル数を基準長さに相当するピクセル数と比較し
、その出力を電気的に処理して正確な測長を行うもので
ある。
実際には、ＣＣＤカメラの特性の差異や被測定部までの
間隔あるいは雰囲気状態等によって測定に誤差が生ずる
ため、この誤差を如何に低減するかが問題となる。
間隔あるいは雰囲気状態等によって測定に誤差が生ずる
ため、この誤差を如何に低減するかが問題となる。
（発明が解決しようとする問題点〕
従来技術においてＣＣＤカメラにより測長する場合、実
施者の勘に頼る部分や正確な比較基準が得難い等の理由
から、客観的な測長が困難である欠点があった。本発明
においては、かかる欠点が、正確かつ確実な較正が可能
であるか否かに帰一することに着目して、上述の欠点を
解消し、実施者による個人差を排除して容易かつ正確な
測長を実施し得るＣＣＤカメラによる測長方法を提供し
ようとするものである。
施者の勘に頼る部分や正確な比較基準が得難い等の理由
から、客観的な測長が困難である欠点があった。本発明
においては、かかる欠点が、正確かつ確実な較正が可能
であるか否かに帰一することに着目して、上述の欠点を
解消し、実施者による個人差を排除して容易かつ正確な
測長を実施し得るＣＣＤカメラによる測長方法を提供し
ようとするものである。
［発明の構成］
本発明にかかるＣＣＤカメラによる測長方法は、特許請
求の範囲に記載するように、測長を行うべきＣＣＤカメ
ラによって撮像された既知長さの基準の像から得られる
像一端部所定領域の重心と像他端部所定領域の重心とを
演算処理部において演算し、各重心間に存在するピクセ
ル個数を計数し、該ピクセル個数とピクセル間距離とを
乗算することによりＣＣＤカメラの較正を行い、該較正
の終了したＣＣＤカメラと被測長対象との相対距離を変
更させずに測長を行う、ＣＣＤカメラによる測長方法を
特徴とする。
求の範囲に記載するように、測長を行うべきＣＣＤカメ
ラによって撮像された既知長さの基準の像から得られる
像一端部所定領域の重心と像他端部所定領域の重心とを
演算処理部において演算し、各重心間に存在するピクセ
ル個数を計数し、該ピクセル個数とピクセル間距離とを
乗算することによりＣＣＤカメラの較正を行い、該較正
の終了したＣＣＤカメラと被測長対象との相対距離を変
更させずに測長を行う、ＣＣＤカメラによる測長方法を
特徴とする。
また、本発明にかかるＣＣＤカメラによる測長方法は、
測長を行うべきＣＣＤカメラによって、そのドツト径お
よび各ドツト間距離のそれぞれが既知であるドツトが所
定数配列されドツトパターンを撮像し、該ＣＣＤカメラ
の所定描像範囲内に存在する完全なドツト個数を計数し
、該完全な状態でＩ最像されたドツト個数と前記所定Ｉ
最像範囲との関係からドツト間距離を演算することによ
りＣＣＤカメラの較正を行い、該較正の終了したＣＣＤ
カメラと被測長対象との相対距離を変更させずに測長を
行う、ＣＣＤカメラによる測長方法を特徴とする。
測長を行うべきＣＣＤカメラによって、そのドツト径お
よび各ドツト間距離のそれぞれが既知であるドツトが所
定数配列されドツトパターンを撮像し、該ＣＣＤカメラ
の所定描像範囲内に存在する完全なドツト個数を計数し
、該完全な状態でＩ最像されたドツト個数と前記所定Ｉ
最像範囲との関係からドツト間距離を演算することによ
りＣＣＤカメラの較正を行い、該較正の終了したＣＣＤ
カメラと被測長対象との相対距離を変更させずに測長を
行う、ＣＣＤカメラによる測長方法を特徴とする。
本発明にかかるＣＣＤカメラによる測長方法によれば、
ＣＣＤカメラの較正（Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）が正確
に実施されるため、正確かつ再現性の高い測長が達成さ
れる。
ＣＣＤカメラの較正（Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）が正確
に実施されるため、正確かつ再現性の高い測長が達成さ
れる。
さらに本発明にかかるＣＣＤカメラによる測長方法によ
れば、微小長さを非接触で連続的に測長することが可能
となり、各種製造工程における精度試験等に利用するこ
とができる。
れば、微小長さを非接触で連続的に測長することが可能
となり、各種製造工程における精度試験等に利用するこ
とができる。
以下実施例を示す添付図を参照して、本発明を詳述する
。
。
本発明にかかるＣＣＤカメラによる測長方法では、ＣＣ
Ｄカメラの逼像部としてのＣＣＤが高精度のピクセル（
Ｐｉｘｅｌ）パターンを有することを前提とし、これら
ピクセルパターンを利用して撮像された寸法の測長を行
うものである。この場合の測長の精度は、使用条件下に
あるＣＣＤカメラが如何に正確に較正されているかにか
かっている。このような較正を正確に行うために、本発
明にかかる方法では、被Ｉ最像体として、所定長さの基
準スケール又は所定数のドツトが所定間隔で配列された
ドツトパターンを利用する。
Ｄカメラの逼像部としてのＣＣＤが高精度のピクセル（
Ｐｉｘｅｌ）パターンを有することを前提とし、これら
ピクセルパターンを利用して撮像された寸法の測長を行
うものである。この場合の測長の精度は、使用条件下に
あるＣＣＤカメラが如何に正確に較正されているかにか
かっている。このような較正を正確に行うために、本発
明にかかる方法では、被Ｉ最像体として、所定長さの基
準スケール又は所定数のドツトが所定間隔で配列された
ドツトパターンを利用する。
第１図は、本発明にかかる方法を実施する場合の概念図
を示すもので、ＣＣＤカメラ１によって被撮像対象２を
撮像し、その撮像結果を演算処理部３において演算・処
理するものである。
を示すもので、ＣＣＤカメラ１によって被撮像対象２を
撮像し、その撮像結果を演算処理部３において演算・処
理するものである。
第２図は、第１の方法の撮像結果を示すもので、その長
さしが既知である基準スケールＡを被撮像対象とする。
さしが既知である基準スケールＡを被撮像対象とする。
この基準スケールＡは、所定寸法、所定形状で、背景と
のコントラストすなわち黒・白レベル差が明瞭に形成さ
れるものである必要がある（第３図）。この基準スケー
ルＡは、金属、紙、プラスチックその他の適当な材料に
よって形成することができる。本図においては、基準ス
ケールＡは、長方形としているが、その他の形状とする
こともできる。
のコントラストすなわち黒・白レベル差が明瞭に形成さ
れるものである必要がある（第３図）。この基準スケー
ルＡは、金属、紙、プラスチックその他の適当な材料に
よって形成することができる。本図においては、基準ス
ケールＡは、長方形としているが、その他の形状とする
こともできる。
第２図において、基準スケールＡの像の両端の所定領域
Ｉおよび■の重心を演算処理して求める。この場合の重
心とは、基準スケール像の両端の各所定領域内に納まる
有効ピクセル数を電子的に計数し、それぞれの１７２の
位置を示す線の交点として求められる。基準スケールＡ
の像の実際の長さしは、このようにして求めた重心Ｇｌ
、Ｇ２間の距Ｍｌに、重心より外側の両距離Δ！を加算
したものとして表される。
Ｉおよび■の重心を演算処理して求める。この場合の重
心とは、基準スケール像の両端の各所定領域内に納まる
有効ピクセル数を電子的に計数し、それぞれの１７２の
位置を示す線の交点として求められる。基準スケールＡ
の像の実際の長さしは、このようにして求めた重心Ｇｌ
、Ｇ２間の距Ｍｌに、重心より外側の両距離Δ！を加算
したものとして表される。
Ｌ＝ｆ＋２Δ２
このしは、元来既知の基準長さであるから、この既知長
さしとの関連において、ピクセル数を確認すれば、ＣＣ
Ｄカメラの較正が行われる。
さしとの関連において、ピクセル数を確認すれば、ＣＣ
Ｄカメラの較正が行われる。
このように重心を求めて較正を行う理由は、以下の通り
である。
である。
例えば、第２図のような物体（基準スケール）Ａを線ａ
に沿うように撮像した場合の濃度分布を表す信号は、第
３図の実線に示すようになる。
に沿うように撮像した場合の濃度分布を表す信号は、第
３図の実線に示すようになる。
そのため、基準スケールＡの両端における領域Ｉおよび
■において、白レベル及び黒レベル間の理想的な信号形
状である破線のような垂直の立ち上がりおよび立ち下が
りを得ることはできない。この場合の信号の傾斜は、基
準スケールＡの材質、着色、コントラストを始め、ＣＣ
Ｄカメラの光学系の特性や雰囲気の照度その他の条件に
よっても変化する。したがって、このような信号自体を
利用して較正（測長）を行うとすると、二値化（スレッ
ショールド）レベルヲ傾斜部のどの点に設定するかによ
って測長結果が異なる。そのため、基準スケール長を正
確に特定することができず、したがって正確な較正を実
施することができない。そこで、ＣＣＤカメラによって
撮像した基準スケール両端の所定領域Ｉおよび■におけ
る重心Ｇ、およびＧ２を求め、これら重心間を結んだ線
を利用して測長を行うことにより、上述のような測長誤
差を生ずる原因を排除することができる。この場合、重
心の位置が、基準スケールの長さをＬとして、所定比率
のΔ１１例えば、（１／２０） Ｌ 、となるように領
域Ｉおよび■を設定すればよい。
■において、白レベル及び黒レベル間の理想的な信号形
状である破線のような垂直の立ち上がりおよび立ち下が
りを得ることはできない。この場合の信号の傾斜は、基
準スケールＡの材質、着色、コントラストを始め、ＣＣ
Ｄカメラの光学系の特性や雰囲気の照度その他の条件に
よっても変化する。したがって、このような信号自体を
利用して較正（測長）を行うとすると、二値化（スレッ
ショールド）レベルヲ傾斜部のどの点に設定するかによ
って測長結果が異なる。そのため、基準スケール長を正
確に特定することができず、したがって正確な較正を実
施することができない。そこで、ＣＣＤカメラによって
撮像した基準スケール両端の所定領域Ｉおよび■におけ
る重心Ｇ、およびＧ２を求め、これら重心間を結んだ線
を利用して測長を行うことにより、上述のような測長誤
差を生ずる原因を排除することができる。この場合、重
心の位置が、基準スケールの長さをＬとして、所定比率
のΔ１１例えば、（１／２０） Ｌ 、となるように領
域Ｉおよび■を設定すればよい。
かかる設定によフて得られる重心Ｇ１およびＧ２を結ぶ
線の長さを基礎とする基準スケールの長さを利用してＣ
ＣＤのピクセルとの関連において演算測定すれば、誤差
のない基準像の測定を行うことができる。その結果、Ｃ
ＣＤカメラのピクセル数による較正が行われ、このＣＣ
Ｄカメラの状態を変更することなしに、この較正結果に
基ずいて被測定対象の長さ、所定部分間の距離等をピク
セル数に換算して測定することができる。すなわち、測
定結果は、 測定値＝〔ピクセル数〕×〔ピクセル寸法〕として求め
られる。
線の長さを基礎とする基準スケールの長さを利用してＣ
ＣＤのピクセルとの関連において演算測定すれば、誤差
のない基準像の測定を行うことができる。その結果、Ｃ
ＣＤカメラのピクセル数による較正が行われ、このＣＣ
Ｄカメラの状態を変更することなしに、この較正結果に
基ずいて被測定対象の長さ、所定部分間の距離等をピク
セル数に換算して測定することができる。すなわち、測
定結果は、 測定値＝〔ピクセル数〕×〔ピクセル寸法〕として求め
られる。
この場合の測長結果は、基準スケールにより較正された
ピクセル状態において正確な測定値を示すことになり、
しかも被測長物体とＣＣＤカメラとは非接触で測長する
ことができる。したがって、ＣＣＤカメラが固定してい
て被測定対象が順次移動する場合や広い範囲に分散する
多数の被測定対象を、ＣＣＤカメラを相対的に走査しな
がら測定することができる。当然、ＣＣＤカメラと被測
定対象との間は所定相対間隔に保持される。
ピクセル状態において正確な測定値を示すことになり、
しかも被測長物体とＣＣＤカメラとは非接触で測長する
ことができる。したがって、ＣＣＤカメラが固定してい
て被測定対象が順次移動する場合や広い範囲に分散する
多数の被測定対象を、ＣＣＤカメラを相対的に走査しな
がら測定することができる。当然、ＣＣＤカメラと被測
定対象との間は所定相対間隔に保持される。
また、上述゛の基準スケールを使用するのに対して、第
２の方法では、測定基準として所定寸法のドツトが所定
間隔で正確に配列されたドツトパターンを使用してＣＣ
Ｄカメラの較正を行うことができる。この場合のドツト
パターンは、第４図に示すように、ドツト径ｒ、ドツト
間間隔ｄであるように正確に配列されたものである。
２の方法では、測定基準として所定寸法のドツトが所定
間隔で正確に配列されたドツトパターンを使用してＣＣ
Ｄカメラの較正を行うことができる。この場合のドツト
パターンは、第４図に示すように、ドツト径ｒ、ドツト
間間隔ｄであるように正確に配列されたものである。
かかるドツトパターンを第１図の被撮像対象２の位置に
おき、ＣＣＤカメラによって撮像する。
おき、ＣＣＤカメラによって撮像する。
このようにして撮像された第５図のような結果において
、所定範囲内に確実に存在するドツト個数、したがって
欠けたドツトを除外してドツト個数（１２個）を計数し
、このドツト個数とピクセルとの関係から、ＣＣＤカメ
ラの較正を行うものである。
、所定範囲内に確実に存在するドツト個数、したがって
欠けたドツトを除外してドツト個数（１２個）を計数し
、このドツト個数とピクセルとの関係から、ＣＣＤカメ
ラの較正を行うものである。
このようなドツトパターンを利用して較正を行う利点は
、視野（測定範囲）に限定されることな〈実施できる点
にある。−船釣に、基準測定物（スケール）は大きさが
一定であるので、視野の如何によって撮像範囲が変化し
、この像を基準とすると所望の精度を得ることができな
い。それに対してここに示すようなドツトパターンにお
けるドツト径を基準にする方法によれば、かかる欠点が
除去され、正確な較正を行うことができる。
、視野（測定範囲）に限定されることな〈実施できる点
にある。−船釣に、基準測定物（スケール）は大きさが
一定であるので、視野の如何によって撮像範囲が変化し
、この像を基準とすると所望の精度を得ることができな
い。それに対してここに示すようなドツトパターンにお
けるドツト径を基準にする方法によれば、かかる欠点が
除去され、正確な較正を行うことができる。
この場合も、第１の方法と同様に測定を実施することが
できる。
できる。
第１図は、本発明にかかる方法を実施する場合の概念図
を示す。 第２図は、第１の較正方法の損傷結果を示すものである
。 第３図は、ＣＣＤカメラによる描像信号の黒・白レベル
の特性である。 第４図は、第２の較正方法に使用されるドツトパターン
の例である。 第５図は、第４図のドツトパターンを描像した所定範囲
内像である。 図中の主な参照符号は以下の通り。 １：ｃｃＤカメラ ２：被撮像体 ３：演算処理部
を示す。 第２図は、第１の較正方法の損傷結果を示すものである
。 第３図は、ＣＣＤカメラによる描像信号の黒・白レベル
の特性である。 第４図は、第２の較正方法に使用されるドツトパターン
の例である。 第５図は、第４図のドツトパターンを描像した所定範囲
内像である。 図中の主な参照符号は以下の通り。 １：ｃｃＤカメラ ２：被撮像体 ３：演算処理部
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）測長を行うべきＣＣＤカメラによって撮像された既
知長さの基準の像から得られる像一端部所定領域の重心
と像他端部所定領域の重心とを演算処理部において演算
し、各重心間に存在するピクセル個数を計数し、該ピク
セル個数とピクセル間距離とを乗算することによりＣＣ
Ｄカメラの較正を行い、該較正の終了したＣＣＤカメラ
と被測長対象との相対距離を変更させずに測長を行うこ
とを特徴とする、ＣＣＤカメラによる測長方法。 ２）測長を行うべきＣＣＤカメラによって、そのドット
径および各ドット間距離のそれぞれが既知であるドット
が所定数配列されドットパターンを撮像し、該ＣＣＤカ
メラの所定撮像範囲内に存在する完全なドット個数を計
数し、該完全な状態で撮像されたドット個数と前記所定
撮像範囲との関係からドット間距離を演算することによ
りＣＣＤカメラの較正を行い、該較正の終了したＣＣＤ
カメラと被測長対象との相対距離を変更させずに測長を
行うことを特徴とする、ＣＣＤカメラによる測長方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4445988A JP2609270B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | Ｃｃｄカメラによる測長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4445988A JP2609270B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | Ｃｃｄカメラによる測長方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01219501A true JPH01219501A (ja) | 1989-09-01 |
| JP2609270B2 JP2609270B2 (ja) | 1997-05-14 |
Family
ID=12692072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4445988A Expired - Lifetime JP2609270B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | Ｃｃｄカメラによる測長方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2609270B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0554116A2 (en) * | 1992-01-30 | 1993-08-04 | Texas Instruments Incorporated | Method and system for enhancing resolution of an image |
| JPH07208924A (ja) * | 1994-01-11 | 1995-08-11 | Toshiba Corp | 視覚認識装置の認識用光学系のキャリブレーション方法 |
| JP2007315801A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | カメラスケールの計測方法と部品実装機のカメラスケール計測装置、これを用いた部品実装機 |
| CN109696184A (zh) * | 2017-10-24 | 2019-04-30 | 精工爱普生株式会社 | 编码器、机器人以及打印机 |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP4445988A patent/JP2609270B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0554116A2 (en) * | 1992-01-30 | 1993-08-04 | Texas Instruments Incorporated | Method and system for enhancing resolution of an image |
| EP0554116A3 (ja) * | 1992-01-30 | 1994-03-02 | Texas Instruments Inc | |
| JPH07208924A (ja) * | 1994-01-11 | 1995-08-11 | Toshiba Corp | 視覚認識装置の認識用光学系のキャリブレーション方法 |
| JP2007315801A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | カメラスケールの計測方法と部品実装機のカメラスケール計測装置、これを用いた部品実装機 |
| CN109696184A (zh) * | 2017-10-24 | 2019-04-30 | 精工爱普生株式会社 | 编码器、机器人以及打印机 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2609270B2 (ja) | 1997-05-14 |
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