JPH0120702Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はICの電気的特性のチエツクを行う測
定部に係り、特にICの表面をきずつけることな
く測定することができる測定部のIC保持機構に
関する。

〔従来の技術〕

まず、本考案に係るICハンドラを説明する。

第３図は本考案に係るICハンドラの正面図を
示し、ICハンドラＡはローダ部９、測定部Ｂ、
アンローダ部１０、これらを連結するシユート部
１１ａ，１１ｂ及び全体を支持し各部の制御系、
配管系を備えた筐体１２とよりなり、次のような
動作を行う。

ICはマガジン１３に充填されてローダ部９に
供給されマガジン収納部１４に積載保持される。
ICの充填されたマガジン１３はマガジン収納部
１４の底部より１本づつ抜き出されマガジン傾動
部１５へ供給されて所定の角度に傾動され、シユ
ート部１１ａに接続されてICをシユート部１１
ａに供給する。シユート部１１ａに供給された
ICはその入口部分に設けたIC個別化機構１６に
より個別化されて測定部Ｂへ１個ずつ供給する。

測定部Ｂはその上流側のシユート部１１ａより
１個ずつ供給されたICをIC測定用のソケツトに
合わせて位置決めし、動かないようにICを保持
しておいてから昇降ガイドレールと共にICを下
降させ、直下に配置されたソケツトにICのリー
ドを差し込んでその電気的特性をチエツクし、然
るのちソケツトよりICを引き抜き、ICの保持を
解除して下流側のシユート部１１ｂに供給する。
下流側のシユート部１１ｂに供給されたICはア
ンローダ部１０へ送られ、特性別に分類されてマ
ガジン１３に収納されることになる。

このようなICハンドラＡにおける従来の測定
部のIC保持機構としては、例えば第４図示のよ
うなものがある。

第４図において１１ａはローダ部９に連通する
測定部Ｂの上流側のシユート部、１１ｂはアンロ
ーダ部１０に連通する下流側のシユート部、１７
はベースである。

測定部Ｂのベース１７部分には大きな角孔１８
が設けられており、上流側、下流側のシユート部
１１ａ，１１ｂのガイドレール２２ａ，２２ｂ間
を接続する上死点と、IC４のリードを下方の測
定用のソケツト１に差し込む下死点との間を昇降
ガイドレール２が昇降できるようになつている。
５ａは上流側、下流側のシユート部１１ａ，１１
ｂのガイドヤネ２３ａ，２３ｂを接続するガイド
ヤネである。

７ａは後方端に突出部２４を有する仮状の位置
決めストツパである。この位置決めストツパ７ａ
はガイドヤネ５ａと上死点の昇降ガイドレール２
との間のIC通過溝３内にIC４が供給される直前
に単独で下降しガイドヤネ５ａの通孔６ａを通し
てIC通過溝３内に突出してソケツト１に対して
IC４の位置決めを突出部２４で行い、腹部２５
と昇降ガイドレール２とでIC４を挟持する中間
位置と、IC４のリードをソケツト１に差し込む
下限位置との間を昇降ガイドレール２と一緒に昇
降し、昇降ガイドレール２の上死点まで上昇した
後、単独で上昇するものである。

８は位置決めストツパ７ａの突出部２４とで
IC４を挟持して正確に位置決めするための揺動
レバーで、ガイドヤネ５ａ，２３ａに設けた長孔
２６を通して揺動回動する。

上記のように従来の測定部のIC保持機構は、
IC４の位置決めと保持を板状の位置決めストツ
パ７ａによつて行つており、IC４の電気的特性
のチエツクは、まず位置決めストツパ７ａを下降
してIC通過溝３内に突出し、供給されたIC４を
突出部２４に突き当て、揺動レバー８を長孔２６
を通して回動してIC４を突出部２４と揺動レバ
ー８とで挟持し、正確に位置決めする。しかる
後、位置決めストツパ７ａを更に下降して腹部２
５と昇降ガイドレール２とでIC４を挟持し、そ
の後、揺動レバー８は上方へ回動して逃げ、IC
４の挟持が昇降ガイドレール２と位置決めストツ
パ７ａで保持され、次いでIC４を挟持した状態
で昇降ガイドレール２と位置決めストツパ７ａを
一緒に下降させ、IC４のリードをソケツト１に
差し込んで電気的特性のチエツクを行う。

〔考案が解決しようとする問題点〕

しかしながら従来機構は、板状の位置決めスト
ツパ７ａの腹部２５と昇降ガイドレール２とで
IC４を挟持し保持するものであるから、腹部２
５とIC４との接触面積が小さいために単位面積
当たりの押圧力が過大となり、IC４の上面に押
圧痕が付くおそれがあるばかりでなく、IC４の
正確な位置決めを行つてもなおソケツト１とIC
４の位置との間に微妙なずれがあるため、ソケツ
ト１への挿入時にIC４がわずかに動き、位置決
めストツパ７ａによつてIC４の上面に印刷され
たマークにすりきずがつくという問題点があつ
た。

また、位置決めストツパをICの保持を兼ねた
板状のものにせず、ICの保持手段を位置決めス
トツパと別体でピン状のものとしてもよいが、こ
の場合もやはり押圧痕、すりきずがIC４の上面
に付くことがあるという問題点があつた。

本考案は、かかる従来例の欠点に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、ICの上面
に押圧痕がつかず、マークにきずがつかない測定
部のIC保持機構を提供するにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本考案機構は上記の問題点を解決し上記目的を
達成するため、第１図示のようにIC測定用ソケ
ツト１の直上の上流側、下流側のシユート部１１
ａ，１１ｂを接続する点と、IC４のリードを上
記ソケツト１に差し込む点との間に、IC通過溝
３を形成する昇降ガイドレール２と昇降ガイドヤ
ネ５を設け、上記ソケツト１に対してIC４の位
置決めをし、昇降ガイドレール２と昇降ガイドヤ
ネ５でIC４を挟持して上記ソケツト１に差し込
むようにしたIC保持機構において、第２図のよ
うに昇降ガイドヤネ５の内面をIC４の上部形状
と同じにし、かつIC４の上面の縁を押さえるよ
う昇降ガイドヤネ５のIC４の上面を押さえる面
に細長溝２０を設けてなる。

〔作用〕

上流側のシユート部１１ａよりソケツト１上の
位置まで送られてきたIC４はソケツト１に対し
て位置決めされ、昇降ガイドレール２と昇降ガイ
ドヤネ５で挟持される。この状態で下降しIC４
のリードはソケツト１に差し込まれ電気的特性の
チエツクが行われる。

しかる後、昇降ガイドレール２と昇降ガイドヤ
ネ５が上昇されてその間に挟持されたIC４のリ
ードがソケツト１より抜き出され、昇降ガイドレ
ール２が元の位置に戻つた際、昇降ガイドヤネ５
だけが上昇してIC４の挟持が解放さ、解放され
たIC４は昇降ガイドレール２と昇降ガイドヤネ
５に接続される下流側のシユート部１１ｂに送り
出されることになる。

〔実施例〕

第１図ａ〜ｅは本考案機構の一実施例の構成と
動作の説明用縦断面図、第２図は本考案における
昇降ガイドヤネを用いた場合の測定部の部分横断
面図である。

第１図においてIC測定用のソケツト１、上流
側、下流側のシユート部１１ａ，１１ｂ、昇降ガ
イドレール２及び揺動レバー８等は第４図のもの
と同様である。１９はソケツト１を上面に備えた
テストヘツドである。

５は昇降ガイドヤネで、上流側、下流側のシユ
ート部１１ａ，１１ｂのガイドヤネ２３ａ，２３
ｂ間を接続する上限位置と、上死点の昇降ガイド
レール２とでIC４を挟持する中間位置との間を
単独で昇降し、この中間位置と、IC４のリード
をソケツト１に差し込む下限位置との間を昇降ガ
イドレール２と一緒に昇降するものである。

昇降ガイドヤネ５の内面は第２図示のように
IC４の上部形状と同じ形状になつており、昇降
ガイドヤネ５のIC４の上面を押さえる面にはIC
４の上面の縁（段部）２１を押さえるよう細長溝
２０が設けられている。

７は位置決めストツパで、上限位置の昇降ガイ
ドヤネ５と上死点の昇降ガイドレール２との間の
IC通過溝３内にIC４が供給される直前に下降し
昇降ガイドヤネ５の通孔６を通してIC通過溝３
内に突出してソケツト１に対してIC４の位置決
めを行い、昇降ガイドヤネ５と昇降ガイドレール
２とでIC４を挟持した後に上昇してIC通過溝３
外に抜去されるもので、シリンダ等により駆動さ
れる。

上記の構成において本考案の作用を説明する。

ローダ部９より下流側のシユート部１１ａに供
給されたIC４はIC個別化機構１６により１個ず
つ測定部Ｂに供給されることになる。測定部Ｂの
昇降ガイドヤネ５と昇降ガイドレール２との間に
形成されたIC通過溝３内にIC４が供給される直
前に位置決めストツパ７が下降し、通孔６を通し
てIC通過溝３内に第１図ａ示のように突出する。
IC通過溝３内に供給されたIC４は昇降ガイドヤ
ネ５の通孔６よりIC通過溝３内に突出している
位置決めストツパ７に突き当たつて停止する。次
いでIC４より遅れて回動してきた揺動レバー８
が、停止しているIC４の後端を押し、位置決め
ストツパ７とでIC４を挟持し、正確にIC４の停
止位置を決める。（第１図ａ参照） IC４の正確な停止位置が定まると昇降ガイド
ヤネ５がわずかに下降して昇降ガイドレール２と
でIC４を挟持する。然るのち揺動レバー８は逆
方向に回動して逃げ、IC通過溝３の外に出る。
（第１図ｂ参照） 次いでIC４を挟持したまま、昇降ガイドヤネ
５と昇降ガイドレール２とが一緒に下降し、直下
に用意されたソケツト１にIC４のリードを挿入
する。かかる状態を保持し、IC４の電気的特性
のチエツクを行う。この間、位置決めストツパ７
は上方に引き上げられ、実線の位置にて停止して
いる。（第１図ｃ参照） IC４のテストが終了するとIC４の挟持状態を
保持しつつ昇降ガイドレール２と昇降ガイドヤネ
５とが一緒に上昇する。昇降ガイドレール２は上
流側、下流側のシユート部１１ａ，１１ｂのガイ
ドレール２２ａ，２２ｂ間を接続する上死点で停
止するが（第１図ｄ参照）、昇降ガイドヤネ５は
上流側、下流側のシユート部１１ａ，１１ｂのガ
イドヤネ２３ａ，２３ｂ間を接続する上限位置に
くるまでさらに上昇し、IC４を挟持状態から開
放する（第１図ｅ参照）。この時、位置決めスト
ツパ７は昇降ガイドヤネ５の通孔６から抜け出て
いてIC通過溝３外に出ている。

IC４は昇降ガイドヤネ５の上昇によりフリー
となり、自重による滑落と同時にIC４に向けて
噴出された圧縮空気の作用により瞬時に下流側の
シユート部１１ｂ内に送り込まれることになる。
（第１図ｅ参照） 下流側のシユート部１１ｂに送り込まれたIC
４は特性別に分類されたのちアンローダ部１０の
マガジン１３に特性別に収納される。

また、昇降ガイドヤネ５の内面は第２図示のよ
うにIC４の上部形状と同じ形状になつており、
昇降ガイドヤネ５のIC４の上面を押さえる面に
はIC４の上面の縁（段部）２１を押さえるよう
細長溝２０が設けられているので、IC４の上面
に印刷されたマークに昇降ガイドヤネ５が接触す
ることがない。

〔考案の効果〕

上述のように本考案によれば、昇降ガイドヤネ
５の内面をIC４の上部形状と同じにし、かつIC
４の上面の縁を押さえるよう昇降ガイドヤネ５の
IC４の上面を押さえる面に細長溝２０を設けて
いるので、IC４の上面に印刷されたマーク部分
への接触を回避できるから、マーク部分に押圧痕
を付けたり、IC４の上面のマークにすり傷を付
けたり、当該マークを消失したりするおそれを確
実に解消することができるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図ａ〜ｃは本考案機構の一実施例の構成と
動作の説明用縦断面図、第２図は本考案における
昇降ガイドヤネを用いた場合の測定部の部分横断
面図、第３図は本考案に係るICハンドラの正面
図、第４図は従来機構の一例を示す斜視図であ
る。 １……ソケツト、２……昇降ガイドレール、３
……IC通過溝、４……IC、５……昇降ガイドヤ
ネ、６……通孔、７……位置決めストツパ、８…
…揺動レバー、１１ａ，１１ｂ……シユート部、
２０……細長溝、２１……IC４の上面の縁（段
部）、２２ａ，２２ｂ……ガイドレール、２３ａ，
２３ｂ……ガイドヤネ、２６……長孔。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. IC測定用ソケツト１の直上の上流側、下流側
   のシユート部１１ａ，１１ｂを接続する点と、
   IC４のリードを上記ソケツト１に差し込む点と
   の間に、IC通過溝３を形成する昇降ガイドレー
   ル２と昇降ガイドヤネ５を設け、上記ソケツト１
   に対してIC４の位置決めをし、昇降ガイドレー
   ル２と昇降ガイドヤネ５でIC４を挟持して上記
   ソケツト１に差し込むようにしたIC保持機構に
   おいて、昇降ガイドヤネ５の内面をIC４の上部
   形状と同じにし、かつIC４の上面の縁を押さえ
   るよう昇降ガイドヤネ５のIC４の上面を押さえ
   る面に細長溝２０を設けてなる測定部のIC保持
   機構。