JPS5931246U - Ｉｃハンドラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案ＩＣハンドラの供給、分離、補、　　　
　　助測定、正規測定、分類及び収納までの一連の動作
を行う装置の簡略斜視図、第２図はＩＣの供給から正規
測定までの動作を行う装置の概略正断面図、第３図は補
助測定部の概略平面図、第４図は第３図のＩＶ−ＩＶ線
断面図、第５図は第３図のＶ−Ｖ線断面図である。 １・・・・・・ローダ部、２・・・・・・セパレータ部
、３・・・・・・補助測定部、４・・・・・・正規測定
部、５・・・・・・分類部、６・・・・・・良品アンロ
ーダ部、７・・・・・・不良品アンローダ部、８・・・
・・・ＩＣ，９・・・・・・セパレークシュートレール
、１０・・・・・・補助レール、１１・・・・・・補助
屋根、１２・・・・・・コンタクト、１ｊ・・・・・・
シリンダ用長孔、１４．１５・・・・・・エア吹出し孔
、１６・・・・・・セパレータ用ワーク抑えシリンダ、
１７・・・・・・セパレータ用ワークストッパシリンダ
、１８・・・・・・補助用ワーク抑えシリンダ、１９・
・・・・・補助用ワークストッパシリンダ、２０・・・
・・・セパレータ用レバー、２１・・・・・・揺動シリ
ンダ、２２・・・・・・基台、２３・・・・・・カム、
２４・・・・・・ギア、２５・・・・・・揺動アーム、
２６・・・・・・スライド溝、２７・・・・・・駆動シ
リンダ、２８・・・・・・コロ、２９・・・・・・スト
ローク調整ストッパ、３０・・・・・・正規レール、３
１・・・・・・正規屋根、３２・・・・・・位置決めス
トッパ、３３・・・・・・ソケット、３４・・・・・・
テストヘッド。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. ＩＣを１個ずつ測定部に供給して電気的測定を行い良否
   判定を行うハンドラｉこおいて、高周波による電気的測
   定を行うソケット方式の正規測定部の前に、直流測定や
   コンデンサチャージ測定等を行う、ＩＣの脚を挟圧・解
   放するコンタクト方式の補助測定部を設けてなるＩＣハ
   ンドラ。