JPS62203475U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62203475U JPS62203475U JP9108686U JP9108686U JPS62203475U JP S62203475 U JPS62203475 U JP S62203475U JP 9108686 U JP9108686 U JP 9108686U JP 9108686 U JP9108686 U JP 9108686U JP S62203475 U JPS62203475 U JP S62203475U
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- JP
- Japan
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- positioning
- positioning device
- pair
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- measurement
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図は、この考案のIC素子測定用位置決め
装置の一実施例を示す配置図、第2図はその概略
図、第3図はマガジンを示す斜視図、第4図は従
来のIC素子測定用位置決め装置を説明するため
の配置図、第5図はその概略図である。 1……マガジン、2……IC素子、3……IC
テスタ本体、4……テストヘツド、5……位置決
め装置、6……ローダー、7……アンローダー、
11……搬送ライン、12……停止位置。
装置の一実施例を示す配置図、第2図はその概略
図、第3図はマガジンを示す斜視図、第4図は従
来のIC素子測定用位置決め装置を説明するため
の配置図、第5図はその概略図である。 1……マガジン、2……IC素子、3……IC
テスタ本体、4……テストヘツド、5……位置決
め装置、6……ローダー、7……アンローダー、
11……搬送ライン、12……停止位置。
Claims (1)
- IC素子測定用位置決め装置において、一対の
IC素子の供給機構およびIC素子の分類回収機
構と、これに対して2分割されたIC素子位置決
め機構とを設けたことを特徴とするIC素子測定
用位置決め装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9108686U JPS62203475U (ja) | 1986-06-14 | 1986-06-14 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9108686U JPS62203475U (ja) | 1986-06-14 | 1986-06-14 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62203475U true JPS62203475U (ja) | 1987-12-25 |
Family
ID=30951546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9108686U Pending JPS62203475U (ja) | 1986-06-14 | 1986-06-14 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62203475U (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6015941A (ja) * | 1983-07-08 | 1985-01-26 | Hitachi Yonezawa Denshi Kk | 検査装置 |
-
1986
- 1986-06-14 JP JP9108686U patent/JPS62203475U/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6015941A (ja) * | 1983-07-08 | 1985-01-26 | Hitachi Yonezawa Denshi Kk | 検査装置 |
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