JPS60107774U - Icハンドラの測定部の接触機構 - Google Patents

Icハンドラの測定部の接触機構

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JPS60107774U
JPS60107774U JP19453783U JP19453783U JPS60107774U JP S60107774 U JPS60107774 U JP S60107774U JP 19453783 U JP19453783 U JP 19453783U JP 19453783 U JP19453783 U JP 19453783U JP S60107774 U JPS60107774 U JP S60107774U
Authority
JP
Japan
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measurement
handler
contact mechanism
measurement part
contact
Prior art date
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Pending
Application number
JP19453783U
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English (en)
Inventor
横溝 勲
齋藤 光男
原田 康博
敏 小山
Original Assignee
株式会社日立国際電気
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Publication date
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Priority to JP19453783U priority Critical patent/JPS60107774U/ja
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係るICハンドラの正面図、第2図〜
第4図は本考案接触機構の動作説明用縦断側面図、第5
図は第2図の正断面図、第6図は  4本考案接触機構
を実施した測定部の外観斜視図である。 1・・・・・・測定用ソケット、2・・・・・・測定用
接点、3・・・・・・ワーク、4・・・・・・レール、
5・・・・・・ガイド屋根、6・・・・・・ワークリー
ド、7・・・・・・突状物、9・・・・・・測定部、1
1・・・・・・ストッパぐン、1.2・曲・ワークガイ
ドアーム、A・・・・・・ICハンドラ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 測定部に設置され、ワークのワークリードが接触する複
    数本の測定用接点を植設した測定用ソケットと、この測
    定用ソケットの上方でワークを挾持して昇降するレール
    とガイド屋根とを有するICハンドラの測定部の接触機
    構において、測定用接点の直上のガイド屋根の下面に、
    ワークリード押圧用の不良導体製の突状物を配設してな
    ることを特徴とするICハンドラの測定部の接触機構。
JP19453783U 1983-12-16 1983-12-16 Icハンドラの測定部の接触機構 Pending JPS60107774U (ja)

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JPS60107774U true JPS60107774U (ja) 1985-07-22

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52116178A (en) * 1976-03-26 1977-09-29 Kokusai Electric Co Ltd Device for detachably attaching ic element to measuring socket
JPS5827874B2 (ja) * 1978-07-05 1983-06-11 防衛庁技術研究本部長 ソ−ナ−装置の測的処理方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52116178A (en) * 1976-03-26 1977-09-29 Kokusai Electric Co Ltd Device for detachably attaching ic element to measuring socket
JPS5827874B2 (ja) * 1978-07-05 1983-06-11 防衛庁技術研究本部長 ソ−ナ−装置の測的処理方法

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