JPH01202870A - 電界効果トランジスタ - Google Patents

電界効果トランジスタ

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Publication number
JPH01202870A
JPH01202870A JP2802088A JP2802088A JPH01202870A JP H01202870 A JPH01202870 A JP H01202870A JP 2802088 A JP2802088 A JP 2802088A JP 2802088 A JP2802088 A JP 2802088A JP H01202870 A JPH01202870 A JP H01202870A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electrode
drain
schottky junction
transistor
Prior art date
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Pending
Application number
JP2802088A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukio Miyatake
行夫 宮武
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH01202870A publication Critical patent/JPH01202870A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/7839Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate with Schottky drain or source contact

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電界効果トランジスタに関し、特にショットキ
ー接合ゲートを有する電界効果トランジスタに関する。
〔従来の技術〕
従来は、電界効果トランジスタのドレイン部にはオーミ
ックコンタクトを設け、回路素子としてはトランジスタ
単体としての機能を有するのみに留まっていた。また、
例えば、GaAsMESFETをダイオードとして用い
る場合には、ドレインとソースを理路したトランジスタ
を用いていた。トランジスタとダイオードを接続する場
合には、トランジスタとダイオードを別個に設けて接続
する方法を取っていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
前述のように、トランジスタとダイオードを別個に設け
て接続する方法では、2素子分の面積が必要となり、集
積度が上らないという問題がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の電界効果トランジスタは、ショットキー接合を
有するゲートとショットキー接合を有するドレインとオ
ーミックコンタクトを有するソースとからなる。
〔作用〕
トランジスタのドレイン部にショットキー接合を用いる
ことによりドレイン部単独でダイオードの機能をもたせ
、トランジスタとダイオードを接続するような回路にお
いては本発明のトランジスタ単独でその機能を果たすこ
とが可能になる。
〔実施例〕
本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の断面図である。
半導体基板1にI X 10 ”cm−2程度で不純物
をイオン注入してn+層2を設け、次に、5×1013
cm−2程度で不純物をイオン注入して1層3を設ける
。n+層2にソース電極4を、1層3にゲート電極5.
ドレイン電極6を設ける。ソース電極4はn+層2とオ
ーミックコンタクトを形成し、ゲート電極5とドレイン
電極6とは1層3とショットキー接合を形成する。
第2図は第1図に示す第1の実施例の等価回路図である
トランジスタ10のドレインにダイオード9が接続され
た回路になる。
第3図は本発明の第2の実施例の断面図である。
第2の実施例は、第1の実施例のトランジスタのソース
とゲートとの間及びドレインとゲートとの間にn+層7
,8を設けたものである。n+層7.8は7 X 10
12cm−2程度で不純物をイオン注入することにより
形成される。n+層7,8は、ゲートとトレインとの間
の抵抗を減少させるために新たに加えたものである。上
記以外は第1の実施例と同じである。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、ドレインにショットキ
ー接合を形成する電極を設けなので、トランジスタとダ
イオードとが接続した回路を素子1個分の面積で実現す
ることが可能となり、集積度の向上が計れるという効果
を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の断面図、第2図は第1
図に示す第1の実施例の等価回路図、第3図は本発明の
第2の実施例の断面図である。 1・・・半導体基板、2・・・n層層、3・・・n層、
4・・・ソース電極、5・・・ゲート電極、6・・・ド
レイン電極、7.8・・・n層層、9・・・ダイオード
、10・・・トランジスタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ショットキー接合を有するゲートとショットキー接合
    を有するドレインとオーミックコンタクトを有するソー
    スとを有することを特徴とする電界効果トランジスタ。
JP2802088A 1988-02-08 1988-02-08 電界効果トランジスタ Pending JPH01202870A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5159416A (en) * 1990-04-27 1992-10-27 Nec Corporation Thin-film-transistor having schottky barrier
JP2003007976A (ja) * 2001-06-25 2003-01-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及びモジュール装置
JP2010165896A (ja) * 2009-01-16 2010-07-29 Nec Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2010212596A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Sharp Corp 電界効果型トランジスタ
US8552471B2 (en) 2009-01-16 2013-10-08 Nec Corporation Semiconductor apparatus having reverse blocking characteristics and method of manufacturing the same

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