JPH01199309A - 複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラス - Google Patents
複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラスInfo
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- JPH01199309A JPH01199309A JP2458688A JP2458688A JPH01199309A JP H01199309 A JPH01199309 A JP H01199309A JP 2458688 A JP2458688 A JP 2458688A JP 2458688 A JP2458688 A JP 2458688A JP H01199309 A JPH01199309 A JP H01199309A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ｕ）産業上の利用分野
本発明は磁気ギャップ近傍部（二強磁性金属薄膜が形成
された複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラスに関する。
された複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラスに関する。
（ロ）従来の技術
近年、ビデオテープレコーダ等の磁気記録再生装置に使
用される磁気テープは高密度化が進められており、磁性
粉としてｌｉ’ｅ、Ｃｏ、Ｎｉ等の強磁性金属粉末を用
いた抗磁力の高いメタルテープが使用されるようＣ；な
っている。一方、このメタルテープ題：記録を行う磁気
ヘッドとしては、作動ギャップの近傍部分を磁気コアと
して使用されるフェライトよりも飽和磁化の大きな磁性
材料（例エはパーマロイ、センダスト、アモルファス磁
性体）で構成した複合型磁気ヘッドが提案されており、
このセυ合型磁気ヘッドは信頼性、磁気特性、耐摩耗性
等の点で優れた特性を有する。
用される磁気テープは高密度化が進められており、磁性
粉としてｌｉ’ｅ、Ｃｏ、Ｎｉ等の強磁性金属粉末を用
いた抗磁力の高いメタルテープが使用されるようＣ；な
っている。一方、このメタルテープ題：記録を行う磁気
ヘッドとしては、作動ギャップの近傍部分を磁気コアと
して使用されるフェライトよりも飽和磁化の大きな磁性
材料（例エはパーマロイ、センダスト、アモルファス磁
性体）で構成した複合型磁気ヘッドが提案されており、
このセυ合型磁気ヘッドは信頼性、磁気特性、耐摩耗性
等の点で優れた特性を有する。
第６図はこの複合型磁気ヘッドの外観を示しており、
（１ａ）（１１））はフェライトよりなる磁気コア半体
、（２）は８１０２等のギャップスペーサより形成され
る作動ギャップ、（３Ｈ３１はセンダスト等の強磁性金
属薄膜、（４１（４）はコア接合用ガラス、（５）は巻
線溝である。
（１ａ）（１１））はフェライトよりなる磁気コア半体
、（２）は８１０２等のギャップスペーサより形成され
る作動ギャップ、（３Ｈ３１はセンダスト等の強磁性金
属薄膜、（４１（４）はコア接合用ガラス、（５）は巻
線溝である。
しかし乍ら、このような複合型磁気ヘッドでは磁気コア
半体（１１Ｌ） （１１））をコア接合用ガラス（４
）により接合する際、通常６００℃以上嘔；加熱する必
要があり、磁気コア半体（１Ｂ）（１ｂ）と強磁性金属
薄膜＋３１＋３１との界面には反応が起？：、シ、変質
層が形成される。そして、このような変質層が形成され
ると、前記界面での磁気抵抗が増大し、磁気ヘッド全体
の記碌再生出力が低下する。また第７図から判るよう（
：温度が高くなる程、磁気コア半体（フェライト）（１
ａ）（１ｂ）と強磁性金属？ＩｋｌｌＰ（センダス））
＋３）との熱膨張係数（平均線膨張係数）の差が大きく
なるため、前記磁気コア半体（１ａ） （１１１）を
高温でガラス接合すると、強磁性金属５ＩＩ５？（３１
１３１内Ｃ：応力が発生し、該薄Ｉｔ％（３１（３０ニ
ヒビや剥離が生じ、磁気特性が劣化する。
半体（１１Ｌ） （１１））をコア接合用ガラス（４
）により接合する際、通常６００℃以上嘔；加熱する必
要があり、磁気コア半体（１Ｂ）（１ｂ）と強磁性金属
薄膜＋３１＋３１との界面には反応が起？：、シ、変質
層が形成される。そして、このような変質層が形成され
ると、前記界面での磁気抵抗が増大し、磁気ヘッド全体
の記碌再生出力が低下する。また第７図から判るよう（
：温度が高くなる程、磁気コア半体（フェライト）（１
ａ）（１ｂ）と強磁性金属？ＩｋｌｌＰ（センダス））
＋３）との熱膨張係数（平均線膨張係数）の差が大きく
なるため、前記磁気コア半体（１ａ） （１１１）を
高温でガラス接合すると、強磁性金属５ＩＩ５？（３１
１３１内Ｃ：応力が発生し、該薄Ｉｔ％（３１（３０ニ
ヒビや剥離が生じ、磁気特性が劣化する。
オた、前記強磁性金属薄膜（３バ３）をアモルファス磁
性体で形成した場合、磁気コア半体（１Ｂ）（１′ｂ）
を５００℃以上の高温でガラス接合するとアモルファス
磁性体が結晶化して、磁気特性が劣化する。
性体で形成した場合、磁気コア半体（１Ｂ）（１′ｂ）
を５００℃以上の高温でガラス接合するとアモルファス
磁性体が結晶化して、磁気特性が劣化する。
また、５００℃以下で軟化し、熱膨張係数の差による欠
点を防止した接合用ガラスとしては、例えば特開昭６２
−１０３８０８号公報（（）１１Ｂ５／１３３）等に開
示されたものがある。
点を防止した接合用ガラスとしては、例えば特開昭６２
−１０３８０８号公報（（）１１Ｂ５／１３３）等に開
示されたものがある。
しかし乍ら、この接合用ガラスにおいても硬度が小さく
、接合硬化後の切断等の加工により接合用ガラス自体Ｃ
；ヒビやクラックが発生し、歩留りが低下する。また、
この接合用ガラスはｐｂｏを非常Ｃ：多く含んでいるた
め、水分を含み易く、耐水性の上でも問題がある。
、接合硬化後の切断等の加工により接合用ガラス自体Ｃ
；ヒビやクラックが発生し、歩留りが低下する。また、
この接合用ガラスはｐｂｏを非常Ｃ：多く含んでいるた
め、水分を含み易く、耐水性の上でも問題がある。
（ハ）発明が解決しようとする課題
本発明は磁気コア半体を低温で接合出来ると共電コ、強
磁性金属薄膜の磁気特性が劣化するのを防止し、しかも
ガラス自体の強度に優れた複合型磁気ヘッドのコア接合
用ガラスを徒供することを目的とするものである〇 に）課題を解決するための手段 本発明のコア接合用ガラスは４０〜７５ｗｔ％のｐ１３
ｏと５〜２３ｗｔ％１２）８１０２と１〜２０ｗｔ、％
のＢ２Ｏ３とを含有することを特徴とする〇また、本発
明のコア接合用ガラスはＰｂＯと８１０２とＢ２Ｏ３以
外に他の成分としてＡ／２’０３を含有し、その含有量
が Ｐ ｂ客０（ｗｔ％）／（Ｓｉ０２ （ｗｔ％）＋Ａ／
２０３ （ｗｔ＠｝＞２ 及び １０Ｗｔ９６＜（Ｓｉ０２ （ｗｔ％）＋Ａｌ２Ｏ５（
ｗｔ％）１＜２５ｗｔ％ の関係式が成り立つ笥囲内（：あることを％徴とする０ また、本発明のコア接合用ガラスはｐｂｏとＳｉＯ２と
Ｂ２Ｏ３以外に他の成分としてＡｌ２Ｏ３、Ｎａ２Ｏ，
Ｌｉ２Ｏ、Ｎ２０のうちどれかを含有しているととを特
徴とする。
磁性金属薄膜の磁気特性が劣化するのを防止し、しかも
ガラス自体の強度に優れた複合型磁気ヘッドのコア接合
用ガラスを徒供することを目的とするものである〇 に）課題を解決するための手段 本発明のコア接合用ガラスは４０〜７５ｗｔ％のｐ１３
ｏと５〜２３ｗｔ％１２）８１０２と１〜２０ｗｔ、％
のＢ２Ｏ３とを含有することを特徴とする〇また、本発
明のコア接合用ガラスはＰｂＯと８１０２とＢ２Ｏ３以
外に他の成分としてＡ／２’０３を含有し、その含有量
が Ｐ ｂ客０（ｗｔ％）／（Ｓｉ０２ （ｗｔ％）＋Ａ／
２０３ （ｗｔ＠｝＞２ 及び １０Ｗｔ９６＜（Ｓｉ０２ （ｗｔ％）＋Ａｌ２Ｏ５（
ｗｔ％）１＜２５ｗｔ％ の関係式が成り立つ笥囲内（：あることを％徴とする０ また、本発明のコア接合用ガラスはｐｂｏとＳｉＯ２と
Ｂ２Ｏ３以外に他の成分としてＡｌ２Ｏ３、Ｎａ２Ｏ，
Ｌｉ２Ｏ、Ｎ２０のうちどれかを含有しているととを特
徴とする。
（ホ）作 用
上述の；ア接合用ガラスは、軟化点が５００℃以下と低
く、ビッカース硬度が３３ ｏ ｂ７ｗａ２以上と高く
、熱膨張係数が８６〜１０５Ｘ１０ ７’Ｃとフェライ
トの熱膨張係数Ｃ二辺い。
く、ビッカース硬度が３３ ｏ ｂ７ｗａ２以上と高く
、熱膨張係数が８６〜１０５Ｘ１０ ７’Ｃとフェライ
トの熱膨張係数Ｃ二辺い。
また％ Ａｌ２Ｏ５は８１０２と共にガラスの硬度を高
くすると共薯：化学的耐久性を向上させる。
くすると共薯：化学的耐久性を向上させる。
また、Ｎ２０、Ｌｉ２Ｏ、Ｎ２０は微量でガラスの熱膨
張係数を大きく変動させることが出来るため、ガラスの
軟化点ｖｋ変動ζせることなく熱膨張係数を調整するの
Ｃ：適している。
張係数を大きく変動させることが出来るため、ガラスの
軟化点ｖｋ変動ζせることなく熱膨張係数を調整するの
Ｃ：適している。
（へ）実施例
以下、本発明の実施例について詳細に説明する。
第１図は本実施例のコア接合用ガラスが使用された捺台
型磁気ヘッドの外観を示す斜視図、第２図は上記磁気ヘ
ッドのテープ摺接面を示す図であリ、第６図と同一部分
Ｃ；は同一符号を付し、その説明は第６図の説明を援用
する、 図中、（８）（６１は磁気コア半体（１ａ）（１ｂ）？
接合するコア接合用ガラスである。
型磁気ヘッドの外観を示す斜視図、第２図は上記磁気ヘ
ッドのテープ摺接面を示す図であリ、第６図と同一部分
Ｃ；は同一符号を付し、その説明は第６図の説明を援用
する、 図中、（８）（６１は磁気コア半体（１ａ）（１ｂ）？
接合するコア接合用ガラスである。
この複合型磁気ヘッドは第５図に示すよう礪二、トラッ
ク幅規制溝（７）、強磁性金属薄膜（３）、巻線溝（５
）、ガラス棒挿入溝（８）が形成されたフェライト基板
（９ａ）と、トラック幅規制溝（７）、強磁性金属薄膜
（３）が形成されたフェライト基板（９１１）とを接合
した後、ガラス棒挿入溝（８）（ニガラス棒顛を挿入し
該ガラス棒ｆｉ（Ｉを溶融固化すること（−より前記側
基板（９Ｂ）（９））を接合してブロックαＤを形成し
、その後該ブロックｆｉｌｌを切断、研削研磨すること
によシ形成される０ ここで、前記ガラス棒ｆｉａの組成、即ち、コア接合用
ガラス（６１（６）の組成は下表の試料Ａ−Ｋに示され
ている通シである。
ク幅規制溝（７）、強磁性金属薄膜（３）、巻線溝（５
）、ガラス棒挿入溝（８）が形成されたフェライト基板
（９ａ）と、トラック幅規制溝（７）、強磁性金属薄膜
（３）が形成されたフェライト基板（９１１）とを接合
した後、ガラス棒挿入溝（８）（ニガラス棒顛を挿入し
該ガラス棒ｆｉ（Ｉを溶融固化すること（−より前記側
基板（９Ｂ）（９））を接合してブロックαＤを形成し
、その後該ブロックｆｉｌｌを切断、研削研磨すること
によシ形成される０ ここで、前記ガラス棒ｆｉａの組成、即ち、コア接合用
ガラス（６１（６）の組成は下表の試料Ａ−Ｋに示され
ている通シである。
下表は本発明のコア接合用ガラス（試料Ａ−Ｋ）と比較
例のコア接合用ガラス（試料Ｍ−Ｘ）についてのコア接
合Ｃ：必要な最低の融着温度、ビッカース硬度、０１〜
２５０℃の平均熱膨張係数を調べ、その結果を示したも
のである０尚、試料Ｖ〜Ｘは特開昭６２−１０３８０８
号公報ζ：示されているガラスである０ 上表カラ判ルヨウＣ二、Ｐ”’Ｑ’が４０〜７５Ｗｔｌ
、ＳｉＯ２が５〜２３ｗｔチ、Ｂ２０！Ｓが１〜２０ｗ
ｔ％である条件を満たす本発明のガラスは融着温度が５
００℃以下と低く、ビッカース硬度が３５０４７ｍ ２
以上と高く、熱膨張係数が８６〜１０３Ｘ１０−’／’
Ｃとフェライトの熱膨張係数（９０〜１１０Ｘ１０
／’Ｃ）礪：近い０尚、ｐｂｏはガラスの融点を下げる
が、硬度を低くする。８１０２はガラスの硬度を高くす
ると共Ｃ：化学的耐久性を向上させるが、―点を高くす
る０Ｂ２０５はガラスの粘性を低下させ、熱膨張を低下
させ、化学的耐久性を向上させる０ま九、本発明のガラ
スは上記ｐｂｏ、８１０２、Ｂ２Ｏ３以外（：もＡ／ｚ
０！、Ｎｌ＆２０、Ｌｉ２Ｏ、に２０のうちどれかを含
有している。ＡＪＦ２０３は８１０２と同様（ニガラス
の硬度を高くすると共ζ：化学的耐久性を向上させるが
、融点を高くする。Ｎａ０１Ｌｉ２０．ＩＣ２０は微量
でガラスの熱膨張係数を大きく変動させることが出来る
ため、ガラスの軟化点を変動させることなく熱膨張係数
を調整するのに適している０ 尚、本発明のガラスでは同様の作用をもつＳｉＯ２とＡ
ｌ２Ｏ５との含有量が Ｐ”Ｑ（”Ｓ）／（８１０２（ｗｔ％）＋Ａｚ２ｏｓ
（ｗｔ％）｝＞２ 及び １０ Ｗ ｔ ％＜ （Ｓｉ０２ （ｗｔ％） ＋Ａ／
２０！ｌ （Ｗｔ９６））＜ ２５Ｗｔチ の関係式が成り立つ範囲内Ｃ−あることが上表より判る
。
例のコア接合用ガラス（試料Ｍ−Ｘ）についてのコア接
合Ｃ：必要な最低の融着温度、ビッカース硬度、０１〜
２５０℃の平均熱膨張係数を調べ、その結果を示したも
のである０尚、試料Ｖ〜Ｘは特開昭６２−１０３８０８
号公報ζ：示されているガラスである０ 上表カラ判ルヨウＣ二、Ｐ”’Ｑ’が４０〜７５Ｗｔｌ
、ＳｉＯ２が５〜２３ｗｔチ、Ｂ２０！Ｓが１〜２０ｗ
ｔ％である条件を満たす本発明のガラスは融着温度が５
００℃以下と低く、ビッカース硬度が３５０４７ｍ ２
以上と高く、熱膨張係数が８６〜１０３Ｘ１０−’／’
Ｃとフェライトの熱膨張係数（９０〜１１０Ｘ１０
／’Ｃ）礪：近い０尚、ｐｂｏはガラスの融点を下げる
が、硬度を低くする。８１０２はガラスの硬度を高くす
ると共Ｃ：化学的耐久性を向上させるが、―点を高くす
る０Ｂ２０５はガラスの粘性を低下させ、熱膨張を低下
させ、化学的耐久性を向上させる０ま九、本発明のガラ
スは上記ｐｂｏ、８１０２、Ｂ２Ｏ３以外（：もＡ／ｚ
０！、Ｎｌ＆２０、Ｌｉ２Ｏ、に２０のうちどれかを含
有している。ＡＪＦ２０３は８１０２と同様（ニガラス
の硬度を高くすると共ζ：化学的耐久性を向上させるが
、融点を高くする。Ｎａ０１Ｌｉ２０．ＩＣ２０は微量
でガラスの熱膨張係数を大きく変動させることが出来る
ため、ガラスの軟化点を変動させることなく熱膨張係数
を調整するのに適している０ 尚、本発明のガラスでは同様の作用をもつＳｉＯ２とＡ
ｌ２Ｏ５との含有量が Ｐ”Ｑ（”Ｓ）／（８１０２（ｗｔ％）＋Ａｚ２ｏｓ
（ｗｔ％）｝＞２ 及び １０ Ｗ ｔ ％＜ （Ｓｉ０２ （ｗｔ％） ＋Ａ／
２０！ｌ （Ｗｔ９６））＜ ２５Ｗｔチ の関係式が成り立つ範囲内Ｃ−あることが上表より判る
。
上述の実施例以外にも、第３図または第４図に示すよう
なテープ摺接面を有する８！合型磁気ヘッドＩ：おいて
も、本発明のコア接合用ガラス（６Ｈ６１を用いること
が出来る〇 上述のようなコア接合用ガラスＣ二よりコア半体が接合
された機台型磁気ヘッドでは、５００℃以下の低温でコ
ア半体（１＆）（１ｔｌ）を接合することが可能である
ため、コア半体（１ａ） （１ｍ））と強磁性金属薄
膜（３１（３１、！：の界面での反応が抑えられ、変質
層が発生せず記録再生出力が低下しない。また、磁気コ
ア半体（１＆）（１１））と強磁性金属薄膜（３バ３）
との熱膨張係数の差が小さい低温で前記一対の磁気コア
半体（１ａ）（１１））が接合されるので、前記強磁性
金属薄膜（３１（３＋内署：応力が発生せず、該薄ＩＩ
Ｉ（３１（３１１：ヒビや剥離が生じることはなく、磁
気特性は劣化しない０また、前記ガラス（６１（６１は
硬度が高く、熱膨張係数がヘッドの大半を占めるフェラ
イトに近いため、製造工程中（ニガラス自体Ｃ：ヒビ、
クラック等が発生しない。
なテープ摺接面を有する８！合型磁気ヘッドＩ：おいて
も、本発明のコア接合用ガラス（６Ｈ６１を用いること
が出来る〇 上述のようなコア接合用ガラスＣ二よりコア半体が接合
された機台型磁気ヘッドでは、５００℃以下の低温でコ
ア半体（１＆）（１ｔｌ）を接合することが可能である
ため、コア半体（１ａ） （１ｍ））と強磁性金属薄
膜（３１（３１、！：の界面での反応が抑えられ、変質
層が発生せず記録再生出力が低下しない。また、磁気コ
ア半体（１＆）（１１））と強磁性金属薄膜（３バ３）
との熱膨張係数の差が小さい低温で前記一対の磁気コア
半体（１ａ）（１１））が接合されるので、前記強磁性
金属薄膜（３１（３＋内署：応力が発生せず、該薄ＩＩ
Ｉ（３１（３１１：ヒビや剥離が生じることはなく、磁
気特性は劣化しない０また、前記ガラス（６１（６１は
硬度が高く、熱膨張係数がヘッドの大半を占めるフェラ
イトに近いため、製造工程中（ニガラス自体Ｃ：ヒビ、
クラック等が発生しない。
また、強磁性金属薄膜（３１（３）をアモルファス磁性
体で形成した場合は、アモルファス磁性体の結晶化を防
止出来る。
体で形成した場合は、アモルファス磁性体の結晶化を防
止出来る。
（ト）発明の効果
本発明（：依れば、コア半体と強磁性金属薄膜との界面
に変質層が発生するのを防止して、ヘッドの記録再生出
力の低下を抑え、また、強磁性金属薄膜やガラス自体罐
：ヒピが発生したり、アモルファス磁性体が結晶化する
のを防止して、歩留りが低下するのを防止した袴台型磁
気ヘッドのコア接合用ガラスを提供し得る０
に変質層が発生するのを防止して、ヘッドの記録再生出
力の低下を抑え、また、強磁性金属薄膜やガラス自体罐
：ヒピが発生したり、アモルファス磁性体が結晶化する
のを防止して、歩留りが低下するのを防止した袴台型磁
気ヘッドのコア接合用ガラスを提供し得る０
第１図乃至第５図は本発明に係シ、第１図は複合型磁気
ヘッドの斜視図、第２図、第３図及び第４図は夫々テー
プ摺接面を示す図、第５図は製造方法を示す図である。 第６図は従来の複合型磁気ヘッドの斜視図である。第７
図は温度Ｃ二よる熱膨張係数の変化を示す図である。 （１＆）（１１１）・・・磁気コア半体、（２）・・・
作動ギャップ、（３）−・・強磁性金属薄膜、（６）・
・・コア接合用ガラスＯ
ヘッドの斜視図、第２図、第３図及び第４図は夫々テー
プ摺接面を示す図、第５図は製造方法を示す図である。 第６図は従来の複合型磁気ヘッドの斜視図である。第７
図は温度Ｃ二よる熱膨張係数の変化を示す図である。 （１＆）（１１１）・・・磁気コア半体、（２）・・・
作動ギャップ、（３）−・・強磁性金属薄膜、（６）・
・・コア接合用ガラスＯ
Claims (3)
- （１）ギャップ形成面に強磁性金属薄膜が形成された強
磁性酸化物よりなる一対の磁気コア半体をギャップスペ
ーサを介して接合するためのコア接合用ガラスが４０〜
７５ｗｔ％のＰｂＯと５〜２３ｗｔ％のＳｉＯ＿２と１
〜２０ｗｔ％のＢ＿２Ｏ＿３とを含有することを特徴と
する複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラス。 - （２）ＰｂＯとＳｉＯ＿２とＢ＿２Ｏ＿３以外に他の成
分としてＡｌ＿２Ｏ＿３を含有し、その含有量がＰｂＯ
（ｗｔ％）／｛ＳｉＯ＿２（ｗｔ％）＋Ａｌ＿２Ｏ＿３
（ｗｔ％）｝＞２ 及び １０ｗｔ％＜｛ＳｉＯ＿２（ｗｔ％）＋Ａｌ＿２Ｏ＿３
（ｗｔ％）｝＜２５ｗｔ％ の関係式が成り立つ範囲内にあることを特徴とする請求
項１記載の複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラス。 - （３）ＰｂＯとＳｉＯ＿２とＢ＿２Ｏ＿３以外に他の成
分としてＡｌ＿２Ｏ＿３、Ｎａ＿２Ｏ、Ｌｉ＿２Ｏ、Ｋ
＿２Ｏのうちどれかを含有していることを特徴とする請
求項１記載の複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63024586A JP2573013B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラス |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63024586A JP2573013B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラス |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01199309A true JPH01199309A (ja) | 1989-08-10 |
| JP2573013B2 JP2573013B2 (ja) | 1997-01-16 |
Family
ID=12142262
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63024586A Expired - Lifetime JP2573013B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 複合型磁気ヘッドのコア接合用ガラス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2573013B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002072493A1 (fr) * | 2001-03-08 | 2002-09-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Verre de scellement pour tete magnetique et dispositif d'enregistrement et de reproduction magnetique |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS61247640A (ja) * | 1985-04-23 | 1986-11-04 | Hitachi Metals Ltd | ガラス組成物 |
| JPS6325246A (ja) * | 1986-07-17 | 1988-02-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 封着用ガラス |
| JPS63170240A (ja) * | 1987-01-09 | 1988-07-14 | Toshiba Glass Co Ltd | 低融点ガラス組成物 |
| JPS6428248A (en) * | 1987-07-21 | 1989-01-30 | Sony Corp | Composite magnetic head |
-
1988
- 1988-02-03 JP JP63024586A patent/JP2573013B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| US7012783B2 (en) | 2001-03-08 | 2006-03-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Sealing glass for magnetic head, magnetic head, and magnetic recording/reproducing device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2573013B2 (ja) | 1997-01-16 |
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