JPH01195720A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JPH01195720A JPH01195720A JP63019988A JP1998888A JPH01195720A JP H01195720 A JPH01195720 A JP H01195720A JP 63019988 A JP63019988 A JP 63019988A JP 1998888 A JP1998888 A JP 1998888A JP H01195720 A JPH01195720 A JP H01195720A
- Authority
- JP
- Japan
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- channel transistor
- terminal
- gate
- output
- input terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 18
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/64—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent
- G11B5/65—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition
- G11B5/657—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition containing inorganic, non-oxide compound of Si, N, P, B, H or C, e.g. in metal alloy or compound
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
- G11B5/85—Coating a support with a magnetic layer by vapour deposition
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
- G11B5/851—Coating a support with a magnetic layer by sputtering
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
- G11B5/858—Producing a magnetic layer by electro-plating or electroless plating
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S428/90—Magnetic feature
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路に関し、特にCMO3出力バッ
ファに関する。
ファに関する。
従来のCMO5出力バッファは第7図及び第8図に示す
ように、各々1つの入力端子71.81、出力端子71
3.813、電源端子75.85、接地端子712.8
12と1つ以上のPチャネルトランジスタとNチャネル
トランジスタを有し、第7図のようにPチャネルトラン
ジスタ76のソース、ゲート、ドレインを各々電源端子
、入力端子、出力端子に、またNチャネルトランジスタ
77のソース、ゲート、ドレインを各々接地端子、入力
端子、出力端子に接続して構成するか、あるいは第8°
図のように各Pチャネルトランジスタ76とNチャネル
トランジスタ77を直列に接続して構成するため、入力
端子に信号を印加したときに動作するPチャネルトラン
ジスタとNチャネルトランジスタの個数は常に一定であ
る。
ように、各々1つの入力端子71.81、出力端子71
3.813、電源端子75.85、接地端子712.8
12と1つ以上のPチャネルトランジスタとNチャネル
トランジスタを有し、第7図のようにPチャネルトラン
ジスタ76のソース、ゲート、ドレインを各々電源端子
、入力端子、出力端子に、またNチャネルトランジスタ
77のソース、ゲート、ドレインを各々接地端子、入力
端子、出力端子に接続して構成するか、あるいは第8°
図のように各Pチャネルトランジスタ76とNチャネル
トランジスタ77を直列に接続して構成するため、入力
端子に信号を印加したときに動作するPチャネルトラン
ジスタとNチャネルトランジスタの個数は常に一定であ
る。
上述した従来の0MO3出力バッファを用いて第9図に
示すような伝送路を介してCMO5入力バッファを駆動
する場合、CMO3人カバツカバッファピーダンスが一
般に伝送路の特性インピーダンスに比べて大きいため、
伝送路とCMO3人カバソファ間での電圧の反射係数は
正となり、一方、CMO3出力パッファを構成するPチ
ャネルトランジスタ及びNチャネルトランジスタの個数
は常に一定であるので、それによって決定される0MO
3出力バッファのインピーダンスが伝送路の特性インピ
ーダンスより小さい場合、伝送路側から見た電圧の反射
係数は負となる。そのため、CMO3出カバソファ側と
0M05人カバソファ側の電圧の反射係数の関係が正・
負となり、出力電圧のリンギングを生じるという問題が
ある。また、逆に0MO3出力バッファのインピーダン
スが伝送路の特性インピーダンスより大きい場合、伝送
路側から見た電圧の反射係数は正となり、出力電圧のリ
ンギングは生じないが0MO3出力バッファの電流駆動
能力が小さいため、出力信号の立上り時間、立下がり時
間が増加するという問題点がある。
示すような伝送路を介してCMO5入力バッファを駆動
する場合、CMO3人カバツカバッファピーダンスが一
般に伝送路の特性インピーダンスに比べて大きいため、
伝送路とCMO3人カバソファ間での電圧の反射係数は
正となり、一方、CMO3出力パッファを構成するPチ
ャネルトランジスタ及びNチャネルトランジスタの個数
は常に一定であるので、それによって決定される0MO
3出力バッファのインピーダンスが伝送路の特性インピ
ーダンスより小さい場合、伝送路側から見た電圧の反射
係数は負となる。そのため、CMO3出カバソファ側と
0M05人カバソファ側の電圧の反射係数の関係が正・
負となり、出力電圧のリンギングを生じるという問題が
ある。また、逆に0MO3出力バッファのインピーダン
スが伝送路の特性インピーダンスより大きい場合、伝送
路側から見た電圧の反射係数は正となり、出力電圧のリ
ンギングは生じないが0MO3出力バッファの電流駆動
能力が小さいため、出力信号の立上り時間、立下がり時
間が増加するという問題点がある。
本発明の目的は前記課題を解決した半導体集積回路を提
供することにある。
供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の半導体集積回路にお
いては、各々1つの入力端子、出力端子、電源端子、接
地端子、遅延素子及び各々2つのコンデンサ、抵抗、P
チャネルトランジスタ、Nチャネルトランジスタを有し
、第1のPチャネルトランジスタのゲートと入力端子の
間に遅延素子を挿入し、第1のPチャネルトランジスタ
のソース及びドレインをそれぞれ電源端子及び出力端子
に接続し、第1のNチャネルトランジスタのゲート、ソ
ース、ドレインを各々第1のPチャネルトランジスタの
ゲート、接地端子、出力端子に接続し。
いては、各々1つの入力端子、出力端子、電源端子、接
地端子、遅延素子及び各々2つのコンデンサ、抵抗、P
チャネルトランジスタ、Nチャネルトランジスタを有し
、第1のPチャネルトランジスタのゲートと入力端子の
間に遅延素子を挿入し、第1のPチャネルトランジスタ
のソース及びドレインをそれぞれ電源端子及び出力端子
に接続し、第1のNチャネルトランジスタのゲート、ソ
ース、ドレインを各々第1のPチャネルトランジスタの
ゲート、接地端子、出力端子に接続し。
第2のPチャネルトランジスタのゲートと入力端子との
間に第1のコンデンサを挿入し、さらに第2のPチャネ
ルトランジスタのゲートと電源端子との間に第1の抵抗
を挿入し、第2のPチャネル1ヘランジスタのソース、
ドレインを各々電源端子及び出力端子に接続し、第2の
Nチャネルトランジスタのゲートと入力端子との間に第
2のコンデンサを挿入し、さらに第2のNチャネルトラ
ンジスタのゲートと接地端子の間に第2の抵抗を挿入し
、第2のNチャネルトランジスタのソース、ドレインを
各々接地端子及び出力端子に接続したものである。
間に第1のコンデンサを挿入し、さらに第2のPチャネ
ルトランジスタのゲートと電源端子との間に第1の抵抗
を挿入し、第2のPチャネル1ヘランジスタのソース、
ドレインを各々電源端子及び出力端子に接続し、第2の
Nチャネルトランジスタのゲートと入力端子との間に第
2のコンデンサを挿入し、さらに第2のNチャネルトラ
ンジスタのゲートと接地端子の間に第2の抵抗を挿入し
、第2のNチャネルトランジスタのソース、ドレインを
各々接地端子及び出力端子に接続したものである。
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
第1図は本発明の一実施例の回路図である。Pチャネル
トランジスタ3のゲートと入力端子1の間に遅延素子2
が挿入されており、Pチャネルトランジスタ3のソース
、ドレインは各々電源端子5、出力端子13に接続され
ている。Nチャネルトランジスタ4のゲート、ソース、
ドレインは各々Pチャネルトランジスタ3のゲート、接
地端子12、出力端子13に接続されている。Pチャネ
ルトランジスタ8のゲートはコンデンサ7を介して入力
端子1に、抵抗6を介して電源端子5に各々接続されて
おり、Pチャネルトランジスタ8のソース、ドレインは
各々電源端子5、出力端子13に接続されている。Nチ
ャネルトランジスタ11のゲートはコンデンサ9を介し
て入力端子1に、抵抗10を介して接地端子12に各々
接続されており、Nチャネルトランジスタ11のソース
、ドレインは各々接地端子12、出力端子13に接続さ
れている。
トランジスタ3のゲートと入力端子1の間に遅延素子2
が挿入されており、Pチャネルトランジスタ3のソース
、ドレインは各々電源端子5、出力端子13に接続され
ている。Nチャネルトランジスタ4のゲート、ソース、
ドレインは各々Pチャネルトランジスタ3のゲート、接
地端子12、出力端子13に接続されている。Pチャネ
ルトランジスタ8のゲートはコンデンサ7を介して入力
端子1に、抵抗6を介して電源端子5に各々接続されて
おり、Pチャネルトランジスタ8のソース、ドレインは
各々電源端子5、出力端子13に接続されている。Nチ
ャネルトランジスタ11のゲートはコンデンサ9を介し
て入力端子1に、抵抗10を介して接地端子12に各々
接続されており、Nチャネルトランジスタ11のソース
、ドレインは各々接地端子12、出力端子13に接続さ
れている。
入力端子1に第3図に示すような低レベルから高レベル
へ変化する信号が印加された場合、Nチャネルトランジ
スタ4のゲートには第4図に示すように遅延素子2によ
り決定される時間だけ遅れた低レベルから高レベルへ変
化する信号が印加される。同時に入力端子1に印加され
た電圧はコンデンサ9及び抵抗10からなる微分回路を
介し、第5図に示すような波形と1.てNチャネルトラ
ンジスタ11のゲートに印加される。このとき、Pチャ
ネルトランジスタ3のインピーダンスが信号印加前に比
べて大きい状態へ変化し、また、Pチャネルトランジス
タ8のインピーダンスは信号印加前と同様大きい状態を
保持しているので出力端子13から見た出力インピーダ
ンスは第6図のような変化を示す。
へ変化する信号が印加された場合、Nチャネルトランジ
スタ4のゲートには第4図に示すように遅延素子2によ
り決定される時間だけ遅れた低レベルから高レベルへ変
化する信号が印加される。同時に入力端子1に印加され
た電圧はコンデンサ9及び抵抗10からなる微分回路を
介し、第5図に示すような波形と1.てNチャネルトラ
ンジスタ11のゲートに印加される。このとき、Pチャ
ネルトランジスタ3のインピーダンスが信号印加前に比
べて大きい状態へ変化し、また、Pチャネルトランジス
タ8のインピーダンスは信号印加前と同様大きい状態を
保持しているので出力端子13から見た出力インピーダ
ンスは第6図のような変化を示す。
一方、゛入力端子1に高レベルから低レベルへ変化する
信号が印加された場合、コンデンサ7及び抵抗6からな
る微分回路を通った入力信号がPチャネルトランジスタ
8のゲートに印加され、Pチャネルトランジスタ3のイ
ンピーダンスが信号印加前に比べて小さい状態へ変化す
るときのみPチャネルトランジスタ8のインピーダンス
は小さくなる。従って、入力信号が高レベルから低レベ
ルへ変化する場合にも、出力端子13から見た出力イン
ピーダンスは第6図に示すような変化とな゛る。
信号が印加された場合、コンデンサ7及び抵抗6からな
る微分回路を通った入力信号がPチャネルトランジスタ
8のゲートに印加され、Pチャネルトランジスタ3のイ
ンピーダンスが信号印加前に比べて小さい状態へ変化す
るときのみPチャネルトランジスタ8のインピーダンス
は小さくなる。従って、入力信号が高レベルから低レベ
ルへ変化する場合にも、出力端子13から見た出力イン
ピーダンスは第6図に示すような変化とな゛る。
第2図に本発明による0MO5出力バッファを用いて構
成した伝送路の一例を示す。
成した伝送路の一例を示す。
入力端子1に高レベルから低レベルへ変化する信号が印
加された場合、出力端子13の電圧は低レベルから高レ
ベルへ変化する。その時の出力インピーダンスは信号印
加前に比べて小さいので出力端子、伝送路及び入力バッ
ファにおける寄生容量は急激に充電され、伝送路におけ
る電圧の立上り時間は従来のCMO3出力バッファを用
いて構成する場合に比べて短い。さらに出力端子13の
電圧が高レベルに達した後は、Pチャネルトランジスタ
8のインピーダンスは大きい状態になるため、出力端子
13から見た出力インピーダンスは信号印加前に比べて
大きくなる。従って、Pチャネルトランジスタ3のイン
ピーダンスを伝送路の特性インピーダンスよりも大きく
し、Pチャネルトランジスタ8のインピーダンスを伝送
路の特性インピーダンスよりも小さくすることにより、
出力端子13から見た出力インピーダンスは出力端子の
電圧が低レベルから高レベルへ変化するとき、伝送路の
特性インピーダンスよりも小さくなり、定常状態に達し
たときは伝送路の特性インピーダンスよりも大きくなる
。そのため、伝送路から見た出力端子13の電圧反射係
数は信号が低レベルから高レベルに変化した後は正とな
り、さらに伝送路から見たCMO3入力バッファの入力
端子14の電圧反射係数は正であるので電圧のリンギン
グは生じない。
加された場合、出力端子13の電圧は低レベルから高レ
ベルへ変化する。その時の出力インピーダンスは信号印
加前に比べて小さいので出力端子、伝送路及び入力バッ
ファにおける寄生容量は急激に充電され、伝送路におけ
る電圧の立上り時間は従来のCMO3出力バッファを用
いて構成する場合に比べて短い。さらに出力端子13の
電圧が高レベルに達した後は、Pチャネルトランジスタ
8のインピーダンスは大きい状態になるため、出力端子
13から見た出力インピーダンスは信号印加前に比べて
大きくなる。従って、Pチャネルトランジスタ3のイン
ピーダンスを伝送路の特性インピーダンスよりも大きく
し、Pチャネルトランジスタ8のインピーダンスを伝送
路の特性インピーダンスよりも小さくすることにより、
出力端子13から見た出力インピーダンスは出力端子の
電圧が低レベルから高レベルへ変化するとき、伝送路の
特性インピーダンスよりも小さくなり、定常状態に達し
たときは伝送路の特性インピーダンスよりも大きくなる
。そのため、伝送路から見た出力端子13の電圧反射係
数は信号が低レベルから高レベルに変化した後は正とな
り、さらに伝送路から見たCMO3入力バッファの入力
端子14の電圧反射係数は正であるので電圧のリンギン
グは生じない。
一方、入力端子1に低レベルから高レベルに変化する信
号が印加された場合、出力端子13の電圧は高レベルか
ら低レベルへ変化する。そのときの出力インピーダンス
は信号印加前に比べて大きいので、出力端子、伝送路及
び入力バッファにおける寄生容量に貯えられていた電荷
は急激に放電され、伝送路における電圧の立下がり時間
は、従来の0MO5出力バッファを用いて構成する場合
に比べて短く、さらに伝送路から見たCMO3入力バッ
ファの入力端子14の電圧反射係数は正であるので電圧
のリンギングは生じない。
号が印加された場合、出力端子13の電圧は高レベルか
ら低レベルへ変化する。そのときの出力インピーダンス
は信号印加前に比べて大きいので、出力端子、伝送路及
び入力バッファにおける寄生容量に貯えられていた電荷
は急激に放電され、伝送路における電圧の立下がり時間
は、従来の0MO5出力バッファを用いて構成する場合
に比べて短く、さらに伝送路から見たCMO3入力バッ
ファの入力端子14の電圧反射係数は正であるので電圧
のリンギングは生じない。
以上説明したように本発明は、入力端子との間に遅延素
子を挿入したインバータ回路と、コンデンサを介して入
力端子に接続され、同時に抵抗を介して電源端子に接続
されるゲートを有するPチャネルトランジスタ及びコン
デンサを介して入力端子に接続され同時に抵抗を介して
接地端子に接続されるゲートを有するNチャネルトラン
ジスタを用いてCMO3出力バッファを構成することに
より、伝送路における電圧の立上り時間、立下がり時間
を増加させることなく、また、出力電圧のリンギングを
防止できるという効果がある。
子を挿入したインバータ回路と、コンデンサを介して入
力端子に接続され、同時に抵抗を介して電源端子に接続
されるゲートを有するPチャネルトランジスタ及びコン
デンサを介して入力端子に接続され同時に抵抗を介して
接地端子に接続されるゲートを有するNチャネルトラン
ジスタを用いてCMO3出力バッファを構成することに
より、伝送路における電圧の立上り時間、立下がり時間
を増加させることなく、また、出力電圧のリンギングを
防止できるという効果がある。
さらに、上記PチャネルトランジスタとNチャネルトラ
ンジスタは同時に動作することはないので、駆動能力の
小さいインバータ回路を用いてPチャネルトランジスタ
あるいはNチャネルトランジスタを動作させることによ
り貫通電流なしに0MO5出力バッファを動作させるこ
とができるという効果がある。
ンジスタは同時に動作することはないので、駆動能力の
小さいインバータ回路を用いてPチャネルトランジスタ
あるいはNチャネルトランジスタを動作させることによ
り貫通電流なしに0MO5出力バッファを動作させるこ
とができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は第1図に
よる0MO5出力バッファを用いて構成した伝送路図、
第3図は第1図の入力端子1に低レベルから高レベルへ
変化する信号を印加したときの波形図、第4図は第2図
の信号が第1図の遅延素子2を通過した後の波形図、第
5図は第2図の信号が第1図のコンデンサ9及び抵抗1
0からなる微分回路を介しNチャネルトランジスタ11
のゲートに印加される信号の波形図、第6図は第2図の
信号が第1図の入力端子1に印加されたときに出力端子
13から見た出力インピーダンスの変化を示す図、第7
図及び第8図は従来のCMO5出力バッファの回路図、
第9図は第7図による0MO3出力バッファを用いて構
成した伝送路図である。 1・・・入力端子 2・・・遅延素子3.8
・・・Pチャネルトランジスタ
よる0MO5出力バッファを用いて構成した伝送路図、
第3図は第1図の入力端子1に低レベルから高レベルへ
変化する信号を印加したときの波形図、第4図は第2図
の信号が第1図の遅延素子2を通過した後の波形図、第
5図は第2図の信号が第1図のコンデンサ9及び抵抗1
0からなる微分回路を介しNチャネルトランジスタ11
のゲートに印加される信号の波形図、第6図は第2図の
信号が第1図の入力端子1に印加されたときに出力端子
13から見た出力インピーダンスの変化を示す図、第7
図及び第8図は従来のCMO5出力バッファの回路図、
第9図は第7図による0MO3出力バッファを用いて構
成した伝送路図である。 1・・・入力端子 2・・・遅延素子3.8
・・・Pチャネルトランジスタ
Claims (1)
- 1、各々1つの入力端子、出力端子、電源端子、接地端
子、遅延素子及び各々2つのコンデンサ、抵抗、Pチャ
ネルトランジスタ、Nチャネルトランジスタを有し、第
1のPチャネルトランジスタのゲートと入力端子の間に
遅延素子を挿入し、第1のPチャネルトランジスタのソ
ース及びドレインをそれぞれ電源端子及び出力端子に接
続し、第1のNチャネルトランジスタのゲート、ソース
、ドレインを各々第1のPチャネルトランジスタのゲー
ト、接地端子、出力端子に接続し、第2のPチャネルト
ランジスタのゲートと入力端子との間に第1のコンデン
サを挿入し、さらに第2のPチャネルトランジスタのゲ
ートと電源端子との間に第1の抵抗を挿入し、第2のP
チャネルトランジスタのソース、ドレインを各々電源端
子及び出力端子に接続し、第2のNチャネルトランジス
タのゲートと入力端子との間に第2のコンデンサを挿入
し、さらに第2のNチャネルトランジスタのゲートと接
地端子の間に第2の抵抗を挿入し、第2のNチャネルト
ランジスタのソース、ドレインを各々接地端子及び出力
端子に接続したことを特徴とする半導体集積回路。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19988 | 1988-01-04 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01195720A true JPH01195720A (ja) | 1989-08-07 |
Family
ID=11467314
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63019988A Pending JPH01195720A (ja) | 1988-01-04 | 1988-01-30 | 半導体集積回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5080982A (ja) |
JP (1) | JPH01195720A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5760620A (en) * | 1996-04-22 | 1998-06-02 | Quantum Effect Design, Inc. | CMOS limited-voltage-swing clock driver for reduced power driving high-frequency clocks |
US6344957B1 (en) | 1998-10-28 | 2002-02-05 | Nec Corporation | Overshoot/undershoot prevention device and overshoot/undershoot prevention method |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6589641B1 (en) | 1998-06-04 | 2003-07-08 | Seagate Technology Llc | Thin films of crosslinked fluoropolymer on a carbon substrate |
US6617011B2 (en) * | 1999-05-07 | 2003-09-09 | Seagate Technology Llc | Elastomeric lubricants for magnetic recording media |
US6680079B1 (en) * | 2000-06-02 | 2004-01-20 | Seagate Technology Llc | Planarization and corrosion protection of patterned magnetic media |
JP2001354439A (ja) * | 2000-06-12 | 2001-12-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ガラス基板の加工方法および高周波回路の製作方法 |
US6849304B1 (en) | 2001-03-16 | 2005-02-01 | Seagate Technology Llc | Method of forming lubricant films |
DE10246453A1 (de) * | 2002-10-04 | 2004-04-15 | Enthone Inc., West Haven | Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Nickel |
US20070096052A1 (en) * | 2005-10-28 | 2007-05-03 | Shuey Steven W | Poly(hydroxystyrene) stain resist |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57143729A (en) * | 1981-02-27 | 1982-09-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | Magnetic recording medium |
JPS5864627A (ja) * | 1981-10-15 | 1983-04-18 | Sony Corp | 磁気記録媒体 |
JPS595423A (ja) * | 1982-07-01 | 1984-01-12 | Sony Corp | 磁気記録媒体 |
US4600521A (en) * | 1984-10-09 | 1986-07-15 | Nippon Zeon Co., Ltd. | Electron-beam reactive magnetic coating composition for magnetic recording media |
JP2523279B2 (ja) * | 1986-05-02 | 1996-08-07 | ティーディーケイ株式会社 | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
US4837080A (en) * | 1986-11-18 | 1989-06-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetic recording mediums for high density recording comprising an improved structure of a magnetic layer |
-
1988
- 1988-01-30 JP JP63019988A patent/JPH01195720A/ja active Pending
- 1988-12-30 US US07/292,533 patent/US5080982A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5760620A (en) * | 1996-04-22 | 1998-06-02 | Quantum Effect Design, Inc. | CMOS limited-voltage-swing clock driver for reduced power driving high-frequency clocks |
US6344957B1 (en) | 1998-10-28 | 2002-02-05 | Nec Corporation | Overshoot/undershoot prevention device and overshoot/undershoot prevention method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5080982A (en) | 1992-01-14 |
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