JPH01169343A - ガラス板の切口欠点検出装置 - Google Patents
ガラス板の切口欠点検出装置Info
- Publication number
- JPH01169343A JPH01169343A JP62326697A JP32669787A JPH01169343A JP H01169343 A JPH01169343 A JP H01169343A JP 62326697 A JP62326697 A JP 62326697A JP 32669787 A JP32669787 A JP 32669787A JP H01169343 A JPH01169343 A JP H01169343A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass plate
- cut
- light source
- defect
- elongated light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 127
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 103
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 27
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ガラス板の切口に発生する欠点を検出する切
口欠点検出装置に関するものである。
口欠点検出装置に関するものである。
ガラス板の製造は、窯から引き上げられたリボン状ガラ
ス板を、ラインコンベア上に一定速度で走行させ、ライ
ンコンベア上で切断し、採板することにより行われてい
る。リボン状ガラス板の切断は、トリンマで搬送方向に
平行な方向の切断線であるトリンマ線が引かれ、続いて
斜行カッタで搬送方向に直角な方向の切断線であるカッ
タ線が引かれ、ブレーカでカッタ線に沿って切断され、
中割り装置でトリンマ線に沿って切断されることにより
行われる。このような切断の際に、ガラス板の切口であ
るエツジには、ガラス板の厚み方向に輪状にえぐられた
欠点、ガラス板の厚み方向にギザギザにえぐられた欠点
、ガラス板の面方向に切断線より外側に突き出た角(つ
の)、ガラス板の面方向に切断線より内側に欠けた欠は
等の欠点が発生しやすい。
ス板を、ラインコンベア上に一定速度で走行させ、ライ
ンコンベア上で切断し、採板することにより行われてい
る。リボン状ガラス板の切断は、トリンマで搬送方向に
平行な方向の切断線であるトリンマ線が引かれ、続いて
斜行カッタで搬送方向に直角な方向の切断線であるカッ
タ線が引かれ、ブレーカでカッタ線に沿って切断され、
中割り装置でトリンマ線に沿って切断されることにより
行われる。このような切断の際に、ガラス板の切口であ
るエツジには、ガラス板の厚み方向に輪状にえぐられた
欠点、ガラス板の厚み方向にギザギザにえぐられた欠点
、ガラス板の面方向に切断線より外側に突き出た角(つ
の)、ガラス板の面方向に切断線より内側に欠けた欠は
等の欠点が発生しやすい。
このようにいわゆる切口不良を有するガラス板はその程
度に応じて不良品として破棄する必要があるが、切口不
良を検出する技術としては、従来、次のようなものがあ
る。
度に応じて不良品として破棄する必要があるが、切口不
良を検出する技術としては、従来、次のようなものがあ
る。
まず、目視による検出である。これは、ラインコンベア
上を搬送されてくるガラス板の下方から光を投射し、ガ
ラス板の上方に配置されたスクリーン上に投影された影
を目視によって監視するものである。この方法は、輪状
欠点やギザギザ状欠点では光の透過率が低下し、したが
って透過光量が低下しスクリーン上に影となって検出で
きるが、角や欠は等の欠点は透過光量の変化が小さいの
で明瞭な影となって現れず、角や欠けなどの欠点の検出
には適さない。また、人間の目視によるものであるから
、検出精度にも限度がある。
上を搬送されてくるガラス板の下方から光を投射し、ガ
ラス板の上方に配置されたスクリーン上に投影された影
を目視によって監視するものである。この方法は、輪状
欠点やギザギザ状欠点では光の透過率が低下し、したが
って透過光量が低下しスクリーン上に影となって検出で
きるが、角や欠は等の欠点は透過光量の変化が小さいの
で明瞭な影となって現れず、角や欠けなどの欠点の検出
には適さない。また、人間の目視によるものであるから
、検出精度にも限度がある。
人間の目視によらない切口欠点検出装置としては、第9
図に示すように、ガラス板1が搬送されるラインコンベ
アの下方であって、ガラス板1の搬送方向に直角な方向
に蛍光灯2を配置し、ラインコンベアの上方に1024
ビツトの1次元CCDカメラ3を複数台配置し、蛍光灯
2からの透過光をCCDカメラ3で受光して、その出力
をマイクロコンピュータを含む判別装置4に送り、演算
処理して切口欠点を検出するものがある。
図に示すように、ガラス板1が搬送されるラインコンベ
アの下方であって、ガラス板1の搬送方向に直角な方向
に蛍光灯2を配置し、ラインコンベアの上方に1024
ビツトの1次元CCDカメラ3を複数台配置し、蛍光灯
2からの透過光をCCDカメラ3で受光して、その出力
をマイクロコンピュータを含む判別装置4に送り、演算
処理して切口欠点を検出するものがある。
なお以下の説明において、ガラス板の搬送方向をY軸方
向、ガラス板の搬送方向と直交する方向をX軸方向と言
うものとする。
向、ガラス板の搬送方向と直交する方向をX軸方向と言
うものとする。
この従来の切口欠点検出装置は、1次元CCDカメラ3
を、そのCCD素子配列方向がX軸方向となるように配
置されているので、Y軸方向に平行な2辺であるトリン
マ辺5の切口欠点しか検出できない、すなわちX軸方向
の辺であるブレーカ辺6の欠点検出はできなかった。ま
た透過光をCCDカメラ3で受光するものであるから、
前述したと同様の理由により、角や欠けなどの欠点の検
出精度は低いという問題があった。
を、そのCCD素子配列方向がX軸方向となるように配
置されているので、Y軸方向に平行な2辺であるトリン
マ辺5の切口欠点しか検出できない、すなわちX軸方向
の辺であるブレーカ辺6の欠点検出はできなかった。ま
た透過光をCCDカメラ3で受光するものであるから、
前述したと同様の理由により、角や欠けなどの欠点の検
出精度は低いという問題があった。
また、この従来の切口欠点検出装置では、切口欠点の大
きさを、CCDカメラ3からの出力を微分し、微分信号
の大きさにより判断しているが、切口欠点の大きさと微
分信号の大きさとは必ずしも比例関係になく、欠点の大
きさの判断精度が低いという問題点も有していた。
きさを、CCDカメラ3からの出力を微分し、微分信号
の大きさにより判断しているが、切口欠点の大きさと微
分信号の大きさとは必ずしも比例関係になく、欠点の大
きさの判断精度が低いという問題点も有していた。
さらに、板端部のパルスを消去する必要があり、根端部
不感帯をゼロにできなかった。
不感帯をゼロにできなかった。
本発明の目的は、上述のような従来技術の有する問題点
を解決し、高速で搬送されるガラス板の切口に存在する
飴状欠点、ギザギザ状欠点、角。
を解決し、高速で搬送されるガラス板の切口に存在する
飴状欠点、ギザギザ状欠点、角。
欠けなどのすべての欠点およびその大きさを、ガラス板
の四辺(トリンマ辺およびブレーカ辺)について高精度
で検出することのできる切口欠点検出装置を提供するこ
とにある。
の四辺(トリンマ辺およびブレーカ辺)について高精度
で検出することのできる切口欠点検出装置を提供するこ
とにある。
本発明の他の目的は、飴状欠点やギザギザ状欠点のよう
に、ガラス板の厚み方向にえぐられた欠点を検出するの
に適した切口欠点検出装置を提供することにある。
に、ガラス板の厚み方向にえぐられた欠点を検出するの
に適した切口欠点検出装置を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、角や欠けのように、ガラス
板の切断線から突き出た、あるいは欠けた欠点を検出す
るのに適した切口欠点検出装置を提供することにある。
板の切断線から突き出た、あるいは欠けた欠点を検出す
るのに適した切口欠点検出装置を提供することにある。
本発明のガラス板の切口欠点検出装置は、ガラス板の搬
送方向に対し斜め方向に配置された細長光源と、 前記細長光源と平行に配置された1次元撮像装置と、 前記1次元撮像装置が検出した光から、ガラス板の切口
に発生した欠点の大きさを判別する判別装置とを有して
いる。
送方向に対し斜め方向に配置された細長光源と、 前記細長光源と平行に配置された1次元撮像装置と、 前記1次元撮像装置が検出した光から、ガラス板の切口
に発生した欠点の大きさを判別する判別装置とを有して
いる。
ガラス板の厚み方向にえぐられた切口欠点は、光の透過
率が低下するので透過光量の変化を検出すれば、このよ
うな欠点を検出できる。
率が低下するので透過光量の変化を検出すれば、このよ
うな欠点を検出できる。
また、ガラス板の切断線から飛び出した、あるいは引っ
込んだ部分よりなる切口欠点は、反射光を利用すること
により検出できる。すなわち、搬送されてくるガラス板
に光を投射し、ガラス板表面より反射してくる光を検出
し、ソフトウェアによる画像処理技術によって、ガラス
板の4つのコーナ点の位置座標を求め、隣接するこれら
コーナ点を結ぶ擬似直線を求め、この擬似直線からずれ
る部分を、欠点と判別し、その大きさを算出する。
込んだ部分よりなる切口欠点は、反射光を利用すること
により検出できる。すなわち、搬送されてくるガラス板
に光を投射し、ガラス板表面より反射してくる光を検出
し、ソフトウェアによる画像処理技術によって、ガラス
板の4つのコーナ点の位置座標を求め、隣接するこれら
コーナ点を結ぶ擬似直線を求め、この擬似直線からずれ
る部分を、欠点と判別し、その大きさを算出する。
また、本発明ではガラス板の4辺を検出可能とするため
に、ガラス板の搬送方向(Y軸方向)に対し斜めになる
ように、細長光源および1次元撮像装置を配置する。特
に、Y軸方向と45°をなすように配置すれば、トリン
マ辺およびブレーカ辺に対し、同一の分解能で検出でき
るので、判別装置でのデータ処理が容易となる。
に、ガラス板の搬送方向(Y軸方向)に対し斜めになる
ように、細長光源および1次元撮像装置を配置する。特
に、Y軸方向と45°をなすように配置すれば、トリン
マ辺およびブレーカ辺に対し、同一の分解能で検出でき
るので、判別装置でのデータ処理が容易となる。
以下、本発明の切口欠点検出装置の実施例を説明する。
本実施例の切口欠点検出装置は、透過光を検出すること
により、輪状欠点、ギザギザ状欠点などのガラス板の厚
さ方向にえぐられた欠点を検出する切口欠点検出機と、
反射光を検出することにより、角、欠けなどの切断線か
ら飛び出したあるいは引っ込んだ欠点を検出する切口欠
点検出機とから構成される。
により、輪状欠点、ギザギザ状欠点などのガラス板の厚
さ方向にえぐられた欠点を検出する切口欠点検出機と、
反射光を検出することにより、角、欠けなどの切断線か
ら飛び出したあるいは引っ込んだ欠点を検出する切口欠
点検出機とから構成される。
第1図(a)、(b)は、透過光による切口欠点検出機
の平面図および側面図を示す。この切口欠点検出機は、
ラインコンベア上を一定速度で搬送されるガラス板1の
下方に、長平方向がY軸方向に対して45°の角度をな
すように配置した蛍光灯11と、ガラス板1の上方に、
CCD素子の配列方向がY軸方向に対して45°の角度
をなし、かつ、蛍光灯11と平行に配置した複数台の1
次元CCDカメラ12と、CCDカメラからの出力波形
を処理して、欠点の大きさを判別し、さらには欠点の大
きさを規格値と照合してガラス板の合否を判定する判別
装置13とから構成されている。なお、第1図では図面
を簡単にするため1次元CCDカメラ12は1台のみ示
しているが、第2図に示すように、複数台のCCDカメ
ラのそれぞれのカメラ視野がオーバラツブして連続する
ように配置する。以上のように、1次元CCDカメラを
Y軸方向に45゜をなすように配置することの利点は、
ガラス板1の四辺全てを欠点検出できること、およびト
リンマ辺およびブレーカ辺を同一の分解能で検出できる
ことである。
の平面図および側面図を示す。この切口欠点検出機は、
ラインコンベア上を一定速度で搬送されるガラス板1の
下方に、長平方向がY軸方向に対して45°の角度をな
すように配置した蛍光灯11と、ガラス板1の上方に、
CCD素子の配列方向がY軸方向に対して45°の角度
をなし、かつ、蛍光灯11と平行に配置した複数台の1
次元CCDカメラ12と、CCDカメラからの出力波形
を処理して、欠点の大きさを判別し、さらには欠点の大
きさを規格値と照合してガラス板の合否を判定する判別
装置13とから構成されている。なお、第1図では図面
を簡単にするため1次元CCDカメラ12は1台のみ示
しているが、第2図に示すように、複数台のCCDカメ
ラのそれぞれのカメラ視野がオーバラツブして連続する
ように配置する。以上のように、1次元CCDカメラを
Y軸方向に45゜をなすように配置することの利点は、
ガラス板1の四辺全てを欠点検出できること、およびト
リンマ辺およびブレーカ辺を同一の分解能で検出できる
ことである。
本実施例では、蛍光灯11は光のちらつき(フリッカ)
の無い高周波または直流点灯の蛍光灯を用いた。また、
1次元CCDカメラ12は、2048ビツトのものを使
用した。この2048ビツトのCCDカメラによれば、
カメラ視野は400mmであり、したがって約0.2m
mの分解能となる。 −以上のような切口欠点
検出機によれば、蛍光灯11からの光はガラス板1を透
過してCCDカメラ12で受光される。ガラス板1のエ
ツジに飴状欠点あるいはギザギザ状欠点があると、欠点
を透過した光の光量は、欠点の無いガラス板部分を透過
した光の光量に比べて小さくなる。
の無い高周波または直流点灯の蛍光灯を用いた。また、
1次元CCDカメラ12は、2048ビツトのものを使
用した。この2048ビツトのCCDカメラによれば、
カメラ視野は400mmであり、したがって約0.2m
mの分解能となる。 −以上のような切口欠点
検出機によれば、蛍光灯11からの光はガラス板1を透
過してCCDカメラ12で受光される。ガラス板1のエ
ツジに飴状欠点あるいはギザギザ状欠点があると、欠点
を透過した光の光量は、欠点の無いガラス板部分を透過
した光の光量に比べて小さくなる。
今、第3図に示すようにガラス板1のトリンマ辺に飴状
欠点14が存在する場合の、CCDカメラ1′2の1ス
キャン分の出力波形について説明する。
欠点14が存在する場合の、CCDカメラ1′2の1ス
キャン分の出力波形について説明する。
第4図に、飴状欠点14を透過した光を受光したときの
CCDカメラの出力波形を示す。縦軸は出力電圧を、横
軸はCCD素子のビットを示す。1〜b、ビットの出力
電圧はガラス板1の外側の光によるものであり、最も大
きい出力電圧となる。b。
CCDカメラの出力波形を示す。縦軸は出力電圧を、横
軸はCCD素子のビットを示す。1〜b、ビットの出力
電圧はガラス板1の外側の光によるものであり、最も大
きい出力電圧となる。b。
〜b2ビットの出力電圧は、飴状欠点14を透過した光
によるものであり、欠点により透過光量が低下する結果
、出力電圧がおち込んでいる。b2〜2048ビットは
欠点のないガラス板部分を透過した光によるものであり
、ガラス板により透過光量は少し低下する結果、ガラス
板を透過しない光による出力電圧に比べて少し低下して
いる。
によるものであり、欠点により透過光量が低下する結果
、出力電圧がおち込んでいる。b2〜2048ビットは
欠点のないガラス板部分を透過した光によるものであり
、ガラス板により透過光量は少し低下する結果、ガラス
板を透過しない光による出力電圧に比べて少し低下して
いる。
判別装置13は、カウンタを備えており、スキャン毎に
送られてくる出力電圧のおち込み部(第4図ではす、〜
b2ビット)のビット数、およびおち込み部の連続する
スキャン数をカウントすることにより、欠点の大きさを
判別する。欠点の大きさは、第3図に示すように、ガラ
ス板の辺に平行な“長さ”と辺に垂直な“幅”との2つ
のパラメータによって評価する。CCDカメラの1次元
CCD素子列は、Y軸方向に対して45°の角度をなす
ように配置されているから、ビット数カウント値とスキ
ャンカウント値は、前記した欠点の“長さ”および“幅
”には1対1に対応しないので、判別装置13内でカウ
ント値に係数を乗算して変換する。
送られてくる出力電圧のおち込み部(第4図ではす、〜
b2ビット)のビット数、およびおち込み部の連続する
スキャン数をカウントすることにより、欠点の大きさを
判別する。欠点の大きさは、第3図に示すように、ガラ
ス板の辺に平行な“長さ”と辺に垂直な“幅”との2つ
のパラメータによって評価する。CCDカメラの1次元
CCD素子列は、Y軸方向に対して45°の角度をなす
ように配置されているから、ビット数カウント値とスキ
ャンカウント値は、前記した欠点の“長さ”および“幅
”には1対1に対応しないので、判別装置13内でカウ
ント値に係数を乗算して変換する。
以上の動作は、各CCDカメラが分担するカメラ視野に
ついて行われ、全てのCCDカメラからの出力電圧が判
別装置13に送られる。判別装置では1枚のガラス板が
欠点検出機を透過した後には、そのガラス板の四辺につ
いての欠点情報が得られるから、欠点が存在した場合に
は、その欠点の“長さ”および“幅”を、判別装置13
内に予め保持されている規格値と照合して、ガラス板の
合否の判定を行う。
ついて行われ、全てのCCDカメラからの出力電圧が判
別装置13に送られる。判別装置では1枚のガラス板が
欠点検出機を透過した後には、そのガラス板の四辺につ
いての欠点情報が得られるから、欠点が存在した場合に
は、その欠点の“長さ”および“幅”を、判別装置13
内に予め保持されている規格値と照合して、ガラス板の
合否の判定を行う。
次に、本実施例を構成する他の切口欠点検出機、すなわ
ち角、欠は等の欠点を検出する切口欠点検出機について
説明する。
ち角、欠は等の欠点を検出する切口欠点検出機について
説明する。
第5図(a)、 (b)は、この切口欠点検出機の平
面図、およびY軸方向に対し45°をなす方向から見た
側面図をそれぞれ示している。この切口欠点検出機は、
ラインコンベア上を一定速度で搬送されるガラス板lの
上方に、長手方向がY軸方向に対して45°の角度をな
すように配置した蛍光灯21と、同じくガラス板1の上
方に、CCD素子の配列方向がY軸方向に対して45°
の角度をなし、かつ、蛍光灯21と平行に配置した複数
台の1次元CCDカメラ22を有している。第5図(b
)に示すように、すなわちこれら蛍光灯21およびCC
Dカメラ22の配置方向から見た側面図に示すように:
法線23に対して互いに15°の角度をなすように配置
する。
面図、およびY軸方向に対し45°をなす方向から見た
側面図をそれぞれ示している。この切口欠点検出機は、
ラインコンベア上を一定速度で搬送されるガラス板lの
上方に、長手方向がY軸方向に対して45°の角度をな
すように配置した蛍光灯21と、同じくガラス板1の上
方に、CCD素子の配列方向がY軸方向に対して45°
の角度をなし、かつ、蛍光灯21と平行に配置した複数
台の1次元CCDカメラ22を有している。第5図(b
)に示すように、すなわちこれら蛍光灯21およびCC
Dカメラ22の配置方向から見た側面図に示すように:
法線23に対して互いに15°の角度をなすように配置
する。
蛍光灯21および1次元CCDカメラ22は、第1図に
示した切口欠点検出機に用いたものと同様のものを使用
する。すなわち、蛍光灯21は高周波または直流点灯の
蛍光灯であり、1次元CCDカメラ22は、2048ビ
ツト、カメラ視野400mmである。
示した切口欠点検出機に用いたものと同様のものを使用
する。すなわち、蛍光灯21は高周波または直流点灯の
蛍光灯であり、1次元CCDカメラ22は、2048ビ
ツト、カメラ視野400mmである。
第5図では、CCDカメラは1台しか示していないが、
第2図に示したと同様に各カメラ視野を分担するように
複数台のCCDカメラが配置されている。
第2図に示したと同様に各カメラ視野を分担するように
複数台のCCDカメラが配置されている。
この切口欠点検出機は、さらに、CCDカメラからの出
力波形を処理して、欠点の大きさを判別し、さらにはそ
の欠点の大きさを規格値と照合して、ガラス板の合否を
判定する判別装置24を備えている。
力波形を処理して、欠点の大きさを判別し、さらにはそ
の欠点の大きさを規格値と照合して、ガラス板の合否を
判定する判別装置24を備えている。
以上のような切口欠点検出機によれば、蛍光灯21から
の光はガラス板lの表面で反射された後、CCDカメラ
によりとらえられる。第6図に示したようにガラス板1
のトリンマ辺に角25、ブレーカ辺に欠け26の欠点が
あった場合、角25に投射された光は反射され、CCD
カメラにより受光されるが、欠け26に投射された光は
反射されず、したがってCCDカメラに受光されない。
の光はガラス板lの表面で反射された後、CCDカメラ
によりとらえられる。第6図に示したようにガラス板1
のトリンマ辺に角25、ブレーカ辺に欠け26の欠点が
あった場合、角25に投射された光は反射され、CCD
カメラにより受光されるが、欠け26に投射された光は
反射されず、したがってCCDカメラに受光されない。
今、第5図に示されるCCDカメラ22が、第6図に示
すカメラ視野部分を撮像しているときの1スキャン分の
出力波形を第7図に示す。縦軸は出力電圧を、横軸はC
CD素子のピントを示す。ビットb、で波形は立上がり
、ピッ)baで波形は立下がっている。したがって、こ
のビット変化点がガラス板lのエツジすなわち辺を示し
ている。
すカメラ視野部分を撮像しているときの1スキャン分の
出力波形を第7図に示す。縦軸は出力電圧を、横軸はC
CD素子のピントを示す。ビットb、で波形は立上がり
、ピッ)baで波形は立下がっている。したがって、こ
のビット変化点がガラス板lのエツジすなわち辺を示し
ている。
判別装置24には、全てのCCDカメラからの出力電圧
が入力され、判別装置ではビット変化点をガラス辺とし
て座標計算を行う。
が入力され、判別装置ではビット変化点をガラス辺とし
て座標計算を行う。
第6図において、ガラス板1のコーナをA、 B。
C,Dとした場合に、ビット変化点の移行状態を第8図
に示す。
に示す。
ガラス板1がY軸方向に一定速度で通過すると、ビット
変化点は、ブレーカ辺AB、CDでは一定の割合で移行
し、トリンマ辺AD、BCでは移行せず一定である0判
別装置24ではビット変化点が移行状態から一定状態に
変化する点、あるいは−定状態から移行状態に変化する
点をガラス板のコーナA、B、C,Dであるとみなし、
これらの点を結ぶ擬似直線’ AI+ ’ lc+
’ CD+ ’ ADを求める。
変化点は、ブレーカ辺AB、CDでは一定の割合で移行
し、トリンマ辺AD、BCでは移行せず一定である0判
別装置24ではビット変化点が移行状態から一定状態に
変化する点、あるいは−定状態から移行状態に変化する
点をガラス板のコーナA、B、C,Dであるとみなし、
これらの点を結ぶ擬似直線’ AI+ ’ lc+
’ CD+ ’ ADを求める。
これら擬似直線は欠点のない辺に相当する。実際には、
第6図に示したように、トリンマ辺ADには角25が存
在し、ブレーカ辺ABには欠け26が存在している。
第6図に示したように、トリンマ辺ADには角25が存
在し、ブレーカ辺ABには欠け26が存在している。
判別装置24内では、実際に計算されるビット変化点の
座標データと、擬似直線との差分を、各サンプリング点
ごとに求め、求められた差分から角あるいは欠けの大き
さを算出する。欠点の大きさは、第6図に示すように、
ガラス板の辺に平行な“長さ”と辺に垂直な“幅”との
2つのパラメータによって評価される。判別装置24で
は、欠点の“長さ″および“幅”を、予め保持されてい
る規格値と照合して、ガラス板の合否の判定を行う。
座標データと、擬似直線との差分を、各サンプリング点
ごとに求め、求められた差分から角あるいは欠けの大き
さを算出する。欠点の大きさは、第6図に示すように、
ガラス板の辺に平行な“長さ”と辺に垂直な“幅”との
2つのパラメータによって評価される。判別装置24で
は、欠点の“長さ″および“幅”を、予め保持されてい
る規格値と照合して、ガラス板の合否の判定を行う。
なお、判別装置内での以上の処理は、内部に備えるマイ
クロコンピュータでソフト的な画像処理技術によって行
われる。
クロコンピュータでソフト的な画像処理技術によって行
われる。
以上、本発明の実施例について説明したが、細長光源は
点光源と放物面鏡との組み合わせとしてもよい。また、
反射光、透過光をCCDカメラで直接とらえるのではな
く、反射光、透過光を一旦スクリーン上に投影し、投影
像をCCDカメラで撮像するようにしてもよい。
点光源と放物面鏡との組み合わせとしてもよい。また、
反射光、透過光をCCDカメラで直接とらえるのではな
く、反射光、透過光を一旦スクリーン上に投影し、投影
像をCCDカメラで撮像するようにしてもよい。
また、以上の実施例は、透過光を検出することにより、
飴状欠点、ギザギザ状欠点などのガラス板の厚さ方向に
えぐられた欠点を検出する切口欠点検出機と、反射光を
検出することにより、角。
飴状欠点、ギザギザ状欠点などのガラス板の厚さ方向に
えぐられた欠点を検出する切口欠点検出機と、反射光を
検出することにより、角。
欠けなどの切断線から飛び出したあるいは引っ込んだ欠
点を検出する切口欠点検出機とから構成されるものにつ
いて説明したが、これら切口欠点検出機をそれぞれ単独
に備えてもよいことは勿論である。
点を検出する切口欠点検出機とから構成されるものにつ
いて説明したが、これら切口欠点検出機をそれぞれ単独
に備えてもよいことは勿論である。
本発明によれば、次のような効果が得られる。
(1)ガラス板のトリンマ辺およびブレーカ辺に存在す
る欠点を同時に検出できる。
る欠点を同時に検出できる。
(2)飴状欠点、ギザギザ状欠点のように、ガラス板の
厚み方向にえぐられた切口欠点の大きさを正確に判定で
きる。
厚み方向にえぐられた切口欠点の大きさを正確に判定で
きる。
(3)角、欠けのように、ガラス板の平面の方向に切断
線から外側に飛び出した、あるいは切断線から内側に引
っ込んだような切口欠点の大きさを正確に判定できる。
線から外側に飛び出した、あるいは切断線から内側に引
っ込んだような切口欠点の大きさを正確に判定できる。
(4)ガラス板の端部の不感帯なしに切口欠点を検出で
きる。
きる。
(5)角、欠けなどの欠点の大きさ判定は、画像処理(
ソフトロジック)で行っているため、判定の設定の自由
度が高い。
ソフトロジック)で行っているため、判定の設定の自由
度が高い。
第1図は、本発明のガラス板の切口欠点検出装置に用い
られる透過光を利用した切口欠点検出機を示す図、 第2図は、複数のCCDカメラの各カメラ視野を示す図
、 第3図は、飴状欠点を示す図、 第4図は、CCDカメラの出力波形図、第5図は、本発
明のガラス板の切口欠点検出装置に用いられる反射光を
利用した切口欠点検出機を示す図、 第6図は、角、欠けの欠点を示す図、 第7図は、CCDカメラの出力波形図、第8図は、凝似
直線の求め方を説明するための図、 第9図は、従来の切口欠点検出装置を示す図である。 1・・・・・ガラス板 11、21・・・蛍光灯 12)22・・・CCDカメラ 13、24・・・判別装置 14・・・・・飴状欠点 25・・・・・角 26・・・・・欠は 代理人 弁理士 岩 佐 義 拳 <a) (b) 第1図 カメラ視〒千 第3図 (a) η (b) 第6図 第8図 第9図
られる透過光を利用した切口欠点検出機を示す図、 第2図は、複数のCCDカメラの各カメラ視野を示す図
、 第3図は、飴状欠点を示す図、 第4図は、CCDカメラの出力波形図、第5図は、本発
明のガラス板の切口欠点検出装置に用いられる反射光を
利用した切口欠点検出機を示す図、 第6図は、角、欠けの欠点を示す図、 第7図は、CCDカメラの出力波形図、第8図は、凝似
直線の求め方を説明するための図、 第9図は、従来の切口欠点検出装置を示す図である。 1・・・・・ガラス板 11、21・・・蛍光灯 12)22・・・CCDカメラ 13、24・・・判別装置 14・・・・・飴状欠点 25・・・・・角 26・・・・・欠は 代理人 弁理士 岩 佐 義 拳 <a) (b) 第1図 カメラ視〒千 第3図 (a) η (b) 第6図 第8図 第9図
Claims (6)
- (1)ガラス板の搬送方向に対し斜め方向に配置された
細長光源と、 前記細長光源と平行に配置された1次元撮像装置と、 前記1次元撮像装置が検出した光から、ガラス板の切口
に発生した欠点の大きさを判別する判別装置とを有する
ガラス板の切口欠点検出装置。 - (2)特許請求の範囲第1項に記載のガラス板の切口欠
点検出装置において、 前記細長光源は、ガラス板の一方の面側に配置され、 前記1次元撮像装置は、ガラス板の他方の面側に配置さ
れ、前記細長光源からガラス板を透過してきた透過光を
検出し、 前記判別装置は前記1次元撮像装置が検出した透過光の
光量変化から、ガラス板の切口に発生した欠点の大きさ
を判別することを特徴とするガラス板の切口欠点検出装
置。 - (3)特許請求の範囲第1項に記載のガラス板の切口欠
点検出装置において、 前記細長光源は、ガラス板の一方の面側に配置され、 前記1次元撮像装置は、ガラス板の前記細長光源と同じ
面側に配置され、前記細長光源からガラス板を反射して
きた反射光を検出し、 前記判別装置は、前記1次元撮像装置が検出した反射光
から、ガラス板の切口に発生した欠点の大きさを判別す
ることを特徴とするガラス板の切口欠点検出装置。 - (4)特許請求の範囲第1項〜第3項のいずれかに記載
のガラス板の切口欠点検出装置において、前記細長光源
が配置される斜め方向は、ガラス板の搬送方向に対し4
5°の角度をなす方向であり、前記細長光源は、蛍光灯
であり、 前記1次元撮像装置は、1次元CCDカメラであること
を特徴とするガラス板の切口欠点検出装置。 - (5)特許請求の範囲第1項に記載のガラス板の切口欠
点検出装置において、 前記細長光源は、第1および第2の細長光源より成り、 前記1次元撮像装置は、前記第1の細長光源と平行に、
かつ、ガラス板の前記第1の細長光源とは反対の面側に
配置され、前記第1の細長光源からガラス板を透過して
きた透過光を検出する第1の1次元撮像装置と、前記第
2の細長光源と平行に、かつ、ガラス板の前記第2の細
長光源と同じ面側に配置され、前記第2の細長光源から
ガラス板を反射してきた反射光を検出する第2の1次元
撮像装置とより成り、 前記判別装置は、前記第1の1次元撮像装置が検出した
透過光の光量変化から、ガラス板の切口に発生した欠点
の大きさを判別する第1の判別装置と、前記第2の1次
元撮像装置が検出した反射光から、ガラス板の切口に発
生した欠点の大きさを判別する第2の判別装置とより成
ることを特徴とするガラス板の切口欠点検出装置。 - (6)特許請求の範囲第5項に記載のガラス板の切口欠
点検出装置において、 前記第1および第2の細長光源が配置される斜め方向は
、ガラス板の搬送方向に対し45°の角度をなす方向で
あり、 前記第1及び第2の細長光源はそれぞれ蛍光灯であり、 前記第1および第2の1次元撮像装置は、それぞれ1次
元CCDカメラであることを特徴とするガラス板の切口
欠点検出装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62326697A JPH01169343A (ja) | 1987-12-25 | 1987-12-25 | ガラス板の切口欠点検出装置 |
US07/397,424 US5311276A (en) | 1987-12-25 | 1988-12-22 | Apparatus for detecting cut-edge flaws in glass plates |
PCT/JP1988/001293 WO1989006356A1 (en) | 1987-12-25 | 1988-12-22 | Cut flaw detector for glass sheet |
KR1019890701596A KR0126401B1 (ko) | 1987-12-25 | 1988-12-22 | 유리판의 절단에지의 결점검출장치 |
DE3853883T DE3853883T2 (de) | 1987-12-25 | 1988-12-22 | Die verwendung einer vorrichtung zum detektieren von schneidefehlern in glasblättern. |
EP89900876A EP0348526B1 (en) | 1987-12-25 | 1988-12-22 | The use of an appartus for detection of flaws in glass sheets. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62326697A JPH01169343A (ja) | 1987-12-25 | 1987-12-25 | ガラス板の切口欠点検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01169343A true JPH01169343A (ja) | 1989-07-04 |
Family
ID=18190657
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62326697A Pending JPH01169343A (ja) | 1987-12-25 | 1987-12-25 | ガラス板の切口欠点検出装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5311276A (ja) |
EP (1) | EP0348526B1 (ja) |
JP (1) | JPH01169343A (ja) |
KR (1) | KR0126401B1 (ja) |
DE (1) | DE3853883T2 (ja) |
WO (1) | WO1989006356A1 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04283052A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-10-08 | Fmc Corp | 高分解物品取扱い装置 |
JP2002062122A (ja) * | 2000-08-23 | 2002-02-28 | Asahi Glass Co Ltd | ガラス板の形状測定方法及び形状測定装置 |
WO2003044507A1 (fr) * | 2001-11-20 | 2003-05-30 | Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd. | Procede et dispositif de controle des faces d'extremite de substrats en materiau cassant |
JP2006300663A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Asahi Glass Co Ltd | 欠点検出システム |
JP2007263696A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 外形欠点の検出方法及びプログラム |
JP2008507694A (ja) * | 2004-07-20 | 2008-03-13 | バイエル・ヘルスケア・エルエルシー | 光学診断装置のための読み取りヘッド |
JP2008151814A (ja) * | 2000-03-08 | 2008-07-03 | Fujifilm Corp | フィルムの欠陥検査装置およびフィルムの欠陥検査方法 |
WO2012105449A1 (ja) * | 2011-02-01 | 2012-08-09 | 旭硝子株式会社 | 光透過性板状物検査システム |
CN112180872A (zh) * | 2020-10-14 | 2021-01-05 | 浙江工商职业技术学院 | 用于工业过程控制的装置 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5753230A (en) | 1994-03-18 | 1998-05-19 | The Scripps Research Institute | Methods and compositions useful for inhibition of angiogenesis |
US5926558A (en) * | 1996-01-05 | 1999-07-20 | Asko, Inc. | Method and apparatus for monitoring and inspecting rotary knives |
SE9601800D0 (sv) * | 1996-05-13 | 1996-05-13 | Svante Bjoerk Ab | Anordning och metod för detektering av defekter |
JP2000516201A (ja) | 1996-05-31 | 2000-12-05 | ザ スクリップス リサーチ インスティテュート | 血管形成阻害方法及び血管形成阻害に有用な組成物 |
GB2415776B (en) * | 2004-06-28 | 2009-01-28 | Carglass Luxembourg Sarl Zug | Investigation of vehicle glazing panels |
EA200601026A1 (ru) * | 2006-05-19 | 2007-08-31 | Владимир Федорович Солинов | Способ обнаружения дефектов в листовом стекле |
KR100939424B1 (ko) * | 2008-04-28 | 2010-01-28 | 선문대학교 산학협력단 | 유리 기판의 결함 검사 방법 |
US8260028B2 (en) | 2009-10-28 | 2012-09-04 | Corning Incorporated | Off-axis sheet-handling apparatus and technique for transmission-mode measurements |
KR100975645B1 (ko) * | 2009-12-18 | 2010-08-17 | 주식회사 이테크넷 | 기판 검사 장치 및 이를 이용한 기판 검사 방법 |
WO2011074806A2 (ko) * | 2009-12-18 | 2011-06-23 | 주식회사 이테크넷 | 기판 검사 장치 및 이를 이용한 기판 검사 방법 |
US8960014B2 (en) * | 2012-09-21 | 2015-02-24 | Corning Incorporated | Methods of validating edge strength of a glass sheet |
CN104391390B (zh) * | 2014-12-18 | 2017-05-10 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 基板检查装置及方法 |
WO2017207115A1 (en) * | 2016-05-30 | 2017-12-07 | Bobst Mex Sa | Surface inspection system and inspection method |
CN113167561B (zh) * | 2018-09-19 | 2023-12-22 | 康宁股份有限公司 | 使用边缘缺陷量规测量玻璃片的边缘缺陷尺寸的方法及相应的边缘缺陷量规 |
CN113793293B (zh) * | 2020-05-25 | 2024-01-26 | 中移(苏州)软件技术有限公司 | 轮廓检测方法、装置、系统及计算机可读存储介质 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5434558A (en) * | 1977-08-23 | 1979-03-14 | Seidensha Kk | Method of washing crawler vehicle |
JPS5737023A (en) * | 1980-08-11 | 1982-03-01 | Nissan Motor Co Ltd | Driving gear of stepless speed change auxiliary equipment for automobile engine |
JPS57160049A (en) * | 1981-02-25 | 1982-10-02 | Cem Comp Electro Mec | Method of inspecting moving sheet-shaped transparent material and apparatus for executing same |
JPS62148838A (ja) * | 1985-12-24 | 1987-07-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | 欠陥認識方法 |
JPS62228150A (ja) * | 1986-03-29 | 1987-10-07 | Toshiba Corp | 欠陥識別装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3359853A (en) * | 1962-01-19 | 1967-12-26 | Pilkington Brothers Ltd | Apparatus for detecting faults in or on the surface of flat glass |
JPS5434558B2 (ja) * | 1974-03-18 | 1979-10-27 | ||
DE3534019A1 (de) * | 1985-09-24 | 1987-04-02 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optische bahnueberwachungsvorrichtung |
-
1987
- 1987-12-25 JP JP62326697A patent/JPH01169343A/ja active Pending
-
1988
- 1988-12-22 KR KR1019890701596A patent/KR0126401B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1988-12-22 US US07/397,424 patent/US5311276A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-12-22 WO PCT/JP1988/001293 patent/WO1989006356A1/ja active IP Right Grant
- 1988-12-22 DE DE3853883T patent/DE3853883T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-12-22 EP EP89900876A patent/EP0348526B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5434558A (en) * | 1977-08-23 | 1979-03-14 | Seidensha Kk | Method of washing crawler vehicle |
JPS5737023A (en) * | 1980-08-11 | 1982-03-01 | Nissan Motor Co Ltd | Driving gear of stepless speed change auxiliary equipment for automobile engine |
JPS57160049A (en) * | 1981-02-25 | 1982-10-02 | Cem Comp Electro Mec | Method of inspecting moving sheet-shaped transparent material and apparatus for executing same |
JPS62148838A (ja) * | 1985-12-24 | 1987-07-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | 欠陥認識方法 |
JPS62228150A (ja) * | 1986-03-29 | 1987-10-07 | Toshiba Corp | 欠陥識別装置 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04283052A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-10-08 | Fmc Corp | 高分解物品取扱い装置 |
JP2008151814A (ja) * | 2000-03-08 | 2008-07-03 | Fujifilm Corp | フィルムの欠陥検査装置およびフィルムの欠陥検査方法 |
JP2012137502A (ja) * | 2000-03-08 | 2012-07-19 | Fujifilm Corp | 複屈折特性を有する部材の検査方法および複屈折特性を有する部材の製造方法 |
JP2002062122A (ja) * | 2000-08-23 | 2002-02-28 | Asahi Glass Co Ltd | ガラス板の形状測定方法及び形状測定装置 |
JP4599507B2 (ja) * | 2000-08-23 | 2010-12-15 | 旭硝子株式会社 | ガラス板の形状測定方法及び形状測定装置 |
WO2003044507A1 (fr) * | 2001-11-20 | 2003-05-30 | Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd. | Procede et dispositif de controle des faces d'extremite de substrats en materiau cassant |
JP2008507694A (ja) * | 2004-07-20 | 2008-03-13 | バイエル・ヘルスケア・エルエルシー | 光学診断装置のための読み取りヘッド |
JP2006300663A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Asahi Glass Co Ltd | 欠点検出システム |
JP2007263696A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 外形欠点の検出方法及びプログラム |
WO2012105449A1 (ja) * | 2011-02-01 | 2012-08-09 | 旭硝子株式会社 | 光透過性板状物検査システム |
CN112180872A (zh) * | 2020-10-14 | 2021-01-05 | 浙江工商职业技术学院 | 用于工业过程控制的装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3853883D1 (de) | 1995-06-29 |
EP0348526A4 (en) | 1991-06-05 |
DE3853883T2 (de) | 1996-02-08 |
WO1989006356A1 (en) | 1989-07-13 |
KR0126401B1 (ko) | 1997-12-24 |
US5311276A (en) | 1994-05-10 |
EP0348526B1 (en) | 1995-05-24 |
KR900700874A (ko) | 1990-08-17 |
EP0348526A1 (en) | 1990-01-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH01169343A (ja) | ガラス板の切口欠点検出装置 | |
EP1560018B1 (en) | Method and device for preparing reference image in glass bottle inspection device | |
JPH0412416B2 (ja) | ||
US6956963B2 (en) | Imaging for a machine-vision system | |
US8428337B2 (en) | Apparatus for detecting micro-cracks in wafers and method therefor | |
EP1560017A1 (en) | Glass bottle inspection device | |
CA2228381A1 (en) | Bottle thread inspection system and method of operating same | |
KR20110058742A (ko) | 웨이퍼 내의 마이크로 크랙 검출 방법 및 장치 | |
US7916949B2 (en) | Method of inspecting granular material and inspection device for conducting that method | |
JP5549985B2 (ja) | ウェーハの微小割れを検出するための装置およびそのための方法 | |
JPS63273047A (ja) | 凹凸状態検出装置 | |
JPS5924361B2 (ja) | 2次元画像比較検査装置 | |
JPH05182887A (ja) | パターン検査方法及び装置 | |
JPH02257044A (ja) | びん検査装置 | |
JPH0421098Y2 (ja) | ||
JPH04348260A (ja) | パターン検査方法及び装置 | |
JPS6310780B2 (ja) | ||
JPH0517481B2 (ja) | ||
JP3624073B2 (ja) | プラズマディスプレイ背面板の検査装置 | |
JPS6316252A (ja) | 側部表面上のカケの自動検査方法 | |
CA1293051C (en) | Apparatus for examining objects | |
CN115508381A (zh) | 激光和相机复合检测方式的瓷砖缺陷检测装置及分级方法 | |
JPH06102204A (ja) | 建材の検査方法 | |
JPH0343582B2 (ja) | ||
JPH02173873A (ja) | 欠陥判定器 |