KR900700874A - 유리판의 단면 결점 검출장치 - Google Patents

유리판의 단면 결점 검출장치

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KR900700874A KR1019890701596A KR890701596A KR900700874A KR 900700874 A KR900700874 A KR 900700874A KR 1019890701596 A KR1019890701596 A KR 1019890701596A KR 890701596 A KR890701596 A KR 890701596A KR 900700874 A KR900700874 A KR 900700874A
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요시오미 도요따
쇼이찌 곤도
마사까즈 후지따
히데오 기즈까
겐끼찌 사또
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나까지마 다쯔지
니뽄 이따가라스 가부시끼가이샤
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Abstract

내용없음

Description

유리판의 단면 결점 검출장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 종래의 단면 결점 검출 장치를 도시하는 도면,
제2A도 및 제2B도는, 본 발명이 유리판의 단면 결점 검출장치에 사용되는 투과광을 이용한 단면 결점 검출기를 도시하는 도면, 제3도는 복수의 CCD 카메라의 각 카메라 시야를 도시하는 도면.

Claims (7)

  1. 반송되는 유리판에 평행하게 설치되고, 또한, 유리판의 반송 방향에 대해 경사진 방향으로 설치된 가늘고 긴 광원과, 촬상 소자의 배열 방향이 상기 가늘고 긴 광원과 평행하게 설치된 1차원 촬상 장치와, 상기 1차원 촬상 장치가 검출된 광에서 유리판의 단면에 발생한 결점의 크기를 판별하는 판별 장치를 갖는 것을 특징으로 하는 유리판의 단면 결점 검출장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 가늘고 긴 광원은, 유리판의 한편의 면쪽에 설치되고, 상기 1차원 촬상 장치는, 유리판의 다른편의 면쪽에 설치되고, 상기 가늘고 긴광원에서 유리판을 투과하여 온 투광을 검출하여, 상기 판별 장치는 상기 1차원 촬상 장치가 검출된 투과광의 광량 변화에서, 유리판의 단면에 발생한 결점의 크기를 판별하는 것을 특징으로 하는 유리판의 단면 결점 검출장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 가늘고 긴 광원은, 유리판의 한편의 면쪽에 설치되고, 상기 1차원 촬상 장치는, 유리판의 상기 가늘고 긴 광원과 같은 면쪽에 설치되고, 상기 가늘고 긴 광원에서 유리판을 반사하여온 반사광을 검출하여 상기 판별장치는, 상기 1차원 촬상 장치가 검출한 반사광에서, 유리판의 단면에 발생한 결점의 크기를 판별하는 것을 특징으로 하는 유리판의 단면 결점 검출장치.
  4. 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기한 가늘고 긴 광원이 설치되고 경사 방향은 유리판의 반송방향에 대해 45°의 각도를 이루는 방향이며, 상기한 가늘고 긴 광원은, 형광등이며, 상기1차원 촬상 장치는, 1차원 CCD 카메라인 것을 특징으로 하는 유리판의 단면 결점 검출장치.
  5. 반송되는 유리판에 평행하게 설치되고, 또한, 유리판의 반송방향에 대해 경사 방향으로 설치된 제1의 가늘고 긴 광원과, 촬상 소자의 배열 방향이 상기 제1의 가늘고 긴 광원과 평행하게 설치된 제1의 1차원 촬상 장치와, 상기 제1의 1차원 촬상 장치가 검출한 광에서, 유리판이 단면에 발생한 결점의 크기를 판별하는 제1의 판별장치와, 반송되는 유리판에 평행하게 설치되고, 또한, 유리판의 반송방향에 대해 경사 방향으로 설치된 제2의 가늘고 긴 광원과, 촬상 소자의 배열 방향이 상기 제2의 가늘고 긴 광원과 평행하게 설치된 제2이 1차원 촬상 장치와, 상기한 제2의 1차원 촬상 장치가 검출한 광에서, 유리판의 단면에 발생한 결점의 크기를 판별하는 제2의 판별 장치를 갖는 것을 특징으로 하는 유리판의 단면 결점 검출장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제1의 가늘고 긴 광원은, 유리판의 한편의 양쪽에 설치되고, 상이한 제1의 1차원 촬상 장치는, 유리판이 다른편이 양측에 설치되고, 상기 제1의 가늘고 긴 광원에서 유리판을 투과하여온 투과광을 검출하여, 상기 제1의 판별 장치는 상기 제1의 1차원 촬상 장치가 검출한 투과광의 광량 변화에서, 유리판의 단면에 발생한 결점의 크기를 판별하여, 상기 제2이 가늘고 긴 광원은, 유리판의 한편의 면쪽에 설치되고, 상기 제2의 1차원 촬상 장치는 유리판의 상기 제2의 가늘고 긴 광원과 같은 면쪽에 설치되고, 상기 제2의 가늘고 긴 광원에서 유리판을 반사하여 온 반사광을 검출하여, 상기 제2의 판별 장치는, 상기 제2의 1차원 촬상 장치가 검출한 반사광에서, 유리판의 단면에 발생한 결점의 크기를 판별하는 것을 특징으로 하는 유리판의 단면 결점 검출장치.
  7. 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 제1 및 제2의 가늘고 긴 광원이 설치되는 경사 방향은, 유리판이 반송방향에 대해 45°의 각도를 이루는 방향이며, 상기한 제1 및 제2의 가늘고 긴 광원은 각각 형광등이며, 상기 제1 및 제2의 1차원 촬상 장치는, 각각 1차원 CCD 카메라인 것을 특징으로 하는 유리판의 단면 결점 검출장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019890701596A 1987-12-25 1988-12-22 유리판의 절단에지의 결점검출장치 KR0126401B1 (ko)

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Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04283052A (ja) * 1990-09-25 1992-10-08 Fmc Corp 高分解物品取扱い装置
US5753230A (en) 1994-03-18 1998-05-19 The Scripps Research Institute Methods and compositions useful for inhibition of angiogenesis
US5926558A (en) * 1996-01-05 1999-07-20 Asko, Inc. Method and apparatus for monitoring and inspecting rotary knives
SE9601800D0 (sv) * 1996-05-13 1996-05-13 Svante Bjoerk Ab Anordning och metod för detektering av defekter
AU733303C (en) 1996-05-31 2002-08-08 Scripps Research Institute, The Methods and compositions useful for inhibition of angiogenesis
US6650410B2 (en) * 2000-03-08 2003-11-18 Fuji Photo Film Co., Ltd. Apparatus, system and method for checking film for defects
JP4599507B2 (ja) * 2000-08-23 2010-12-15 旭硝子株式会社 ガラス板の形状測定方法及び形状測定装置
AU2002349646A1 (en) * 2001-11-20 2003-06-10 Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd. Inspecting method for end faces of brittle-material-made substrate and device therefor
GB2415776B (en) * 2004-06-28 2009-01-28 Carglass Luxembourg Sarl Zug Investigation of vehicle glazing panels
US7264971B2 (en) * 2004-07-20 2007-09-04 Siemens Medical Solutions Diagnostics Read-head for optical diagnostic device
JP2006300663A (ja) * 2005-04-19 2006-11-02 Asahi Glass Co Ltd 欠点検出システム
JP4927427B2 (ja) * 2006-03-28 2012-05-09 日本板硝子株式会社 外形欠点の検出方法及びプログラム
EA200601026A1 (ru) * 2006-05-19 2007-08-31 Владимир Федорович Солинов Способ обнаружения дефектов в листовом стекле
KR100939424B1 (ko) * 2008-04-28 2010-01-28 선문대학교 산학협력단 유리 기판의 결함 검사 방법
US8260028B2 (en) 2009-10-28 2012-09-04 Corning Incorporated Off-axis sheet-handling apparatus and technique for transmission-mode measurements
KR100975645B1 (ko) * 2009-12-18 2010-08-17 주식회사 이테크넷 기판 검사 장치 및 이를 이용한 기판 검사 방법
WO2011074806A2 (ko) * 2009-12-18 2011-06-23 주식회사 이테크넷 기판 검사 장치 및 이를 이용한 기판 검사 방법
JP2014077637A (ja) * 2011-02-01 2014-05-01 Asahi Glass Co Ltd 光透過性板状物検査システム
US8960014B2 (en) * 2012-09-21 2015-02-24 Corning Incorporated Methods of validating edge strength of a glass sheet
CN104391390B (zh) 2014-12-18 2017-05-10 合肥鑫晟光电科技有限公司 基板检查装置及方法
EP3465171B1 (en) * 2016-05-30 2024-07-24 Bobst Mex Sa Surface inspection system and inspection method
CN113167561B (zh) * 2018-09-19 2023-12-22 康宁股份有限公司 使用边缘缺陷量规测量玻璃片的边缘缺陷尺寸的方法及相应的边缘缺陷量规
CN113793293B (zh) * 2020-05-25 2024-01-26 中移(苏州)软件技术有限公司 轮廓检测方法、装置、系统及计算机可读存储介质
CN112180872B (zh) * 2020-10-14 2022-09-23 浙江工商职业技术学院 用于工业过程控制的装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3359853A (en) * 1962-01-19 1967-12-26 Pilkington Brothers Ltd Apparatus for detecting faults in or on the surface of flat glass
JPS5434558B2 (ko) * 1974-03-18 1979-10-27
JPS585817B2 (ja) * 1977-08-23 1983-02-01 株式会社整電社 軌条車両の洗浄方法
JPS5737023A (en) * 1980-08-11 1982-03-01 Nissan Motor Co Ltd Driving gear of stepless speed change auxiliary equipment for automobile engine
FR2500630A1 (fr) * 1981-02-25 1982-08-27 Leser Jacques Procede pour la recherche des defauts des feuilles de verre et dispositif mettant en oeuvre ce procede
DE3534019A1 (de) * 1985-09-24 1987-04-02 Sick Optik Elektronik Erwin Optische bahnueberwachungsvorrichtung
JPS62148838A (ja) * 1985-12-24 1987-07-02 Oki Electric Ind Co Ltd 欠陥認識方法
JPS62228150A (ja) * 1986-03-29 1987-10-07 Toshiba Corp 欠陥識別装置

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DE3853883T2 (de) 1996-02-08
DE3853883D1 (de) 1995-06-29
EP0348526A1 (en) 1990-01-03
US5311276A (en) 1994-05-10
JPH01169343A (ja) 1989-07-04
KR0126401B1 (ko) 1997-12-24

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